NBT 47013.3-2023 承壓設備無損檢測 第3 部分：超聲檢測

CCSH26代替NB/T47013.3—2015承壓設備無損檢測第3部分：超聲檢測2023-12-28發(fā)布2024-06-28實施根據(jù)《中華人民共和國標準化法》《能源標準化管理辦法》,國家能源局批準《新能源場站智能化建設基本技術規(guī)范》等281項能源行業(yè)標準(附件1)、《SpecificationforPreparationofSpecialGeologicalReportonImpoundment-AffectedAreafor等33項能源行業(yè)標準外文版(附件2)、《水電工程放射性探測技術規(guī)程》等3項能源行業(yè)標準修改通知單(附件3),現(xiàn)予以發(fā)布。附件：行業(yè)標準目錄二〇二三年十二月二十八日H標準編號標準名稱代替標準(略)NB/TI1474-2023大氣環(huán)境腐蝕試驗出版社2024-06-28NB/T11475-2023瓶式壓力容器出版社2024-06.28在用焦炭塔檢驗出版社2023-12.22024-06-28NB/T11477-2023JB/T50037-1997出版社202312-282024-06-28(略)NB/T470133—2023出版社2024-06-28NB/T47014-2(23NB/T47614-2011出版社2024-06-28NB/T47015-2023壓力容器焊接規(guī)程出版社2024-06-28NB/T47016-2(23NB/T47016-2011出版社2024-06-28NB/T47028-2023出版社2024406-28NB/T47029-2023NB/T47029-20122024-06-28減溫減壓裝置NB/T47033-2013出版社2024-06-8前言 Ⅲ 12規(guī)范性引用文件 13術語和定義 14一般要求 25承壓設備用原材料或零部件的超聲檢測方法和質量等級評定 96承壓設備焊接接頭超聲檢測方法和質量等級評定 7承壓設備厚度的超聲測定方法 8在用承壓設備超聲檢測方法 9超聲檢測記錄和報告 附錄A(規(guī)范性)超聲檢測儀電氣性能指標要求 附錄B(規(guī)范性)超聲檢測用探頭性能指標要求 附錄C(規(guī)范性)雙晶直探頭性能要求 附錄D(規(guī)范性)承壓設備用板材超聲斜探頭檢測方法和驗收標準 附錄E(規(guī)范性)承壓設備用碳素鋼、低合金鋼制環(huán)形和簡形鍛件超聲斜探頭檢測方法和質量等級評定 附錄F(規(guī)范性)承壓設備用奧氏體型不銹鋼環(huán)形和筒形鍛件超聲斜探頭檢測方法 附錄G(規(guī)范性)承壓設備堆焊層超聲檢測方法和質量等級評定 附錄H(規(guī)范性)鋁和鋁合金制及鈦制承壓設備對接接頭超聲檢測方法和質量等級評定 附錄I(規(guī)范性)承壓設備奧氏體型不銹鋼及鎳基合金焊接接頭超聲檢測方法和質量等級評定 附錄J(規(guī)范性)承壓設備曲面縱向對接接頭的超聲檢測方法 附錄K(規(guī)范性)承壓設備曲面環(huán)向對接接頭的超聲檢測方法 附錄L(規(guī)范性)承壓設備接管與筒體(或封頭)角接接頭超聲檢測方法 附錄M(規(guī)范性)承壓設備T形焊接接頭超聲檢測方法 附錄N(規(guī)范性)不同類型焊接接頭超聲檢測的具體要求 附錄O(規(guī)范性)CSK-IIA試塊 附錄P(規(guī)范性)聲能傳輸損耗差的測定 附錄Q(規(guī)范性)回波動態(tài)波形模式 附錄R(規(guī)范性)缺陷測高方法(一):端點衍射波法測定缺陷高度 附錄S(規(guī)范性)缺陷測高方法(二):端部最大回波法測定缺陷高度 附錄T(規(guī)范性)缺陷測高方法(三):-6dB法測定缺陷高度 附錄U(資料性)采用成像技術的承壓設備超聲檢測方法 本文件按照GB/T1.1—2020《標準化工作導則第1部分：標準化文件的結構和起草規(guī)則》的本文件是NB/T47013《承壓設備無損檢測》的第3部分。NB/T47013已經(jīng)發(fā)布了以下部分： 第1部分：通用要求； 第2部分：射線檢測； 第3部分：超聲檢測； 第5部分：滲透檢測；——第6部分：渦流檢測； 第8部分：泄漏檢測； 第9部分：聲發(fā)射檢測； 第10部分：衍射時差法超聲檢測； 第11部分：射線數(shù)字成像檢測： 第12部分：漏磁檢測； 第13部分：脈沖渦流檢測； 第14部分：射線計算機輔助成像檢測； 第15部分：相控陣超聲檢測。本文件代替NB/T47013.3—2015《承壓設備無損檢測第3部分：超聲檢測》,與NB/T47013.3—2015相比，除結構調整和編輯性改運之外，主要技術變化如下，a)明確了對比試塊由通用對比試塊和專用對比試塊組成，并規(guī)定了適用范圍；b)進一步明確了工藝驗證及工藝驗證方式等；c)調整了承壓設備板材超聲檢測的適用范圍，從6mm～250mm擴大到大于或等于6mm;d)擴大了承壓設備縱向對接接頭的適用范圍，從適用于內外徑比≥65%調整到內外徑比≥60%;e)增加了承壓設備復合鋼板壁厚測定方法；f)對附錄E“承壓設備用碳素鋼、低合金鋼制環(huán)形和筒形鍛件超聲斜探頭檢測方法和質量等級評定”進行了整體修改，擴大了適用范圍，修改了對比試塊及參考反射體，修改了檢測g)對附錄F“承壓設備用奧氏體型不銹鋼環(huán)形和筒形鍛件超聲斜探頭檢測方法”進行了整體修改，擴大了適用范圍，修改了檢測方法等；h)對附錄I“承壓設備奧氏體型不銹鋼及鎳基合金焊接接頭超聲檢測方法和質量等級評定”進行了整體修改，擴大了適用范圍，修改了對比試塊，增加了檢測技術等級，規(guī)定了縱向缺陷和橫向缺陷的檢測方法等；i)新增了資料性附錄U“采用成像技術的承壓設備超聲檢測方法”,為可記錄超聲提供了檢測方法。NB/T47013.3—2023本文件由全國鍋爐壓力容器標準化技術委員會(SAC/TC262)提出并歸口。本文件起草單位：合肥通用機械研究院有限公司、中國特種設備檢測研究院、上海電氣核電設備有限公司、中國第一重型機械集團大連加氫反應器制造有限公司、森松(江蘇)重工有限公司、中國科學院聲學研究所、浙江省特種設備科學研究院、蘭州蘭石重型裝備股份有限公司、四川佳誠油氣管道質量檢測有限公司、中國能源建設集團浙江火電建設有限公司、武漢中科創(chuàng)新技術股份有限公司、汕頭市超聲儀器研究所股份有限公司、浙江優(yōu)爾特檢測科技有限公司、山東瑞祥模具有限公司。本文件主要起草人：閻長周、鄭暉、許遵言、周鳳革、周裕峰、江雁山、廉國選、陳賢洮、金南輝、宿再春、原可義、程經(jīng)緯、吳勇、許云偉、林光輝、陳宏龍、柳章龍、魏忠瑞。本文件及其所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為：——JB4730—1994;——JB/T4730.3—2005; NB/T47013.3—2015。1承壓設備無損檢測第3部分：超聲檢測1.1本文件規(guī)定了承壓設備采用A型脈沖反射法超聲檢測的方法和質量等級評定要求。1.2本文件適用于承壓設備生產(chǎn)和使用過程中金屬材料制原材料、零部件和焊接接頭的超聲檢測。1.3與承壓設備有關的金屬材料制支承件和結構件(包括焊接接頭)的超聲檢測，可參照本文件的規(guī)定執(zhí)行。