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文檔簡介
《半導(dǎo)體集成電路》
課程教學(xué)
教案
山東大學(xué)信息科學(xué)與工程學(xué)院
電子科學(xué)與技術(shù)教研室(微電)
張新
課程總體介紹:
1.教材:選用上??萍汲霭嫔绯霭娴?,由電子工業(yè)部教材辦公
室組織編寫的高等學(xué)校教材《半導(dǎo)體集成電路》一書。該教
材參考教學(xué)學(xué)時為120學(xué)時。
2.目前實際教學(xué)學(xué)時數(shù):課內(nèi)66+實驗6,共計72學(xué)時。
3.教學(xué)內(nèi)容:(按72學(xué)時刪減)
第一篇雙極型邏輯集成電路26學(xué)時
第一章集成電路的寄生效應(yīng)(含序論)7學(xué)時
第二章TTL集成電路12學(xué)時
第三章TTL中大規(guī)模集成電路3學(xué)時
第四章TTL電路版圖設(shè)計4學(xué)時
第二篇MOS邏輯集成電路26學(xué)時
有關(guān)MOS管+前言3學(xué)時
第六章nMOS邏輯集成電路9學(xué)時
第七章CMOS集成電路8學(xué)時
第八章動態(tài),準靜態(tài)MOS電路簡介2學(xué)時
第九章MOS集成電路版圖設(shè)計4學(xué)時
第三篇模擬集成電路20學(xué)時
第十一章模擬集成電路中的特殊元件8學(xué)時
第十二章模擬集成電路中的基本單元9學(xué)時
第十三章集成運算放大器簡介3學(xué)時
課程教案:
序言1學(xué)時
內(nèi)容:1集成電路
1.1集成電路定義
1.2集成電路特點
1.3集成電路分類
2半導(dǎo)體集成電路
2.1半導(dǎo)體集成電路分類
2.2有關(guān)半導(dǎo)體集成電路的集成度
2.3半導(dǎo)體集成電路的優(yōu)缺點
3課程內(nèi)容介紹及參考書
課程重點:介紹了何謂集成電路,集成電路是如何分類的(即可分為膜
集成電路.半導(dǎo)體集成電路和混合集成電路),集成電路有何特點;介
紹了何謂半導(dǎo)體集成電路,半導(dǎo)體集成電路的分類(即按照電路中晶體
管的導(dǎo)電載流子狀況分類,可分為雙極型集成電路和單極型集成電路兩
種;按照電路工作性質(zhì)分類,可分為數(shù)字集成電路和模擬集成電路兩
種),半導(dǎo)體集成電路的重要概念-集成度,以及半導(dǎo)體集成電路的優(yōu)
點(即體積小重量輕;技術(shù)指標先進可靠性高以及便于大批量生產(chǎn)和成
本低等)。最后給出了課程總體內(nèi)容介紹,并給出了有關(guān)參考書。
課程難點:有關(guān)半導(dǎo)體集成電路的定義,不同方法的分類;有關(guān)半導(dǎo)體
集成電路集成度的兩種定義方法,以及半導(dǎo)體集成電路的最突出的優(yōu)
點。
基本概念:
1集成電路-將某一電路所需的若干元器件(晶體管;二極管;電阻和
電容)均制作于一個(或幾個)基片上,通過布線連接構(gòu)成的完整電
路。
2膜集成電路-由金屬和金屬合金薄膜以及半導(dǎo)體薄膜制成元器件,布
線連接構(gòu)成的集成電路。
3半導(dǎo)體集成電路-以半導(dǎo)體(硅)單晶為基片,以外延平面工藝為基
礎(chǔ)工藝,將構(gòu)成電路的各元器件制作于同一基片上,布線連接構(gòu)成的功
能電路。
4混合集成電路(組合集成電路)-由半導(dǎo)體集成電路,膜集成電路和
分離元件中至少兩種構(gòu)成的集成電路。
5雙極型集成電路-由一般平面雙極晶體管構(gòu)成的集成電路,其載流子
為電子和空穴。
6單極型集成電路(MOS集成電路)-由MOS場效應(yīng)管構(gòu)成的集成電
路,其導(dǎo)電載流子僅有電子(或空穴)一種。
7數(shù)字集成電路-處理數(shù)字量信號的集成電路。數(shù)字量指以某一最小單
元作不連續(xù)變化的量。
8模擬集成電路-處理模擬量信號的集成電路。模擬量指能夠連續(xù)變化
的量。
9集成電路的集成度-單位面積芯片上最多可容納的元器件個數(shù)。單
位;元器件個數(shù)/平方毫米。
10集成電路的規(guī)模-以單個芯片上最多可容納的元器件個數(shù)為劃分依
據(jù)。單位;元器件個數(shù)/單芯片。
基本要求:掌握集成電路的定義及分類;半導(dǎo)體集成電路的定義及分
類;了解半導(dǎo)體集成電路的應(yīng)用場合;知道以規(guī)模定義的半導(dǎo)體集成電
路的集成度以及集成度定義的擴展。
課程參考書目及要求:
對雙極型部分:
1器件原理部分:
書目:《半導(dǎo)體物理》已開過課程;
《晶體管原理》與本課程同期開課:
《半導(dǎo)體器件物理》同名書目。
要求:熟悉晶體管單結(jié)特性及相關(guān)公式;熟悉晶體管雙結(jié)特性及部分相
關(guān)公式:熟悉晶體管瞬態(tài)(頻率)特性。
2工藝原理部分:
書目:《半導(dǎo)體器件工藝原理》77年統(tǒng)編教材;
《超大規(guī)模集成電路技術(shù)基礎(chǔ)》99年由電子工業(yè)出版社出版;
《集成電路制造技術(shù)》與本課程同期開課。
要求:熟悉pn結(jié)形成的工藝原理及平面結(jié)工藝結(jié)構(gòu);熟悉pn結(jié)形成時
的工藝影響因素;熟悉常規(guī)集成電路工藝剖面結(jié)構(gòu)以及各電性區(qū)的作
用,集成電路制造帶來的各種寄生。
3電路及集成電路構(gòu)成基礎(chǔ)知識部分:
書目:《電子技術(shù)基礎(chǔ)》己開過課程;
《數(shù)字集成電路》已開過課程;
《模擬集成電路》已開過課程。
要求:熟悉各種門電路的基本線路構(gòu)成;熟悉構(gòu)成各種門電路的各種基
本元器件;熟悉各種門電路的基本工作原理;熟悉各種門電路的組合;
熟悉各種二進制規(guī)則及邏輯關(guān)系的變換。
MOS集成電路部分:
書目:〈晶體管原理〉第八章場效應(yīng)晶體管;
〈單極型晶體管〉。
要求:熟悉MOS晶體管結(jié)構(gòu);熟悉MOS晶體管工作原理;熟悉MOS
晶體管類型及不同工作條件下的特性;熟悉MOS晶體管各種電流-電壓
系O
第一篇雙極型邏輯集成電路《26學(xué)時》
第一章集成電路的寄生效應(yīng)(6學(xué)時)
§1.1集成電路的特殊工藝及結(jié)構(gòu)1學(xué)時
內(nèi)容:1典型pn結(jié)隔離工藝
1.1pn結(jié)隔離工藝的工藝流程
1.2典型pn結(jié)隔離的實現(xiàn)及埋層作用
1.3pn結(jié)隔離結(jié)構(gòu)形成的說明
2介質(zhì)隔離工藝
2.1介質(zhì)隔離工藝的工藝流程
2.2介質(zhì)隔離工藝中晶體管和電阻的結(jié)構(gòu)剖圖
2.3介質(zhì)隔離工藝的工藝特點
3pn結(jié)-介質(zhì)混合隔離
