第四講電測深電剖面

電法勘探主講人：楊雙安第四講電法勘探的分類1按場源性質(zhì)分 人工場法（主動(dòng)源法）：靈活 天然場法（被動(dòng)源法）：經(jīng)濟(jì)2按電磁場的時(shí)間特性分 直流電法（穩(wěn)定場）時(shí)間域電法 交流電法（交變場、電磁波）頻率域電法 過渡過程法或脈沖瞬變法3按產(chǎn)生異常電磁場的原因分 傳導(dǎo)類電法（異常電流場）： 電阻率法、自然電場法、充電法、激發(fā)極化法 感應(yīng)類電法（渦旋電流場或電磁場)： 脈沖瞬變場法、低頻電磁法、無線電波法(坑透法)4按地質(zhì)目標(biāo)分 金屬與非金屬電法、石油與天然氣電法、煤田電法、水文與工程電法、礦井電法5按工作場所分 地面電法、航空電法、地下電法6目前常用方法：直流電法：電阻率法：電測深法電剖面法高密度電阻率法自然電場法充電法

不穩(wěn)定場：激發(fā)極化法交流電法（電磁法）：大地電磁測深頻率電磁測深 瞬變電磁測深 甚低頻法 無線電波透視（坑透法）地質(zhì)雷達(dá)法

第一章電阻率法什么是電阻率法電阻率法是以地殼中巖石和礦石的電阻率差異為物質(zhì)基礎(chǔ)，通過觀測與研究人工電場的分布規(guī)律達(dá)到解決地質(zhì)找礦的目的。電阻率法是傳導(dǎo)類電法勘探方法之一電阻率法的電場是人工電場第一節(jié)電阻率法的理論基礎(chǔ)一、巖、礦石的電阻率1.電阻率(resistivity)的基本公式電阻(resistance)是表征某一物體導(dǎo)電能力的物理量；其與物體長度、橫截面積有關(guān)；r為電阻率，是表征巖石導(dǎo)電性的物理量；某物質(zhì)的電阻率，在數(shù)值上等于該物質(zhì)組成的截面積為一平方米、長度為一米的導(dǎo)體所具有的電阻數(shù)值。電阻率的大小代表著巖石導(dǎo)電的難易程度；用電阻描述某種材料的導(dǎo)電能力合適嗎？一、

巖、礦石的電阻率電阻率的單位2.電導(dǎo)率(conductivity)

將電阻率的倒數(shù)稱為電導(dǎo)率，用s表示。二、巖石和礦石的電學(xué)性質(zhì)1巖石和礦石的電阻率

1)巖石電阻率的測定

銅板銅絲2)巖石的導(dǎo)電方式

巖石的導(dǎo)電方式大致可分為四種：

(1)電子導(dǎo)電：金屬、石墨——電阻率低；各種天然金屬屬于金屬導(dǎo)體。地殼中不常見，如自然銅、金、

石墨是一種特殊電子導(dǎo)體；金屬導(dǎo)體導(dǎo)電性十分好，電阻率值很低，一般

≤10-6

·m

(2)半導(dǎo)體導(dǎo)電：大多數(shù)金屬硫/氧化物——電阻率低；大多數(shù)金屬礦物為半導(dǎo)體，

高于金屬導(dǎo)體，通常

=10-6~106·m半導(dǎo)體性質(zhì)同其所含雜質(zhì)種類和含量有關(guān)，電阻率變化范圍大。

(3)晶體離子導(dǎo)電：大多數(shù)造巖礦物，石英、云母、方解石等——電阻率高；固體電解質(zhì)的電阻率很高，一般

>106

·m

(4)離子導(dǎo)電：含水礦物——電阻率低；不同種巖石的電阻率一般不同——電法勘探基礎(chǔ)；但不同種礦物電阻率的范圍有可能部分重合——電法勘探的局限性；

二、巖石和礦石的電學(xué)性質(zhì)孔隙水的導(dǎo)電機(jī)制存在于巖石裂隙或孔隙中的水分，統(tǒng)稱孔隙水。幾乎所有天然巖石都或多或少地含有孔隙水。純蒸餾水的導(dǎo)電性極差，幾乎可看成是絕緣體。巖石中的孔隙水不同程度上總含有某些鹽分(電解質(zhì))，當(dāng)電解質(zhì)溶于水形成電解液時(shí)會(huì)發(fā)生電離或離解（正、負(fù)離子分開）離子導(dǎo)體。電解液的電阻率與其載流子（離解的正、負(fù)離子）濃度和遷移率成反比?？紫端娮杪室话氵h(yuǎn)小于造巖礦物。很少超過100

·m，通常在1~100

·m之間。二、巖石和礦石的電學(xué)性質(zhì)3)影響巖石電阻率的因素

二、巖石和礦石的電學(xué)性質(zhì)(6)巖石電阻率與層理的關(guān)系 層理構(gòu)造是大多數(shù)沉積巖和變質(zhì)巖的典型特征，如砂巖、泥巖、片巖、板巖以及煤層等，它們均由很多薄層相互交替組成。這種巖石的電阻率具有明顯的方向性，即沿層理方向和垂直層理方向巖石的導(dǎo)電性不同，稱為巖石電阻率的各向異性。巖石電阻率的各向異性用各向異性系數(shù)

來表示.

