2024增材制造標(biāo)準(zhǔn)測試件增材制造系統(tǒng)幾何成形能力評估

增材制造標(biāo)準(zhǔn)測試件增材制造系統(tǒng)幾何成形能力評估II目 次前言 II引言 I1范圍 12規(guī)范性引用文件 13術(shù)語和定義 14制備測試件的一般要求 14.1材料 1工藝規(guī)范 1文件格式 2測試規(guī)范和測試過程 2測試件的數(shù)量和位置 2成形位置和方向 34.7標(biāo)記 3測試件陣列與合并 3支撐和后處理 35測量測試件的一般要求 35.1通則 3沉積態(tài)測試件的測量 4測量方案 4測量不確定度 46測試件幾何形狀 46.1概述 46.2精度 4成形分辨率 11表面粗糙度 196.5標(biāo)記 22附錄A(資料性)測試件擺放示例 26附錄B(資料性)測試方法 28附錄C(資料性)測試過程 31附錄D(資料性)本文件與ISO/ASTM52902:2023相比的結(jié)構(gòu)變化情況 38附錄E(資料性)本文件與ISO/ASTM52902:2023的技術(shù)性差異及其原因 39參考文獻(xiàn) 40PAGEPAGE10增材制造標(biāo)準(zhǔn)測試件增材制造系統(tǒng)幾何成形能力評估范圍本文件規(guī)定了增材制造標(biāo)準(zhǔn)測試件制備、測量和幾何形狀的一般要求。本文件適用于利用標(biāo)準(zhǔn)測試件進(jìn)行增材制造系統(tǒng)校準(zhǔn)和成形能力評估。規(guī)范性引用文件（包括所有的修改單適用于本文件。GB/T35022增材制造主要特性和測試方法零件和粉末原材料GB/T35351增材制造術(shù)語GB/T39329—2020增材制造測試方法標(biāo)準(zhǔn)測試件精度檢驗GB/T41507—2022增材制造術(shù)語坐標(biāo)系和測試方法（GB/T41507—2022，ISO52921:2013，MOD）HB8747-2023航空增材制造測試報告格式與數(shù)據(jù)要求術(shù)語和定義GB/T35351界定的術(shù)語和定義適用于本文件。制備測試件的一般要求總則本章節(jié)規(guī)定了適用于制備本文件中所有標(biāo)準(zhǔn)測試件（以下簡稱“測試件”）幾何形狀的總體原則，僅包括與測試件制備過程相關(guān)的通用要求，針對具體幾何形狀的特定要求見第6章。材料規(guī)范（如流動性（如化學(xué)成分和污染程度）等要求，并明確原始粉末再利用的要求，包括原始粉末/使用過粉末的混合百分A)。工藝規(guī)范測試件加工前，供需雙方應(yīng)確定滿足ASTMF2971要求的工藝規(guī)范（附件A1中的元素“C”）（供需雙方宜就工藝規(guī)范中的參數(shù)達(dá)成一致。準(zhǔn)備用文件的格式、切片參數(shù)及數(shù)據(jù)文件的準(zhǔn)備步驟。文件下載標(biāo)準(zhǔn)測試件幾何形狀的3D數(shù)字模型可在\h文件轉(zhuǎn)換要求為確保測試件能夠準(zhǔn)確反映增材制造系統(tǒng)的成形能力，CAD模型轉(zhuǎn)換為AMF、STL或其他任何中間文CAD模型的最大偏差小于增材制造系統(tǒng)預(yù)期精度的想情況下小于所評估增材制造系統(tǒng)預(yù)期精度的1/10。目前，大多數(shù)增材制造設(shè)備無法成形精度優(yōu)于10μm的特征結(jié)構(gòu)，因此CAD模型保存為STL/AMF格式時，應(yīng)確保至少2.5μm或更高精度。這只是一般性指大偏差，如弦高和角度偏差。型，并將其記錄為工藝規(guī)范的一部分。測試規(guī)范和測試過程ASTMF2971-13：2021A/6ASTMF2971-13：2021A測試件的數(shù)量對于設(shè)備性能的完整測試，測試件的數(shù)量需至少考慮以下兩個方面：——測試規(guī)范/5量結(jié)果。——測試件覆蓋的成形區(qū)域?qū)Τ尚纹脚_要有足夠的區(qū)域覆蓋率（見4.7）以檢測不同成形位置之間的性能差異。重復(fù)成形能用來測試工藝的可重復(fù)性。對增材制造系統(tǒng)性能進(jìn)行抽查或演示時可以減少測試件數(shù)量，降低區(qū)域覆蓋率，如附錄A。