3.1pn結(jié)-介質(zhì)混合隔禺剖面結(jié)構(gòu)
3.2pn結(jié)-介質(zhì)混合隔離結(jié)構(gòu)特點
課程重點:本節(jié)主要介紹了雙極型邏輯集成電路制造中常用的典型pn結(jié)
隔離工藝以及補充了性能更優(yōu)越的介質(zhì)隔離和pn結(jié)-介質(zhì)混合隔離工藝,
對三種工藝的工藝流程和工藝剖面結(jié)構(gòu)分別作了介紹,并對三種工藝的
工藝特點作了對比。其中最重要的是典型的pn結(jié)隔離的工藝內(nèi)容,這
仍然是雙極型邏輯集成電路制造中最最常用的隔離工藝,因為該工藝與
常規(guī)平面制造工藝相容性最好。對三種工藝所制造的埋層的結(jié)構(gòu)做了介
紹,并介紹了埋層所起到的兩個作用,即解決了正面連線造成的集電極
串聯(lián)電阻增大的問題,又解決了器件功率特性和頻率特性對材料要求的
矛盾。強調(diào)了常規(guī)pn結(jié)隔離是如何從工藝上實現(xiàn)的,即隔離擴散的各
擴散區(qū)均必須擴穿外延層而與p襯底連通(或稱各隔離墻均有效);強
調(diào)了常規(guī)pn結(jié)隔離集成電路在使用時是如何給予電性保證的,即p襯
底接電路最低電位(保證隔離pn結(jié)二極管處于反向偏置)。
課程難點:三種隔離方法是如何達到使半導(dǎo)體集成電路中各元器件在電
性能上達到絕緣隔離的;三種工藝中制造的埋層在集成電路中作用的原
理;pn結(jié)隔離是如何工藝實現(xiàn)的,如何在使用時給予電性保證的。
基本概念:
1pn結(jié)隔離-利用反向pn結(jié)的大電阻特性實現(xiàn)集成電路中各元器件間電
性隔離方法。
2介質(zhì)隔離-使用絕緣介質(zhì)取代反向pn結(jié),實現(xiàn)集成電路中各元器件間
電性隔離方法。
3混合隔離-在實現(xiàn)集成電路中各元器件間電性隔離時,既使用了反向
pn結(jié)的大電阻特性又使用了絕緣介質(zhì)電性絕緣性質(zhì)的方法。
基本要求:了解三種隔離方法各自的工藝流程,流程中重點工序的工藝
方法和工藝特點。了解三種隔離方法各自的隔離特點和隔離性能對比,
特別是隔離結(jié)構(gòu)帶來的有源寄生和無源寄生性能的對比。著重掌握典型
pn結(jié)隔離的工藝流程和各工序的作用,了解典型pn結(jié)隔離集成電路的
pn結(jié)隔離是如何工藝實現(xiàn)的,如何在使用時給予電性保證的;清楚的
知道埋層是如何制造的,埋層有何特點,埋層在半導(dǎo)體集成電路結(jié)構(gòu)中
有何作用以及埋層制造質(zhì)量對集成電路電性的能影響。
§1.2集成電路中元器件的結(jié)構(gòu)和寄生效應(yīng)1學(xué)時
內(nèi)容:1集成電路中npn管結(jié)構(gòu)帶來的寄生效應(yīng)
1.1典型pn結(jié)隔離結(jié)構(gòu)中npn管帶來的寄生效應(yīng)
1.2pn-介質(zhì)混合隔離結(jié)構(gòu)中npn管帶來的寄生效應(yīng)
1.3介質(zhì)隔離結(jié)構(gòu)中npn管帶來的寄生效應(yīng)
2集成電路中電阻結(jié)構(gòu)帶來的寄生效應(yīng)
2.1典型pn結(jié)隔離結(jié)構(gòu)中電阻的結(jié)構(gòu)特點
2.2引入的寄生器件
2.3電路中電阻的使用特點
2.4集成電路中電阻結(jié)構(gòu)引入的寄生電容
3集成電路中典型倒相器引入的寄生效應(yīng)
3.1集成倒相器的構(gòu)成及其寄生
3.2去除有源寄生的措施
課程重點:本節(jié)主要介紹了常規(guī)集成電路制造中典型元件-基區(qū)擴散電
阻制造帶來的寄生效應(yīng),它在集成電路中的典型工藝剖面結(jié)構(gòu)為三層二
結(jié)結(jié)構(gòu);典型器件npn管制造帶來的寄生效應(yīng),它在集成電路中的典型
工藝剖面結(jié)構(gòu)為四層三結(jié)結(jié)構(gòu);典型倒相器制造帶來的寄生效應(yīng),它應(yīng)
含有電阻制造帶來的寄生和npn管制造帶來的寄生。這些寄生均分為有
源寄生效應(yīng)和無源寄生效應(yīng),有源寄生效應(yīng)影響集成電路的直流特性和
瞬態(tài)特性,是極其有害的;而無源寄生僅影響電路的瞬態(tài)特性。本節(jié)重
點是npn管制造帶來的寄生效應(yīng),其有源寄生-寄生晶體管對集成電路
性能帶來的不良影響。介紹了如何從工藝上采取措施消除這種有源寄生
的影響,所采取的工藝措施是在npn管集電區(qū)摻金(相當于在pnp管基
區(qū)摻金)和在npn管集電區(qū)設(shè)置高濃度n型埋層(影響pnp管基區(qū)性
質(zhì)),它們的作用原理是:摻金的作用,使pnp管基區(qū)中高復(fù)合中心數(shù)
增加,少數(shù)載流子在基區(qū)復(fù)合加劇,由于非平衡少數(shù)載流子不可能到達
集電區(qū)從而使pnp管電流放大系數(shù)大大降低。埋層的作用有兩個,其
一,埋層的下反擴散導(dǎo)致pnp管基區(qū)寬度增加,非平衡少數(shù)載流子基區(qū)
渡越時間增長,非平衡少數(shù)載流子在基區(qū)的復(fù)合率增大,從而使pnp管
電流放大系數(shù)降低;其二,埋層的上反擴散導(dǎo)致pnp管基區(qū)摻雜濃度增
大,基區(qū)方塊電阻減小,由晶體管原理可知,這將導(dǎo)致發(fā)射效率下降從
而使pnp管電流放大系數(shù)降低,綜上所述,各作用的結(jié)果使寄生p叩管
的電流放大系數(shù)降至0.01以下,則有源寄生轉(zhuǎn)變?yōu)闊o源寄生,僅體現(xiàn)
為勢壘電容的性質(zhì)。
課程難點:集成電阻制造.集成晶體管的制造.集成倒相器的制造在集成
電路中實際帶來的無源寄生-電容;有源寄生-晶體管均將參與電路工
作。由集成電阻和集成晶體管在集成電路中可能工作狀態(tài)的分析,集成
晶體管結(jié)構(gòu)將帶來有源寄生,從而影響集成電路的直流工作性能。因
止匕,需盡可能采取各種工藝措施來消除這種有源寄生的影響。
基本概念:
1埋層的上反擴散-在工藝制造過程中的各高溫條件下,在濃度梯度的作
用下,高濃度的n型埋層向低濃度的n型外延層的擴散。
2埋層的下反擴散-在工藝制造過程中的各高溫條件下,在濃度梯度的作
用下,高濃度的n型埋層向低濃度的p型襯底的擴散。
3典型集成電阻的三層二結(jié)結(jié)構(gòu)-指p型擴散電阻區(qū)-n型外延層-p型襯底
三層,以及三層之間的兩個pn結(jié)這樣的工藝結(jié)構(gòu)。
4典型集成晶體管的四層三結(jié)結(jié)構(gòu)-指npn管的高濃度n型擴散發(fā)射區(qū)-
npn管的p型擴散基區(qū)-n型外延層(npn管的集電區(qū))-p型襯底四層,
以及四層之間的三個pn結(jié)這樣的工藝結(jié)構(gòu)。
