




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文檔簡(jiǎn)介
N
=h7.4.1
多晶電子衍射花樣的標(biāo)定
多晶電子衍射花樣的分析一般有兩種不同的情況,其分析方法也有所不
同,下面分別討論。A)
晶體結(jié)構(gòu)已知的情況下:利用已知晶體對(duì)稱性的樣品衍射花樣,確定透射電鏡的儀器常數(shù)Lλ。B)
晶體結(jié)構(gòu)未知的情況下:已知透射電鏡的儀器常數(shù)Lλ,根據(jù)樣品衍射花樣,確定樣品的晶體對(duì)稱性。1
2
3
4
5
68
9
10
111213
1416
17
18
1920
21
2224
25
26
27
2i簡(jiǎn)單立方體心立方面心立方金剛石立方立方晶體中各種點(diǎn)陣的可能的N值分析步驟為:①
測(cè)量多晶電子衍射花樣的衍射環(huán)半徑ri
(為了減小誤差,可以先測(cè)直徑D再換算成半徑);②
計(jì)算各ri2,并分析
ri2比值的遞增規(guī)律,由此定出N值;③
根據(jù)晶體結(jié)構(gòu),標(biāo)定各衍射環(huán)的指數(shù)hkl,
并從ASTM卡片中找出對(duì)應(yīng)的晶面間距d;④
用公式ridi=Lλ,計(jì)算ri與相應(yīng)的面間距di的乘積,由平均值得出儀器常數(shù)Lλ。A)
利用已知晶體對(duì)稱性的樣品衍射花樣,確定透射電鏡的衍射常數(shù)Lλ。Z
2
Dx
4.250d3.251.692.493.25(TiO2)6TTitanium
Oxide(Rutile)I/I11006050100Kad.
Cuka1λ1.54056
Filter
Mono.
Dia.Cut
off
I/I1
Diffractometer
I/Icor.=3.4Ref.
National
Bureau
of
Standards,
Mono.
25,Sec.
7,
83(1969).dAI/I1hkldAI/I1hkl3.2472.4872.2972.1882.0541.68741.62371.47971.45281.42431.35981.34651.30411.24411.20061.17021.14831.11431.09361.082710050825106020101022012242642841101012001112102112200023102213011123112022123214004102223301.04251.03641.02710.970396449438907290098892877487388437829281968120787766422244888681222411312420421103113402510212431332422303521440530Sys.
Tetragonal
S.
G.
P42/mnm
(136)a0
4.5933
b0
c0
2.9592
A
C
0.6422α
β
γRef.
Ibid.εα
nωβ
εγ
Sign2V
D
mp
ColorRef.No
Impurity
over
0.001%Sample
obtained
from
National
Lead
Co.,
SouthAmboy,
New
Jersey,
USA.Pattern
at
25oC.
Internal
standard:
W.Two
other
polymorphs
anatase
and
brookiteconverted
to
rutile
on
heating
above
700oC.Merck
index,
8th
Ed.,
p.
1054.TiO2的ASTM卡片21-1276例已知多晶α-Fe(體心立方結(jié)構(gòu))的衍射環(huán)半徑分別為8.42mm,11.88mm,14.52mm,16.84mm,18.88mm。晶格常數(shù)a=2.85?,請(qǐng)確定儀器常數(shù)Lλ。解:求r2,列表,并利用體心立方結(jié)構(gòu)的N比值關(guān)系,得到對(duì)應(yīng)于各個(gè)衍射環(huán)的儀器常數(shù)Lλ。r/mm
8.4211.8814.5216.8418.88r2/mm2
70.90
141.1
210.8
283.6
356.5
N
2
4
6
810hkl110200211220310
d/?2.011.421.171.01
0.9Lλ(mm·?)