1.4當采用A型顯示和其他顯示方式相結合的超聲成像技術進行檢測時，也可參照本文件的規(guī)定下列文件中的內容通過文中的規(guī)范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應的版本適用于本文件，不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T699優(yōu)質碳素結構鋼GB/T11259無損檢測超聲檢測用鋼參考試塊的制作和控制方法GB/T12604.1無損檢測術語超聲檢測GB/T27664.1無損檢測超聲檢測設備的性能與檢驗第1部分：儀器GB/T27664.2無損檢測超聲檢測設備的性能與檢驗第2部分：探頭GB/T29460含缺陷聚乙烯管道電熔接頭安全評定GB/T30579承壓設備損傷模式識別JB/T8428無損檢測超聲試塊通用規(guī)范JB/T9214無損檢測A型脈沖反射式超聲檢測系統(tǒng)工作性能測試方法JB/T10062超聲探傷用探頭性能測試方法NB/T47013.1承壓設備無損檢測第1部分：通用要求NB/T47013.15承壓設備無損檢測第15部分：相控陣超聲檢測ISO/IEC17025TestingandcalibrationlaboratoriesGB/T12604.1和NB/T47013.1界定的以及下列術語和定義適用于本文件。鍛件檢測時，在靠近缺陷處的完好區(qū)域內第一次底面回波波幅B。與缺陷區(qū)域內的第一次底面回波波幅Br的比值，[用二者相對增益值(dB值)來表示]。2NB/T47013.3—2023密集區(qū)缺陷clusteredindications鍛件檢測時，邊長為50mm的立方體區(qū)域內同時存在5個或5個以上且其反射波幅均大于或等于某一特定平底孔當量的缺陷反射信號。參考靈敏度referencesensitivity將對比試塊上參考反射體的回波高度或被檢工件的底面回波高度調整到某一基準時的靈敏度。基準靈敏度evaluationsensitivity在參考靈敏度基礎上，考慮對比試塊與被檢工件之間因表面粗糙度不同、曲率不同、材質差異等因素進行調整后所得到的靈敏度?；鶞熟`敏度主要用于工件的檢測和缺陷的評定。掃查靈敏度scanningsensitivity在基準靈敏度基礎上，適當提高儀器增益(dB值)后用于實際檢測掃查的靈敏度。缺陷高度flawheight缺陷上下端點在工件厚度方向上的距離?；夭▌討B(tài)波形echodynamicpatterns探頭與反射體相對移動時，反射體回波波幅變化的包絡線。1)對于板材和管材，工件厚度t為其公稱厚度。2)對于復合鋼板，工件厚度t為基材公稱厚度。3)對于環(huán)形或筒形鍛件，工件厚度t為筒體厚度；對于餅形或類似鍛件，工件厚度t為其最小厚度；對于其他類型鍛件，工件厚度t一般指檢測方向上的尺寸，或指沿徑向或軸向的尺寸。b)焊接接頭：1)對于平板對接接頭，焊縫兩側母材厚度相等時，工件厚度t為母材公稱厚度；焊縫兩側母材厚度不等時，工件厚度t為薄側母材公稱厚度。2)對于插入式接管角接接頭，工件厚度t為筒體(或封頭或母管)公稱厚度；對于接管與筒體(或封頭或母管)安放式角接接頭，工件厚度t為接管公稱厚度。3)對于T形焊接接頭，工件厚度t為腹板公稱厚度。4一般要求4.1檢測人員4.1.1對超聲檢測人員的一般要求應符合NB/T47013.1的規(guī)定。4.1.2超聲檢測人員除理解和掌握基本的超聲理論和必要的實踐經(jīng)驗外，還應具備一定的金屬材3料、設備制造安裝、焊接及熱處理等方面的基本知識，熟悉被檢工件的材質、制造工藝及聲學特性等，并能對檢測中出現(xiàn)的問題能作出分析、判斷和處理。4.2檢測設備和器材4.2.1超聲檢測儀器(以下簡稱“儀器”)和探頭產(chǎn)品質量合格證明儀器產(chǎn)品質量合格證中應至少給出預熱時間、低電壓報警電壓或低電壓自動關機電壓、發(fā)射脈沖重復頻率、有效輸出阻抗、發(fā)射脈沖電壓、發(fā)射脈沖上升時間、發(fā)射脈沖寬度(采用方波脈沖作為發(fā)射脈沖時)以及接收電路頻帶等主要性能參數(shù)；探頭質量合格證中應給出中心頻率、帶寬、電阻抗或靜電容、相對脈沖回波靈敏度以及斜探頭聲束性能(包括探頭入射點或前沿、探頭折射角β或K值等)等主要參數(shù)。4.2.2儀器、探頭和組合性能采用A型脈沖反射式超聲檢測儀，其工作頻率按-3dB測量應至少包括0.5MHz～10MHz頻率范圍，儀器的性能指標應滿足附錄A的要求，并按規(guī)格型號提供具有ISO/IEC17025認可的第三方4.2.2.2探頭圓形晶片直徑一般應小于或等于40mm,方形晶片任一邊長一般應不大于40mm,探頭的性能指標應滿足附錄B的要求，并按規(guī)格型號提供具有ISO/IEC17025認可的第三方實驗室出具的證明文件。4.2.2.3儀器和探頭的組合性能4.2.2.3.1儀器和探頭的組合性能包括水平線性、垂直線性、組合頻率、靈敏度余量、盲區(qū)(僅限直探頭)和遠場分辨力。4.2.2.3.2在下列任一情況時應測定儀器和探頭的組合性能：a)新購置的超聲檢測儀器和(或)探頭；b)儀器和探頭在維修或更換主要部件后；c)檢測人員有懷疑時。4.2.2.3.3水平線性偏差應不大于1%,垂直線性偏差應不大于5%。4.2.2.3.4儀器和探頭的組合頻率與探頭標稱頻率偏差應不大于10%。4.2.2.3.5儀器-直探頭組合性能還應符合以下要求：a)靈敏度余量應不小于32dB;b)在基準靈敏度下，對于標稱頻率為5MHz的探頭，盲區(qū)應不大于10mm;對于標稱頻率為2.5MHz的探頭，盲區(qū)應不大于15mm;c)直探頭遠場分辨力應不小于20dB。4.2.2.3.6儀器-斜探頭組合性能還應符合以下要求：a)靈敏度余量應不小于42dB;b)斜探頭遠場分辨力應不小于12dB。4.2.2.3.7在達到所探工件的最大檢測聲程時，其有效靈敏度余量應不小于10dB。4.2.2.3.8儀器和探頭組合頻率的測試方法應符合JB/T10062的規(guī)定，其他組合性能的測試方法應符合JB/T9214的規(guī)定。4NB/T47013.3—20234.2.3試塊4.2.3.1標準試塊4.2.3.1.1標準試塊應為具有規(guī)定的化學成分、表面粗糙度、熱處理及幾何形狀的材料塊，用于評定和校準儀器探頭系統(tǒng)性能。本文件采用的標準試塊為CSK-IA、DZ-I和DB-PZ20-2。4.2.3.1.2CSK-IA試塊的具體幾何形狀、尺寸及表面粗糙度等符合本文件的規(guī)定，DZ-I試塊和DB-PZ20-2試塊的具體幾何形狀、尺寸及表面粗糙度等應符合JB/T9214的規(guī)定。4.2.3.1.3標準試塊的制造和尺寸精度應符合JB/T8428的規(guī)定，試塊制造商應提供產(chǎn)品質量合格證，并確保在相同測試條件下比較其所制造的每一標準試塊與國家標準樣品或類似具備量值傳遞基準的標準試塊上的同種反射體(面)時，其最大反射波幅差應小于或等于2dB。4.2.3.2對比試塊4.2.3.2.1對比試塊應為與試件或被檢材料聲學特性相似、含有意義明確的參考反射體、用以調節(jié)超聲檢測儀的幅度和(或)時基線，以將所檢出的不連續(xù)信號(即缺陷信號)與參考反射體所產(chǎn)生的信號相比較的試塊。4.2.3.2.2當采用直探頭檢測時，對比試塊所用原材料中不得有大于或等于φ2mm平底孔當量的缺陷。4.2.3.2.3不同被檢工件超聲檢測用對比試塊參考反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應符合本文件相關章節(jié)及附錄的規(guī)定。4.2.3.2.4對比試塊的尺寸公差在本文件有明確要求時按本文件的規(guī)定制作，無明確要求時應按JB/T8428的規(guī)定制作。4.2.3.2.5對比試塊分為通用對比試塊和專用對比試塊4.2.3.2.5.1通用對比試塊a)通用對比試塊的幾何形狀、尺寸和參考反射體設置按本文件各章節(jié)圖樣規(guī)定，其尺寸精b)通用對比試塊的制作材料應選用電爐或平爐熔煉的20#優(yōu)質碳素結構鋼，化學成分符合GB/T699的規(guī)定，經(jīng)鍛壓成形后再作正火處理以確保材質均勻而不存在聲各向異性，晶粒度7級～8級；當采用直探頭檢測時不得有大于或等于φ2mm平底孔當量的缺陷。