5有源寄生-存在寄生晶體管的現(xiàn)象,可為寄生pnp管(襯底參與構(gòu)成的
pnp管),也可為寄生npn管(多發(fā)射極輸入晶體管各發(fā)射區(qū)與基區(qū)構(gòu)
成的npn管)。
6無源寄生-存在寄生元件的現(xiàn)象,可為寄生電容,也可為寄生電阻。
基本要求:了解集成電路制造中的特有工藝結(jié)構(gòu)隔離島和隔離墻的形
成,知道隔離結(jié)構(gòu)的存在會使集成元器件制造時帶來寄生效應(yīng),而寄生
效應(yīng)分為產(chǎn)生有源寄生器件和產(chǎn)生無源寄生元件兩種情況。當工藝條件
或電性條件滿足時,有源寄生可以轉(zhuǎn)變?yōu)闊o源寄生。在三種隔離結(jié)構(gòu)
中,集成元器件的制造所引入的寄生效應(yīng)種類不同,且強弱不同的分
析,知道三種隔離結(jié)構(gòu)寄生特點的區(qū)別。掌握在集成電路制造和使用
中,如何去除集成元器件結(jié)構(gòu)帶入的有源寄生效應(yīng),使有源寄生變?yōu)闊o
源寄生。了解集成電阻和集成npn管在集成電路中的電性等效結(jié)構(gòu)和工
藝剖面結(jié)構(gòu),進而了解由它們構(gòu)成集成倒相器時,各自的寄生是如何影
響倒相器的電性能的,知道如何去除集成倒相器制造中產(chǎn)生的有源寄
生。
§1.3多結(jié)晶體管的埃伯斯-莫爾模型2學(xué)時
內(nèi)容:1理想二極管的模型
1.1pn結(jié)二極管的V-I特性
1.2pn結(jié)二極管的V-I特性分析
1.3典型硅pn結(jié)二極管的V-I特性
1.4理想pn結(jié)模型
2雙結(jié)晶體管的E-M模型
2.1雙結(jié)晶體管的結(jié)構(gòu)及電流定義
2.2注入型E-M模型
2.3其它模型
3四層三結(jié)結(jié)構(gòu)npn管的E-M模型
3.1集成電路中npn管的四層三結(jié)結(jié)構(gòu)及分析
3.2四層三結(jié)結(jié)構(gòu)中的電流分析
3.3四層三結(jié)結(jié)構(gòu)的E-M模型
4摻金電路中晶體管的瞬態(tài)模型
4.1四層三結(jié)結(jié)構(gòu)的瞬態(tài)模型
4.2摻金電路的瞬態(tài)摸型
課程重點:本節(jié)開始介紹了簡單的硅二極管的伏安特性,從硅二極管的
電流電壓關(guān)系公式,分析了它的正向特性和反向特性,由正向特性分析
中可知,此時電流的大小除了與結(jié)上的正向電壓有關(guān)外還與結(jié)兩側(cè)攙雜
濃度有關(guān),從公式分析中表明,應(yīng)與攙雜濃度小的一側(cè)雜質(zhì)濃度有關(guān),
從硅二極管的伏安特性曲線進而討論了它的理想情況,引出了理想pn
結(jié)模型。由單結(jié)模型擴展到雙結(jié)晶體管E-M模型,從兩種結(jié)構(gòu)進行了分
析,一種是當基區(qū)足夠?qū)挄r,表現(xiàn)為兩個互不干擾的pn結(jié)二極管結(jié)
構(gòu),這時可用單結(jié)模型分析兩結(jié)各自的伏安特性;另一種是當基區(qū)足
夠薄時,這時必須考慮兩結(jié)的互作用,伏安特性分析可知,兩結(jié)的結(jié)電
流中除了各自的注入電流外還與相鄰結(jié)注入電流被本結(jié)吸收的部分有關(guān)
系,雙結(jié)晶體管E-M模型是以后一種情況為依據(jù)建立的。進而又擴展
到集成電路中的實際晶體管的四層三結(jié)結(jié)構(gòu)的E-M模型,電路分析可
知,一是多了一個pn結(jié),二是認為npn管基區(qū)足夠薄同時寄生pnp管
基區(qū)(n型外延層)也足夠薄,這樣各結(jié)均要考慮相鄰結(jié)的互作用,據(jù)
此建立了四層三結(jié)結(jié)構(gòu)晶體管的E-M模型。其中,重點是四層三結(jié)結(jié)
構(gòu)的E-M模型。在該模型中清晰的看到,由于寄生pn結(jié)的引入產(chǎn)生了
寄生晶體管,而該寄生晶體管可影響集成電路的電性能,包括影響直流
特性和瞬態(tài)特性。因為不希望寄生影響集成電路的直流特性,則根據(jù)上
節(jié)的結(jié)論討論了如何消除這種有源寄生的影響,建立了摻金電路的瞬態(tài)
模型,該電路模型采取了如下措施:npn管集電區(qū)摻金;npn管集電區(qū)
設(shè)置高濃度n型埋層;p型襯底的電極S極接電路最低電位,因此,該
電路模型消除了有源寄生,去除了部分無源寄生。
課程難點:集成電路中晶體管的四層三結(jié)結(jié)構(gòu)的直流E-M模型和瞬態(tài)
E-M模型的建立,該二模型的電流和電壓分析,在該二模型中,有源
寄生是如何影響集成電路直流特性和瞬態(tài)特性的分析。在應(yīng)用其直流特
性時,怎樣可消除有源寄生的影響;而采用摻金工藝又如何可以簡化瞬
態(tài)模型。
基本概念:
1al晶體管反向運用時共基極短路電流增益。
2ar-晶體管正向運用時共基極短路電流增益。
3注入型E-M模型-電路的端電流是以結(jié)的注入電流表述的。
4傳輸型E-M模型-電路的端電流是以晶體管的少數(shù)載流子正向傳輸電
流及晶體管的少數(shù)載流子反向傳輸電流表述的。
5結(jié)電流-在E-M模型中流過結(jié)的電流,其大小與結(jié)電壓有關(guān),有方向
性。
6端電流-在E-M模型中的外端口流過的電流,是相關(guān)結(jié)電流的綜合,
也具有方向性。
基本要求:了解單結(jié)和雙結(jié)結(jié)構(gòu)的E-M模型,進而了解四層三結(jié)結(jié)構(gòu)
的E-M模型,清楚注入型E-M模型與其它類模型定義和本質(zhì)上的區(qū)
別。熟悉四層三結(jié)結(jié)構(gòu)的直流E-M模型以及如何消除該模型中有源寄
生的方法;了解四層三結(jié)結(jié)構(gòu)的瞬態(tài)E-M模型,知道模型中影響瞬態(tài)
特性的因素和集成電路制造中可能引入的影響瞬態(tài)特性的因素。熟悉直
流模型V-I特性的電流和電壓分析,熟知電流電壓公式;熟知各種結(jié)構(gòu)
的E-M方程。
§1.4集成電路中晶體管有源寄生效應(yīng)1學(xué)時
內(nèi)容:1npn管工作于反向有源區(qū)
1.1npn管及寄生pnp管的工作狀態(tài)
1.2工作狀態(tài)分析
1.3寄生pnp管對npn管電性影響的結(jié)論
1.4采用工藝措施減小寄生pnp管的影響
2npn管工作于飽和區(qū)
2.1npn管及寄生pnp管的工作狀態(tài)
2.2工作狀態(tài)分析
2.3集成電路中npn管的飽和分析
課程重點:當npn管集電結(jié)正向偏置時,寄生pnp管正向有源放大,則
寄生pnp管將影響npn管的電性能,進而影響集成電路的電性能。本節(jié)
重點介紹了npn管集電結(jié)可能正向偏置的兩種情況,即npn管處于反向
