非師范專業(yè)教學(xué)科研平臺(tái)建設(shè)需求

非師范專業(yè)教學(xué)科研平臺(tái)建設(shè)需求（一）貨物清單序號(hào)設(shè)備名稱數(shù)量單位1能譜儀1套2氣質(zhì)聯(lián)用儀1套3分光光度計(jì)1套4電化學(xué)工作站4套（二）能譜儀進(jìn)口產(chǎn)品序號(hào)具體技術(shù)(參數(shù))要求1X射線能譜儀：1.探測(cè)器：硅漂移（SDD）電制冷探測(cè)器，采用場(chǎng)效應(yīng)管（FET）一體化集成設(shè)計(jì)的高速SDD芯片，活區(qū)面積≥60mm2，超薄窗設(shè)計(jì)，獨(dú)立真空；采用纖細(xì)化等技術(shù)提高固體角，探測(cè)器探指直徑≤18.2mm，改善系統(tǒng)分析效率。2.在130,000CPS條件下Mn-Ka能量分辨率優(yōu)于127eV。3.元素分析范圍:Be4～Cf98。4.處理單元與計(jì)算機(jī)采用分立式設(shè)計(jì)，系統(tǒng)最大輸出計(jì)數(shù)率≥600kcps。5.元素面分布，存儲(chǔ)每像素點(diǎn)原始譜圖，支持采集完成后重構(gòu)點(diǎn)、區(qū)域、線掃描、面分布數(shù)據(jù)，支持元素面分布時(shí)實(shí)時(shí)重疊峰剝離。6.定量分析：提供兩種定量方法，并可對(duì)拋光表面或粗糙表面定量分析。采用定量修正技術(shù)，可對(duì)傾斜樣品進(jìn)行修正，并增強(qiáng)對(duì)輕元素的修正；可以得到歸一化和非歸一化定量結(jié)果，可以用化學(xué)配位法得到非歸一化結(jié)果。7.具備零峰修正功能，可以快速穩(wěn)定譜峰，開機(jī)后無需重新修正峰位。8.譜定性分析：可自動(dòng)標(biāo)識(shí)譜峰，可設(shè)定自動(dòng)標(biāo)定的元素范圍；可自動(dòng)扣除背底，并支持用戶手動(dòng)調(diào)整；可進(jìn)行譜重構(gòu)，對(duì)重疊峰進(jìn)行可視化譜峰剝離。9.探測(cè)器自動(dòng)馬達(dá)控制。（三）氣質(zhì)聯(lián)用儀進(jìn)口產(chǎn)品序號(hào)具體技術(shù)(參數(shù))要求1氣質(zhì)聯(lián)用儀：(一)配置清單1.氣相色譜儀主機(jī)1臺(tái)；2.分流/不分流進(jìn)樣口1個(gè)；3.質(zhì)譜接口1個(gè)；4.質(zhì)譜儀1套（高靈敏離子源）；5.液體自動(dòng)進(jìn)樣器1套；6.最新NIST譜庫1套（含原廠光盤）；7.不卸真空換色譜柱組件1套；8.質(zhì)譜專業(yè)軟件及工作站1套；9.UPS不間斷電源（6KVA，延遲1個(gè)小時(shí)）1臺(tái)；10.備品備件1批：安裝工具包1套，弱極性色譜柱1根（規(guī)格：30m*0.25mm*0.25u），分流/不分流去活襯管2包（5根/包），自動(dòng)進(jìn)樣針2包（6根/包），質(zhì)譜低流失進(jìn)樣隔墊3包（50個(gè)/包），毛細(xì)柱密封墊3包（10個(gè)/包），質(zhì)譜端密封墊3包（10個(gè)/包），柱螺帽2個(gè)，O型環(huán)3包（10個(gè)/包），質(zhì)譜接口柱螺帽1個(gè)，氦氣過濾器1套（1個(gè)大的氦氣過濾器+1個(gè)小的氦氣過濾器），1/8英寸銅管接頭1個(gè)，機(jī)械泵油3瓶，配套氣瓶柜及分析稱量裝置1套；(二)氣質(zhì)聯(lián)用儀技術(shù)性能要求1.工作條件1.1溫度：15?C-35?C；1.2濕度：5-95%；1.3電壓：220V±10%；2.