露點儀測量是顯現(xiàn)的問題和解決方案 露點儀常見問題解決方法

第第頁露點儀測量是顯現(xiàn)的問題和解決方案露點儀常見問題解決方法露點儀是能直接測出露點溫度的儀器。使一個鏡面處在樣品濕空氣中降溫，直到鏡面上隱現(xiàn)露滴（或冰晶）的瞬間，測出鏡面平均溫度，即為露點（霜）溫度。它測濕精度高，但需干凈度很高的鏡面，精度很高的溫控系統(tǒng)，以及靈敏度很高的露滴（冰晶）的光學探測系統(tǒng)。使用時必需使吸入樣本空氣的管道保持清潔，否則管道內(nèi)的雜質(zhì)將吸取或放出水分造成測量誤差。

鏡面污染對露點測量的影響

在露點測量中，鏡面污染是一個突出的問題，其影響緊要表現(xiàn)兩個方面；一是拉烏爾效應，二是更改鏡面本底放射水平。拉烏爾效應是由水溶性物質(zhì)造成的。假如被測氣體中攜帶這種物質(zhì)（一般是可溶性鹽類）則鏡面提前結(jié)露，使測量結(jié)果產(chǎn)生正偏差。若污染物是不溶于水的微粒，如灰塵等，則會加添本底的散射水平，從而使光電露點儀發(fā)生零點漂移。此外，一些沸點比水低的簡單冷凝的物質(zhì)（例如有機物）的蒸氣，不言而喻將對露點的測量產(chǎn)生干擾。因此，無論任何一種類型的露點儀都應防止污染鏡面。一般說來，工業(yè)流程氣體分析污染的影響是比較嚴重的。但即使是在純氣的測量中鏡面的污染亦會隨時間加添而積累。

測量條件的選擇

在露點儀的設計中要側(cè)重考慮直接影響結(jié)露過程熱質(zhì)交換的各種因素，這個原則同樣適用于自動化程度不太高的露點儀器操作條件的選擇。這里緊要討論鏡面降溫速度和樣氣流速問題。

1.被測氣體的溫度通常都是室溫。因此當氣流通過露點室時必定要影響體系的傳熱和傳質(zhì)過程。當其它條件固定時，加大流速將有利于氣流和鏡面之間的傳質(zhì)。特別是在進行低霜點測量時，流速應適當提高，以加快露層形成速度，但是流速不能太大，否則會造成過熱問題。這對制冷功率比較小的熱電制冷露點儀尤為明顯。流速太大還會導致露點室壓力降低而流速的更改又將影響體系的熱平衡。所以在露點測量中選擇適當?shù)牧魉偈潜匾?，流速的選擇應視制冷方法和露點室的結(jié)構(gòu)而定。一般的流速范圍在0.4～0.7L﹒min—1之間。為了減小傳熱的影響，可考慮在被測氣體進入露點室之前進行預冷處理。

2.在露點測量中鏡面降溫速度的掌控是一個緊要問題，對于自動光電露點儀是由設計決議的，而對于手掌控冷量的露點儀則是操作中的問題。由于冷源的冷卻點、測溫點和鏡面間的熱傳導有一個過程并存在確定的溫度梯度。所以熱慣性將影響結(jié)露（霜）的過程和速度，給測量結(jié)果帶來誤差。這種情況又隨使用的測溫元件不同而異，例如由于結(jié)構(gòu)關(guān)系，鉑電阻感溫元件的測量點與鏡面之間的溫度梯度比較大，熱傳導速度也比較慢，從而使測不冷不熱結(jié)露不能同步進行。而且導致露層的厚度無法掌控。這對目視檢露來說將產(chǎn)生負誤差。

3.另一個問題是降溫速度太快可能造成"過冷"。我們知道，在確定條件下，水汽達到飽和狀態(tài)時，液相仍舊不顯現(xiàn)，或者水在零度以下時仍不結(jié)冰，這種現(xiàn)象稱為過飽和或"過冷"。對于結(jié)露（或霜）過程來說，這種現(xiàn)象往往是由于被測氣體和鏡面特別干凈，乃至缺少充分數(shù)量的凝結(jié)核心而引起的。Suomi在試驗中發(fā)覺，假如一個高度拋光的鏡面并且其干凈程度合乎化學要求，則露的形成溫度要比真實的露點溫度低幾度。過冷現(xiàn)象是短暫的，共時間長短和露點或霜點溫度有關(guān)。這種現(xiàn)象可以通過顯微鏡察看出來。解決的方法之一是重復加熱和冷卻鏡面的操作，直到這種現(xiàn)象除去為止。另一個解決方法是直接利用過冷水的水汽壓數(shù)據(jù)。并且這樣作恰恰與氣象系統(tǒng)低于零度時的相對濕度定義相吻合。