工作狀態(tài)或飽和工作狀態(tài)。在上述兩種狀態(tài)下,寄生pnp管正向放大,
為有源寄生。因此,著重討論了工作于上述兩種工作狀態(tài)下的npn管的
電性能受到的有源寄生的所有影響。當npn管處于反向有源工作狀態(tài)
時,通過電路分析和E-M方程分析可知:此時寄生pnp管正向有源放
大,使得npn管中一部分“發(fā)射極”電流經(jīng)過寄生pnp管集電結(jié)流失,
這是npn管處于反向有源工作狀態(tài)時寄生pnp管對npn管性能進而對集
成電路性能造成的影響。當npn管處于飽和工作狀態(tài)時,通過電路分析
和E-M方程分析可知:此時寄生pnp管正向有源放大,使得npn晶體
管的飽和壓降VCES下降,這是npn管處于飽和工作狀態(tài)時寄生p叩管對
npn管性能進而對集成電路性能造成的影響。
課程難點:在雙極型集成電路應(yīng)用時,集成電路中npn管的工作狀態(tài)對
有源寄生的影響很大。當npn管工作于正向放大態(tài)或截止態(tài)時,使得寄
生pnp管的發(fā)射結(jié)(npn管的集電結(jié))反向偏置,而電路應(yīng)用時其集電
結(jié)(襯底結(jié))必然反偏,這使寄生管失去電性放大作用而體現(xiàn)為無源寄
生;當npn管反向有源或飽和工作時,寄生pnp管的發(fā)射結(jié)(npn管的
集電結(jié))正向偏置,而其集電結(jié)必然反偏,寄生pnp管為正向有源放
大,它將參與npn管的電性工作。則判定npn管的工作狀態(tài)是重要的。
對綜合分析帶有有源寄生管的npn管電性能,進而分析集成電路的電性
能也是重要的。
基本要求:了解集成電路中寄生pnp管與電路中npn管有何關(guān)系,會分
析為何npn管處于反向有源或飽和工作狀態(tài)時會使寄生pnp管正向有源
放大導(dǎo)通,會對.npn管電性能進而對集成電路電性能帶來影響。了解上
述兩種狀態(tài)下npn管的受寄生管影響的模型及其E-M方程;清楚在npn
管處于反向有源或飽和工作狀態(tài)時,寄生pnp管會對npn管電性能進而
對集成電路電性能帶來怎樣的影響;知道如何去除和減輕上述兩狀態(tài)下
的寄生pnp管的有源寄生影響。了解集成電路中npn管飽和工作特性,
知道其飽和程度的界定,并了解集成電路中晶體管與分離晶體管飽和時
的不同。
§1.5集成電路中的寄生電容1學(xué)時
內(nèi)容:1各種pn結(jié)工作狀態(tài)下結(jié)電容的求取
1.1固定反偏電壓下pn結(jié)電容G(V)(結(jié)電壓V小于零,且固
定)
1.2正偏電壓下pn結(jié)電容Ci(結(jié)電壓V大于零,固定或變化)
1.3零偏電壓下pn結(jié)電容C“>(結(jié)電壓V等于零)
1.4變化反偏電壓下pn結(jié)電容C」(V)(結(jié)電壓V小于零,且變
化)
2計算舉例
2.1求取結(jié)電容步驟
2.2說明
2.3舉例:簡易TTL與非門各結(jié)電容的計算
課程重點:集成電路中的無源寄生將影響集成電路的瞬態(tài)特性,而無源
寄生元件主要是寄生結(jié)電容。pn結(jié)電容的大小與結(jié)的結(jié)構(gòu)和所處的狀
態(tài)有關(guān),即與pn結(jié)上所加的偏壓有關(guān);與pn結(jié)的面積有關(guān);且與pn
結(jié)面是側(cè)面還是底面有關(guān)。因此,在考慮計算寄生結(jié)電容時,必須和
pn結(jié)的實際結(jié)構(gòu)結(jié)合起來,還必須和pn結(jié)在某個瞬態(tài)過程中實際電性
狀態(tài)變化結(jié)合起來。
課程難點:分清各種偏壓下的pn結(jié)的狀態(tài),應(yīng)用合適的pn結(jié)電容公
式。其中,分析和判定在某一電性過程中pn結(jié)上所處的偏壓狀態(tài)是重
要的,特別是結(jié)處于變化反偏狀態(tài)時,且pn結(jié)兩側(cè)電壓均變化的情況
尤要注意;另外,在pn結(jié)的面積計算時,注意其側(cè)面積為四分之一圓
柱面積,這是由于擴散形成電性區(qū)時存在橫向擴散所致。
基本要求:掌握各種偏壓下的pn結(jié)電容求取公式,能夠分析在某個電
性過程中,pn結(jié)上的偏壓狀態(tài)如何,是固定的還是變化的,是零偏.正
偏.反偏還是三種狀態(tài)都發(fā)生了。熟悉結(jié)電容的求取方法,能熟練的應(yīng)
用結(jié)電容求取公式求得各種偏壓下的pn結(jié)電容。
第一章:集成電路的寄生效應(yīng)(含序言)作業(yè)
補充思考題5題+課本習(xí)題5題
第二章:TTL集成電路(12學(xué)時)
§2.1雙極門電路的發(fā)展1學(xué)時
內(nèi)容:1基本邏輯門電路
1.1完成邏輯和的電路-或門
1.2完成邏輯乘的電路-與門
1.3完成邏輯否定的電路-非門
1.4復(fù)合門
2雙極門電路的發(fā)展
2.1DCTL電路(直接耦合晶體管邏輯電路)
2.2RTL和RCTL電路(電阻晶體管和阻容晶體管邏輯電路)
2.3DTL電路(二極管-晶體管邏輯電路)
2.4TTL電路(晶體管-晶體管邏輯電路)
課程重點:本節(jié)介紹了構(gòu)成邏輯集成電路的各種基本門電路,介紹了雙
極門電路的發(fā)展,從早期邏輯門直到當今廣泛應(yīng)用的TTL邏輯門電
路,其中,DTL邏輯電路和TTL邏輯電路是課程重點。尤其要注意,
DTL邏輯電路和TTL邏輯電路性能上的區(qū)別,以及TTL邏輯電路性能
參數(shù)上的優(yōu)越性。
課程難點:邏輯集成電路發(fā)展過程中每一次電路改進的原因,以及通過
電路元器件的變化而使電路參數(shù)改進的實際分析。
基本概念:
1或門-完成邏輯和的電路門。指對有若干輸入端的門電路,其具有當
輸入均為“0”時,輸出為“0”;當輸入端中至少有一個為“1”時,
輸出即為“1”的邏輯功能。
2與門-完成邏輯乘的電路門。指對有若干輸入端的門電路,其具有當
輸入均為“1”時,輸出為“1”;當輸入端中至少有一個為“0”時,
輸出即為“0”的邏輯功能。
3非門-完成邏輯否定的電路門。指對有一個輸入端的門電路,其具有
當輸入為“1”時,輸出為“0”;當輸入為“0”時,輸出為“1”的邏
輯功能。
4DCTL電路-直接偶合晶體管邏輯電路。Direct-CoupledTransistors
Logic(Circuit).
5RTL電路■電阻晶體管邏輯電路。Resistances-TransistorsLogic
(Circuit).
6RCTL電路-阻容晶體管邏輯電路。Resistances-C叩acitances-
TransistorsLogic(Circuit).
7DTL電路-二極管-晶體管邏輯電路。Diodes-TransistorsLogic(Circuit).
8TTL電路-晶體管-晶體管邏輯電路。Transistors-Transistors
Logic(Circuit).