3)影響巖石電阻率的因素2.巖石電阻率與層理的關(guān)系代表垂直層理方向上的平均電阻率;代表沿層理方向的平均電阻率。圖1-1-1層狀結(jié)構(gòu)巖石模型以上兩種電阻率是如何得來的？rn的獲得設(shè)巖石由兩種巖性地層組成，厚度和電阻率分別為：r1,h1和r2,h2Srt的獲得設(shè)巖石由兩種巖性地層組成，厚度和電阻率分別為：r1,h1和r2,h2lbrn和rt

的關(guān)系垂直層理方向的電阻率總是大于沿著層理方向的電阻率！沉積巖石電阻率的相互關(guān)系

泥巖或粘土<頁巖<細(xì)砂巖或粉砂巖<中砂巖<粗砂巖<礫巖。3)影響巖石電阻率的因素第二節(jié)地表點(diǎn)電源電場第二節(jié)地表點(diǎn)電源的正常場電位、電場強(qiáng)度與電流密度間的關(guān)系電流密度與電場強(qiáng)度成正比

j為電流密度矢量,E為電場強(qiáng)度矢量,r為該點(diǎn)巖石的電阻率,s為該點(diǎn)的電導(dǎo)率;U為電位值

電場強(qiáng)度:單位正電荷在所研究點(diǎn)所受的電場力。將電位、電場強(qiáng)度和電流密度之間的關(guān)系想象成流體勢能3個(gè)參數(shù)間的關(guān)系。?U=rgh第二節(jié)地表點(diǎn)電源的正常場點(diǎn)電源場的建立為了建立地下電場，將A、B兩個(gè)電極向地下供電，A、B被稱為供電電極；當(dāng)供電電極大小比供電電極間距小得多時(shí)，可以將兩個(gè)供電電極看成是兩個(gè)“點(diǎn)”，所以將A、B稱為點(diǎn)電源；1.點(diǎn)電源時(shí)的電場一個(gè)點(diǎn)電源時(shí)的電場電流密度

設(shè)在地面A點(diǎn)向地下供電，電流強(qiáng)度為I，地下半空間的電阻率為r。地下距A點(diǎn)距離為R的M點(diǎn)處的電流密度為?j與電流強(qiáng)度I呈正比，

與距離平方成反比；電場強(qiáng)度電壓為標(biāo)量，在此為正值；電場強(qiáng)度為矢量，有方向性；電場強(qiáng)度的減小速度要比電壓的減小速度快。一個(gè)點(diǎn)電源時(shí)的電場電位：電場中某點(diǎn)的電位在數(shù)值上等于將單位正電菏從無窮遠(yuǎn)處移到該點(diǎn)反抗電場力所作的功。M點(diǎn)的電位是將單位正電荷從無窮遠(yuǎn)處移到電場中該點(diǎn)所做的功，則：

即：電位值與電流強(qiáng)度I和巖石電阻率r成正比，與A到M點(diǎn)間距離成反比；點(diǎn)電源A(+I)處電位值最大。1.點(diǎn)電源時(shí)的電場地表正、負(fù)兩個(gè)點(diǎn)電源的正常電流場疊加原理：當(dāng)多個(gè)點(diǎn)電源同時(shí)存在時(shí)，任意一點(diǎn)M的電位是各電源單獨(dú)在該點(diǎn)產(chǎn)生的電位之和；任意一點(diǎn)的電場強(qiáng)度(或電流密度)是各電源單獨(dú)在該點(diǎn)產(chǎn)生的電場強(qiáng)度(或電流密度)的向量和。如圖所示，在均勻半空間表面布以電極A和B并分別以+Ⅰ和-Ⅰ向介質(zhì)中供電，根據(jù)電場的疊加原理，可寫出A、B兩個(gè)點(diǎn)電流源在M點(diǎn)形成的電位。2.地表正、負(fù)兩個(gè)點(diǎn)電源的正常電流場主測線上的電位及電場強(qiáng)度在地表通過A、B兩個(gè)供電電極的連線稱為主測線；在A、B之間，EMA和EMB的方向相同，此時(shí)：在A、B之外，EMA和EMB的方向相反，最終可得主測線上電位與電場強(qiáng)度圖AM<BMAM>BM主測線上的電位及電場強(qiáng)度由圖可知：在供電電極A、B附近，U、j、E分布極不均勻，變化很快。當(dāng)距離為零時(shí)，從數(shù)學(xué)定義上講，它們的數(shù)值值趨于正負(fù)無窮大，但實(shí)際上是趨于某一有限值，V趨于電源電壓。在A、B中間部分，E、j、U變化都比較平緩，尤其是中間1/3地段，E、j可近似看作均勻水平場，U的變化近于線性，A、B中點(diǎn)值為零。在A、B外側(cè)，電位變化比內(nèi)側(cè)緩慢，電場強(qiáng)度則比內(nèi)側(cè)衰減快。2.地表正、負(fù)兩個(gè)點(diǎn)電源的正常電流場主斷面內(nèi)電位及電流分布