16.92
16.87
16.99
17.01
16.99平均值:16.96B)
已知透射電鏡的儀器常數(shù)Lλ,根據(jù)樣品衍射花樣,定樣品的晶體對(duì)稱性。分析步驟為:①
測(cè)量多晶電子衍射花樣的衍射環(huán)半徑ri;②
計(jì)算各ri2,并分析ri2比值的遞增規(guī)律,由此定出N值,估計(jì)鑒定材料的晶體結(jié)構(gòu)或點(diǎn)陣類型;③
用公式ridi=Lλ,計(jì)算di;④
估計(jì)各衍射環(huán)的相對(duì)強(qiáng)度,由三強(qiáng)線的d值查ASTM卡
片索引,找出最符合的幾張卡片,再核對(duì)各d值和相對(duì)
強(qiáng)度,并參照實(shí)際情況確定物相。例已知儀器常數(shù)Lλ=17.00mm·?,測(cè)得各衍射環(huán)半徑分別為8.42mm,11.88mm,14.52mm,16.84mm,18.88mm,請(qǐng)確定此多晶物體的物相。解:列表并做計(jì)算。r/mm
r2/mm2Nd/?(實(shí)驗(yàn))
I/I1(實(shí)驗(yàn))
d/?(查表)
I/I1(查表)
8.4211.8814.5270.90141.1210.82462.021.441.17100
20
402.011.411.17100
15
3816.8418.88283.6356.5
8101.01
0.9確定為bcc結(jié)構(gòu)d
=
Lλ
/r
查ASTM卡片d=1.0~2.0?
與α-Fe相符α-Fe數(shù)據(jù)7.4.2
相機(jī)長(zhǎng)度L的標(biāo)定為了精確分析未知樣品的選區(qū)衍射花樣,必須標(biāo)定L,用于標(biāo)定相機(jī)長(zhǎng)度L的標(biāo)準(zhǔn)樣品有:a)
氯化鉈(TlCl),屬簡(jiǎn)單立方,晶格常數(shù)a=3.842?;b)
金(Au),
FCC,a=4.08?;c)
鋁(Al),F(xiàn)CC,a=4.04?。相機(jī)長(zhǎng)度L隨物鏡、中間鏡、投影鏡的電流而變,故很難保證每次做衍射譜時(shí)L都恒等。它們都可通過真空蒸發(fā)沉積得到細(xì)小的多晶薄膜。Lλ
=
∑Lλi
=18.74
mm·?例以金為例,在碳支持膜上噴鍍金,得到多晶金膜。對(duì)該多晶金膜做電子衍射譜,測(cè)得第1,2,3環(huán)的半徑分別為7.94mm,9.20mm,13.00mm,它們分別對(duì)應(yīng)于面間距d111,d200和d220。請(qǐng)標(biāo)定相機(jī)長(zhǎng)度L。由公式ridi=Lλ得,1
33
i=1Lλ1
=
7.94×d111
=18.70
mm·?
Lλ2
=
9.20×d200
=18.76
mm·?
Lλ3
=13.00×d220
=18.75
mm·?d111,
d200和d220可由ASTM卡片查得。算出儀器常數(shù)的平均值加速電壓求得λ相機(jī)常數(shù)L實(shí)際工作中,物鏡聚焦電流仍受樣品位置變化的影響,如:支持網(wǎng)不平、樣品較厚、樣品臺(tái)傾斜。
最好用“內(nèi)標(biāo)”法,即把金屬直接噴到樣品上,同時(shí)做出金的多晶衍射譜和待測(cè)物的衍射譜,這樣才能保證儀器條件的完全一致。,滿足晶帶定律:
單晶電子衍射花樣就是靠近Ewald球面的倒易平面
上陣點(diǎn)排列規(guī)則性的直接反映。
晶體內(nèi)同時(shí)平行于某一方向r=[uvw]=ua+vb+wc的所有晶面組(hkl)構(gòu)成一個(gè)晶帶,在倒易點(diǎn)陣內(nèi),這一晶帶中所有晶面的倒易陣點(diǎn)或倒易矢量必須都在垂直于[uvw]且過倒易原點(diǎn)O*的一個(gè)倒易平面內(nèi),這個(gè)倒易平面用(uvw)0*表示,下標(biāo)“0”表示這個(gè)倒易面倒易原點(diǎn)過O*點(diǎn),這個(gè)面叫“零階勞厄帶”(ZOLZ),它的法線即為[uvw]方向。
(uvw)0*上所有倒易點(diǎn)的集合就代表正空間[uvw]晶帶hu
+kv+lw
=
0例如,[001]晶帶包括(100),
(010),
(110),
(120)等晶面組。hu+kv+lw=N]r[uvwhu
+
kv
+lw
=
Ngg⊥g//g0
hu
+
kv
+lw
=
0g
與r
的關(guān)系示意圖(uvw)*
N(uvw)*0
高級(jí)勞厄衍射反射球有限大的半徑導(dǎo)致球面除了與通過原點(diǎn)的倒易面相交外,還可能與平行的其它倒易面相交,從而產(chǎn)生另外一套或幾套衍射斑點(diǎn)-高級(jí)勞厄衍射高級(jí)勞厄衍射斑點(diǎn)滿足:
不過倒易原點(diǎn)的倒易面,即hu+kv+lw=N(N為非零整數(shù))的倒易面,稱為高階(N階)勞厄帶(HOLZ),高階勞厄帶的衍射斑點(diǎn)對(duì)應(yīng)于不過倒易原點(diǎn)的倒易面上的倒易點(diǎn)。零階勞厄帶和高階勞厄帶一起構(gòu)成了二維倒易平面在三維空間的堆垛。
高階勞厄帶為我們提供了倒易空間中第三維方向的信息,彌補(bǔ)了簡(jiǎn)單電子衍射譜(即滿足hu+kv+lw=0的電子衍射譜)確定晶體某一倒易面具有不惟一的問題。它們對(duì)晶體的相分析以及確定晶體的取向關(guān)系極為有用。晶帶定律r·g
=0,狹義晶帶定律,倒易矢量與r垂直,它們構(gòu)成過倒易點(diǎn)陣原點(diǎn)的倒易平面
r·g=N,廣義晶帶定律,倒易矢
量與r不垂直。這時(shí)g的端點(diǎn)落
在第非零層倒易結(jié)點(diǎn)平面。注:書上為第N層不妥,第1層的N值可以為2。標(biāo)定原理分類7.5.2
單晶電子衍射花樣(hu+kv+lw=0)的標(biāo)定①
單晶電子衍射譜相當(dāng)于一個(gè)倒易平面,如電子束的入射
方向與晶體的[uvw]方向平行,則產(chǎn)生衍射的晶面指數(shù)
{hkl},遵循晶帶定律:hu+kv+lw=0②
根據(jù)衍射花樣與晶體間的幾何關(guān)系,各衍射斑點(diǎn)到中央透射斑點(diǎn)O的距離r與晶面間距d的倒數(shù)成正比,即rd=Lλ③
兩個(gè)不同方向的倒易矢量確定一個(gè)倒易點(diǎn)陣平面圖(uvw)0*,所有衍射斑點(diǎn)滿足矢量關(guān)系。a.
已知晶體結(jié)構(gòu),根據(jù)衍射花樣確定晶體取向;b.
對(duì)于未知結(jié)構(gòu)試樣,通過衍射花樣定物相。h2
2
2
l
P3
1.