4.2.3.2.5.2專用對比試塊a)專用對比試塊與被檢工件的材料聲學性能(二者間聲速偏差率應不超過±1%,用5MHz探頭測試的衰減系數(shù)相差應不超過±2dB/m)和制造工藝相同或相似。b)專用對比試塊的外形幾何尺寸應在一定程度上能代表被檢工件的特征，試塊厚度應與被檢工件的厚度相對應。如果涉及不同工件厚度對接接頭的檢測，試塊厚度的選擇應由較大工件厚度確定。c)若作為4.3.3所規(guī)定的工藝驗證用途時，還應考慮被檢工件中可能存在的缺陷類型、大小、位置和取向并設置相應的參考反射體。4.2.3.2.5.3對比試塊選用的一般原則a)對于碳素鋼、低合金鋼制原材料、零部件或焊接接頭，可采用通用對比試塊；h)對于中合金鋼、高合金鋼制原材料、零部件或焊接接頭，應采用專用對比試塊；c)對于因試塊類型選擇不同而造成檢測結果的差異時，應以專用對比試塊為準。54.2.3.3.1模擬試塊是指含有模擬缺陷的試塊，主要用于檢測工藝驗證。4.2.3.3.2模擬試塊的材料和聲學特性應與被檢工件相同或相近(聲速偏差率應不大于1%,用5MHz探頭測試的衰減系數(shù)偏差應不大于2dB/m),當采用直探頭檢測試塊所用原材料時，不得有大于或等于φ2mm平底孔當量的缺陷。4.2.3.3.3模擬試塊的幾何形狀、厚度和表面條什均應與被檢工件相同或相近。4.2.3.3.4對于焊接接頭，其模擬缺陷應采用與被檢工件相同焊接方法制備或使用以往檢測中發(fā)現(xiàn)4.2.3.3.5模擬缺陷的類型、位置、尺寸和數(shù)量設置應考慮被檢工件中可能存在的缺陷狀態(tài)。對于焊接接頭，應至少包括縱向和橫向缺陷，體積型和面積型缺陷、表面和埋藏缺陷等，缺陷長度一般不大于相應承壓設備合格質量等級所規(guī)定的相同工件厚度的最大允許缺陷尺寸，可由一塊或多塊同厚度范圍的試塊組成。4.2.4耦合劑4.2.4.1耦合劑透聲性應較好且不損傷檢測表面，如機油、化學漿糊、甘油和水等。4.2.4.2耦合劑污染物含量的控制4.2.4.2.1鎳基合金上使用的耦合劑含硫量應不大于250mg/L。4.2.4.2.2奧氏體型不銹鋼或鈦材上使用的耦合劑鹵素(氯和氟)的總含量應不大于250mg/L。4.2.5超聲檢測設備和器材的校準、核查、運行核查和檢查的要求4.2.5.1校準、核查和運行核查應在標準試塊和對比試塊上進行，應使探頭主聲束垂直對準反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定和最大的反射信號。4.2.5.2校準或核查4.2.5.2.1應至少每年對超聲檢測儀和探頭組合性能中的水平線性和垂直線性、組合頻率、盲區(qū)(僅限直探頭)、靈敏度余量、分辨力以及儀器的衰減器精度，進行一次校準并記錄，測試要求應4.2.5.2.2應至少每年對標準試塊與對比試塊的表面腐蝕與機械損傷，進行一次核查。4.2.5.2.3應至少每5年宜將標準試塊與國家標準樣品或類似具備量值傳遞基準的標準試塊的同種反射體(面)回波幅度進行一次核查，其差值應小于或等于2dB。4.2.5.3運行核查4.2.5.3.1模擬超聲檢測儀每3個月或數(shù)字超聲檢測儀每6個月至少對儀器和探頭組合性能中的水平線性和垂直線性，進行一次運行核查并記錄，測試要求應符合4.2.2.3的規(guī)定。4.2.5.3.2應至少每3個月對盲區(qū)(僅限直探頭)、靈敏度余量和分辨力進行一次運行核查并記4.2.5.4.1每次檢測前應檢查超聲檢測設備和器材的外觀、線纜連接和開機信號顯示等情況是否正常。4.2.5.4.2使用斜探頭時，檢測前應測定探頭入射點(前沿)和探頭折射角(K值)。4.2.5.5校準、運行核查和檢查時的注意事項校準、運行核查和檢查時，應將影響儀器線性的控制器(如抑制或濾波開關等)均置于“關”的位置或處于最低水平上。64.3檢測工藝4.3.1檢測工藝文件4.3.1.1檢測工藝文件由工藝規(guī)程和操作指導書組成。4.3.1.2工藝規(guī)程4.3.1.2.1工藝規(guī)程應符合NB/T47013.1的規(guī)定。4.3.1.2.2工藝規(guī)程應由檢測機構依據(jù)相關法規(guī)、產(chǎn)品標準、有關的技術文件和本文件的規(guī)定等進行編制。4.3.1.2.3檢測機構還應依據(jù)本身的特點、技術能力及資源條件等進行工藝規(guī)程編制。4.3.1.2.4當工藝規(guī)程依據(jù)的相關法規(guī)、產(chǎn)品標準、有關的技術文件和本文件的規(guī)定有變動時，或者依據(jù)的檢測機構的特點和技術能力及資源條件等有變化時，檢測機構應重新編制或修訂工藝4.3.1.2.5工藝規(guī)程應規(guī)定表1和相關章節(jié)及附錄所列相關因素的適用范圍或要求。相關因素的變化超出規(guī)定的范圍或要求時(表1中第13～第16項除外),檢測機構應重新修訂工藝規(guī)程。序號相關因素的內容1工件形狀包括規(guī)格、材質等2檢測面(側)的選取3檢測技術(直探頭檢測、斜探頭檢測、直接接觸法、液浸法等)4斜探頭的折射角(K值)及在工件中的波型(橫波、縱波);直探頭或斜探頭標稱頻率、晶片尺寸、晶片形狀及晶片數(shù)5檢測儀器類型6校準(試塊及校準方法)7掃查方向及掃查范圍8掃查方式(手動或自動)9結構回波與缺陷信號的辨別方法缺陷定量及評定方法掃查覆蓋要求人員資格要求檢測面或試塊的表面狀況要求耦合劑類型或牌號計算機數(shù)據(jù)采集(使用時)方法；是否需要自動報警和/或自動記錄裝置(使用時)檢測記錄及報告要求4.3.1.3操作指導書4.3.1.3.1檢測機構應根據(jù)工藝規(guī)程所規(guī)定的相關因素的具體適用范圍或要求，并結合被檢工件的具體檢測要求編制操作指導書。74.3.1.3.2當工藝規(guī)程重新編制或修訂時，檢測機構應編制新的操作指導書。4.3.1.3.3當表1和相關章節(jié)及附錄所列相關因素發(fā)生變化時，盡管此時的變化(表1中第12~第16項除外)并沒有超出工藝規(guī)程規(guī)定相關因素的具體適用范圍或要求，檢測機構也應編制新的4.3.1.3.4操作指導書的內容應符合NB/T47013.1規(guī)定的同時，還應至少包括a)檢測技術要求：檢測技術(直探頭檢測、斜探頭檢測、直接接觸法、液浸法等)和檢測波b)檢測對象：承壓設備類別，檢測對象的名稱、規(guī)格、材質和熱處理狀態(tài)、檢測時機、檢測部位、工件表面溫度等。c)檢測設備器材：儀器型號、探頭規(guī)格、耦合劑、試塊種類，儀器和探頭性能檢測的項d)檢測工藝相關技術參數(shù)：掃查方向及掃查范圍、缺陷定量方法和評定要求等。4.3.1.3.5操作指導書在首次應用前應進行工藝驗證。4.3.2檢測工藝技術要求4.3.2.1檢測時機在承壓設備的生產(chǎn)和使用過程中，檢測時機應符合相關法規(guī)、規(guī)程、產(chǎn)品標準及有關技術文件4.3.2.2檢測技術等級4.3.2.2.1鋼制承壓設備用原材料、零部件的超聲檢測，不劃分技術等級。4.3.2.2.2鋼制承壓設備焊接接頭的超聲檢測技術等級分為A級、B級、C級三個等級；若因結構等原因不能完全滿足檢測技術等級要求時，檢測機構應采取有效技術措施并制訂專用操作指導書，按4.3.3進行工藝驗證。4.3.2.3不同類別檢測對象的一般檢測方式4.3.2.3.1對于原材料管子的檢測，一般采用橫波斜入射檢測；對于其他原材料及零部件檢測，一般采用縱波直入射檢測，必要時增加橫波或縱波斜入射檢測。