基本要求:了解邏輯電路基本門的構(gòu)成,了解雙極門電路的發(fā)展過程,
以及雙極門電路每一次電路結(jié)構(gòu)的變化使電路性能得到的改善。知道
DTL電路和TTL電路完成的功能,它們各自的電性能及它們之間性能
的不同。清楚TTL邏輯電路從電性能上比DTL邏輯電路以及所述早期
邏輯門電路有哪些優(yōu)越性,這些優(yōu)越性與電路結(jié)構(gòu)的改變有什么直接關(guān)
系。
§2.2簡易TTL與非門4學(xué)時
內(nèi)容:1簡易TTL與非門電路結(jié)構(gòu)及工作原理
1.1電路結(jié)構(gòu)
1.2工作原理
1.2.1電路關(guān)態(tài)分析
1.2.2電路開態(tài)分析
2電路的電壓傳輸特性-電路E-M模型
2.1輸入全部短接時電路特點及電流分析
2.2列電壓傳輸方程(2-1)------(2-6)式
2.3電壓傳輸曲線及分析
3簡易7TL與非門電路主要參數(shù)
3.1電路靜態(tài)參數(shù)
3.1.1與抗干擾能力有關(guān)的參數(shù)
3.1.2與帶負載能力有關(guān)的參數(shù)
3.1.3與靜態(tài)功耗有關(guān)的參數(shù)
3.2電路瞬態(tài)參數(shù)
3.2.1電路瞬態(tài)等效電路及特性
3.2.2引入的瞬態(tài)參數(shù)(定義.分析.計算)
4簡易1TL與非門的改進
4.1簡易TTL與非門存在的問題
4.2四管單元TTL與非門
4.3五管單元TTL與非門
課程重點:簡易TTL與非門是TTL門電路的基礎(chǔ)門,是構(gòu)成TTL集成
電路的基本單元。更復(fù)雜的與非門及更復(fù)雜的若干其它功能的門電路均
由簡易TTL與非門擴展而形成,它們的功能也可由簡易TTL與非門功
能說明或者由簡易TTL與非門功能擴展來說明。所以,本節(jié)是第二章
的重點。在本節(jié)中,簡易TTL與非門的靜態(tài)電路分析和靜態(tài)參量定義.
分析.求取是重點,同時要兼顧電路的瞬態(tài)特性。在分析靜態(tài)電路時,
要注意兩個穩(wěn)態(tài)(靜態(tài))中簡易TTL與非門各元器件工作狀態(tài)的不
同;在分析參量時,電路的電壓傳輸特性是分析與抗干擾能力有關(guān)參數(shù)
的基礎(chǔ),而與帶負載能力有關(guān)的參數(shù)及與靜態(tài)功耗有關(guān)的參數(shù)的分析則
與特定的電路構(gòu)成狀態(tài)有關(guān)。在本節(jié)中,還討論了簡易TTL與非門存
在的抗干擾能力不強;帶負載能力很弱和工作速度不高三個缺點,同時
介紹了為改進簡易TTL與非門性能而引入的四管單元TTL與非門:而
四管單元TTL與非門改善了簡易TTL與非門性能但靜態(tài)功耗過大,為
改善了簡易TTL與非門性能又要消除四管單元TTL與非門的不足,引
入了五管單元TTL與非門電路;因為電路結(jié)構(gòu)上的原因(輸出管均帶
有基極泄流電阻R。,四管單元TTL與非門和五管單元TTL與非門仍
存在問題,本節(jié)又設(shè)想了改進方案。
課程難點:簡易TTL與非門的靜態(tài)電路分析,簡易TTL與非門的與抗
干擾能力有關(guān)參數(shù)的定義與分析,簡易TTL與非門的與帶負載能力有
關(guān)參數(shù)的定義與分析,簡易TTL與非門的與靜態(tài)功耗有關(guān)參數(shù)的定義
與分析;簡易TTL與非門的瞬態(tài)等效電路及分析,簡易TTL與非門的
瞬態(tài)參數(shù)的定義與分析。簡易TTL與非門存在問題的分析討論,引入
了四管單元TTL與非門電路對簡易TTL與非門性能的改進分析討論以
及四管單元TTL與非門仍存在問題的分析,引入了五管單元TTL與非
門電路對簡易TTL與非門和四管單元TTL與非門性能的改進分析討論
以及四管單元TTL與非門和五管單元TTL與非門電路仍存在問題的分
析,對電路性能改進的設(shè)想。
基本概念:
1電路的關(guān)態(tài)-指電路的輸出管處于截止工作狀態(tài)時的電路狀態(tài),此時在
輸出端可得到Vo=VoH,電路輸出高電平。
2電路的開態(tài)-指電路的輸出管處于飽和工作狀態(tài)時的電路狀態(tài),此時在
輸出端可得到Vo=VOL,電路輸出低電平。
3電路的電壓傳輸特性-指電路的輸出電壓V。隨輸入電壓%變化而變化
的性質(zhì)或關(guān)系(可用曲線表示,與晶體管電壓傳輸特性相似)。
4輸出高電平VOH-與非門電路輸入端中至少一個接低電平時的輸出電
平。
5輸出低電平VOL-與非門電路輸入端全部接高電平時的輸出電平。
6開門電平Vi-為保證輸出為額定低電平時的最小輸入高電平(VON)。
7關(guān)門電平Vn_mk為保證輸出為額定高電平時的最大輸入低電平(V。2。
8邏輯擺幅V.輸出電平的最大變化區(qū)間,VL=VOH-VOLO
9過渡區(qū)寬度Vw-輸出不確定區(qū)域(非靜態(tài)區(qū)域)寬度,Vw=VHmM-
VILmaxo
10低電平噪聲容限VNM.輸入低電平時,所容許的最大噪聲電壓。其表
達式為VzMkMLmax-VsxVLM-VOL(實用電路)。
11高電平噪聲容限VNMH-輸入高電平時,所容許的最大噪聲電壓。其表
達式為VNMH-VIHmax-VIHmin—VOH-VlHmin(實用電路
12電路的帶負載能力(電路的扇出系數(shù))-指在保證電路的正常邏輯功
能時,該電路最多可驅(qū)動的同類門個數(shù)。對門電路來講,輸出有兩種穩(wěn)
定狀態(tài),即應(yīng)同時考慮電路開態(tài)帶負載能力和電路關(guān)態(tài)帶負載能力。
13輸入短路電流k指電路被測輸入端接地,而其它輸入端開路時,流
過接地輸入端的電流。
14輸入漏電流(拉電流,高電平輸入電流,輸入交叉漏電流)1吁指電
路被測輸入端接高電平,而其它輸入端接地時,流過接高電平輸入端的
電流。
15靜態(tài)功耗-指某穩(wěn)定狀態(tài)下消耗的功率,是電源電壓與電源電流之乘
積。電路有兩個穩(wěn)態(tài),則有導(dǎo)通功耗和截止功耗,電路靜態(tài)功耗取兩者
平均值,稱為平均靜態(tài)功耗。
16瞬態(tài)延遲時間U從輸入電壓V上跳到輸出電壓V.開始下降的時間間
隔。Delay-延遲。
17瞬態(tài)下降時間tr-輸出電壓V.從高電平V。"下降到低電平VOL的時間間
隔。Fall-下降。
18瞬態(tài)存儲時間t*-從輸入電壓V,下跳到輸出電壓V。開始上升的時間間
隔。Storage-存儲。
19瞬態(tài)上升時間『輸出電壓V。從低電平VOL上升到高電平VOH的時間間
隔。Rise-上升。
20瞬態(tài)導(dǎo)通延遲時間tPHL(實用電路)從輸入電壓上升沿中點到輸出電
壓下降沿中點所需要的時間。
21瞬態(tài)截止延遲時間tPLH-(實用電路)從輸入電壓下降沿中點到輸出電