為了弄清電流場在地下的分布情況，AB不變，主斷面(A、B連線的中垂面上)電流密度的變化情況。當(dāng)h=0時(shí)，AB中點(diǎn)O處的電流密度用j0表示ChinaUniv.ofMining&Tech.主斷面內(nèi)電位及電流分布當(dāng)h≠0時(shí)，l大部分電流都集中在近地表地層內(nèi)！主斷面內(nèi)電位及電流分布結(jié)論：當(dāng)h=AB/6時(shí)，jh/j0=85%，因此，在此范圍內(nèi)，可以近似認(rèn)為是均勻場；當(dāng)h<AB/2時(shí)，jh/j0>35%，如果有異常體存在時(shí)，可以識別；當(dāng)h=0.71AB時(shí)，jh/j0=19.2%，此時(shí)，如果有異常體存在時(shí)，有時(shí)也可以識別；當(dāng)h=AB時(shí)，jh/j0=8.9%，此時(shí)，如果有異常體存在時(shí)，很難識別異常；主斷面內(nèi)電位及電流分布h不變，jh隨AB的變化規(guī)律:為了探測100m深處的目標(biāo)體，如何選擇電極距AB？什么時(shí)候jh最大？勘探深度、勘探體積根據(jù)以上討論可以得出以下結(jié)論：①.在地表由A、B供電時(shí)，大部分電流集中于AB附近。AB一定時(shí)，在地表觀測電場只能反映一定深度的不均勻體；②.欲增加勘探深度，必須加大供電電極距，使更多的電流流入深處。③.在AB連線之間，以中點(diǎn)的電流分布最深，電場最均勻，勘探深度最大。因此，以中點(diǎn)觀測最佳，可以以最小的電極距達(dá)到最大的勘探深度。 實(shí)際勘探深度：h=AB/2

勘探體積：長AB、寬AB/2、高AB/23.巖石電阻率的測定及視電阻率巖石電阻率的測定巖石電阻率的測定巖石電阻率的測定上式中K稱為裝置系數(shù)，單位為米；當(dāng)供電電極A、B與測量電極M、N互換位置時(shí)，測定的電阻率結(jié)果不變，這一結(jié)論稱作“互換原理”。3.巖石電阻率的測定及視電阻率非均勻介質(zhì)的地下電流場及視電阻率地電斷面——根據(jù)地下地質(zhì)體電阻率的差異而劃分界線的斷面；非均勻介質(zhì)的地下電流場高阻體:具有向周圍排斥電流的作用;低阻體:具有向其內(nèi)部吸引電流的作用;r2r1非均勻介質(zhì)的地下電流場及視電阻率視電阻率：當(dāng)在電流場的作用范圍內(nèi)巖石不均勻或地形不平坦時(shí)，仍按均勻巖石電阻率的測定方法，并按電阻率測定公式計(jì)算出的電阻率值，不再是某一種巖石的真實(shí)電阻率，而是電流場作用范圍內(nèi)各種巖石電阻率的綜合反映，我們稱之為“視電阻率”，用符rs表示，單位仍為歐姆·米。計(jì)算公式為:電阻率法的實(shí)質(zhì)：rs的變化是與不均勻體的存在密切聯(lián)系的，通過觀測和研究rs的變化，來了解不均勻體存在的情況，這就是電阻率法的實(shí)質(zhì)。視電阻率——在電場有效作用范圍內(nèi)各種地質(zhì)體電阻率的綜合反映?！蔷鶆蚪橘|(zhì)的地下電流場及視電阻率視電阻率的定性分析在地形不平坦或地質(zhì)體不均勻時(shí)，視電阻率可表示為：因此，測定的視電阻率的變化并不一定代表有不均勻地質(zhì)體的存在。有可能是地表不平坦而引起的。非均勻介質(zhì)的地下電流場及視電阻率電極裝置——供電電極A、B與測量電極M、N的排列形式和移動(dòng)方式稱為電極裝置。視電阻率的影響因素1.不均勻體的電性(地質(zhì)體與圍巖的電性差異)、規(guī)模(相對于埋深而言)和產(chǎn)狀(走向、傾向、埋深)——目標(biāo)地質(zhì)體屬性的影響；非均勻介質(zhì)的地下電流場及視電阻率2.電極相對不均勻體的位置(包括裝置形式)，布極方向，極距大小等——觀測方式的影響；非均勻介質(zhì)的地下電流場及視電阻率3.地形起伏對視電阻率的影響；4.地中穩(wěn)定電流場的邊界條件在邊界上，穩(wěn)定電流場還滿足如下的邊界條件:1)第一類邊界條件2)第二類邊界條件