露點儀的測量原理及方法介紹

露點分析儀簡稱露點儀，是一種測量氣體中水份含量的儀器。測量氣體中水份含量的緊要性氣源是僅次于電源的一種動力源，氣源同時還是一種緊要的工藝介質(zhì)，這種雙重身份使氣體在工業(yè)基礎中充當了緊要的角色。

作為動力源的氣體，通常是壓縮空氣，它由不同功率的空氣壓縮機所產(chǎn)生的。從成份上而言，壓縮空氣具有一般空氣的全部成份，同時經(jīng)過空壓機這一流程后，壓縮空氣含有油份塵粒水份，并具有較高的溫度和壓力。動氣力源推動的一般為二種對象：氣動設備和氣動儀表。

露點儀的測量方法有哪些？

1、重量法

是一種經(jīng)典的測量方法。讓所測樣氣流經(jīng)某一干燥劑，其所含水分被干燥劑吸取，精準明確稱取干燥劑吸取的水分含量，與樣氣體積之比即為樣氣的濕度。該方法的優(yōu)點是精度高，最大允許誤差可達0.1%；缺點是實在操作比較困難，尤其是必需得到充重量的吸取水質(zhì)量（一般不小于0.6克），這對于低濕度氣體尤其困難，必需加大樣氣流量，結(jié)果會導致測量時間和誤差增大（測得的濕度不是瞬時值）。

因而該方法只適合于測量露點—32℃以上的氣體，可以說市場上純粹利用該方法測濕度的儀器較少。

由以上分析可知，重量法的關(guān)鍵是怎樣精準明確測量干燥劑吸取的水分含量，由于直接測量比較困難，由此衍生了兩種間接測量吸取水含量的方法。

2、電解法

就是將干燥劑吸取的水分經(jīng)電解池電解成氫氣和氧氣排出，電解電流的大小與水分含量成正比，通過檢測該電流即可測得樣氣的濕度。該方法彌補了重量法的缺點，測量量程可達—80℃以下，且精度較好，價格便宜；缺點是電解池氣路需要在使用前干燥很長時間，且對氣體的腐蝕性及清潔性要求較高。

3、振動頻率法

就是將重量法中的干燥劑換用一種吸濕性的石英晶體，依據(jù)該晶體吸取水分質(zhì)量不同時振動頻率不同的特點，讓樣氣和標準干燥氣流經(jīng)該晶體，因而產(chǎn)生不同的振動頻率差△f1和△f2，計算兩頻率之差即可得到樣氣的濕度。該方法具有電解法一樣的優(yōu)點，且使用前勿須干燥。

4、冷鏡法

也是一種經(jīng)典的測量方法。讓樣氣流經(jīng)露點冷鏡室的冷凝鏡，通過等壓制冷，使得樣氣達到飽和結(jié)露狀態(tài)（冷凝鏡上有液滴析出），測量冷凝鏡此時的溫度即是樣氣的露點。該方法的緊要優(yōu)點是精度高，尤其在接受半導體制冷和光電檢測技術(shù)后，不確定度甚至可達0.1℃；缺點是響應速度較慢，尤其在露點—60℃以下，平衡時間甚至達幾個小時，而且此方法對樣氣的清潔性和腐蝕性要求也較高，否則會影響光電檢測效果或產(chǎn)生偽結(jié)露造成測量誤差。

5、阻容法

是一種不斷完善的濕度測量方法。利用一個高純鋁棒，表面氧化成一層超薄的氧化鋁薄膜，其外鍍一層多空的網(wǎng)狀金膜，金膜與鋁棒之間形成電容，由于氧化鋁薄膜的吸水特性，導致電容值隨樣氣水分的多少而更改，測量該電容值即可得到樣氣的濕度。

該方法的緊要優(yōu)點是測量量程可更低，甚至達—100℃，另一突出優(yōu)點是響應速度特別快，從干到濕響應一分鐘可達90%，因而多用于現(xiàn)場和快速測量場合；缺點是精度較差，不確定度多為±2～3℃。老化和漂移嚴重，使用3～6個月必需校準。

在化工、石化、紡織、電力、冶金、制藥、生物工程和軍工生產(chǎn)中有很多緊要環(huán)節(jié)不容許用電力設備和電動儀表，而只能使用氣動設備和氣