壓上升沿中點所需要的時間。
22平均傳輸延遲時間6-為瞬態(tài)導(dǎo)通延遲時間tPHL和瞬態(tài)截止延遲時間
tPLH的平均值,是討論電路瞬態(tài)的實用參數(shù)。
基本要求:熟知簡易TTL與非門電路結(jié)構(gòu)及電路工作原理,了解在靜
態(tài)電路分析時,為何給出三個假定。能獨自進行簡易TTL與非門電路
的關(guān)態(tài)分析和開態(tài)分析;熟悉簡易TTL與非門電路的電壓傳輸特性及
特性曲線,了解曲線對應(yīng)各部分的工作條件及與電路性能的關(guān)系;了解
電路主要靜態(tài)工作參數(shù)的定義.分析和求取;了解電路的主要瞬態(tài)參數(shù)
及參數(shù)的定義區(qū)間。清楚地知道簡易TTL與非門在應(yīng)用于集成電路中
時存在的問題,并了解為改進簡易TTL與非門而引入的四管單元TTL
與非門的電路結(jié)構(gòu),電路特性及對簡易TTL與非門性能的改進;了解
引入的五管單元TTL與非門的電路結(jié)構(gòu),電路特性及對簡易TTL與非
門性能和四管單元TTL與非門性能的改進。了解四管單元TTL與非門
和五管單元TTL與非門仍存在的問題及與存在的問題相對應(yīng)的電路結(jié)
構(gòu)的缺陷,設(shè)想改進存在問題的方法。
§2.3六管單元TTL與非門2學(xué)時
內(nèi)容:1六管單元TTL與非門電路結(jié)構(gòu)及工作原理
1.1六管單元TTL與非門電路結(jié)構(gòu)
1.2六管單元TTL與非門電路工作原理
2六管TTL與非門的電壓傳輸曲線
3電路的靜態(tài)參數(shù)及輸入保護
3.1電路的靜態(tài)參數(shù)
3.2電路的輸入保護
3.2.1輸入嵌位電壓定義及設(shè)定
3.2.2實際電路中對輸入的保護措施
4電路的瞬態(tài)參數(shù)
4.1瞬態(tài)延遲
4.2瞬態(tài)功耗
5六管TTL與非門的優(yōu)點
6六管TTL與非門的線路設(shè)計
6.1各晶體管的選取
6.2各電阻值得計算選取
6.3Te網(wǎng)絡(luò)的設(shè)計
課程重點:本節(jié)介紹了性能較為完美的六管單元TTL與非門電路,該
電路對五管單元TTL與非門進行了改進,其電路措施是用Te網(wǎng)絡(luò)取代
了五管單元TTL與非門中輸出管T,的基極泄流電阻RxoR網(wǎng)絡(luò)在六管
單元TTL與非門中的作用就是五管單元TTL與非門性能得以改進的愿
因,R網(wǎng)絡(luò)在電路的導(dǎo)通瞬間呈現(xiàn)高阻態(tài),而在電路的截止瞬間呈現(xiàn)低
阻態(tài),這使得電路的瞬態(tài)特性得到改善,電路開關(guān)特性好,兩個靜態(tài)
更加穩(wěn)定。本節(jié)介紹了六管單元TTL與非門電路靜態(tài)特性及靜態(tài)參
數(shù),通過分析可知,該電路在兩個靜態(tài)時的輸出電平更加穩(wěn)定;由于
Te網(wǎng)絡(luò)引入,電路導(dǎo)通時只有在V:21.3V(VB22.4V)時T?和Ts才同時
導(dǎo)通,這就消除了電壓傳輸曲線上高電平輸出部分的折線段,去除了四
管單元TTL與非門和五管單元TTL與非門電路結(jié)構(gòu)缺陷帶來的影響電
路性能的弊端。本節(jié)分析了六管單元TTL與非門電路瞬態(tài)特性及瞬態(tài)
參數(shù),在瞬態(tài)等效電路中,將所有的電容等效為5個電容,每個電容的
構(gòu)成在講義第38頁已詳細列出,并對列入各節(jié)點的電容作出了四點說
明;根據(jù)電路瞬態(tài)分析,對t“、tr、t?和匕四個瞬態(tài)過程中各個電容的充
放電進行了討論;根據(jù)電路由截止到導(dǎo)通和由導(dǎo)通到截止兩個瞬態(tài)過程
的電性分析,發(fā)現(xiàn)兩個瞬態(tài)過程中均有瞬態(tài)大電流流通,而且以導(dǎo)通到
截止瞬態(tài)過程中瞬態(tài)大電流為主,由此造成較大的瞬態(tài)功耗。
課程難點:由于對TTL與非門性能的改進是To網(wǎng)絡(luò)在電路中的引入帶
來的,則能正確分析T,網(wǎng)絡(luò)在電路的導(dǎo)通瞬間本身的電特性及對整個
電路電特性的作用;能正確分析T-網(wǎng)絡(luò)在電路的截止瞬間本身的電特
性及對整個電路電特性的作用是十分重要的。由于六管單元TTL與非
門電路元器件增多,引入的寄生也多,因此具有更復(fù)雜的瞬態(tài)特性,這
給分析電路的四個瞬態(tài)過程中各個電容的充放電、計算四個瞬態(tài)過程中
的四個瞬態(tài)參數(shù)帶來一定的難度。
基本要求:了解六管單元TTL與非門電路的電路結(jié)構(gòu),電路工作原
理。了解該電路中Te網(wǎng)絡(luò)所起到的作用,知道Ts網(wǎng)絡(luò)在電路的導(dǎo)通時
如何保證了?和Ts管同時導(dǎo)通,且在導(dǎo)通瞬間Te網(wǎng)絡(luò)本身呈現(xiàn)高阻特
性,不對Ts管分流,而使得Ts管盡快導(dǎo)通并飽和;R網(wǎng)絡(luò)在電路的截
止瞬間始終不截止,呈現(xiàn)低阻特性,為T,管退飽和提供了有效的基極
泄放回路,而使Ts管盡快截止?能獨立完成六管單元TTL與非門電路
的線路設(shè)計,知道晶體管的選取規(guī)則并能選取出合適的六只晶體管;知
道電阻值得選取原則并能通過分析計算得到六管單元TTL與非門電路
中所需要的所有電阻;知道Te網(wǎng)絡(luò)的三種類型,能通過R.和Rb的搭配
完成R網(wǎng)絡(luò)類型的選取,知道在六管單元TTL與非門電路中R網(wǎng)絡(luò)選
擇了淺飽和型并能分析計算給出R。和R的值。
§2.4STTL和LSTTL電路1.5學(xué)時
內(nèi)容:1兩電路的結(jié)構(gòu)及特點
1.1電路的結(jié)構(gòu)
1.1.1STTL電路的結(jié)構(gòu)
1.1.2LSTTL電路的結(jié)構(gòu)
1.2電路的定義及特點
1.2.1STTL電路的定義及特點
1.2.2LSTTL電路的定義及特點
2有關(guān)SBD及SBD嵌位
2.1有關(guān)SBD
2.1.1SBD定義
2.1.2SBD性質(zhì)及特點
2.2有關(guān)SBD嵌位
2.2.1限制TTL電路速度的原因
2.2.2SBD嵌位晶體管結(jié)構(gòu)
2.2.3SBD嵌位的作用
2.3SBD嵌位晶體管在集成電路中的實際應(yīng)用
2.4引入SBD嵌位的注意事項
3STTL電路
4LSTTL電路
4.1LSTTL電路的結(jié)構(gòu)特點
4.1.1輸入結(jié)構(gòu)特點
4.1.2輸出結(jié)構(gòu)特點
4.2LSTTL電路工藝制造時采取的工藝措施