n為垂直于地平面的法向方向，此時(shí)，在地面上(除電源點(diǎn)外)電流密度法向分量等于零。地中穩(wěn)定電流場的邊界條件3)第三類邊界條件當(dāng)界面兩側(cè)介質(zhì)電阻率為有限值時(shí)，在該界面上有以下連續(xù)條件成立

由以上三類邊界條件，就可求解穩(wěn)定電流場的解。5.鏡像法原理及應(yīng)用邊界面附近某點(diǎn)的電位可以通過鏡像法而求得。r1r2A(I)M1rxA1(I1)xr1r1r2A2(I2)M2r2求M1處電位時(shí),將r2介質(zhì)的影響用虛電源A1(I1)代替。求M2處電位時(shí),將r1介質(zhì)的影響用虛電源A2(I2)代替。5.鏡像法原理及應(yīng)用對于第一種情況，當(dāng)用虛電源代替后，相當(dāng)于地下半空間充滿著r1的單一介質(zhì)，則M1處的電位為：對于第二種情況，介質(zhì)r1對介質(zhì)r2的作用也可由虛電源代替，此時(shí)，虛電源與實(shí)際電源重合。此時(shí)，

M2處的電位UM2為：5.鏡像法原理及應(yīng)用根據(jù)穩(wěn)定電流場的邊界條件，有：當(dāng)M1和M2點(diǎn)無限靠近時(shí)，兩點(diǎn)電位相同，即：又據(jù)據(jù)界面上電流密度法線分量連續(xù)，即：j1n=j2n5.鏡像法原理及應(yīng)用聯(lián)立上頁的(1),(2)兩式，則有比較電阻率法中的反射系數(shù)和透射系數(shù)與反射波地震勘探中的反射系數(shù)與透射系數(shù)的異同？5.鏡像法原理及應(yīng)用I1和I2的物理意義I1相當(dāng)于電流I射向界面而被反射回來的部分電流；I2相當(dāng)于電流I透射到介質(zhì)r2中的電流；I1+

I2=I當(dāng)r2→∞時(shí)，K12=1，1-K12=0，I1=I，I2=0電源的全部電流都被界面反射回介質(zhì)1中；當(dāng)r2→0時(shí)，K12=-1，1-K12=2，I1=-I，I2=2I，界面不向介質(zhì)1中反射電流，全部電流都透射到介質(zhì)2中；電流密度第三節(jié)電阻率測深法根據(jù)研究地質(zhì)問題的不同，電阻率法可劃分為兩種不同的類型，即：電測深法、電剖面法。每類方法中又根據(jù)電極裝置的不同，還包括了多種觀測方法。3.1電阻率測深法

電測深法是根據(jù)巖石和礦石導(dǎo)電性的差異，在地面上不斷改變供電電極和測量電極的位置，觀測和研究所供直流電場在地下介質(zhì)中的分布，了解測點(diǎn)電阻率沿深度的變化，達(dá)到測深、找礦和解決其他地質(zhì)問題的目的。隨布極方式不同，直流電測深法又可分為三極、對稱四極和偶極測深法等。實(shí)踐證明，電測深法無論在普查金屬、非金屬礦產(chǎn)方面，還是在能源勘探、地質(zhì)填圖以及水文、工程地質(zhì)調(diào)查等方面，都有良好的地質(zhì)效果，發(fā)揮著重要作用。ABMNOABMNO三極測深裝置系數(shù)計(jì)算公式為3.2電測深法的實(shí)質(zhì)3.3電測深理論曲線及其性質(zhì)