測試件的數(shù)量應(yīng)由供需雙方協(xié)商確定，并不少于5次測量。測試件的分布建議測試件的擺放區(qū)域至少占設(shè)備成形平臺的80%。如果成形位置影響已知或與用戶要求的特定試驗無關(guān)，則可根據(jù)供需雙方之間的協(xié)議選擇單個成形位置。要檢測非線性或周期性的校正，就必須要有橫跨構(gòu)建體積范圍的長的測試件。測試件的位置和方向按照附錄A的規(guī)定，測試報告宜包含測試件的成形位置和方向（見GB/T41507）。標(biāo)記標(biāo)記符號宜添加到測試件上以識別測試件的成形方向和零件位置。具體見6.5。測試件陣列與合并（因為這將影響到測試結(jié)果測試件的幾何圖形以獲得更大的覆蓋區(qū)域，見圖2進(jìn)行的縮放，例如在使用粘結(jié)劑噴射增材制造的應(yīng)用中。AMF或STL單個文件中準(zhǔn)確定位零件陣列的相對位置。增材制造是沿ZX-Y中數(shù)據(jù)的四舍五入會影響特定圖層或像素的成形。因此測試報告宜包含測試件的成形方向（見GB/T41507）。度，建議用戶制作測試件時確保足夠的間距。支撐和后處理限于材料、幾何尺寸、去除方法。形能力情況下，可進(jìn)行適當(dāng)?shù)谋砻嫣幚砘蚝筇幚恚駝t不宜進(jìn)行任何的表面處理或后處理。（或未進(jìn)行）縮放”。測試件測量的一般要求總則6（千分表GB/T35022推薦了一些測量方法，測試報告宜包含本節(jié)規(guī)定的測量方法，詳細(xì)信息見附錄A和附錄B。沉積態(tài)測試件的測量記錄。測量方案附錄B和C根據(jù)實際情況選擇最小測量不確定度的測量方案。測量不確定度每項測量的標(biāo)準(zhǔn)不確定度應(yīng)與測量結(jié)果一起報告。用戶宜記錄測量過程和使用設(shè)備的任何校準(zhǔn)和質(zhì)量保證體系，應(yīng)在測試報告中明確測量設(shè)備的精度。測量系統(tǒng)分析(MSA)和量具重復(fù)性和再現(xiàn)性(R&R)也是進(jìn)行測量不確定度評估的可接受方法。參見ASTME2782。測試件的幾何屬性概述下文描述了七種類型的測試件，每種測試件旨在測試增材制造系統(tǒng)不同的性能或能力。精度線性精度測試件目的性誤差可作為診斷系統(tǒng)運動誤差或定位補償?shù)囊罁?jù)。幾何形狀圖1為X,Y征的包圍盒為5mm×5mm×5mm圖1X,Y方向線性精度測試件度測試件時，端部凸起的2.5mm疊加形成了中心凸起全部為5mm立方塊，如圖2所示。圖2兩個線性精度測試件合并1測試件模型整體按1:2要較長的線性精度測試件，將圖1測試件模型整體按2:1放大制作。測量線性精度測試件主要測量立方體表面相對于測試件末端主基準(zhǔn)面的位置（見圖1）或者測量每個凸起的長度和每個凸起之間的間距.可選測量項目是基座沿測試件長度的直線度、基座每一側(cè)沿測試件長度的平行度和每個凸起的高度。線性精度測試件測量項目見表1。表1線性精度測試件測量項目表測量項目可選擇的測量項目X,Y方向：立方體表面相對于測試件末端基準(zhǔn)面的位置或者測量每個凸起的長度和每個凸起之間的間距Z沿測試件長度的基座的直線度、基座每一側(cè)沿著測試件長度的平行度和每個凸起的高度注意事項X,Y,Z41507(例如沿龍門系統(tǒng)的X軸滑動)，可以更好地將測試件的誤差與定位系統(tǒng)中的誤差運動聯(lián)系起來。成形方向宜避免造成刮刀運動碰撞或損壞測試件。間以及行程末端附近。（例如在凸起部分的下面（宜慎重選擇支撐策略以盡量減小對測量過程/精度的影響。（Z（6.2.3）圓形測試件目的建表面上的方法(例如粘接劑噴射)。通過這些測試件可以區(qū)分材料的影響與增材制造系統(tǒng)中可能存在的外部誤差源。幾何形狀基座圓環(huán)內(nèi)徑的尺寸:粗圓形的內(nèi)徑為20.0mm，中圓形的內(nèi)徑為10.0mm，細(xì)圓形的內(nèi)徑為5.0mm;粗100.050.025.0mm12.0mm、6.0mm、3.0mm。并在圓柱體外相交。圖3圓形測試件外環(huán)所述圓環(huán)的外徑為粗圓形為94.0mm，中圓形為47.0mm，細(xì)圓形為23.5mm，粗圓形為60.0mm，中圓形為30.0mm，細(xì)圓形為15.0mm。