課程重點:本節(jié)介紹了肖特基勢壘二極管(SBD)的性質(zhì)和特點,肖特
基勢壘二極管(SBD)具有與硅pn結(jié)二極管相似的伏安特性,即正向
大于閾值電壓時的大電流特性,反向大電阻特性;肖特基勢壘二極管
(SBD)具有可用于改善集成電路三個特點,即正向壓降低、開關(guān)時間
短和反向擊穿電壓高。討論了SBD在TTL集成電路中起到的嵌位作
用,這是由于TTL集成電路在提高電路速度時存在矛盾,即要想減少
電路導(dǎo)通延遲時間,可以通過加大輸出管的基極驅(qū)動電流來實現(xiàn),這勢
必使輸出管在電路導(dǎo)通態(tài)的飽和深度增加,輸出管的基區(qū)和集電區(qū)的超
量存儲電荷增加,在電路截止是加大了截止延遲時間;肖特基勢壘二極
管與可能飽和的晶體管集電結(jié)正向并接,由于SBD正向壓降低的特
點,是晶體管的飽和深度不能太深,從而有效的提高了電路速度。本節(jié)
給出了SBD嵌位晶體管的結(jié)構(gòu)(電路結(jié)構(gòu),等效電路結(jié)構(gòu),平面版圖
結(jié)構(gòu)以及與平面版圖對應(yīng)工藝剖面結(jié)構(gòu))。分析了SBD嵌位晶體管應(yīng)
用于STTL電路和LSTTL電路中時,起到的改進集成電路性能的作
用。
課程難點:注意肖特基勢壘二極管(SBD)的性質(zhì)中有的是對改進集成
電路性能有利的,有的是對集成電路性能是有害的,有時為改善SBD
性能反而削弱了SBD對晶體管嵌位的作用。因此,在實際應(yīng)用時,要
注意選擇合適的SBD面積。
基本概念:
1STTL電路-肖特基勢壘二極管(SBD)嵌位抗飽和TTL電路
(SN54s/74s)系列。
2LSTTL-低功耗肖特基勢壘二極管(SBD)嵌位抗飽和TTL電路
(SN541s/741s)系列。
基本要求:了解SBD的性能,熟知SBD的哪些性能在STTL和LSTTL
集成電路中得到應(yīng)用。了解SBD嵌位晶體管的電路結(jié)構(gòu),等效電路,
平面版圖以及與平面版圖對應(yīng)的工藝剖面結(jié)構(gòu)。了解在TTL集成電路
中的適當位置應(yīng)用SBD后,為何可有效的提高電路速度。清楚一般
TTL集成電路與STTL集成電路電路參數(shù)上的差別,以及與LSTTL集
成電路電路參數(shù)上的差別。知道STTL和LSTTL集成電路是如何定義
的,為什么這樣定義。
§2.5TTL集成電路的溫度特性1.5學(xué)時
內(nèi)容:1集成電路中電阻.pn結(jié)及晶體管某些參數(shù)的溫度特性
1.1電阻的溫度特性R-T
1.2pn結(jié)正向?qū)▔航礦-的溫度特性VF~T
1.3晶體管電流放大倍數(shù)B的溫度特性B-T
2集成電路有關(guān)參數(shù)的溫度特性
2.1電流參數(shù)的溫度特性
2.1.1電路輸出低電平電源電流I。"的溫度特性Iccu-T
2.1.2電路輸出高電平電源電流ICCH的溫度特性ICCH-T
2.1.3電路輸入短路電流I,L的溫度特性15T
2.1.4電路輸入交叉漏電流IiH的溫度特性IiH~T
2.2電壓參數(shù)的溫度特性
2.2.1電路輸出高電平Vo”的溫度特性VOH~T
2.2.2電路輸出低電平Va的溫度特性VOL~T
2.2.3電路的關(guān)門電平VlLmax的溫度特性VlL?ux~T
2.2.4電路的開門電平VlHmM的溫度特性VlHmi?~T
2.3瞬態(tài)參數(shù)的溫度特性tpd~T
2.3.1一般TTL集成電路瞬態(tài)參數(shù)的溫度特性
2.3.2STTL集成電路瞬態(tài)參數(shù)的溫度特性
課程重點:集成電路性能參數(shù)隨溫度變化的性質(zhì),實際上是與構(gòu)成集成
電路的元件和器件的某些電參數(shù)隨溫度變化的特性有關(guān)系。因此,本節(jié)
首先介紹了構(gòu)成集成電路的元件和器件的能夠影響集成電路性能的某些
電參數(shù)隨溫度變化的特性,即電阻阻值隨溫度變化而變化的特性、pn
結(jié)正向?qū)▔航礦-隨溫度變化而變化的特性和晶體管電流放大倍數(shù)13
隨溫度變化而變化的特性。進而討論了集成電路性能參數(shù)隨溫度變化與
構(gòu)成集成電路的元件和器件的某些電參數(shù)隨溫度變化的關(guān)系,給出了集
成電路電流參數(shù)的溫度特性,即電路輸出低電平電源電流ICCL的溫度特
性、電路輸出高電平電源電流ICCH的溫度特性、電路輸入短路電流必
的溫度特性和電路輸入交叉漏電流加的溫度特性;給出了集成電路
電壓參數(shù)的溫度特性,即電路輸出高電平V°H的溫度特性、電路輸出低
電平VOL的溫度特性、電路的關(guān)門電平%"的溫度特性和電路的開門
電平Vw的溫度特性;并且給出了集成電路瞬態(tài)參數(shù)的溫度特性,
即電路平均傳輸延遲時間的溫度特性。
課程難點:由于集成電路性能參數(shù)隨溫度變化是構(gòu)成集成電路的元件和
器件的某些電參數(shù)隨溫度變化的一種綜合反映。因此,掌握構(gòu)成集成電
路的元件和器件的某些電參數(shù)隨溫度怎樣變化和為何變化是重要的;掌
握集成電路性能參數(shù)隨溫度變化與構(gòu)成集成電路的元件和器件的哪些電
參數(shù)隨溫度的變化有關(guān)系也是重要的。
基本要求:掌握電阻隨溫度變化的實際關(guān)系,掌握pn結(jié)正向壓降VF隨
溫度變化的實際關(guān)系,掌握晶體管電流放大倍數(shù)B隨溫度變化的實際關(guān)
系。了解集成電路的有關(guān)電流參數(shù),電壓參數(shù),瞬態(tài)參數(shù)隨溫度變化與
構(gòu)成集成電路的元件和器件的哪些電參數(shù)隨溫度的變化有關(guān)系,是何種
關(guān)系(關(guān)系式)。會綜合各種關(guān)系隨溫度變化的變化情況,能得到受綜
合變化影響的集成電路有關(guān)參數(shù)隨溫度變化的結(jié)果。
§2.6TTL門電路的邏輯擴展2學(xué)時
內(nèi)容:1TTL擴展門電路——用TTL與非門構(gòu)成的其它門電路
1.1非門
1.2TTL與非門擴展的與門
1.3TTL與非門擴展的與或非門和或非門
1.4TTL與非門擴展的或門
1.5TTL擴展異或門
1.6TTL輸出管集電極開路門(0C門)
1.7TTL與非門構(gòu)成的三態(tài)邏輯門(TSL門)
2有關(guān)集成觸發(fā)器一一TTL與非門構(gòu)成的觸發(fā)器
2.1D型前沿觸發(fā)器由四管單元TTL與非門2個+二管單元TTL
與非門4個構(gòu)成
2.2后沿觸發(fā)集成J-K觸發(fā)器由三管單元TTL與非門2個+六
管單元TTL與非門構(gòu)成的與或非門2個構(gòu)成
課程重點:本節(jié)介紹了如何使用TTL與非門為基礎(chǔ)門電路,用以構(gòu)成