1）水平均勻?qū)訝罱橘|(zhì)表面的電測深曲線

（1）二層曲線（2）三層曲線

H型：A型：

Q型：K型：

（3）四層及多層曲線3.4電測深野外工作和技術(shù)一、測區(qū)和測網(wǎng)密度的選擇二、電極距的選擇1、供電電極距AB的選擇2、測量電極距MN的選擇一、測區(qū)測網(wǎng)的選擇野外工作首先確定測區(qū)位置、范圍和測網(wǎng)密度。測區(qū)范圍一般應(yīng)大于被勘探地質(zhì)體所在構(gòu)造單元的分布范圍，以保證勘測資料中平面和剖面上有完整的反映。電極的排列方向主要決定于構(gòu)造走向、地形以及沿測線的干擾因素。一般講，電極應(yīng)布置在干擾最小的方向，應(yīng)盡量與地形走向、構(gòu)造走向平行，與干擾電場的方向垂直。然而，為了工作方便，往往沿測線布置。二、供電電極距的選擇1、供電電極距AB的選擇（1）最小AB/2的選擇必須保證首支漸近線（ρs→ρ1）明顯。即AB/2min＜h1；（2）最大AB/2的選擇必須保證曲線完整反映最大勘探深度的目的層或基底標(biāo)志層，且尾支漸近線至少有三個(gè)極距點(diǎn)控制。最大電極距要大于探測層埋深H，即AB/2max＞H。（3）相鄰兩個(gè)供電電極距之比通常為

(AB/2)n+1／(AB/2)n=1.2～2

在特殊情況下，如探測巖溶、或水文物探工作等，可適當(dāng)加密極距。2、測量電極距AB的選擇

測量電極距MN的選擇：AB/3≥MN≥AB/303.5復(fù)雜條件下的電測深曲線A、起伏地形上的電測深曲線認(rèn)識：山脊地形影響大于山谷地形同一地形，垂直地形走向布極的地形異常較平行走向布極時(shí)為大，且前者隨極距變化的幅度大，而后者隨極距變化較干穩(wěn)。斜坡中部測點(diǎn)的地形異常較小，山頂或谷底測點(diǎn)異常最大。地形異常主要出現(xiàn)在AB/2小于3a的極距上。平行走向布極，主要出現(xiàn)在AB/2<a的極距；垂直走向布極，極大值出現(xiàn)在AB/2等于a附近。

AB/2>3a后，無論山脊或山谷，無論平行或垂直地形走向布極，地形異常均很小。3.6電測深資料的定性解釋一、定性解釋是定量解釋和推斷地質(zhì)成果的基礎(chǔ)，其正確性直接關(guān)系到定量解釋的結(jié)果和地質(zhì)結(jié)論的可靠性。包括：對電性資料的研究，由鉆孔資料和孔邊測深曲線對比。繪制和分析各種定性解釋圖件，等ρs斷面圖，ρs曲線類型圖等二、電測深曲線特征分析以下是常用圖的定性解釋與編制。三、電測深曲線類型圖編制方法曲線類型圖是由地電斷面的性質(zhì)決定的。編制方法：1）、在工作區(qū)測點(diǎn)分布平面圖的各測點(diǎn)位置處，繪制該點(diǎn)縮小了大電測深曲線，并在首尾部注明實(shí)測視電阻率值；2）、在測點(diǎn)旁邊標(biāo)注相應(yīng)電測深曲線類型符號四、等視電阻率斷面圖編制方法等視電阻率斷面圖反映測線剖面橫向和縱向上電性變化趨勢，是電測深資料解釋中必備的圖件之一。等視電阻率斷面圖繪制方法：以測點(diǎn)為橫坐標(biāo)，AB/2為縱坐標(biāo)，把每個(gè)測點(diǎn)上各電極距觀測的視電阻率值標(biāo)注在相應(yīng)當(dāng)AB/2處，然后采用插值法，將視電阻率值相等的點(diǎn)連成互不相交的圓滑曲線即可。測點(diǎn)AB/2測點(diǎn)AB/2測點(diǎn)AB/220152530303525252030103.7定量解釋

顯然，在坐標(biāo)中，這是一條45°的直線。 尾支呈45°漸近線，是一個(gè)頗有用途的性質(zhì)。在二層斷面情況下，若巳知，可求。在雙對數(shù)坐標(biāo)中，尾支漸近線與的水平直線交點(diǎn)的橫坐標(biāo)即為。而45°漸近線與＝1直線的截距為S1