4.3.2.3.2對于承壓設備焊接接頭，一般采用橫波斜入射檢測，檢測技術等級為C級時還應增加4.3.2.4檢測面(側)的選取4.3.2.4.1檢測面(側)的選取應綜合考慮被檢工件的結構、制造工藝、缺陷的可能部位和取向以及檢測實施的可操作性等因素。4.3.2.4.2對于焊接接頭檢測，檢測面的選取還應考慮所采用的檢測技術等級。4.3.2.5耦合劑的選用及工件表面溫度要求實際檢測采用的耦合劑應與檢測系統(tǒng)設置和校準時的耦合劑相同。采用常規(guī)的探頭和耦合劑時，被檢工件的表面溫度應控制在0℃~50℃;若溫度超過50℃或低于0℃,可采用特殊的探頭或耦合劑；檢測系統(tǒng)設置和校準與實際檢測溫度之差應控制在15℃之內。a)碳素鋼、低合金鋼制原材料或零部件的檢測；b)碳素鋼、低合金鋼制焊接接頭的檢測(4.3.3.2規(guī)定的除外)。84.3.3.2以下情況時，應采用專用對比試塊(此時試塊應按4.2.3.2.5.2c)進行制作]或模擬試塊進行工藝驗證(其中d)項僅能采用模擬試塊進行工藝驗證],試塊應覆蓋工藝規(guī)程中該類對象范圍，至少包含工件規(guī)格的最小值和最大值，并選用相應的試塊進行工藝驗證。a)中合金鋼、高合金鋼制原材料或零部件母材的檢測；b)鐵素體型中合金鋼、鐵素體型高合金鋼制焊接接頭的檢測，其他細晶各向同性和低聲衰減金屬材料承壓設備焊接接頭的超聲檢測；c)鐵素體-奧氏體型、奧氏體型鋼制焊接接頭的檢測，異種鋼焊接接頭的檢測，奧氏體焊接接頭的檢測，鎳基合金焊接接頭的檢測；d)因結構等原因不能完全符合檢測技術等級要求的焊接接頭；e)本文件相關章節(jié)及附錄明確規(guī)定時；f)合同技術要求或相關方認為必要時。4.3.3.3使用通用對比試塊進行工藝驗證時，驗證內容應包括檢測聲程范圍內靈敏度及靈敏度余量、信噪比等符合檢測要求。4.3.3.4使用專用對比試塊或模擬試塊進行工藝驗證時：a)驗證內容應包括檢測聲程范圍內靈敏度、信噪比、聲束覆蓋范圍、參考反射體或缺陷的回波或顯示等符合檢測要求；b)應能夠檢測出試塊中所有設置的缺陷；c)測量的缺陷尺寸(指示長度、高度等)應不小于缺陷實際尺寸；d)對于模擬試塊，應能夠確定缺陷類型(體積型、面積型等)。4.3.3.5使用專用對比試塊或模擬試塊進行的工藝驗證也可采用超聲仿真的方式替代進行，但所采用的仿真技術應經(jīng)技術驗證和現(xiàn)場試驗符合實際檢測要求，同時提供相關證明文件。4.4安全要求檢測場所、環(huán)境及安全防護應符合NB/T47013.1的規(guī)定。4.5檢測實施4.5.1檢測準備4.5.1.1在承壓設備的制造、安裝及在用檢驗中，超聲檢測時機及檢測比例的選擇等應符合相關法規(guī)、標準及有關技術文件的規(guī)定。4.5.1.2所確定的檢測面(側)應保證工件的被檢區(qū)域能得到充分檢測或100%覆蓋。4.5.1.3焊縫的表面質量應經(jīng)外觀檢查合格；檢測面(探頭經(jīng)過的區(qū)域)上所有影響檢測的油漆、銹蝕、飛濺和污物等均應予以清除，其表面粗糙度應符合檢測要求；表面的不規(guī)則狀態(tài)不應影響檢測結果的有效性。4.5.2掃查覆蓋為確保檢測時超聲聲束能掃查到工件的整個被檢區(qū)域，探頭的相鄰掃查覆蓋應大于探頭晶片直徑或寬度的10%,并符合本文件相應章節(jié)及附錄的檢測覆蓋規(guī)定。4.5.3掃查速度手工掃查速度應不超過150mm/s;當采用超聲成像技術進行檢測或全自動掃查時，掃查速度應通過對比試驗進行確定。4.5.4基準靈敏度的調整(相對于參考靈敏度)a)耦合補償：在檢測和缺陷定量時，應補償由對比試塊與被檢工件表面粗糙度不同引起的9NB/T47013.3—2023b)衰減補償：在檢測和缺陷定量時，應補償由對比試塊與被檢工件材質衰減不同引起的靈敏度下降和缺陷定量偏差。c)曲面補償：在檢測和缺陷定量時，對檢測面是曲面的工件，應補償由工件和對比試塊曲率半徑不同引起的耦合損失差。4.5.5掃查靈敏度掃查靈敏度的設置應符合本文件相關章節(jié)及附錄的規(guī)定。4.5.6缺陷定量a)應按本文件相關章節(jié)及附錄的規(guī)定進行缺陷定量；b)對缺陷進行定量時，應考慮檢測面曲率、缺陷深度及聲束寬度等對缺陷長度的影響，并進行適當?shù)男拚?.5.7儀器和探頭系統(tǒng)的復核4.5.7.1下列任一情況下應對系統(tǒng)進行復核：a)探頭、耦合劑和儀器設置參數(shù)發(fā)生改變；b)懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化；c)已連續(xù)工作4h以上；d)工作結束。4.5.7.2掃描量程的復核如果任意一點在掃描線上的偏移量超過掃描線該點讀數(shù)的10%或全掃描量程的5%(取大值),則掃描量程應重新調整，并對上一次復核以來所有的檢測部位進行復檢。4.5.7.3參考靈敏度的復核(基準靈敏度的復核)復核時，在檢測范圍內如發(fā)現(xiàn)參考靈敏度或距離-波幅曲線上任一深度參考反射體回波幅度與校準時相比下降超過2dB,則應對上一次復核以來所有的檢測部位進行復檢；如回波幅度與校準時相比上升大于或等于2dB,則應對上一次復核以來所有的記錄信號進行重新評定。5承壓設備用原材料或零部件的超聲檢測方法和質量等級評定5.1范圍本章規(guī)定了承壓設備用原材料或零部件的超聲檢測方法和質量等級評定。5.2承壓設備用原材料或零部件的超聲檢測工藝文件原材料或零部件的超聲檢測工藝文件除應符合4.3的規(guī)定外，還應包括表2所列的相關因素。表2原材料或零部件超聲檢測工藝規(guī)程涉及的相關因素序號相關因素的內容1產(chǎn)品型式(板材、管材、鍛件等)2檢測時機(如熱處理前或后)3檢測范圍4質量驗收等級5.3承壓設備用板材超聲檢測方法和質量等級評定5.3.1范圍5.3.1.1本條適用于工件厚度大于或等于6mm的碳素鋼、低合金鋼制承壓設備用板材的超聲檢測方法和質量等級評定。5.3.1.2對于中合金鋼板材的超聲檢測，對比試塊原則上應采用相應材質的專用對比試塊，檢測方法按本條執(zhí)行，質量等級評定應符合本條的規(guī)定。5.3.1.3對于高合金鋼(含鐵素體型、鐵素體-奧氏體型、奧氏體型、高錳奧氏體型等)、鋁及鋁合金、鈦及鈦合金、鎳及鎳合金、銅及銅合金等板材的超聲檢測，對比試塊應采用相應材質的專用對比試塊，檢測方法參照本條執(zhí)行，質量等級評定應符合本條的規(guī)定。5.3.1.4采用成像技術的板材超聲檢測方法見附錄U,質量等級評定應符合本條的規(guī)定。5.3.2檢測原則5.3.2.1板材一般采用直探頭進行檢測。5.3.2.2在檢測過程中對缺陷有疑問或合同雙方技術協(xié)議中有規(guī)定時，應采用斜探頭進行檢測。5.3.2.3可選板材的任一軋制表面進行檢測。檢測人員認為有必要或技術條件有要求時，也可在板材的上、下兩軋制表面分別進行檢測。5.3.2.4檢測時，應確保板材任一部位的溫度(包括厚度方向)不超過50℃,當檢測溫度高于50℃時，應對檢測工藝進行驗證。5.3.3探頭選用5.3.3.1直探頭5.3.3.1.1直探頭選用一般應符合表3的規(guī)定。在滿足本條規(guī)定的靈敏度及缺陷判定的基礎上，也可以選用其他型式的探頭，如多晶直探頭(晶片數(shù)量大于或等于3)。工件厚度t/mm采用探頭標稱頻率/MHz探頭晶片尺寸(推薦)雙晶直探頭圓形晶片直徑10mm～30mm方形晶片或單個方形晶片邊長10mm～30mm單晶直探頭或雙晶直探頭檢測。規(guī)定。當采用液浸法檢測工件厚度小于或等于20mm的板材時，也可選用單晶直探頭進行當使用雙晶直探頭檢測工件厚度6mm～20mm的板材時，探頭性能應符合附錄C的當使用雙晶直探頭檢測工件厚度大于20mm的板材時，應選擇合適的聲束會聚區(qū)深度以完成距離-波幅曲線的制作，或者根據(jù)工件厚度大小選擇不同聲束會聚區(qū)深度的探頭進行厚度分斜探頭的選用應符合附錄D的規(guī)定。