圓環(huán)的高度分別為距底座頂面40.0mm、20.0mm和10.0mm。內(nèi)圈32.015.08.028.014.0mm，7.0mm40.0mm、20.0mm、10.0mm。測量主要測量方法是測量圓環(huán)表面的圓度(圓度)。另外，每個內(nèi)環(huán)和外環(huán)的直徑大小可以在多個(至少五個)位置測量，報告最大內(nèi)切圓和最小外切圓直徑。第二種選擇是在多個(至少五個)位置測量每個環(huán)的壁厚。該工件的可選測量包括每個圓環(huán)的每個面的同心度以及每個環(huán)的每個面的圓柱度。注意事項構(gòu)建位置和方向:需要考慮構(gòu)建空間中的多個圓環(huán)結(jié)構(gòu)。確定工件擺放方向，使機器的兩個運動軸獨立運動，減少因軸間運動干擾導(dǎo)致的誤差。(即參考面D的方向應(yīng)與XY、YZ或ZX平面正交)。如果零件與平行于XY平面的參考面D建造，則不需要使用支撐?；鍛?yīng)該是一個堅實的結(jié)構(gòu)，能夠牢牢固定圓環(huán)的底面為防止成型失敗，用戶應(yīng)該考慮他們系統(tǒng)的壁厚的成型能力。報告除測量值外，圓形測試件的報告應(yīng)至少包括下列資料:--同心圓數(shù)量;--為便于識別，圓環(huán)的命名方法;--擺放在基板上的位置;--圓環(huán)標(biāo)識(由內(nèi)到外)。Z目的這些工件用于測試沿機器z軸方向的線性定位精度。這就像線性精度工件，不需要任何支撐結(jié)構(gòu)來表示機器的z軸定位性能。根據(jù)工件的方向和機床配置，工件的誤差可以為定位補償或診斷z軸定位系統(tǒng)中的特定誤差運動提供依據(jù)。幾何形狀圖4描述了中等z中、小3類測試件：具有9(33)級階梯的小型測試件，具有16(44)級階梯的中型測試件，以及具有36(66)級階梯的大型測試件。圖3Z軸測試件表1-z軸測試工件的臺階高度列表步小測試件中測試件大測試件12500mm3000mm3500mm26250mm7500mm8750mm311875mm14250mm16625mm417500mm24375mm24500mm521250mm34500mm29750mm623750mm41250mm33250mm726250mm45750mm36750mm830000mm48750mm42000mm935625mm51750mm49875mm1056250mm57750mm1163000mm63000mm1273125mm66500mm1383250mm70000mm1490000mm75250mm1594500mm83125mm1697500mm91000mm1796250mm1899750mm19103250mm20.108500mm21116375mm22124250mm23129500mm24133000mm25136500mm26141750mm27149625mm28157500mm29162750mm30.166250mm31169750mm32175000mm33182875mm34190750mm35196000mm36199500mm步小測試件中測試件大測試件12500mm3000mm3500mm26250mm7500mm8750mm311875mm14250mm16625mm417500mm24375mm24500mm521250mm34500mm29750mm623750mm41250mm33250mm726250mm45750mm36750mm830000mm48750mm42000mm935625mm51750mm49875mm1056250mm57750mm1163000mm63000mm測量z軸測量件主要測量臺階面相對于矩形基座上部的位置(圖4中的基準(zhǔn)面C)。允許確定單個臺階之間的距離，并且可以允許與主要測量相結(jié)合的額外分析?？蛇x的測量包括工件垂直表面的形狀(例如平面度)。注意事項沖突。用戶應(yīng)該考慮將z軸工件放置在構(gòu)建區(qū)域的中間或附近構(gòu)建平臺的外緣。建部分)鼓形測試件后進(jìn)行測試。測試方法按GB/T39329-2020中第7章的要求進(jìn)行。