第四節(jié)電阻率剖面法當(dāng)保持供電電極距AB不動(dòng)時(shí)，電極系探測深度一定，移動(dòng)電極系時(shí)就可以反應(yīng)一定深度范圍內(nèi)的地下電阻率的變化情況，這種方法稱之為電阻率剖面法。電阻率剖面法裝置特點(diǎn)：保持供電電極及測量電極之間的距離不變，幾個(gè)電極同時(shí)沿測線移動(dòng)；在不同測點(diǎn)電流場的作用范圍大致不變，因此，在各測點(diǎn)所觀測的視電阻率的變化反映地下一定深度和范圍內(nèi)介質(zhì)電阻率的變化；電阻率剖面法的應(yīng)用前提：被勘探對象必須與圍巖在水平方向上有明顯電性差異；被勘探對象相對于埋深應(yīng)具有一定規(guī)模；干擾水平相對較低，即被勘探對象引起的異常能從干擾背景中區(qū)分出來；沿測線方向地形起伏不大；電阻率剖面法的分類：聯(lián)合剖面法；中間梯度法；對稱四極剖面法；偶極剖面法；電剖面法的應(yīng)用范圍劃分不同巖性陡立的接觸帶、巖脈；追蹤構(gòu)造破碎帶、地下暗河等；電剖面法電極距的選擇原則:考濾蓋層的厚度(H)及其電阻率，AO≥3H；地電斷面的產(chǎn)狀、規(guī)模，相鄰地質(zhì)體的影響；其它干擾情況；電剖面法野外工作技術(shù)聯(lián)合剖面法聯(lián)合剖面法的特點(diǎn)聯(lián)合剖面法是由兩個(gè)三極裝置組合而成，較其它電剖面法有更為豐富的地質(zhì)信息；聯(lián)合剖面法還具有分辨能力強(qiáng)、異常明顯等優(yōu)點(diǎn)，因此在水文及工程地質(zhì)等調(diào)查中獲得了廣泛的應(yīng)用；由于聯(lián)合剖面法有無窮遠(yuǎn)極，野外工作中有裝置笨重、受地形影響大等缺點(diǎn)。1.4.1聯(lián)合剖面法裝置在每一測點(diǎn)分別用兩個(gè)三極裝置AMN及MNB進(jìn)行觀測；所得視電阻率分別用rsA和rsB表示，在一條剖面上便可獲得兩條視電阻率曲線；一般將rsA用實(shí)線表示，

rsB用虛線表示；公共電極C被置于遠(yuǎn)離測線并大于5AO的距離上，稱為“無窮遠(yuǎn)”極——即相對于觀測地段而言，其影響可以忽略。鏡像法回顧r1r2P1.4.2三極裝置視電阻率公式推導(dǎo)ChinaUniv.ofMining&Tech.(1)直立接觸面上的聯(lián)合剖面rs曲線沒有覆蓋層時(shí)兩種巖石直立接觸面上的聯(lián)合剖面法rs曲線形態(tài)，三極排列AMN位于界面不同位置，r1>r2,MN→0AMN在界面左側(cè)遠(yuǎn)離界面時(shí),此時(shí):三極裝置逐漸接近直立接觸面時(shí)(K12<0,d>x)：ChinaUniv.ofMining&Tech.

因?yàn)镵12<0，MN向界面移動(dòng)過程中d減小，rs的值增大；當(dāng)d=x時(shí)，即MN剛好在接觸面上時(shí)，視電阻率取極大值，即：當(dāng)A點(diǎn)與MN位于直立接觸面兩側(cè)時(shí)：此時(shí)視電阻率曲線為一平直段，長度為AM。ChinaUniv.ofMining&Tech.當(dāng)AMN剛過直立接觸面時(shí)，有(K21>0)：當(dāng)AMN剛過界面時(shí)，由于介質(zhì)1為高阻的排拆作用，jMN>j0，所以rs>r2。當(dāng)d=0時(shí)，取極大值2r1r2/(r1+r2)

；隨著d的增大，視電阻率逐漸減小。當(dāng)AMN在界面右側(cè)，遠(yuǎn)離界面時(shí)界面的排拆作用逐漸減小，rs→r2；曲線出現(xiàn)新的漸近線。ChinaUniv.ofMining&Tech.AMN三級裝置過垂直接觸面時(shí)的rsA剖面線r1>r2MN=0ChinaUniv.ofMining&Tech.MNB三極裝置過直立接觸面時(shí)，r1>r2,MN→0當(dāng)MNB遠(yuǎn)離界面時(shí)，jMN→j0，rs→r1；曲線出現(xiàn)的漸近線。當(dāng)B逐漸接近界面時(shí)，介質(zhì)2對電流具有吸引作用，MN的電流密度減小，此時(shí)視電阻率的計(jì)算公式為：即：隨著B接近界面，視電阻率逐漸減?。划?dāng)B在界面上時(shí)，視電阻率取最小值。實(shí)電源與虛電源電流線方向相反！ChinaUniv.ofMining&Tech.當(dāng)電極B位于介質(zhì)2中，而MN還在介質(zhì)1中時(shí)，有：此時(shí)，視電阻率為一個(gè)常值，視電阻率曲線為平直線。當(dāng)MNB剛過直立界面時(shí)，由于介質(zhì)1的排拆作用，jMN突然減小，視電阻率突然減小當(dāng)d=0，即MN在界面上時(shí)，視電阻率最小。ChinaUniv.ofMining&Tech.MNB三級裝置過垂直接觸面時(shí)的rsB剖面線r1>r2MN=0ChinaUniv.ofMining&Tech.rsA和