5.3.4對比試塊5.3.4.1用雙晶直探頭檢測工件厚度6mm～20mm的板材時，可以采用圖1所示的CBI階梯平底試塊。5.3.4.2檢測工件厚度大于20mm的板材時，對比試塊形狀和尺寸應符合表4和圖2的規(guī)定。對比試塊參考反射體為φ5mm平底孔，反射體個數(shù)至少3個。圖1階梯平底試塊(CBI試塊)表4承壓設備用板材超聲檢測用對比試塊單位為毫米試塊編號工件厚度t檢測面到平底孔的距離S的試塊上的平底孔可加工在不同厚度試塊上；3)工件厚度大于250mm時，按50mm一檔，每增加一檔，平底孔數(shù)量增加1個，平底孔深度增加50mm,試塊厚度增加50mm,試塊寬度不再增加，試塊編號按順序增加；4)根據(jù)需要也可在適當深度位置增加反射體；5)公差：孔的直徑，±0.1mm;開孔垂直度，±0.1°;其他尺寸，±0.1mm。圖2板材超聲檢測用對比試塊(CBⅡ系列試塊)5.3.5基準靈敏度的確定5.3.5.1檢測工件厚度為6mm～20mm板材時，用圖1所示階梯平底試塊調節(jié)，此時用與工件等厚部位試塊的第一次底面回波調整到滿刻度的50%,再提高10dB,并在考慮相關補償后以此作為基準靈敏度；也可用被檢板材無缺陷完好部位調節(jié)，此時用被檢板材的第一次底面回波調整到滿刻度的50%,再提高10dB,作為基準靈敏度。5.3.5.2檢測工件厚度大于20mm板材時，按所用探頭和儀器在辦5mm平底孔試塊上繪制距離-波幅曲線，并在考慮相關補償后以此作為基準靈敏度。對于因與對比試塊表面粗糙度不同造成的表面耦合補償量超過6dB時，應對檢測面進行重新處理。5.3.5.3采用單直探頭檢測時，如能確定板材底面回波與不同深度φ5mm平底孔反射波幅度之間的關系，則可采用板材無缺陷完好部位第一次底面回波來調節(jié)基準靈敏度。5.3.5.4掃查靈敏度應至少比基準靈敏度高6dB。5.3.6檢測5.3.6.1耦合方式耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。5.3.6.2掃查方式5.3.6.2.1對于質量驗收等級為TI級和I級的板材，應進行100%掃查(掃查覆蓋應符合4.5.2的規(guī)定)。5.3.6.2.2對于其他質量驗收等級要求的板材：a)在板材邊緣或剖口預定線兩側范圍內應進行100%掃查(掃查覆蓋應符合4.5.2的規(guī)定),板材邊緣或剖口預定線兩側每側區(qū)域寬度應符合表5的規(guī)定。b)對于板材中部區(qū)域，可以采用探頭沿垂直于板材壓延方向且間距不大于50mm的平行線掃查方式，或者采用探頭沿垂直和平行板材壓延方向且間距不大于100mm格子線掃查方式，掃查示意圖見圖3;也可以采用100%的掃查方式(掃查覆蓋應符合4.5.2的規(guī)定);當合同、技術協(xié)議或設計技術條件中有明確要求時，也可采用其規(guī)定的掃查形式進行檢測。5.3.6.2.3使用雙晶直探頭掃查時，探頭的掃查方向應與探頭的隔聲層垂直。表5板材邊緣或剖口預定線兩側區(qū)域寬度單位為毫米工件厚度t區(qū)域寬度60≤t<1005.3.6.3斜探頭檢測應符合附錄D的規(guī)定。5.3.7缺陷的判定和定量5.3.7.1在基準靈敏度下，發(fā)現(xiàn)下列2種情況之一即作為缺陷a)缺陷第一次反射波波幅高于距離-波幅曲線，或用雙晶直探頭檢測板厚小于或等于20mm板材時，缺陷第一次反射波波幅大丁或等于顯示屏滿刻度的50%;b)用雙晶直探頭檢測板厚小于或等于20mm板材時，底面第一次反射波波幅低于顯示屏滿刻度的50%;c)檢測板厚大于20mm板材時，底面第一次反射波波幅低于距離-波幅曲線。5.3.7.2缺陷的定量5.3.7.2.1當缺陷第一次反射波波幅和底面第一次反射波波幅均符合5.3.7.1的規(guī)定時，以評級較為嚴重者為準。5.3.7.2.2使用雙晶直探頭對工件厚度小于或等于20mm板材進行檢測時的缺陷定量：a)使用雙晶直探頭對缺陷進行定量時，探頭的移動方向應與探頭的隔聲層垂直；b)確定5.3.7.1a)所述缺陷的邊界時，移動探頭使缺陷波幅下降到基準靈敏度下顯示屏滿刻度的25%,此時探頭中心點即為缺陷的邊界點；c)確定5.3.7.1b)中缺陷的邊界時，移動探頭使底面第一次反射波上升到基準靈敏度下顯示屏滿刻度的50%,此時探頭中心點即為缺陷的邊界點。NB/T47013.3—20235.3.7.2.3使用單晶直探頭或雙晶直探頭對工件厚度大于20mm板材進行檢測時的缺陷定量：a)使用雙晶直探頭進行檢測和缺陷定量時，探頭的移動方向應與探頭的隔聲層垂直；b)確定5.3.7.1a)所述缺陷的邊界時，應移動探頭使缺陷波幅下降到距離-波幅曲線，此時探頭中心點即為缺陷的邊界點，另外還應確定缺陷的反射波幅；c)確定5.3.7.1c)中缺陷的邊界范圍時，應移動探頭使底面第一次反射波上升到距離-波幅曲線，此時探頭中心點即為缺陷的邊界點。5.3.8缺陷尺寸的評定方法5.3.8.1缺陷指示長度的評定規(guī)則用一邊平行于板材壓延方向矩形框包圍一個缺陷，其長邊作為該缺陷的指示長度。5.3.8.2單個缺陷指示面積的評定規(guī)則a)用一邊平行于板材壓延方向矩形框包圍一個缺陷，矩形框面積則為該缺陷的指示面積即為單個缺陷指示面積；b)多個缺陷其相鄰間距小于相鄰較小缺陷的指示長度時，按單個缺陷處理，此時單個缺陷指示面積為各相鄰缺陷面積之和，缺陷個數(shù)合并為1個。5.3.9質量等級評定5.3.9.1板材中部檢測區(qū)域質量等級評定應符合表6的規(guī)定，板材邊緣或剖口預定線兩側檢測區(qū)域質量等級評定應符合表7的規(guī)定。5.3.9.2當判定為白點、裂紋等危害性缺陷時，板材質量等級應評定為IV級。5.3.9.3在板材中部檢測區(qū)域，應按最大允許單個缺陷指示面積和任一1m×1m檢測面積內缺陷最大允許個數(shù)確定質量等級。如整張板材中部檢測面積小于1m×1m,缺陷最大允許個數(shù)應按面積比例折算。5.3.9.4在板材邊緣或剖口預定線兩側檢測區(qū)域，應按最大允許單個缺陷指示長度、最大允許單個缺陷指示面積和任一1m檢測長度內最大允許缺陷個數(shù)確定質量等級；如板材一個邊緣或一個剖口預定線(一側)檢測長度小于1m,缺陷最大允許個數(shù)應按長度比例折算。等級最大允許單個缺陷指示面積S或平底孔當量D在任一1m×1m檢測面積內缺陷最大允許個數(shù)單個缺陷指示面積或平底孔當量評定范圍最大允許個數(shù)工件厚度t≤20mm:工件厚度t≤20mm:20mm2<S≤50mm2工件厚度t>20mm;D≤φ5mm+8dB工件厚度t>20mm:I工件厚度t≤20mm:工件厚度t≤20mm:工件厚度t>20mm:D≤φ5mm+14dB工件厚度t>20mm;ⅡⅢ超過Ⅲ級者注：對5.3.7.1中b)和c)所述缺陷的質量等級(TI級和I級)時按面積進行評定(不考慮工件厚度)。NB/T47013.3—2023表7承壓設備用板材邊緣或剖口預定線兩側超聲檢測區(qū)域質量等級評定等級最大允許單個缺陷指示長度最大允許單個缺陷指示面積S或平底孔當量D在任一1m檢測長度內最大允許缺陷個數(shù)單個缺陷指示長度L或平底孔當量評定范圍最大允許個數(shù)工件厚度t≤20mm:工件厚度t≤20mm:2工件厚度t>20mm:D≤φ5mm+8dB工件厚度t>20mm:I工件厚度t≤20mm:工件厚度t≤20mm:3工件厚度t>20mm:D≤φ5mm+14dB工件厚度t>20mm:ⅡS≤1000mm225mm<L≤50mm5Ⅲ6超過Ⅲ級者注：對5.3.7.1中b)和c)所述缺陷的質量等級(TI級和I級)時按面積進行評定(不考慮工件厚度)。