氣相色譜儀主機(jī)性能：2.1保留時(shí)間重現(xiàn)性＜0.06%，峰面積重現(xiàn)性＜2%RSD；2.2電子流量控制（EPC）：所有流量、壓力均可以電子控制，以提高重現(xiàn)性；2.3儀器面板具有不小于4英寸觸摸屏，可以實(shí)時(shí)訪問儀器狀態(tài)，配置和流路信息。3.柱溫箱：3.1操作溫度：室溫以上10℃至420℃；3.2溫度設(shè)定：1℃，程序升溫間隔：0.1℃；3.3程序升溫：≥19階20平臺(tái)；3.4穩(wěn)定性：＜0.01℃，既環(huán)境溫度變化1℃，柱箱溫度變化＜0.01℃；4.分流/不分流進(jìn)樣口4.1≥最高溫度400°C；4.2扳轉(zhuǎn)式頂部密封系統(tǒng)，更換襯管無需拆卸螺絲；4.3壓力范圍：0–150psi，電子控壓精度：0.001psi；5.液體自動(dòng)進(jìn)樣器5.1自動(dòng)進(jìn)樣塔位數(shù)：≥19位；5.2進(jìn)樣量線性：≥99%；5.3進(jìn)樣范圍：0-50uL；6.質(zhì)譜檢測(cè)器6.1離子源材料：非涂層惰性離子源，專利的Extractor設(shè)計(jì)，具備推拉極電壓，提高活性化合物靈敏度；6.2獨(dú)立的EI源：離子化能量5-230eV；6.3離子源溫度：最高達(dá)350?C；6.4四極桿質(zhì)量分析器：主四極桿為石英鍍金共軛雙曲面四極桿，能獨(dú)立溫控，最高可達(dá)200?C(非預(yù)四極桿加熱)，終身免維護(hù)(提供技術(shù)文件及軟件設(shè)定截圖，作為驗(yàn)收指標(biāo))；若主四極桿無法控溫或者為廉價(jià)的金屬設(shè)計(jì)，則需額外提供8套四極桿系統(tǒng)作為備用四極桿；6.5四級(jí)桿溫度：獨(dú)立控溫，控溫范圍：106-200?C，用軟件可直接連續(xù)設(shè)定溫度；6.6儀器信噪比：EI全掃描≥3000:1s/n(1pgOFN，掃描范圍50-300amu)；6.7檢測(cè)器：長(zhǎng)壽命高能打拿極，三軸檢測(cè)器；6.8真空系統(tǒng)：≥250L/s分子渦輪泵；6.9掃描速率：最高可達(dá)20000amu/s；6.10質(zhì)量范圍：10~1090Da；6.11質(zhì)量穩(wěn)定性：<0.10amu/48h；6.12動(dòng)態(tài)范圍：106；7.工作站軟件及其他性能7.1原裝進(jìn)口操作軟件，有中、英文兩種語言可供選擇，具有正版獨(dú)立光盤；7.2SIM/SCAN：自動(dòng)SIM方法生成功能和同時(shí)SIM/SCAN；7.3可設(shè)置休眠模式節(jié)省氣體，喚醒功能可使儀器在設(shè)定的時(shí)間自行開機(jī)預(yù)熱；7.4譜庫:NIST2020MS譜庫套裝包括EI譜庫，其中有26.7萬個(gè)化合物的30.7萬幅譜圖以及8.2萬多個(gè)化合物的氣相色譜保留指數(shù)，帶工廠原裝光盤；（1）電腦，其配置不低于：①CPU:(Newcore3.2G/8M/65W)；（2）內(nèi)存：4G(DDR3-1600)；（3）硬盤：500G；（4）光驅(qū)：DVD刻錄光驅(qū)；（5）21寸液晶寬屏16:9LCD；（6）VGA接口；250nits；1000:1；5ms；（四）分光光度計(jì)進(jìn)口產(chǎn)品序號(hào)具體技術(shù)(參數(shù))要求1紫外-可見-近紅外分光光度計(jì)1.儀器要求1.1儀器可應(yīng)用于液體樣品、固體樣品的紫外-可見-近紅外光譜分析和測(cè)試?？蓪?shí)現(xiàn)反射/漫反射/透過率等測(cè)試。2.操作環(huán)境2.1溫度：15℃～35℃；2.2相對(duì)濕度：35%～80%RH；2.3電源：AC220V±10%；頻率：50±2.5Hz。3.