成形分辨率圓柱銷測試件目的映了系統(tǒng)精度的有關(guān)信息。幾何形狀354細(xì)三類。粗圓柱銷的直徑從4mm~0.5mm(4.0mm、3.0mm、2.0mm、1.0mm和0.5mm)，中圓柱銷的直徑從0.5mm~0.1mm(0.5mm、0.4mm、0.3mm、0.2mm和0.1mm)，細(xì)圓柱銷的直徑從0.2mm~0.025mm(0.2mm、0.15mm0.1mm0.05mm和0.025mm)和10:13為長徑比為6:1的圓柱銷測試件。圖5圓柱銷測試件圓柱測試件基本尺寸按照下表尺寸：表1圓柱銷測試件基本尺寸單位：毫米基座圓柱尺寸（直徑×高度）圓柱中心距長寬高細(xì)2533φ0.2×0.8φ0.15×0.6φ0.1×0.4φ0.05×0.2φ0.025×0.15φ0.2×1.2φ0.15×0.9φ0.1×0.6φ0.05×0.3φ0.025×0.15φ0.2×1.6φ0.15×1.2φ0.1×0.8φ0.05×0.4φ0.025×0.2φ0.2×2、φ0.15×1.5、φ0.1×1、φ0.05×0.5、φ0.025×0.25中2533φ0.5×2、φ0.4×1.6、φ0.3×1.2、φ0.2×0.8、φ0.1×0.45φ0.5×3、φ0.4×2.4、φ0.3×1.8、φ0.2×1.2、φ0.1×0.6φ0.5×4、φ0.4×3.2、φ0.3×2.4、φ0.2×1.6、φ0.1×0.8φ0.5×5、φ0.4×4、φ0.3×3、φ0.2×2、φ0.1×1粗3563φ4.0×16、φ3.0×12、φ2.0×8、φ1.0×4、φ0.5×27φ4.0×24、φ3.0×18、φ2.0×12、φ1.0×6、φ0.5×3φ4.0×32、φ3.0×24、φ2.0×16、φ1.0×8、φ0.5×4φ4.0×40、φ3.0×30、φ2.0×20、φ1.0×10、φ0.5×5特征尺寸的確定（如金屬粉末床熔融系統(tǒng)可以成形最小直徑的圓柱銷在不同長徑比下的規(guī)格不同。征（例如線性精度測試件上2.5mm和5.0mm的凸起）?？梢猿尚蔚闹睆阶钚〉膱A柱銷取決于成形方向，特別是對于具有各向異性的工藝(例如某些增材制造工藝可能在XY方向比Z例如平行于設(shè)備Z軸方向和X（例如選擇一個方向作為對系統(tǒng)的特定挑戰(zhàn)或作為最佳情況的場景）。件在成形空間體積內(nèi)成形時可能失效的風(fēng)險，以避免對其余特征成形產(chǎn)生不利影響。測量圓柱銷主要測量直徑，中細(xì)圓柱銷間距5.0mm，以便使用光學(xué)顯微鏡或或手持測量設(shè)備（如千分尺或卡尺）進(jìn)行測量?？蛇x測量項目包括圓柱銷的高度、圓柱度和圓跳動，測量方法參見附錄B。注意事項錄直徑相同的圓柱銷與設(shè)計尺寸是否一致。作ZZX方向(ZX)對齊;平行于設(shè)備ZY方向(ZY)對齊。圓孔測試件目的力。圓孔的直徑測量值反映了系統(tǒng)成形微小圓孔特征的有關(guān)信息。圓孔測試件除了評估圓孔的成形能力之外，還提供了評估從小孔中去除未固化材料的能力。幾何形狀組54mm~0.5mm(4.0mm3.0mm、2.0mm、1.0mm和0.5mm)，中孔的直徑從0.5mm~0.1mm(0.5mm、0.4m、0.3mm、0.2mm和0.1mm)，小孔的直徑從0.2mm~0.025mm(0.2mm、0.15mm、0.1mm、0.05mm和0.025mm)。零件高度為2.5mm，孔為通孔。例如圖2為中孔測試件。圖6圓孔測試件圓孔測試件基本尺寸請按照下表尺寸：表2圓孔測試件基本尺寸表

單位：毫米零件圓孔直徑孔中心距長寬高大2532.5φ0.2φ0.15φ0.1φ0.05φ0.0255中2532.5φ0.5、φ0.4、φ0.3、φ0.2、φ0.15小28102.5φ4.0、φ3.0、φ2.0、φ1.0、φ0.56特征尺寸的確定含預(yù)估分辨率的特征集。融工藝，并考慮從盲孔中去除殘余粉末?？梢猿尚蔚闹睆阶钚〉膱A孔取決于成形方向，特別是對于具有各向異性的工藝。因此，測試件宜在ZX應(yīng)和層厚對圓孔成形的影響。成形良好，但在表面下方成形失?。た祝?，可通過針規(guī)或無損檢測技術(shù)檢查表面下方的成形質(zhì)量。測量的深度、圓度和圓柱度，測量方法見附錄B。