5.4承壓設備用復合鋼板超聲檢測方法和質量等級評定5.4.1范圍本條適用于基材厚度大于或等于6mm承壓設備用不銹鋼-鋼、鎳-鋼、鈦-鋼及銅-鋼等復合鋼板的基材與覆層界面結合狀態(tài)的超聲檢測方法和質量等級評定。5.4.2檢測原則5.4.2.1復合鋼板一般選擇從覆材側進行檢測，也可選擇從基材側進行檢測。5.4.2.2復合鋼板一般采用直探頭進行檢測。當從覆材側檢測時可選用雙晶直探頭，從基材側檢測時可選用單直探頭。5.4.3探頭選用宜采用2MHz~10MHz的單晶直探頭或雙晶直探頭，探頭晶片有效直徑宜在ψ10mm~φ25mm5.4.4基準靈敏度的確定5.4.4.1將探頭置于復合板完全結合部位，調節(jié)第一次底面回波高度為顯示屏滿刻度的80%,以此作為基準靈敏度。5.4.4.2掃查靈敏度至少應比基準靈敏度高6dB。5.4.5檢測5.4.5.1耦合方式耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。5.4.5.2掃查方式a)對復合鋼板應采用100%的掃查方式進行檢測，掃查覆蓋應符合4.5.2的規(guī)定；b)雙晶直探頭掃查時，探頭的移動方向應與探頭的隔聲層垂直。5.4.6未結合區(qū)的測定在基準靈敏度下，第一次底面回波高度低于顯示屏滿刻度的5%,且明顯有未結合缺陷回波存在時(回波高度大于或等于顯示屏滿刻度的5%),該部位則為未結合缺陷區(qū)。移動探頭，使第一次底面回波升高到顯示屏滿刻度的40%,此時探頭中心點即作為未結合缺陷區(qū)邊界點。5.4.7未結合的評定方法5.4.7.1未結合指示長度的評定規(guī)則未結合邊界范圍確定后，用一邊平行于板材壓延方向矩形框包圍該未結合，長邊作為其指示長度。當單個未結合的指示長度小于25mm時，可不作記錄。5.4.7.2單個未結合面積的評定規(guī)則：a)一個未結合按其指示的矩形面積作為其單個未結合面積；b)多個未結合其相鄰間距小于20mm時，按單個未結合處理，其面積為各個未結合面積之和。5.4.7.3未結合率的評定任一1m×1m檢測面積內，按未結合區(qū)面積所占百分比來確定。5.4.8質量等級評定5.4.8.1在復合鋼板邊緣或剖口預定線兩側區(qū)域內(板材邊緣或剖口預定線兩側每側區(qū)域寬度應符合表5的規(guī)定),未結合的指示長度大于或等于25mm時，復合鋼板的質量等級應評定為IV級。5.4.8.2復合鋼板質量等級評定應符合表8的規(guī)定。表8復合鋼板超聲檢測質量等級評定等級單個未結合指示長度/mm單個未結合面積/cm2木結合率/%I000ⅡⅢ大于Ⅲ級者5.5承壓設備用碳素鋼、低合金鋼鍛件超聲檢測方法和質量等級評定5.5.1范圍5.5.1.1本條適用于承壓設備用碳素鋼、低合金鋼鍛件的超聲檢測方法和質量等級評定。5.5.1.2對于承壓設備用中合金鋼鍛件的超聲檢測，對比試塊原則上應采用相應材質的專用對比試塊，檢測方法按本條的規(guī)定執(zhí)行，質量等級評定應符合本條的規(guī)定。5.5.1.3對于承壓設備用鐵素體型高合金鋼鍛件的超聲檢測，對比試塊應采用相應材質的專用對比試塊，檢測方法參照本條的規(guī)定執(zhí)行，質量等級評定應符合木條的規(guī)定。5.5.1.4承壓設備用碳素鋼、低合金鋼制環(huán)形和筒形鍛件超聲斜探頭檢測方法和質量等級評定應符合附錄E的規(guī)定。5.5.2檢測原則5.5.2.2鍛件一般應使用直探頭進行檢測，對筒形和環(huán)形鍛件還應增加斜探頭檢測。5.5.2.3檢測厚度小于或等于45mm時，應采用雙晶直探頭進行檢測。檢測厚度大于45mm時，一般采用單晶直探頭進行檢測。5.5.2.4當鍛件(包括圓柱形鍛件)檢測方向厚度或長度大于400mm時，應從相對兩端面進行全體積檢測；當鍛件檢測方向厚度或長度大于800mm時，可從相對兩端面進行檢測，兩端檢測厚度或長度范圍至少應重疊10%。如果此時雙端檢測仍不能超過厚度或長度的1/2時，可用斜探頭代替直探頭檢測直探頭不能檢測到的部分，在與厚度方向或長度方向垂直的面上進行檢測。注：斜探頭代替直探頭時的檢測方法及驗收：用規(guī)格和材質相同或相近的鍛件，在垂直于厚度方向或長度方向，且離檢測面合適的深度上加工若干φ2mm長橫孔(盡可能覆蓋檢測深度范圍),使用探頭折射角為45°左右橫波斜探頭，制作距離-波幅曲線，并在考慮相關補償后以此作為基準靈敏度，掃查方式參照附錄E中E.5.3,缺陷定量按E.6,缺陷等級評定按E.7,合格等級為I級。5.5.3探頭選用5.5.3.1直探頭5.5.3.1.1探頭標稱頻率應為2MHz～5MHz。5.5.3.1.2雙晶直探頭晶片面積應不小于150mm2,單晶直探頭晶片有效直徑應為10mm～40mm。5.5.3.2斜探頭斜探頭的選用應按附錄E的規(guī)定進行。5.5.4對比試塊5.5.4.1對比試塊應符合4.2.3.2的規(guī)定。5.5.4.2對比試塊可用下列材料之一制成：a)被檢材料的多余部分(尺寸足夠時);b)與被檢材料同鋼種、同熱處理狀念的材料；c)與被檢材料具有相同或相似聲學特性的材料。5.5.4.3單晶直探頭對比試塊單晶直探頭檢測采用CS-2試塊調節(jié)基準靈敏度，其形狀和尺寸應符合圖4和表9的規(guī)定。如確有需要也可采用其他等效對比試塊。5.5.4.4雙晶直探頭對比試塊a)工件檢測厚度小于或等于45mm時，應采用CS-3對比試塊；b)CS-3試塊的形狀和尺寸應符合圖5和表10的規(guī)定。全部63/NB/T47013.3—2023表9CS-2對比試塊尺寸單位為毫米試塊編號試塊規(guī)格dD試塊編號試塊規(guī)格dDCS-2-12CS-2-124CS-2-24CS-2-13200/22CS-2-32CS-2-14200/444CS-2-15250/22CS-2-52CS-2-16250/44CS-2-64CS-2-172CS-2-72CS-2-184CS-2-84CS-2-19400/22400425CS-2-92CS-2-20400/44400425CS-2-104CS-2-212CS-2-112CS-2-224表10CS-3對比試塊尺寸單位為毫米試塊編號孔徑檢測距離L123456789CS-3-125CS-3-245.5.4.5工件檢測面曲率半徑小于或等于250mm時，應采用曲面對比試塊(試塊曲率半徑在工件曲率半徑的0.7倍～1.1倍范圍內)調節(jié)基準靈敏度，或采用CS-4對比試塊來測定由于曲率不同而引起的表面耦合聲能損失，其形狀和尺寸應符合圖6的規(guī)定。根據(jù)需要，也可以使用其他等效試塊。當在凹面進行檢測時，應制作相應的凹面對比試塊來測定由于曲率不同而引起的表面耦5.5.4.6對比試塊CS-2、CS-3、CS-4制造要求等應符合JB/T8428和GB/T11259的規(guī)定。5.5.5基準靈敏度5.5.5.1單晶直探頭基準靈敏度使用CS-2,依次測試一組不同檢測距離的φ2mm平底孔(至少3個),制作單晶直探頭的距離-波幅曲線，并在考慮相關補償后以此作為基準靈敏度；當被檢部位的厚度大于或等于探頭的3倍近場區(qū)長度，且檢測面與底面平行時，也可以采用底波計算法確定基準靈敏度。對于因與對比試塊表面粗糙度不同造成的表面耦合補償量超過6dB時，應對檢測面進行重新處理。5.5.5.2雙晶直探頭基準靈敏度使用CS-3試塊，依次測試一組不同檢測距離的φ2mm平底孔(至少3個),制作雙晶直探頭的距離-波幅曲線，并在考慮相關補償后以此作為基準靈敏度。對于因與對比試塊表面粗糙度不同造成的表面耦合補償量超過6dB時，應對檢測面進行重新處理。5.5.5.3掃查靈敏度至少應比基準靈敏度高6dB。