




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產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)坐標(biāo)測(cè)量國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)I Ⅲ 1 1 24符號(hào) 4 5 6 9 99產(chǎn)品文件和數(shù)據(jù)頁中的說明 附錄A(資料性)技術(shù)指標(biāo)表達(dá)示例 ⅢGB/T16857《產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)究、測(cè)量應(yīng)用實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)總結(jié)等開展制定的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè)推薦性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。GB/T16857擬由14個(gè)部分構(gòu)成。 -第4部分:在掃描模式下使用的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。目的在于規(guī)定在掃描模式下使用的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)-—第5部分:使用單探針或多探針接觸式探測(cè)系統(tǒng)的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。目的在于規(guī)定帶有接觸式探 —-第7部分:配置影像探測(cè)系統(tǒng)的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。目的在于規(guī)定驗(yàn)證用于測(cè)量尺寸的坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 第8部分:使用光學(xué)距離傳感器的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。目的在于規(guī)定由坐標(biāo)測(cè)量機(jī)制造商或用戶規(guī) 第901部分:配置多影像探測(cè)系統(tǒng)的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。目的在于規(guī)定對(duì)配置多影像探測(cè)系統(tǒng)的坐 第10部分:激光跟蹤儀。目的在于規(guī)定激光跟蹤儀性能的驗(yàn)收檢測(cè)規(guī) 第11部分:工業(yè)CT。目的在于規(guī)定以基于X射線衰減的X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)原理 第12部分:關(guān)節(jié)臂式坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。目的在于規(guī)定關(guān)節(jié)臂式坐標(biāo)測(cè)量機(jī)V——第13部分:光學(xué)三維坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。目的在于規(guī)定光學(xué)三維坐標(biāo)測(cè)量機(jī)性能的驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢1——由使用方提出對(duì)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)及其測(cè)頭的性能指標(biāo)本文件覆蓋了單探測(cè)軸以及在測(cè)量空間少量或大部分重疊的多探測(cè)軸坐同類型測(cè)頭組成的多種探測(cè)系統(tǒng)(例如,視覺測(cè)頭與接觸測(cè)頭的組合,或兩個(gè)不同用途接觸測(cè)頭的組本文件描述的檢測(cè)方法與坐標(biāo)測(cè)量機(jī)及探測(cè)系統(tǒng)引入的多種誤差密切相長(zhǎng)度測(cè)量誤差和各探測(cè)系統(tǒng)探測(cè)誤差的補(bǔ)充。在執(zhí)行本文件之前,宜先檢測(cè)下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不ISO10360-1產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(CMM)的驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè)第1部分:詞匯[GeometricalProductSpecifications(GPS)—Aceptanceandreverificationtestsforcoordinatemeasuringmachines(CMM)—Part1:VocabISO10360-5產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng)(CMS)的驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè)第5部分:使用單探針或多探針接觸式探測(cè)系統(tǒng)的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)[Geometricalproductspecifications(GPS)一Acceptanceandreverificatiomeasuringmachines(Ccretepointand/orscanningmeasurISO10360-7產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(CMM)的驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè)第7部分:配置影像探測(cè)系統(tǒng)的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)[Geometricalproductspecifications(GPS)—Acceptanceverificationtestsforcoordinate2ISO10360-8產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng)(CMS)的驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè)第8部ISO14253-1產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)工件與測(cè)量設(shè)備的測(cè)量檢驗(yàn)第1部分:按規(guī)范驗(yàn)證合workpiecesandmeasuringequipment—Part1:Decisionrulesforve3術(shù)語和定義3允許表面條件狀況permissiblesurfacecond多種探測(cè)系統(tǒng)形狀誤差multipleprobingsystem多種探測(cè)系統(tǒng)尺寸誤差multiplepro多種探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量同一個(gè)檢測(cè)球,由無約束最小二乘擬合法形成的高斯擬合球與檢測(cè)球?qū)嶋H直徑多種探測(cè)系統(tǒng)探測(cè)同一個(gè)檢測(cè)球,各探測(cè)系統(tǒng)獲得的探測(cè)點(diǎn)采用無約束最小二乘擬合法形成高斯多種探測(cè)系統(tǒng)形狀最大允許誤差maximumpermissibleerrorformultiplesystemprobing4GB/T16857.9-20b)Ppomsha×25:MFs,AaPe=(A+Lp由坐標(biāo)測(cè)量機(jī)技術(shù)規(guī)范所允許的多種探測(cè)系統(tǒng)尺寸誤差的極限值。b)Psmsha×s,AFs.Aare=(A+LpL,—三維空間內(nèi)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)標(biāo)準(zhǔn)球球心與檢測(cè)球球心之間由坐標(biāo)測(cè)量機(jī)技術(shù)規(guī)范所允許的多種探測(cè)系統(tǒng)位置誤差的極限值。b)Lpan×3,NPs,spe=(A+Lp4符號(hào)本文件采用如下符號(hào),見表1。5多種探測(cè)系統(tǒng)形狀誤差多種探測(cè)系統(tǒng)尺寸誤差多種探測(cè)系統(tǒng)位置誤差多種探測(cè)系統(tǒng)形狀最大允許誤差多種探測(cè)系統(tǒng)尺寸最大允許誤差多種探測(cè)系統(tǒng)位置最大允許誤差6下測(cè)量空間對(duì)角線長(zhǎng)度的10%~20%。 配備多種探測(cè)系統(tǒng)誤差指標(biāo)中應(yīng)至少包括一個(gè)符合長(zhǎng)度測(cè)量誤差規(guī)范(如ISO10360-2、7ISO10360-7)的測(cè)頭配置。本文件中,如果坐標(biāo)測(cè)量配備探測(cè)系統(tǒng)組合(如圖1所示)的每個(gè)探測(cè)系統(tǒng)均沒有長(zhǎng)度測(cè)量規(guī)定或不能與提供長(zhǎng)度測(cè)量規(guī)定的測(cè)頭配置有計(jì)量學(xué)上的聯(lián)系(見ISO10360-2),則坐標(biāo)測(cè)量機(jī)使用該探測(cè)系統(tǒng)的長(zhǎng)度測(cè)量技術(shù)指標(biāo)及其溯源性是不能保證的。圖1探測(cè)系統(tǒng)組合探測(cè)檢測(cè)球的兩個(gè)示意圖8在坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)量范圍內(nèi)應(yīng)該選擇3個(gè)位置進(jìn)行檢測(cè),第1個(gè)位置應(yīng)盡量靠近坐標(biāo)軸選擇另外2個(gè)位置,各軸最大的移動(dòng)距離可達(dá)到該軸測(cè)量范圍的50%,使用方可在這些規(guī)定的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)配備n套探測(cè)系統(tǒng),在檢測(cè)球安放的各位置,每套探測(cè)系統(tǒng)探測(cè)檢測(cè)球25次,獲得點(diǎn)減少成為一個(gè)代表點(diǎn)的操作步驟。