注意事項（盲孔直徑相同的圓孔與設(shè)計尺寸是否一致。錄C符合常見的公制量規(guī)尺寸。增材制造系統(tǒng)可成形的最小孔可能小于常用的最小規(guī)格)。筋板測試件目的分辨率的有關(guān)信息。幾何形狀366.0mm~1.0mm(6.0mm5.0mm、4.0mm、3.0mm、2.0mm和1.0mm)，中測試件的筋板從1.0mm~0.1mm(1.0mm、0.8mm、0.6mm、0.4mm、0.2mm和0.1mm)，小筋板從0.1mm~0.01mm(0.1mm、0.08mm、0.06mm、0.04mm，0.02mm和0.01mm)。測試件的高度可為10.0mm或20.0mm。每個測試件由較大的支柱沿垂直表面的一側(cè)支撐(見圖3或圖4)（厚度大于1.0具有不同的幾何形狀(見圖5)，戶可以使用此特征測量測試件與模型的偏差，評估增材制造系統(tǒng)滿足輪廓公差的能力。圖7中等尺寸筋板測試件圖8大尺寸筋板測試件特征尺寸的確定況下，可將測試件修改成在一個基座上成形更少的特征。特別是對于具有各向異性的工藝X方向或Y對成形無支撐薄壁結(jié)構(gòu)的限制，不推薦測試件的長度方向平行于設(shè)備的Z的運動方向，因為垂直于刮刀運動方向的測試件更易彎曲或變形。在成形空間體積內(nèi)成形時可能失效的風(fēng)險。測量尺、千分尺、光學(xué)顯微鏡和三坐標(biāo)測量儀。面度，以及大筋板基座的輪廓度，測量方法參見附錄B。注意事項宜記錄（失敗或損壞的測試件的長度和高度反映系統(tǒng)筋板成形良好，但有幾個測試件厚度相同，宜注意并記錄厚度相同的測試件與設(shè)計尺寸是否一致。每個測試件上的6個基座可用于測試數(shù)據(jù)文件與測試件的一致性。槽測試件目的本文件提供了一套槽測試件用以評估增材制造系統(tǒng)可成形的最小尺寸的槽或槽之間的最小間距的能力?？沙尚蔚淖钚〉牟鄯从吃O(shè)備可成形的最小槽寬。槽的寬度測量值反映了系統(tǒng)成形精度的有關(guān)信息。幾何形狀366.0mm~1.0mm(6.0mm、5.0mm、4.0mm、3.0mm、2.0mm和1.0mm)，中槽的寬度從1.0mm`0.1mm(1.0mm、0.8mm、0.6mm、0.4mm、0.2mm和0.1mm)，小槽寬度從0.1mm`0.01mm(0.1mm、0.08mm、0.06mm、0.04mm、0.02mm和0.01mm)。大槽的高度為5.0mm，10.0mm或20.0mm，中槽和小槽的高度為5.0mm和10.0mm。槽間距是恒定的，大槽為5.0mm，中槽為2.0mm，小槽為1.0mm。圖9中等尺寸槽測試件（槽寬（見圖可選角度為510°、15°、20°、25°、30°，用戶可測量角度，評估增材制造系統(tǒng)滿足角度公差的能力。圖10大尺寸角度槽測試件若某些工藝需要較小或特征較粗大的測試件，可由供需雙方協(xié)商測試件的幾何形狀，并遵循圖6，圖7或圖8測試件的設(shè)計原則。特征尺寸的確定含預(yù)估成形分辨率的特征集。特征(例如線性測試件上的凸起間距為2.5mm和5mm)。特別是對于具有各向異性的工藝增材制造過程中以不同的方向成形，例如槽位于xz平面、槽的長度平行于x方向或槽位于yz度平行于y方向。能失效的風(fēng)險。測量槽測試件主要測量槽的寬度。槽的間距為2mm，在一個或多個槽成形失敗的情況下，便于用戶找到每個槽的位置。測量槽寬宜沿槽長度方向測量多個位置，測量方法包括但不限于光學(xué)顯微鏡和塞尺。測試件的可選測量項目是每個槽的長度、沿著每個槽長度方向槽的直線度以及槽兩個面的平行度，測量方法參見附錄B。注意事項（注意測量部分成形的槽的長度和寬度相同的幾個槽尺寸與設(shè)計尺寸是否一致。成形Z方向槽：平行于設(shè)備Z方向、基座與設(shè)備X方向(ZX)對齊、和平行于設(shè)備Z方向、基座與設(shè)備Y(ZY)對齊。表面粗糙度目的（輪廓（面積（對于材料擠出成形幾何形狀圖14mm×15.0mm×0.4mm，中等粗糙度測試件的扁平片尺寸為12.0mm×30.0mm3.0mm24.0mm60.0mm×6.0m，這對于5.0mm×8.0mm的面積測量或12.5mm的輪廓測量已經(jīng)足夠。標(biāo)引序號說明：1——每個平片為3.0mm×12.0mm×30.0mm；2——連接梁；a——扁平片。