5.5.6檢測5.5.6.1耦合方式耦合方式一般可采用直接接觸法。5.5.6.2工件材質衰減系數(shù)的測定a)在工件無缺陷完好區(qū)域，選取三處檢測面與底面平行且有代表性的部位，調節(jié)儀器使第一次底面回波幅度B;或第n次底面回波幅度B?為滿刻度的50%,記錄此時儀器增益的讀數(shù)，再調節(jié)儀器增益，使第二次底面回波幅度或第m次底面回波幅度B?或Bn為滿刻度的50%,兩次增益讀數(shù)之差即為(B?-B?)或(B?-Bm)(取絕對值，不考慮底面反射損失)。NB/T47013.3—2023b)工件厚度小于3倍探頭近場區(qū)長度(t<3N)時，衰減系數(shù)(滿足n>3N/t,m>n)按式(1)計算：α=[(B?-B?)-201g(m/n)]/2(m-n)t (B-Bm)第n次底面回波幅度與第m次底面回波幅度增益的讀數(shù)差值(取絕對值)c)工件厚度大于或等于3倍探頭近場區(qū)長度(t≥3N)時，衰減系數(shù)α由式(2)計算：α=[(B?-B?)-6]/2t (2)(B?-B,)第1次底面回波幅度與第2次底面回波幅度增益的讀數(shù)差值(取絕對值),單位為分貝(dB).d)工件上3處衰減系數(shù)的平均值即作為該工件的衰減系數(shù)。5.5.6.3掃查方式a)一般應從兩個相互垂直的方向在檢測面上作100%掃查(掃查覆蓋應符合4.5.2的規(guī)定)主要檢測方向應符合圖7的規(guī)定；b)雙晶直探頭掃查時，探頭的移動方向應與探頭的隔聲層垂直；c)根據(jù)合同、技術協(xié)議書或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查，如一定間隔的平行線5.5.7缺陷當量的確定5.5.7.1當被檢缺陷的深度大于或等于所用探頭的3倍近場區(qū)時，可采用距離-波幅曲線法或計算法確定缺陷的當量；對于3倍近場區(qū)內的缺陷，應采用距離-波幅曲線法來確定缺陷的當量；也可※圖7鍛件直探頭檢測時的主要檢測方向(續(xù))5.5.7.2當采用計算法確定缺陷當量時，若材質衰減系數(shù)超過4dB/m,應進行修正。5.5.7.3當采用距離-波幅曲線束確定缺陷當量時，若對比試塊與工件材質衰減系數(shù)差值超過4dB/m,應進行修正。5.5.8.1當判定為白點、裂紋等危害性缺陷時，鍛件質量等級應評定為V級。5.5.8.2缺陷的質量等級評定應符合表11的規(guī)定。表11鍛件超聲檢測缺陷質量等級評定等級IⅡⅢV單個缺陷平底孔當量由缺陷引起的底波降低量密集區(qū)缺陷當量密集區(qū)缺陷面積占檢測總面積的百分比/%0注1:由缺陷引起的底波降低量僅適用于聲程大于近場區(qū)長度的缺陷。注2:表中不同種類的缺陷分級應獨立使用。注3:密集區(qū)缺陷面積指反射波幅大于或等于φ2平底孔當量的密集區(qū)缺陷。NB/T47013.3—20235.6承壓設備用鋼螺栓坯件的超聲檢測方法和質量等級評定5.6.1范圍5.6.1.1本條適用于直徑大于或等于M36承壓設備用碳素鋼和低合金鋼螺栓坯件的超聲檢測方法和質量等級評定。5.6.1.2高合金鋼螺栓坯件的超聲檢測，對比試塊應采用相應材質的專用對比試塊，檢測方法參照本條執(zhí)行，質量等級評定應符合本條的規(guī)定。5.6.2檢測原則檢測一般應安排在熱處理后進行，檢測面的表面粗糙度Ra應小于或等于6.3μm。5.6.3探頭選用采用2MHz～10MHz的單晶直探頭或雙晶直探頭。5.6.4對比試塊5.6.4.1單晶直探頭檢測時，對比試塊的尺寸和形狀應符合5.5.4.3的規(guī)定。5.6.4.2雙晶直探頭檢測時，對比試塊的尺寸和形狀應符合5.5.4.4的規(guī)定。5.6.4.3徑向檢測時，應盡可能選擇晶片尺寸較小的探頭；當螺栓坯件曲率半徑小于100mm時，應采用圖8和表12所示曲面對比試塊的形狀和尺寸。單位為毫米試塊編號對比試塊半RABCDE適用工件曲率半徑范圍484822≤r<294829≤r<36636≤r<43843≤r<5454≤r<6767≤r<8282≤r≤995.6.5基準靈敏度的確定5.6.5.1單晶直探頭基準靈敏度的確定a)軸向檢測時、使用CS-2試塊，根據(jù)檢測范圍依次測試1組不同深度的φ2mm平底孔(至少3個),制作單晶直探頭的距離-波幅曲線，并在考慮相關補償后以此作為基準靈敏度；b)徑向檢測時，使用CS-2試塊或圖8所示試塊，根據(jù)檢測范圍或曲率半徑依次測試1組不同深度的φ2mm平底孔，制作單晶直探頭的距離-波幅曲線，并在考慮相關補償后以此作為基準靈敏度。5.6.5.2雙晶直探頭基準靈敏度的確定a)軸向檢測時，使用CS-3試塊，根據(jù)檢測范圍依次測試1組不同深度的φ2mm平底孔(至少3個),制作雙晶直探頭的距離-波幅曲線，并在考慮相關補償后以此作為基準靈敏度；b)徑向檢測時，使用CS-3試塊或圖8所示試塊，根據(jù)檢測范圍或曲率半徑依次測試一組不同深度的φ2mm平底孔，制作雙晶直探頭的距離-波幅曲線，并在考慮相關補償后以此作為基準靈敏度。5.6.5.3掃查靈敏度至少應比基準靈敏度高6dB。5.6.6檢測5.6.6.1耦合方式耦合方式一般可采用直接接觸法。5.6.6.2掃查方式5.6.6.2.1徑向檢測應按螺旋線或沿圓周進行掃查，行程應有重疊，掃查面應包括整個圓柱表面。5.6.6.2.2軸向檢測一般應從螺栓坯件的兩端面進行掃查，盡可能避免邊緣效應對檢測結果的影響。當螺栓較長或受到邊緣效應影響時，可從相對兩端面進行軸向檢測，兩端面的檢測長度范圍至少應重疊10%,如果此時兩端面檢測仍不能超過長度的1/2時，可用斜探頭替代直探頭檢測直探頭不能檢測到的部分。注：斜探頭代替直探頭時的檢測方法及驗收用規(guī)格和材質相同或相近的螺栓，在圓周方向，且離檢測面合適的深度上加工若干φ2mm長橫孔(盡可能覆蓋檢測深度范圍),使用探頭折射角為45°左右橫波斜探頭，制作距離-波幅曲線，并在考慮相關補償后以此作為基準靈敏度；掃查時，移動探頭使聲束沿軸向作兩個相對方向進行100%檢測，相鄰掃查路徑應確保相互覆蓋，掃查覆蓋率至少應為探頭晶片寬度的10%。當缺陷波幅高于或等于距離-波幅曲線時，或判定為白點、裂紋等危害性缺陷時，螺栓坯件的質量等級即為V級。5.6.7缺陷當量的確定一般采用距離-波幅曲線進行缺陷當量的確定。5.6.8質量等級評定5.6.8.1單個缺陷的質量等級評定應符合表13的規(guī)定。5.6.8.2由缺陷引起底波降低量的質量等級評定應符合表14的規(guī)定。5.6.8.3按表13和表14評定缺陷等級時，應作為獨立的等級分別使用。5.6.8.4當判定為白點、裂紋等危害性缺陷時，螺栓坯件的質量等級為V級。表13單個缺陷的質量等級評定等級IⅡⅢV平底孔當量NB/T47013.3—2023單位為分貝等級[ⅡⅢV由缺陷引起的底波降低量(Bc/BF)注：本表僅適用于聲程大于近場區(qū)長度的缺陷。5.7.1范圍5.7.3.2直探頭的晶片直徑為10mm～40mm,斜探頭的晶片面積為300mm2~625mm2。5.7.4.4試塊的形狀和尺寸應符合圖9和表15的規(guī)定。表15奧氏體鋼型鍛件試塊尺寸單位為毫米LDLDLDLD———— —— —— ———————-一——5.7.4.5在條件允許時，可在鍛件有代表性的部位加工1個或幾個話當大小的平底孔或v形槽.代替對比試塊進行靈敏度的校準。5.7.5基準靈敏度的確定5.7.5.1當被檢鍛件厚度小于或等于600mm時，應根據(jù)定貨鍛件厚度和要求的質量等級，在適當厚度和當量直徑的平底孔試塊上制作距離-波幅曲線，并在考慮相關補償后以此作為基準靈敏度。5.7.5.2當被檢鍛件厚度大于600mm時，應在鍛件無缺陷部位將底波調至滿刻度的80%,以此作為基準靈敏度。