配備多種探測(cè)系統(tǒng)使用2D實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)器檢測(cè)多種探測(cè)系統(tǒng)時(shí),確保25個(gè)探測(cè)點(diǎn)按一定間隔均勻分開且不能重疊。個(gè)探測(cè)系統(tǒng)的檢測(cè)流程相同。如果各探測(cè)軸的測(cè)量空間重疊較小,則應(yīng)分別檢測(cè)每個(gè)探測(cè)軸的探測(cè)對(duì)多探測(cè)軸坐標(biāo)測(cè)量機(jī),建議在各探測(cè)軸上至少選擇一個(gè)探測(cè)系統(tǒng)檢測(cè)長(zhǎng)度對(duì)檢測(cè)球放置在3個(gè)位置上獲得的測(cè)量數(shù)據(jù)分別進(jìn)行分析。束最小二乘擬合法形成高斯擬合球,由n個(gè)高斯擬合球的球心得到最小外接球,最小外接球的直徑即測(cè)點(diǎn)對(duì)高斯擬合球心的最大半徑與最小半徑的差值(Rm一Rmi)為多種探測(cè)系統(tǒng)形狀誤99——按ISO14253-1考慮不確定度后,在3個(gè)檢測(cè)位置測(cè)得的多種探測(cè)系統(tǒng)形狀誤差——按ISO14253-1考慮不確定度后,在3個(gè)檢測(cè)位置測(cè)得的多種探測(cè)系統(tǒng)尺寸誤差——按ISO14253-1考慮不確定度后,在3個(gè)檢測(cè)位置測(cè)得的多種探測(cè)系統(tǒng)位置誤差——按ISO14253-1考慮不確定度后,在3個(gè)檢測(cè)位置測(cè)得的多種探測(cè)系統(tǒng)形狀誤差——按ISO14253-1考慮不確定度后,在3個(gè)檢測(cè)位置測(cè)得的多種探測(cè)系統(tǒng)尺寸誤差——按ISO14253-1考慮不確定度后,在3個(gè)檢測(cè)位置測(cè)得的多種探測(cè)系統(tǒng)位置誤差本文件規(guī)定的復(fù)檢檢測(cè)方法可應(yīng)用于組織內(nèi)部的質(zhì)量保證體系中,以驗(yàn)在組織內(nèi)部的質(zhì)量保證體系中,可使用簡(jiǎn)化的復(fù)檢檢測(cè)方法定期檢查坐標(biāo)測(cè)建議定期檢查多種探測(cè)系統(tǒng)的測(cè)量性能,在發(fā)生對(duì)探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量性能產(chǎn)品文件、圖紙、數(shù)據(jù)表格等方面可以不使用第4章的符號(hào)。表2給出了這些符號(hào)可以對(duì)應(yīng)的標(biāo)識(shí)。MPE(P[Form.Sph,n×25::MPMPE(P[Size.Sph.n×25::MP(資料性)探測(cè)系統(tǒng)操作條件見表A.1。縮寫縮寫縮寫——背光、暗場(chǎng)或亮場(chǎng)照明縮寫——背光照明縮寫——表面最大傾斜士45°使用探測(cè)系統(tǒng)組合時(shí),采用下面形式的MPE(假定可進(jìn)行3D評(píng)估,即使探測(cè)系統(tǒng)包括2D影像測(cè)PForm.Sphn×25,,MPS,MP制造商可采用如下形式的MPE代替表A.2所給出的多種探測(cè)系統(tǒng)技術(shù)指標(biāo):PForm.Sphn×25:MPS,MPe(CPS,VP5制造商還可為2個(gè)以上的探針組合指定MPE。在這種情況下,能用如下形式的MPE:PForm.Sphn×25MPS,MPe(CPS,VP5,LFA.2最大允許誤差最大允許誤差見表A.2。PForm.Cra×25,xY,MPSPForm.Cra×2s,XY,MPSLDaa×25,XY,MPS,MPE一根據(jù)ISO10360-5、ISO10360-7或ISO(資料性)B.1概述ISO14638中的GPS矩陣模型對(duì)GPS體系進(jìn)行了綜述,本文件是該體系的一部分。除非另有說本文件規(guī)定了配備接觸或非接觸測(cè)量模式多種探測(cè)系統(tǒng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 本文件是一項(xiàng)GPS通用標(biāo)準(zhǔn)。本文件給出的規(guī)則和原則適用于GPS矩陣中所有標(biāo)有實(shí)心點(diǎn)(●)表B.1GPS標(biāo)準(zhǔn)矩陣模型ABCDEFG方向跳動(dòng)區(qū)域表面結(jié)構(gòu)表面缺陷[1]ISO8015Geometricalproductspecification[2]ISO10360-2:2009Geometricalproductsp[3]ISO10360-3:2000GeometricalProdutiontestsforcoordinatemeasuringmachine[4]ISO14638Geometricalproductspecificat[5]ISO
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