已知晶體結(jié)構(gòu),根據(jù)衍射花樣確定晶體取向的步驟1
首先判斷所得的電子衍射譜是否是簡(jiǎn)單電子衍射譜(簡(jiǎn)單
電子衍射譜滿足晶帶定律),如是,在衍射花樣上選擇三
個(gè)離中心透射斑點(diǎn)最近的衍射斑點(diǎn)P1,P2,P3,它們與中
心透射斑點(diǎn)一起構(gòu)成平行四邊形,測(cè)量這三個(gè)衍射斑點(diǎn)
到中心斑點(diǎn)的距離ri。2測(cè)量所選衍射斑點(diǎn)之間夾角φ。h3k3l3h1k1l1kh3k3l3P1P2O*
r2
h2k2l2φ1
φ2r
1r3
h1k1l13
用公式rd=Lλ將測(cè)得的距離ri換算成面間距di。4
將計(jì)算得到的d值與已知物質(zhì)的面間距表中的d值相對(duì)照
(查閱ASTM卡片),決定每個(gè)斑點(diǎn)的{hkl}指數(shù),如查得
h1k1l1為{111},則該倒易點(diǎn)的具體指數(shù)可以是111,-111
,1-11,11-1。5
用試探法選擇一套指數(shù),使其滿足
h3k3l3=
h1k1l1+
h2k2l26
將由試探法得出的hkl值代入晶面夾角公式
h1h2
+k1k2
+l1l2h1
2
+k1
2
+l1
2
h2
2
+k2
2
+l2
2cosφ1
=
算出任意兩個(gè)斑點(diǎn)的夾角。核對(duì)三個(gè)衍射斑點(diǎn)的夾角,若算得的夾角與測(cè)得的夾角一致,則指數(shù)標(biāo)定正確,否則返回4重新標(biāo)定指數(shù)。7
用矢量相加法,標(biāo)定其余衍射斑點(diǎn)。并用晶帶定律進(jìn)一步核實(shí)各衍射斑點(diǎn)的指數(shù)。8
令從倒易原點(diǎn)到h1k1l1的矢量為g1,從倒易原點(diǎn)到h2k2l2
的矢量為g2,由g1×g2,求出晶帶軸[uvw]*(定義晶帶軸與入射電子束方向反平行)。9
系統(tǒng)核查各過程,并算出晶格(點(diǎn)陣)常數(shù)。例
已知純鎳(fcc)的簡(jiǎn)單電子衍射花樣(a=0.3523nm)如圖所示,標(biāo)定該衍射譜。(a)h2k2l2
r2h1k1l1h3k3l3
r
1Φ1=82°
Φ2=76°r3(b)
測(cè)量出各衍射斑點(diǎn)離中心斑點(diǎn)的距離分別為:
r1=13.9mm,
r2=3.5mm,
r3=14.25mm,
夾角φ1=82°,
φ2=76°,
已知衍射常數(shù)Lλ為1.12mm·nm,
由
rd=Lλ
算
出
相
應(yīng)
的
d
值
為為{331},
{111},
{420}。420d1=0.0805nm,
d2=0.2038nm,
d3=0.0784nm,
查ASTM卡片得這些d值所對(duì)應(yīng)的晶體面族分別
331331420
82°(c)
111
00076°
111
任意選定h2k2l2為111,因?yàn)閞1+r3=r2,h1k1l1+h3k3l3=111,可得h1k1l1和h3k3l3的可選指數(shù)有三對(duì):-331,4-20;3-31,-240和-313,40-2.
試選(h1k1l1)=(-331),(h3k3l3)=(4-20),由立方晶系夾角公式:
h1h2
+k1k2
+l1l2h1
2
+k1
2
+l1
2
h2
2
+k2
2
+l2
2cosφ
=得夾角φ=157.4°,符合實(shí)測(cè)值。而用另外兩對(duì)指數(shù)算出的夾角與實(shí)測(cè)值不符合,故-331,4-20,111即是所求的正確指數(shù)。由矢量相加法標(biāo)定其他衍射點(diǎn)。由晶帶定律可求得晶帶方向[uvw]為[12-3]3u
+3v+
w
=
0u
+v+
w
=
04u
?2v
=
02.