主要技術(shù)指標(biāo)3.1波長(zhǎng)范圍：190～3300nm；3.2檢測(cè)器：高靈敏度光電倍增管（UV-VIS），冷的PbS（NIR）；3.3光譜帶寬：UV-Vis：0.1nm、0.2nm、0.5nm、1nm、2nm、5nm、10nm；NIR：0.25nm、0.5nm；1～35nm(自動(dòng)控制)；3.4分辨率：小于0.1nm；3.5波長(zhǎng)重復(fù)性：UV-Vis：±0.05nm，NIR：±0.2nm；3.6采用齒輪驅(qū)動(dòng)方式，實(shí)現(xiàn)紫外-可見-近紅外區(qū)域的快速掃描。波長(zhǎng)掃描速度：0.3至5000nm/min；3.7光度計(jì)準(zhǔn)確度：±0.002Abs(0至0.5Abs),±0.003Abs(0.5至1.0Abs),±0.006Abs(1.0至2.0Abs),±0.3%T；遵循NISTSRM930方法；3.8噪音水平：＜0.00003Abs(RMS)(500nm，帶寬2nm)＜0.00003Abs(RMS)(1500nm，自動(dòng)帶寬)；3.9基線記憶：3通道（系統(tǒng)基線：1通道用戶基線：2通道）；3.10基線平直度：＜±0.0002Abs(200至2500nm)＜±0.002Abs(2500至3300nm)；3.11基線穩(wěn)定性：＜0.0002Abs/h(500nm)，開機(jī)2小時(shí)后；3.12光譜吸光度測(cè)定范圍：-5～+5.0Abs；3.13光源：氘燈；鎢燈；包含光軸自動(dòng)調(diào)整機(jī)構(gòu)；3.14原裝分析控制軟件；3.14.1具備以表格形式顯示多個(gè)樣品之間的指定波長(zhǎng)數(shù)據(jù)和面積計(jì)算數(shù)據(jù)、半峰寬計(jì)算數(shù)據(jù)等功能，便于樣品之間的數(shù)據(jù)比較。3.14.2具有波長(zhǎng)準(zhǔn)確度、噪聲水平、基線平坦度等的性能確認(rèn)功能。3.14.3可自定義的報(bào)告書模板功能。4.配置要求4.1紫外-可見-近紅外分光光度計(jì)1臺(tái)；4.2液體支架1套；4.3同品牌分析控制軟件1套；4.460mm積分球系統(tǒng)（測(cè)試范圍240~2600nm）1套；4.5樣品固定臺(tái)1個(gè)；4.6透射支架1個(gè)；4.7通用比色皿2個(gè)；4.8控制電腦1臺(tái)；（五）電化學(xué)工作站序號(hào)具體技術(shù)(參數(shù))要求1電化學(xué)工作站1.硬件參數(shù)指標(biāo)1.1恒電位電位控制范圍：±10V；1.2恒電流電流控制范圍：±2.0A；1.3槽壓：±21V；1.4最大輸出電流：≥2.0A；1.5IMP頻率：10mHz~1MHz；1.6通訊接口：USB2.0；2.功能方法2.1開路電位測(cè)量（OCP）；2.2恒電位極化（I-t曲線)；2.3恒電流極化；2.4動(dòng)電位掃描（TAFEL曲線）；2.5任意恒電位階梯波；2.6任意恒電流階梯波；2.7計(jì)時(shí)電位法（CP）；2.8計(jì)時(shí)電流法；2.9循環(huán)伏安法（CV）；2.10電池充放電測(cè)試；2.11恒電位間歇滴定技術(shù)（PITT）；2.12恒電流間歇滴定技術(shù)（GITT）；2.13電化學(xué)噪聲（EN）；2.14電偶腐蝕測(cè)量（ZRA）；2.15動(dòng)電位再活化法（EPR）；2.16電化學(xué)阻抗（EIS）～頻率掃描；2.17電化學(xué)阻抗（EIS）～時(shí)間掃描；2.18電化學(xué)阻抗（EIS）～電位掃描（M-S曲線）；2.19恒流阻抗測(cè)試；2.20方波伏安法；2.21常規(guī)差分脈沖伏安法；2.22雙差分脈沖電流檢測(cè)；2.23交流伏安法；2.24二次諧波交流伏安；2.25軟件支持序列化測(cè)試功能，通過自定義方法組合，可實(shí)現(xiàn)無人值守下的自動(dòng)測(cè)量；2.26FFT頻譜分析、絲束電極阻抗分析