如檢測面與底面反射面不平行，也可用φ13mm平底孔試塊制作距離-波幅曲線，并在考慮相關補償后以此作為基準靈敏度。5.7.5.3掃查靈敏度至少應比基準靈敏度提高6dB。5.7.6檢測5.7.6.1耦合方式耦合方式一般可采用直接接觸法。5.7.6.2直探頭檢測5.7.6.2.1鍛件所有被檢區(qū)域，均應盡可能從2個相互垂直的方向進行檢測，檢測距離應至少為厚度的1/2。5.7.6.2.2檢測盤形或餅形鍛件時，采用直探頭至少從一個平面進行檢測，如有可能還應從圓周面進行掃查。5.7.6.2.3檢測圓柱形鍛件時，可從整個外表面(側面和圓周面)用直探頭進行檢測。當長度與直徑之比超過6或軸向長度超過600mm時，應從2個端面以盡可能大的范圍用直探頭作軸向檢測，當衰減等原因使雙端檢測不能超過軸向長度的1/2時，可用斜探頭代替直探頭對直探頭不能檢測到的部分進行軸向檢測。注：斜探頭代替直探頭時的檢測方法用外徑相同且材質一致的圓柱形鍛件，在周向加工1個60°V形槽，V形槽長度為30mm,深度為圓柱形鍛件直徑(最終成型)的3%(最大為3mm),使用探頭折射角為45°左右橫NB/T47013.3—2023波探頭，當橫波斜探頭不能滿足檢測要求時，可選用縱波斜探頭；用半跨距法獲得V形槽的反射波幅不低于顯示屏滿刻度的20%,并以此作為基準靈敏度，檢測結果按表17進行驗收。5.7.6.3斜探頭檢測奧氏體型不銹鋼環(huán)形鍛件和筒形鍛件斜探頭檢測方法應按附錄F的規(guī)定。5.7.7缺陷記錄5.7.7.1由于缺陷的存在，而使基準靈敏度下的底波降到滿刻度25%以下的部位。5.7.7.2缺陷波幅在距離-波幅曲線以上的部位。5.7.8質量等級評定5.7.8.1單晶直探頭或雙晶直探頭檢測的質量等級評定應符合表16的規(guī)定。5.7.8.2斜探頭檢測的質量等級評定應符合表17的規(guī)定。5.7.8.3在具體進行質量等級評定時，表16和表17應獨立使用。表16直探頭檢測的質量等級評定單位為毫米工件厚度t80<t≤200200<t≤300300<t≤600質量等級IⅡIⅡIⅡIⅡIⅡ缺陷平底孔當量直徑或因缺陷引起底波降低后的幅度表17斜探頭檢測的質量等級評定等級IⅡ缺陷波幅缺陷波幅低于V形槽試塊距離-波幅曲線[V形槽深為工件公稱壁厚的3%(最大為3mm)]缺陷波幅大于或等于V形槽試塊距離-波幅曲線[V形槽深為工件公稱壁厚的3%(最大為3mm)]5.8承壓設備用無縫鋼管超聲檢測方法和質量等級評定5.8.1范圍5.8.1.1本條適用于外徑不小于12mm承壓設備用碳素鋼、低合金鋼無縫鋼管超聲檢測方法和質量等級評定。5.8.1.2對于承壓設備用中合金鋼無縫鋼管的超聲檢測，對比試塊應采用相應材質的專用對比試塊，檢測方法按本條執(zhí)行，質量等級評定應符合本條的規(guī)定。5.8.1.3對于承壓設備用高合金鋼無縫鋼管的超聲檢測，對比試塊應采用相應材質的專用對比試塊，檢測方法參照本條執(zhí)行，質量等級評定應符合本條的規(guī)定。5.8.1.4本條不適用于分層類缺陷的超聲檢測。5.8.2檢測原則除非要求檢測橫向缺陷時，一般可只對縱向缺陷進行檢測。5.8.3檢測設備5.8.3.1檢測設備應由超聲檢測儀器、探頭、檢測裝置、機械傳動裝置、分選裝置及其他輔助裝置等組成。5.8.3.2檢測時可使用線聚焦或點聚焦探頭，單個探頭壓電晶片邊長或直徑應不大于25mm。5.8.3.3檢測裝置檢測裝置應具有探頭相對鋼管位置的高精度調整機構并能可靠地鎖緊或能實現(xiàn)良好的機械跟蹤，以保證動態(tài)下聲束對鋼管的入射條件不變。5.8.3.4傳動裝置傳動裝置應能使鋼管以均勻的速度通過檢測裝置并能保證在檢測中鋼管與檢側裝置具有良好的同心度。5.8.3.5分選裝置分選裝置應能可靠地分開檢測合格與不合格的鋼管。5.8.4專用對比試塊5.8.4.1試塊應選取與被檢鋼管規(guī)格相同、材質、熱處理工藝和表面狀況相同或相似的鋼管制備，試塊的長度應滿足檢測方法和檢測設備要求。5.8.4.2參考反射體5.8.4.2.1參考反射休形狀檢測縱向缺陷和橫向缺陷所用的參考反射體應分別為平行于管軸的縱向槽和垂直于管軸的橫向槽，其斷面形狀均可為矩形或V形，參考反射體示意圖見圖10,矩形槽的2個側面應相互平行且垂直于槽的底面；當采用電蝕法加工時，允許槽的底面和底面角部略呈圓形，V形槽的夾角應為60°。檢測時參考反射體形狀的選用由供需雙方商定。全部矩形槽V形槽a)橫向參考反射體試塊(CG-C試塊)示意圖圖10參考反射體試塊(CG試塊)示意圖全部V形槽b)縱向參考反射體試塊(CG-L試塊)示意圖圖10參考反射體試塊(CG試塊)示意圖(續(xù))5.8.4.2.2參考反射體位置a)縱向槽應在對比試塊的中部外表面和端部區(qū)域內、外表面處各加工1個，3個槽的公稱尺寸相同，當鋼管內徑小于25mm時可不加工內壁縱向槽。橫向槽應在試樣的中部外表面和端部區(qū)域內、外表面處各加工1個，3個槽的名義尺寸相同，當內徑小于50mm時可不加工內壁橫向槽。b)當工件厚度與外徑之比大于或等于0.2時，試塊上規(guī)定的內外壁槽均應加工制作。5.8.4.2.3參考反射體尺寸參考反射體的尺寸按表18分為3級，具體級別的選擇按有關鋼管產(chǎn)品標準的規(guī)定執(zhí)行。表18參考反射體尺寸單位為毫米級別深度壁厚比最小深度深度允許相對偏差/%寬度b長度縱向橫向I5不大于深度的2倍，最大為1.540或周長的50%(取小者)Ⅱ8Ⅲ注：參考反射體最大深度為3.0。5.8.4.2.4制作與測量參考反射體可采用電蝕、機械或其他方法加工，對比試樣上應有明顯的標識或編號，參考反射體深度可用光學方法、覆形方法或其他方法測量。5.8.5基準靈敏度的確定5.8.5.1直接接觸法5.8.5.1.1直接接觸法檢測橫向缺陷使用橫波斜探頭將對比試塊上內、外壁參考反射體回波調整至合適高度，用直線連接參考反射體回波高點，該連線及連線范圍在考慮相關補償后即作為基準靈敏度。由于管徑的原因，對比試塊上無內壁參考反射體時，可用外壁參考反射體的一次反射回波和二次反射回波制作距離-波幅曲線(DAC)。5.8.5.1.2直接接觸法檢測縱向缺陷a)對于內外徑之比大于或等于60%(工件厚度與外徑比小于或等于0.2)的鋼管檢測，使用橫波斜探頭將對比試塊上內、外壁參考反射體回波調整至合適高度，用直線連接參考反射體回波高點，該連線及連線范圍在考慮相關補償后即作為基準靈敏度。由于管徑的原因，對比試塊上無內壁參考反射體時，可用外壁參考反射體的一次反射回波和二次反射回波制作距離-波幅曲線(DAC),并在考慮相關補償后作為基準b)對于內外徑之比小于60%(工件厚度與外徑比大于0.2)的鋼管檢測，使用橫波斜探頭并利用對比試塊上外壁參考反射體進行校準，即以該參考反射體的回波波高在考慮相關補償后作為基準靈敏度，用于檢測外壁缺陷；同時使用縱波斜探頭并利用對比試塊上內壁參考反射體進行校準，即以該參考反射體的回波波高(如顯示屏滿刻度的80%)在考慮相關補償后作為基準靈敏度，用于檢測內壁缺陷。5.8.5.2液浸法5.8.5.2.1對內外徑之比大于或等于60%(工件厚度與外徑比小于或等于0.2)的鋼管檢測a)水層距離應根據(jù)實際情況(如聚焦探頭的焦距)來確定。試塊內、外表面參考反射體所產(chǎn)生的回波幅度，使其達到合適的高度，并在考慮相關補c)當內、外壁參考反射體信號使用同一個報警閘門時，此時應盡可能使對比試塊內、外表面參考反射體所產(chǎn)生的回波幅度相同，檢測儀的報警靈敏度應按照內、外壁的信號中以及周向不同位置的信號中較低幅度的信號進行設定。當內、外壁參考反射體信號使用2個不同的報警閘門時，檢測儀的報警靈敏度應按照內、外壁參考反射體在周向不同位置中較低幅度的信號分別進行設定。同時，2個閘門的寬度應滿足管壁內各部