其它功能的門電路,即構(gòu)成非門、與門、與或非門、或非門、或門和異
或門等:為了改變兩個以上門的輸出間不能線與的的弊端,引入了集電
極開路門;為了改進集電極開路門丟失了原有電路的圖騰柱輸出(速度
快、輸出阻抗低)特點,又引入了三態(tài)邏輯門。本節(jié)介紹了如何使用
TTL與非門為基礎(chǔ)門電路,用以構(gòu)成集成觸發(fā)器,本節(jié)主要介紹了兩
種集成觸發(fā)器電路,即D型前沿觸發(fā)器和后沿觸發(fā)集成J-K觸發(fā)器;
對D型前沿觸發(fā)器電路分析討論可知,整個電路的構(gòu)成由2個四管單
元TTL與非門構(gòu)成基本RS觸發(fā)器,而由4個二管單元TTL與非門作
為內(nèi)部引導(dǎo)門;對后沿觸發(fā)集成J-K觸發(fā)器電路分析討論可知,整個電
路的構(gòu)成是以2個集電極開路的三管單元TTL與非門作為引導(dǎo)門,而
以2個六管單元TTL與非門構(gòu)成的與或非門為基本門,其穩(wěn)定工作條
件時基本門速度要遠快于引導(dǎo)門速度。本節(jié)詳細討論了用TTL與非門
作為基礎(chǔ)門電路構(gòu)成其它功能的門電路和構(gòu)成集成觸發(fā)器時,在邏輯關(guān)
系上是如何變換的,各種其它功能的門電路和集成觸發(fā)器的電路是如何
構(gòu)成的。構(gòu)成的新功能的門電路和集成觸發(fā)器的電路分析和功能分析。
課程難點:使用TTL與非門為基礎(chǔ)門電路可以構(gòu)成其它功能的門電
路,也可以使用TTL與非門為基礎(chǔ)門電路和以用TTL與非門為基礎(chǔ)構(gòu)
成的其它功能的門電路,來構(gòu)成集成觸發(fā)器。而使用各種其它功能的門
電路和各種集成觸發(fā)器電路,可構(gòu)成各種功能的邏輯集成電路。因此,
應(yīng)特別注意用TTL與非門為基礎(chǔ)門電路構(gòu)成其它功能的門電路時,邏
輯關(guān)系上的分析,也應(yīng)特別注意用TTL與非門為基礎(chǔ)門和以TTL與非
門為基礎(chǔ)門電路構(gòu)成的其它功能的門電路共同構(gòu)成集成觸發(fā)器電路時,
邏輯關(guān)系上的分析。還應(yīng)特別注意,用TTL與非門為基礎(chǔ)門電路構(gòu)成
的其它功能門電路的電路結(jié)構(gòu);以及用TTL與非門為基礎(chǔ)門和以TTL
與非門為基礎(chǔ)門電路構(gòu)成的其它功能的門電路共同構(gòu)成的集成觸發(fā)器電
路的電路結(jié)構(gòu)。
基本要求:了解各種集成門電路電路結(jié)構(gòu),能進行集成門電路的電路分
析和功能分析。了解用TTL與非門為基礎(chǔ)門構(gòu)成各種其它功能的門電
路時,電路結(jié)構(gòu)上的差別(或不同)。能獨立完成TTL與非門到其它
功能的門電路電路結(jié)構(gòu)上的轉(zhuǎn)變,清楚其中的功能轉(zhuǎn)換過程和邏輯關(guān)系
變化。了解集成觸發(fā)器電路的電路結(jié)構(gòu)和邏輯關(guān)系;知道用TTL與非
門為基礎(chǔ)門電路和用以TTL與非門為基礎(chǔ)構(gòu)成的其它功能的門電路來
共同構(gòu)成集成觸發(fā)器時,如何進行邏輯關(guān)系轉(zhuǎn)換;知道如何采用TTL
與非門為基礎(chǔ)門電路和用以TTL與非門為基礎(chǔ)構(gòu)成的其它功能的門電
路,來共同構(gòu)成集成觸發(fā)器電路.
第二章:TTL集成電路作業(yè)
補充思考題7題+書上習(xí)題5題
第三章:TTL中大規(guī)模集成電路(3學(xué)時)
§3.1簡化邏輯門1.5學(xué)時
內(nèi)容:1簡化與非邏輯門
1.1二管單元簡化與非門
1.2三管單元簡化與非門
1.3抗飽和簡化與非門
1.4強驅(qū)動內(nèi)部與非門
2其它簡化門
2.1簡化與門
2.2簡化與或非門
課程重點:在中大規(guī)模集成電路設(shè)計中,要想提高集成度,最有效的方
法就是簡化邏輯門電路。簡化邏輯門一般用于輸入門和輸出門之間的內(nèi)
部門中,因為內(nèi)部門是輸入門和輸出門之間的連接門,它不直接感受外
部信號的干擾,外部信號的干擾由輸入門承受,因此抗干擾能力要求不
高;它不直接驅(qū)動外部負載,驅(qū)動外部負載由輸出門擔(dān)當,因此帶負載
能力要求不強。簡化邏輯門在應(yīng)用于輸入門時,應(yīng)注意滿足電路抗干擾
能力的要求;簡化邏輯門應(yīng)用于輸出門時,應(yīng)注意滿足電路帶負載能力
的要求。本節(jié)介紹了簡化與非門,其中有二管單元簡化與非門、三管單
元簡化與非門、抗飽和簡化與非門和強驅(qū)動內(nèi)部與非門;本節(jié)還介紹了
其它簡化門電路,即簡化與門和簡化與或非門等。
課程難點:在不影響電路邏輯功能條件下,各種簡化邏輯門的電路結(jié)
構(gòu)。簡化邏輯門應(yīng)用于輸入門時,對應(yīng)于電路抗干擾能力的分析;簡化
邏輯門應(yīng)用于輸出門時,對應(yīng)于電路帶負載能力的分析。簡化邏輯門應(yīng)
用于內(nèi)部門時,對特定電路,選擇那種最實用的簡化邏輯門。
基本概念:
1輸入門-與輸入端直接連接的電路門。
2輸出門-與輸出端直接連接的電路門。
3內(nèi)部門-輸入門和輸出門之間的連接的電路門。
4簡化邏輯門-在門電路功能不變的條件下,進行了線路上簡化或元器件
數(shù)量上簡化的邏輯門。
基本要求:知道構(gòu)成中大規(guī)模集成電路的輸入門,輸出門和內(nèi)部門三大
部分各自的基本要求,其中,內(nèi)部門的構(gòu)成門電路數(shù)量遠遠超過輸入門
和輸出門的構(gòu)成門電路數(shù)量之和。知道要想提高集成度,減小集成電路
體積,應(yīng)從簡化邏輯門電路開始入手。清楚簡化邏輯門一般用于內(nèi)部
門,在滿足電路性能要求時,簡化邏輯門也可用于輸入門和輸出門,即
滿足抗干擾能力要求時,可用于輸入門;滿足帶負載能力要求時,可用
于輸出門,因此一定要清楚了解其應(yīng)用條件。了解二管單元簡化與非
門,三管單元簡化與非門電路結(jié)構(gòu)及特點,了解特殊應(yīng)用條件下的簡化
與非門;了解由簡化與非門構(gòu)成的其它簡化門電路。能進行正確的功能
分析和邏輯分析。
§3.2單管邏輯門1.5學(xué)時
內(nèi)容:1單管禁止門及應(yīng)用
1.1單管禁止門電路結(jié)構(gòu)及邏輯分析
1.2單管禁止門在集成電路中的應(yīng)用
1.2.1兩單管禁止門連接構(gòu)成簡化異或非門
1.2.2兩單管禁止門和一非門構(gòu)成異或門
1.2.3兩單管禁止門的射極連接完成三個與非門功能
2串級與非門及應(yīng)用
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