rsB剖面線疊合結(jié)果圖r1>r2MN=0ChinaUniv.ofMining&Tech.ChinaUniv.ofMining&Tech.電極距AB對曲線異常幅度無影響，只影響曲線異常的寬度！ChinaUniv.ofMining&Tech.電極距MN只影響曲線異常幅度，對曲線異常的寬度無影響！ChinaUniv.ofMining&Tech.表層浮士對曲線的影響，r1>r2MN=0電極位于無窮遠(yuǎn)時(shí)，視電阻率不再趨近于r1或r2；曲線異常幅度降低。浮士越厚,異常幅度越小.ChinaUniv.ofMining&Tech.兩種直立接觸面聯(lián)合剖面法rs曲線形態(tài)rs曲線的特點(diǎn):在距界面很遠(yuǎn)的地方，

rsA和rsB分別趨近于r1和

r2；在界面上，

rsA和rsB分別出現(xiàn)最大值或最小值，并發(fā)生急劇跳躍；在界面兩側(cè)跳躍的幅度與r1/

r2的比值成正比；異常極值的大小不受AO大小的影響，AO大小只影響異常范圍；MN增大時(shí)，rs曲線變得平緩，極值相對界面位移了MN/2；地表有浮士時(shí)，

rs曲線變得平滑，極值變小，接觸面位于陡曲線上部1/3位置處。ChinaUniv.ofMining&Tech.直立良導(dǎo)體礦脈對電流場的屏蔽作用良導(dǎo)礦體吸引電流線，并把電流沿走向和向深部導(dǎo)走，正是這種“屏蔽作用”造成點(diǎn)電源電流場很大的畸變，因此，可引起了明顯的視電阻率異常。ChinaUniv.ofMining&Tech.直立低阻薄礦脈上聯(lián)合剖面rs曲線曲線關(guān)于礦脈中心對稱，礦脈寬度等于最大最小值間上部1/3處的連線。ChinaUniv.ofMining&Tech.(2)

直立良導(dǎo)體上的rs曲線影響良導(dǎo)礦脈上聯(lián)合剖面rs曲線的因素電阻率差異對rs曲線的影響：礦體電阻率與圍巖電阻率差別倍數(shù)越大，異常越明顯。礦體頂部埋深H對rs曲線的影響：當(dāng)AO較小時(shí)，H↑，

rsA和rsB兩條曲線分離帶和異常幅度均減小。礦脈走向長度L和延深長度d對rs曲線的影響；極距AO對rs曲線的影響：當(dāng)AO很小時(shí)，AO↑異常幅度↑；當(dāng)AO增大到一定程度時(shí)，異常幅度不再增大，反而減小。傾斜程度對rs曲線的影響：MN大小對rs曲線的影響：MN↓，

rs曲線幅度↑陳同俊ChinaUniv.ofMining&Tech.可以通過不同極距AB的聯(lián)合剖面視電阻率曲線追蹤傾斜界面。ChinaUniv.ofMining&Tech.(3)高阻直立礦脈上的rs曲線(1)此時(shí)rsA和rsB曲線關(guān)于高阻礦脈對稱；(2)曲線相交方式與低阻礦脈時(shí)剛好相反——稱為反交點(diǎn)；ABChinaUniv.ofMining&Tech.ChinaUniv.ofMining&Tech.(3)高阻直立礦脈上的rs曲線特點(diǎn)曲線關(guān)于高阻直礦脈左右對稱。在礦脈上方出現(xiàn)高阻反交點(diǎn),即;

遠(yuǎn)離交點(diǎn)的供電電極供電時(shí)的視電阻率較小，靠近交點(diǎn)電極供電時(shí)的視電阻率較大。在本例中，交點(diǎn)左側(cè)rsB>rsA，右側(cè)rsB<rsA。交點(diǎn)處的視電阻率rs>圍巖視電阻率r1。當(dāng)高阻礦脈傾斜時(shí)，交點(diǎn)向下斜方向偏移；傾角越小，不對稱性越強(qiáng)。隨著極距增大，曲線變得復(fù)雜——聯(lián)合剖面法不適合尋找高阻直立礦脈。ChinaUniv.ofMining&Tech.大極距時(shí)高阻直立礦脈的rs曲線r2=7r1AO=10hrsArsBChinaUniv.ofMining&Tech.大極距時(shí)高阻直立礦脈的rs曲線特點(diǎn)在反交點(diǎn)左側(cè)，rsA和rsB同步上升，在反交點(diǎn)右側(cè)rsA和rsB