對(duì)于未知結(jié)構(gòu)試樣通過衍射花樣進(jìn)行物相鑒定的步驟①
首先判斷所得的電子衍射譜是否是簡(jiǎn)單電子衍射譜(簡(jiǎn)
單電子衍射譜滿足晶帶定律),如是,在衍射花樣上選擇三個(gè)離中心透射斑點(diǎn)最近的衍射斑點(diǎn)P1,P2,P3,它們與中心透射斑點(diǎn)一起構(gòu)成平行四邊形,測(cè)量這三個(gè)衍射斑點(diǎn)到中心斑點(diǎn)的距離Ri。②
測(cè)量所選衍射斑點(diǎn)之間夾角φ。③
用公式rd=Lλ將測(cè)得的距離ri換算成面間距di。④
根據(jù)所研究的試樣的成分和處理工藝及其他分析手段所提供的消息,初步估計(jì)可能的物相,并找出相應(yīng)的ASTM卡片,與實(shí)驗(yàn)得到的di值對(duì)照,得到相應(yīng)的{hkl}值。5
用試探法選擇一套指數(shù),使其滿足矢量疊加原理h3k3l3=
h1k1l1+
h2k2l26
由已標(biāo)定好的指數(shù),根據(jù)ASTM卡片所提供的晶系計(jì)算相應(yīng)的夾角φ,檢驗(yàn)計(jì)算的夾角值是否與實(shí)測(cè)的夾角值相符。7
若各衍射斑點(diǎn)已指標(biāo)化,夾角關(guān)系也符合,則被鑒定的物相就是此ASTM卡片上的相。否則,重新標(biāo)定指數(shù)。8
確定其晶帶軸。例已
知
rA=7.1mm
,
rB=10.0mm
,
rC=12.3mm
;
夾
角
:∠AOB≈90o,
∠BOC≈55o;λL=14.1mm·?。標(biāo)定圖中所示衍射花樣。000ACB55°方法一000B(b)
標(biāo)定后的衍射花樣(a)
標(biāo)定前的衍射花樣
A
C
110200rA
2
:rB
2
:rC
2
=50.41:100:151.29
=
2:4:6
可初步確定該物相為體心立方結(jié)構(gòu),因?yàn)檠苌浒唿c(diǎn)A的N=2,所以A點(diǎn)應(yīng)為{110},即A點(diǎn)可為(110),
(-1-10),(101),
(-10-1),
(011),
(0-1-1)等,先假定A點(diǎn)的指數(shù)為1-10。而衍射斑點(diǎn)B的N=4,所以B點(diǎn)應(yīng)為{200}。計(jì)算A點(diǎn)與B點(diǎn)的夾角:=110000AC
B55°000B(a)
標(biāo)定前的衍射花樣
A
C
112002π
4?φAB
=cosφAB
=
=
h1h2
+k1k2
+l1l2
h1
2
+k1
2
+l1
2
h2
2
+k2
2
+l2
21×2+
1×0+0×0
2
2
4
2計(jì)算出的夾角值與實(shí)際測(cè)量得到的90°值不符合,故以上關(guān)于A與B點(diǎn)指數(shù)
的假設(shè)不合適。重新假設(shè)B點(diǎn)的指數(shù)為
002,則算出的夾角就與實(shí)測(cè)值相符。(b)
標(biāo)定后的衍射花樣
取A點(diǎn)為(1-10),B點(diǎn)為(002)。運(yùn)用矢量運(yùn)算法則算出C點(diǎn)的指數(shù):rC
=
rA
+rB
=
(110)+(002)
=
(112)11055°000ACB(b)
標(biāo)定后的衍射花樣112112
110(a)
標(biāo)定前的衍射花樣
A
C
112
112
57.74°
B
002
000
002算出B點(diǎn)和C點(diǎn)間的夾角為57.74°,與實(shí)測(cè)的55°相符,即C點(diǎn)的指數(shù)1-12是合適的。
同理可求其余衍射點(diǎn)的指數(shù),最后由rB×rA算出[uvw]為[220],因?yàn)閇220]與[110]同方向,取最簡(jiǎn)單的值,故[uvw]為[110]。Assignment
2:Al,
FCC,
a=4.4049?,
RA=RB=16.2mm,Rc=26.5mm,
∠AOB)=70.5°,
∠AOC=35.5°,求A、B、C的指數(shù)及[uvw]。參照94頁例題1,單晶花樣的180°不確定性(180°ambiguity)
1.表現(xiàn)形式同一衍射花樣可以有兩種標(biāo)定的指數(shù):2、產(chǎn)生原因:相當(dāng)于將試樣沿著入射電子束方向轉(zhuǎn)動(dòng)180°。對(duì)大多數(shù)電子衍射譜沒有影響。hkl
hkl180°00011
11
1
12002001111110001111112002001
1
111
1從晶體點(diǎn)陣
畫出[uvw]晶帶的倒易截面理論上標(biāo)準(zhǔn)圖譜實(shí)測(cè)衍射圖譜
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