圖9表面粗糙度測試件特征尺寸的確定建議成形所有角度的測試件，根據(jù)用戶與供應(yīng)商之間的協(xié)議，可以選擇成形更少規(guī)格的測試件。測量主要測量項目為表面粗糙度，可選的測量項目為角度。個樣品的長度方向。測量方向無需記錄。輪廓測量應(yīng)在每個表面不同的位置重復(fù)多次測量(至少3見圖10標(biāo)引序號說明：1——建議輪廓測量位置；2——待測扁平片表面；3——建議面積測量位置。圖10輪廓測量和區(qū)域測量的建議位置可能的情況下，每個測試件的兩個表面(上表面和下表面)應(yīng)分別測量和報告，測量方法參見附錄B。報告表3為粗糙度測量應(yīng)測量和記錄的參數(shù)。輪廓測量的記錄輪廓長度，區(qū)域測量的記錄測量面積。建議值參見GB/T3505、GB/T10610、GB/T33523。表3建議的測量參數(shù)名稱符號(輪廓測量)符號(區(qū)域測量)表面平均粗糙度(算術(shù)平均差)RaSa表面平均峰谷高度RzSz表面高度分布的偏斜度(不對稱度)RskSsk表面高度分布的陡度RkuSku按照國標(biāo)中的粗糙度測量方法改寫。（粗糙度測量按照國標(biāo)GB/T的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行）注意事項成形方向0°（見圖重復(fù)性果需要與其他結(jié)果進(jìn)行比較，還宜記錄測試件在成形室中的位置和方向。支撐壞被測表面的風(fēng)險，用戶可查閱設(shè)備說明書獲取更多的信息。刮刀測試件成形失敗。標(biāo)記目的在基板或測試件上都可以。幾何形狀X和Y所示。注意事項制作標(biāo)記時，建議使用非對稱結(jié)構(gòu)特征/形狀，用以描述測試件位置，以防誤解，圖12為帶有標(biāo)記的測試件。標(biāo)引序號說明：1——連接梁。圖13XY標(biāo)記圖14不同成形角度的XY標(biāo)記a）0°，90°；b）45°附錄A格式和要求報告標(biāo)題要求數(shù)據(jù)元素格式支持信息原材料材料規(guī)范由字母/數(shù)字組成的唯一性代碼符合本文件要求的原材料規(guī)范。工藝標(biāo)準(zhǔn)工藝規(guī)范由字母/數(shù)字組成的唯一性代碼至少包含進(jìn)料方式、工藝以及后處理的信息。測試大綱或規(guī)范文件或文件名由字母/數(shù)字組成的唯一性代碼至少包含與現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)測試方法或非標(biāo)測試方法之間的具體偏離。測量數(shù)據(jù)要求測試方案測試計劃/標(biāo)準(zhǔn)或工藝文件由字母/數(shù)字組成的唯一性代碼至少包含單位、具體測試配置、報告選項、樣品準(zhǔn)備和狀態(tài)。樣品取向坐標(biāo)X/Y/Z和角度按GB/T51407執(zhí)行。附錄B測試件擺放示例足需求的情況下可簡化配置。本附錄提供了測試件的擺放示例以供參考。A.1能力評估。該配置能快速檢查X/Y平面特性，旨在評估X/Y平面（特別是成形平臺的中心）的增材制造系統(tǒng)的幾何成形能力。此外，該配置旨在快速成形并需要少量的原材料。注意這個配置測試件少，成形高度低，并不是系統(tǒng)性能的全面表征。（心上方）引起的系統(tǒng)偏差。圖A.1在X/Y平面測試件擺放附錄C(資料性)測量方法概述方法及其相關(guān)設(shè)備在測量難度、不確定度和成本上有所不同，因此，將這些測量方法分為三類:——A級：常見的簡單、經(jīng)濟(jì)的測量；——AA級：稍高精度的測量；——AAA級：測量昂貴且具有最低的測量不確定度，用于實驗室級測量。對于每種測試件的集中測量方法總結(jié)在下表中，其中許多是可選測量。4倍(10倍)0.5mm0.125mm(0.05mm)GB/T27025-2019。