同步下降。在礦脈左側(cè)，rsA有一不明顯極小值，rsB有一較明顯的極小值和次級極大值；在礦脈右側(cè)有類似情況，只不過rsA

和rsB

情況互換。陳同俊ChinaUniv.ofMining&Tech.不同極距時(shí)球體異常上的視電阻率曲線ChinaUniv.ofMining&Tech.(4)聯(lián)合剖面法資料解釋及應(yīng)用實(shí)例確定直立巖石接觸面（斷層等）的位置 利用rsA陡度最大處或極大值到極小值幅度的1/3處來確定。ABChinaUniv.ofMining&Tech.(4)聯(lián)合剖面法資料解釋及應(yīng)用實(shí)例追索破碎帶走向,確定傾向在剖面平面圖上，低阻正交點(diǎn)的聯(lián)線即為破碎帶走向；rsA和rsB不對稱，說明破碎帶傾斜，傾向的確定可根據(jù)極小值點(diǎn)大小和不同極距AO時(shí)正交點(diǎn)的偏移方向來判斷。ChinaUniv.ofMining&Tech.剖面平面圖所謂剖面平面圖：在進(jìn)行區(qū)域勘探時(shí)，將測線按一定的水平比例尺繪在平面圖上，然后選擇合適的參數(shù)比例尺繪出每條測線的rs剖面曲線。包含異常的剖面分布特點(diǎn);包含異常的平面分布特點(diǎn);能直觀地反映整個(gè)測區(qū)在一定深度范圍內(nèi)電性異常體的分布規(guī)律。ChinaUniv.ofMining&Tech.1—測線；2—基線；3—測點(diǎn)；4—曲線；5—

正、反交點(diǎn)；6—低阻正交點(diǎn)異常軸；7—反交點(diǎn)異常軸；8—巖性接觸帶ChinaUniv.ofMining&Tech.1.3.2對稱四極剖面法對稱四極裝置如圖所示可以將對稱四極裝置看作是兩個(gè)三級裝置的組合，因此，對稱四極剖面法的測量結(jié)果和相同極距聯(lián)合剖面法的測量結(jié)果存在以下關(guān)系，即：對稱四極剖面曲線等于相同極距聯(lián)合剖面曲線的平均值。ChinaUniv.ofMining&Tech.ChinaUniv.ofMining&Tech.對稱四極剖面與聯(lián)合剖面曲線的關(guān)系低阻直立礦脈(1)關(guān)于直立礦脈左右對稱;(2)最小視電阻率>r0,<r1;ChinaUniv.ofMining&Tech.對稱四極剖面法曲線直立接觸面——理論曲線地表有浮士時(shí)實(shí)際曲線ChinaUniv.ofMining&Tech.對稱四極剖面法rs曲線定性分析圖高阻突起ChinaUniv.ofMining&Tech.復(fù)合對稱四極剖面法對稱四極剖面法存在的問題——多解性

如左圖的中間上升段，可解釋為：高阻基巖的隆起，也可以解釋為低阻基巖的凹陷——多解性。對稱四極剖面法的缺陷！ChinaUniv.ofMining&Tech.復(fù)合對稱四極剖面法解決方法設(shè)計(jì)兩個(gè)不同極距AB的對稱四極裝置，并保持測量電極MN極距不變，同時(shí)使用這兩種對稱四極裝置進(jìn)行測量的方法稱為復(fù)合對稱四極剖面法。比較兩個(gè)不同極距AB的測量結(jié)果即可解決對稱四極剖面法的多解性問題。設(shè)：大極距AB，視電阻率曲線rs；小極距A’B’，視電阻率曲線rs’。極距↓,視電阻率↓,上部地層電阻率<下部地層，即為高阻隆起！極距↓,視電阻率↑,上部地層電阻率>下部地層，即為低阻凹陷！ChinaUniv.ofMining&Tech.復(fù)合對稱四極剖面法應(yīng)用解決地質(zhì)構(gòu)造形態(tài)（背斜、向斜、斷層位置等）地質(zhì)填圖圈定傾斜煤層的露頭位置等高阻異常？低阻異常？ChinaUniv.ofMining&Tech.橫穿古河道的對稱四極剖面rs曲線1—砂礫巖；2—堅(jiān)硬砂巖此時(shí)以曲線的兩個(gè)拐點(diǎn)作為河道寬。ChinaUniv.ofMining&Tech.1.3.3

中間梯度法裝置特點(diǎn)

AB=(70～80)HH浮土厚度

MN=(1/30～1/50)AB工作過程供電電極AB不動(dòng)，測量電極MN間距離不變，在AB中部1/3范圍內(nèi)沿測線逐點(diǎn)移動(dòng)，觀測MN間的電位差，并計(jì)算各測點(diǎn)(MN中點(diǎn))的視電阻率rs=K△U/I。每次測量時(shí)裝置系數(shù)K相同嗎？ChinaUniv.ofMining&Tech.1.3.3

中間梯度法由于中間梯度法的裝置系數(shù)K在每一個(gè)測點(diǎn)都不同，因此，在施工之前應(yīng)將各測點(diǎn)的K值計(jì)算出來。中間梯度法rs曲線對高/低阻礦脈的響應(yīng)特征測線垂直直立高阻礦脈：