表B.1建議測量方法和測試件的主要特征被測量對象輸出測量設(shè)備測量等級線性精度測試件位置各面坐標(biāo)三坐標(biāo)測量儀AAA各面坐標(biāo)三維掃描儀A~AA突出厚度手持式千分尺或卡尺A突出間距手持式卡尺A平直度測試件長度方向三坐標(biāo)測量儀AAA測試件長度方向三維掃描儀A~AA測試件長度方向帶校準(zhǔn)定位臺的千分表AA測試件長度方向帶直尺的千分表A圓柱銷測試件圓柱直徑最小外接圓三坐標(biāo)測量儀AAA最小外接圓校準(zhǔn)的顯微測量裝置AA~AAA最大內(nèi)接圓三維掃描儀A~AA兩點直徑手持式千分尺或卡尺A圓柱高度N/A三坐標(biāo)測量儀AAA深度尺或手持式卡尺AA~AAA圓度校準(zhǔn)的顯微測量裝置AA~AAA三坐標(biāo)測量儀AAA圓柱度三坐標(biāo)測量儀AAA三維掃描儀A~AA圓孔測試件直徑最大內(nèi)接圓已校準(zhǔn)的顯微鏡AA~AAA最佳擬合圓已校準(zhǔn)的顯微鏡AA~AAA最大內(nèi)接圓針規(guī)A孔深帶有深度尺的針規(guī)A圓度已校準(zhǔn)的顯微鏡AA~AAA筋板測試件厚度三坐標(biāo)測量儀AAA手持式卡尺或千分尺A直線度測試件的形式三坐標(biāo)測量儀AAA測試件的形式三維掃描儀A~AA測試件的形式帶校準(zhǔn)定位臺的千分表AA測試件的形式帶直尺的千分表A槽測試件槽寬面間距塞規(guī)A面間距三坐標(biāo)測量儀（僅限槽寬≥1mm）AAA面間距手持式卡尺或千分尺（僅限槽寬≥1mm）A平面度與最佳擬合圓的偏離三坐標(biāo)測量儀（僅限槽寬≥1mm）AAA平行度三坐標(biāo)測量儀（僅限槽寬≥1mm）AAA表面粗糙度平均表面粗糙度Ra接觸式（觸針）輪廓儀AA~AAASa光學(xué)輪廓儀AA~AAA偏斜度Rsk接觸式（觸針）輪廓儀AA~AAASsk光學(xué)輪廓儀AA~AAA峰值Rku接觸式（觸針）輪廓儀AA~AAASku光學(xué)輪廓儀AA~AAA角度相對角度三坐標(biāo)測量儀AAA尺寸測量的建議一般建議：3次；——測量時對測量的零件施加最小的力，特別是對于小的易碎的零件；——鼓勵用戶在可能影響結(jié)果的標(biāo)稱平面上尋找非平坦或翻邊的位置進(jìn)行測量；于實際尺寸。對于坐標(biāo)測量：——選取多點測量；——建議坐標(biāo)測量范圍至少覆蓋80%的表面；——隨機取點測量比均勻取點測量具有更低的測量不確定度，因為它避免了系統(tǒng)誤差的混疊。對于光學(xué)顯微鏡測量：確定度的影響；——照明影響圖像質(zhì)量從而影響邊界識別。使用現(xiàn)有設(shè)備實現(xiàn)均勻照明(同時避免飽和)的可重復(fù)過程有助于降低測量不確定度。附錄C(資料性)測量過程概述高端測量技術(shù)（BAAAAA，如三坐標(biāo)測量儀等）有大量良好做法的文件；鼓勵用戶尋線性精度測試件測量設(shè)備0.02mm準(zhǔn)確。測量過程在每個距離的立方體的不同高度上測量3次：——第1次在底部測量；2次在立方體的中部測量；3次在立方體的頂部測量。測量注意事項C.1在整個測量過程中，測量位置保持一致，并在測量過程中盡可能避免這種局部特征。圖C.1幾何特征頂面上形成的棱邊（并可能確定大小不同誤差源對測量結(jié)果的影響，并采取相應(yīng)的措施進(jìn)行修正和補償。圓形工件測量設(shè)備——光學(xué)測量、三坐標(biāo)或同等設(shè)備?；鶞?zhǔn)測量說明圓環(huán)的圓度(C.2E、DF尺寸取決于所選擇的測量圓形工件）。——掃描應(yīng)從Pt1開始?！狿t1距平面-B-0.5Dmm，距平面-A-0.5（D-E）mm。Pt1結(jié)束?！獟呙钁?yīng)在平行于表面-C-的平面上進(jìn)行，高度為表面-C-的0.5Fmm?！獔A環(huán)的同心度/圓柱度：——應(yīng)在以下兩個平行于表面-C-的高度處測量/構(gòu)建圓圈/圓柱體距離表面-C-0.25Fmm和0.75Fmm的高度。D-G-尺寸——內(nèi)外直徑應(yīng)在與表面-C-和-C-平行的兩個高度處測量平均值。測量應(yīng)在距表面-C-0.25Fmm和0.75Fmm處進(jìn)行。環(huán)的壁厚：——應(yīng)在五個或更多位置測量墻壁厚度?！狿t1應(yīng)與圓度測量中使用的Pt1一致。Pt2-72Pt3-160Pt4-216Pt5-285。-C--C0.5Fmm。單位（毫米）關(guān)鍵G軸線Pt1point1Pt2point2

圖C.2-圓形工件測量尺寸提供機構(gòu):國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會網(wǎng)址提供機構(gòu):國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會網(wǎng)址:\h訂單號:01010320230904hxkn-測量設(shè)備三坐標(biāo)測量機、3D掃描儀或同等設(shè)備?；鶞?zhǔn)測量說明步高:中描述的優(yōu)先順序建立高度測量的參考位置(4C)。測量臺階相對于參考位置的位置。測量基準(zhǔn)的注意事項Z放高度測量。如圖C.1所示如果從邊緣開始測量，測量結(jié)果會有變化。在整個測量過程中，位置應(yīng)保持一致，在測量過程中應(yīng)盡可能避免局部特征，如邊緣。圓柱銷測試件測量設(shè)備最大允許誤差為≤0.02mm的游標(biāo)卡尺。小，因此是首選方法。測量過程從圓柱銷底部到頂部逐個測量如圖C.2所示的圓柱銷直徑。圖C.2圓柱銷的測量盡可能在多點上進(jìn)行測量。如果可能的話，進(jìn)行三點測量。測量注意事項表面結(jié)構(gòu)會影響測量結(jié)果，因此建議使用測量平均值進(jìn)行補償。圓孔的測量設(shè)備包括：——經(jīng)校準(zhǔn)合格的針規(guī)，間隔0.1mm，量程0.4mm~3.0mm；——推薦使用具有測量能力的顯微鏡。測量過程圓孔測量過程如下：——使用孔直徑為3.0mm、2.0mm、1.0mm的針規(guī)；0.5mm的針規(guī)開始(0.5mm開始)；0.1mm的增量逐漸增加；——找到最大針規(guī)直徑使得針規(guī)在不需要外力的情況下一直能穿過孔的末端并記錄結(jié)果；——如果沒有可以順利插入的圓孔，說明成形失敗；——使用分辨率小于1.0mm的顯微鏡測量；——通過零件底部的光線；——使用圖像在孔的輪廓內(nèi)擬合最大尺寸的內(nèi)切圓；——記錄圓孔的直徑。測量注意事項圓孔測量時，注意事項如下：x和y特征內(nèi)。0.1mm的增量逐漸增加。筋板測試件測量設(shè)備最大允許誤差≤0.02mm的游標(biāo)卡尺。測量過程1/3的位置。圖C.3筋板測試件在不同點的測量測量注意事項表面結(jié)構(gòu)會影響測量結(jié)果，因此建議使用測量平均值進(jìn)行補償。槽測試件測量設(shè)備槽的測量設(shè)備包括：——槽寬：校準(zhǔn)的塞尺，最小增量為0.05mm，量程0.05mm~1.0mm；——角度：三坐標(biāo)測量儀、三維掃描儀，或同等設(shè)備。測量過程槽寬的測量過程如下：——從比標(biāo)稱寬度小于0.5mm的塞尺開始測量(若不適用，則從0.05mm開始)；——如果塞尺通過不需要借助外力，則以0.05mm的增量逐漸增加；——找到最大厚度的塞尺使得塞尺在不需要外力的情況下一直能到槽的末端，記錄結(jié)果；——如果沒有不使用外力可以順利插入的槽，說明成形失敗。槽角度的測量過程：確定臂表面相對于基準(zhǔn)面A的角度。測量注意事項測量槽寬時，注意事項如下：——槽的末端逐漸變窄，塞尺從頭至尾插入且不需要外力；——槽口尺寸小于標(biāo)稱值，因此首先用比標(biāo)稱尺寸小得多的塞尺尺寸，隨后以0.05mm的增量逐漸增加。C.1量位置保持一致，并在測量過程中盡可能避免這種局部特征。表面結(jié)構(gòu)測量設(shè)備表面結(jié)構(gòu)的測量設(shè)備包括：——用于表面結(jié)構(gòu)測量使用的接觸法和光學(xué)方法應(yīng)符合GB/T3505-2009；——為了方便、快速、準(zhǔn)確地測量，用戶可以制作標(biāo)準(zhǔn)夾具來夾持測試件(典型的是具有孔的扁平框架，以使多個樣品穩(wěn)固在正確的方向上)。測量注意事項表面結(jié)構(gòu)的測量注意事項如下：——使用接觸式/光學(xué)輪廓儀器測量Ra,Rz,Rku,Rsk,Rv,和Rp；——沿平行于縱軸、橫跨各層的輪廓線測量；——評估長度12.5mm；——取樣長度(λc):2.5mm；——光學(xué)掃描設(shè)置：掃描面積：13.0mm×1.5mm，z1.0mm；放大倍數(shù)：10倍；1μm3μm。附錄D