GB∕ T 17626.12-2023 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 第12部分：振鈴波抗擾度試驗(yàn)（正式版）

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)IGB/T17626.12—202 V 1 1 1 13.2縮略語(yǔ) 2 3 34.2相關(guān)參數(shù) 4 56試驗(yàn)設(shè)備 56.1振鈴波發(fā)生器 56.2耦合/去耦網(wǎng)絡(luò) 7 7試驗(yàn)布置 7.1試驗(yàn)設(shè)備 7.2試驗(yàn)設(shè)備的驗(yàn)證 7.4非屏蔽不對(duì)稱互連線的試驗(yàn)布置 7.5非屏蔽對(duì)稱互連線的試驗(yàn)布置 7.6屏蔽線的試驗(yàn)布置 7.7保護(hù)接地 8試驗(yàn)程序 8.1概述 8.2實(shí)驗(yàn)室參考條件 8.3試驗(yàn)實(shí)施 9試驗(yàn)結(jié)果評(píng)定 10試驗(yàn)報(bào)告 20 21 23 B.2環(huán)境分類 23ⅡGB/T17626.12—2023/IEC610B.3端口類型的定義 23B.4試驗(yàn)等級(jí)的選擇 23附錄C(資料性)注釋 25C.1不同的源阻抗 25附錄D(資料性)測(cè)量不確定度(MU)的考慮 26D.2振鈴波參數(shù)的說(shuō)明 D.3振鈴波測(cè)量不確定度的影響因素 26D.4發(fā)生器輸出電壓和電流測(cè)量的不確定度 D.5不確定度在振鈴波標(biāo)準(zhǔn)符合性中的應(yīng)用 30 31Ⅲ電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)抗擾度試驗(yàn)總論；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)； 電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)：電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、間電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)脈沖磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)阻尼振蕩磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗—GB/T17626.12—2023電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)第12部分：振鈴波抗擾度試驗(yàn)；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)交流電源端口諧波、諧間波及電網(wǎng)信電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)閃爍儀功能和設(shè)計(jì)規(guī)范；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)0Hz～150kHz共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度—GB/T17626.17—2005電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗(yàn)；——GB/T17626.19—2022電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)第19部分：交流電源端口2kHz~—GB/T17626.21—2014電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)混波室試驗(yàn)方法；——GB/T17626.22—2017電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)全電波暗室中的輻射發(fā)射和抗擾度-GB/T17626.24—2012電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)HEMP傳導(dǎo)騷擾保護(hù)裝置的試驗(yàn)電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)三相電壓不平衡抗擾度試驗(yàn)；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)工頻頻率變化抗擾度試驗(yàn)；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中——GB/T17626.30—2012電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電能質(zhì)量測(cè)量方法；——GB/T17626.31—2021電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)第31部分：交流電源端口寬帶傳導(dǎo)騷——GB/T17626.34—2012電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)主電源每相電流大于16A的設(shè)備的本文件代替GB/T17626.12—2013《電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)振鈴波抗擾度試驗(yàn)》,與 ——增加了高速CDN(見6.2.3);本文件等同采用IEC61000-4-12:2017《電磁兼容(EMC)第4-12部分：試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)振鈴波——為與現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)協(xié)調(diào)，將標(biāo)準(zhǔn)名稱修改為《電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)第12部分：振鈴波抗擾——增加了附錄B發(fā)生器和試驗(yàn)等級(jí)的選擇；——增加了附錄D測(cè)量不確定度的考慮。請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)本文件由全國(guó)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TCVGB/T17626.12—2023/IEC61000-4-12:20電磁兼容性是電氣和電子設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對(duì)該環(huán)境中任何事物構(gòu)成不在該標(biāo)準(zhǔn)體系中，GB/T(Z)17626《電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)》是關(guān)于電磁兼容領(lǐng)域試驗(yàn)和測(cè)量 抗擾度試驗(yàn)總論。目的在于提供電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)中有關(guān)試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn)，以評(píng) 備的供電電源端口、信號(hào)、控制和接地端口在受到電快速瞬變脈沖群干擾時(shí)的抗擾度性能。 -浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn)，以評(píng)估電氣 供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、間諧波的測(cè)量和測(cè)量?jī)x器導(dǎo)則。目的在于規(guī)定可用于根據(jù)某些標(biāo)準(zhǔn)給出的發(fā)射限值對(duì)設(shè)備逐項(xiàng)進(jìn)行試驗(yàn)，對(duì)實(shí)際供電系統(tǒng)中諧波電流和電壓的測(cè)量的儀器。 和電子設(shè)備處于工頻(連續(xù)和短時(shí))磁場(chǎng)中的抗擾度性能。(GB/T17626.8) 第12部分：振鈴波抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn)，以評(píng)估在實(shí)驗(yàn)室中居住、商業(yè)和工業(yè)用電氣和電子設(shè)備的抗擾度性能，同樣也適用于發(fā)電站和變電站的設(shè)備。 V 和輻射抗擾度的通用確認(rèn)程序、受試設(shè)備的試驗(yàn)布置要求和全電波暗室測(cè)量方法。 -HEMP傳導(dǎo)騷擾保護(hù)裝置的試驗(yàn)方法。 和電子設(shè)備交流電源端口在遭受有意和/或無(wú)意寬帶信號(hào)源產(chǎn)生的傳導(dǎo)騷擾時(shí)的抗擾度。M 立評(píng)價(jià)電氣和電子設(shè)備在經(jīng)受電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化時(shí)的抗擾度的通用準(zhǔn)則。37部分)1GB/T17626.12—2023電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)本文件描述了運(yùn)行狀態(tài)下的電氣和電子設(shè)備對(duì)公共或非公共網(wǎng)絡(luò)中低壓本文件的目的是為評(píng)估電氣和電子設(shè)備對(duì)振鈴波的抗擾度建立共同基準(zhǔn)——試驗(yàn)布置下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不IEC60050(所有部分)國(guó)際電工詞匯(IEV)[InternationalElectrotechnicalVocabulary(IEV)](可在查到)校準(zhǔn)calibration2脈沖瞬時(shí)值首次從脈沖幅值的10%上升到90%所經(jīng)歷的時(shí)間。3AE:輔助設(shè)備(AuxiliaryEquipment)CD:耦合裝置(CouplingDevice)CDN:耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)(Coupling/DecouplingNetwork)CLD:筘位器件(ClampingDevice)CN:耦合網(wǎng)絡(luò)(CouplingNetwork)DN:去耦網(wǎng)絡(luò)(DecouplingNetwork)EMC:電磁兼容性(ElectromagneticCompatibility)EUT:受試設(shè)備(EquipmentUnderTest)GDT:氣體放電管(GasDischargeTube)MU:測(cè)量不確定度(MeasurementUncertainty)PDF:概率密度函數(shù)(ProbabilityDensityFunction)PE:保護(hù)地(ProtectiveEarth)RGP:參考地平面(ReferenceGroundPlane)RWG:振鈴波發(fā)生器(RingWaveGenerator)SPD:浪涌保護(hù)器(SurgeProtectiveDevice)4概述4.1現(xiàn)象描述振鈴波是一種由于電氣網(wǎng)絡(luò)和電抗負(fù)載的切換、電源電路故障和絕緣擊穿、或雷擊在低壓電纜中引起的典型振蕩瞬態(tài)現(xiàn)象，其波形圖見圖1。事實(shí)上這是出現(xiàn)在供電網(wǎng)絡(luò)(高壓、中壓、低壓)以及控制、信號(hào)線中最普遍的現(xiàn)象。振鈴波是居住和工業(yè)設(shè)施中廣泛存在的電磁環(huán)境的一個(gè)代表，適合檢驗(yàn)設(shè)備性的脈沖現(xiàn)象的抗擾度。在沒有濾波器作用時(shí)，這些脈沖的上升時(shí)間為10ns到幾分之一微秒的量脈沖的上升時(shí)間和持續(xù)時(shí)間依賴于媒質(zhì)和路徑的傳播特性。由于阻抗失配(線路端接了各自負(fù)載或連接了保護(hù)裝置，輸入線路濾波器等)線路中(電源和信號(hào)線)波的傳播常易發(fā)生反射。這些反射產(chǎn)生振蕩，振蕩頻率與傳播速度有關(guān)。存在的寄生參數(shù)(電機(jī)、變壓器線圈等元件的雜散電容)是額外的影響因素。雷擊是振鈴波的另外一種起因，其本身特征為一單向波形(1.2/50μs的標(biāo)準(zhǔn)脈沖)。遭受雷擊間接影響(線間感性耦合)的電路受主脈沖衍生物和相關(guān)的耦合機(jī)制的影響產(chǎn)生振蕩，由此產(chǎn)生的振鈴波的特性取決于接地回路、雷擊電流回路中的金屬構(gòu)件，以及低壓傳輸線傳播途徑的電抗參數(shù)。這種在設(shè)備端口上由上述效應(yīng)引起的現(xiàn)象，是一種瞬態(tài)振蕩或振鈴波。瞬態(tài)振蕩還存在于IEC61000-4-18中。0.5μs上升時(shí)間、100kHz振蕩頻率的振鈴波被定義為典型振鈴波，并廣泛產(chǎn)品測(cè)試。圖1中理想波形w(t)的數(shù)學(xué)模型如式(1)所示：式中：4瞬態(tài)重復(fù)率直接與主要現(xiàn)象(雷電和開關(guān))的發(fā)生頻率有關(guān)。當(dāng)這些現(xiàn)象主要是由控制線負(fù)載切換在供電電源中與振鈴波有關(guān)的設(shè)備故障可能取決于瞬態(tài)現(xiàn)象發(fā)生時(shí)交流電壓正弦波的相位角。在振鈴波試驗(yàn)中當(dāng)保護(hù)器工作時(shí)，可能產(chǎn)生的續(xù)流取決于瞬態(tài)現(xiàn)象發(fā)生時(shí)的相位角。續(xù)流是從連接的電對(duì)于半導(dǎo)體，這種現(xiàn)象可能與振鈴波發(fā)生時(shí)裝置的導(dǎo)電狀態(tài)有關(guān)。與之相關(guān)的半導(dǎo)體參數(shù)包括正當(dāng)電源輸入電路系統(tǒng)中包含半導(dǎo)體時(shí)，裝置最有可能發(fā)生與相位相關(guān)的故障。在被測(cè)設(shè)備不同位55試驗(yàn)等級(jí)施加在設(shè)備的電源、信號(hào)及控制端口的振鈴波的優(yōu)先選擇試驗(yàn)等級(jí)在表1中給出。試驗(yàn)等級(jí)由試驗(yàn)波形中第一個(gè)峰值(最大值或最小值)的電壓(圖1中的Pk?)來(lái)定義。表1振鈴波試驗(yàn)等級(jí)線對(duì)線121312424XX·X可以是高于、低于或在其他等級(jí)之間的任何等級(jí)。此等級(jí)應(yīng)由產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)和/或設(shè)備規(guī)范規(guī)h對(duì)于對(duì)稱互連線，試驗(yàn)可同時(shí)在多條線上對(duì)地進(jìn)行試驗(yàn)，即“多線對(duì)地”試驗(yàn)等級(jí)的信息見附錄A。對(duì)于不同接口試驗(yàn)等級(jí)的選擇，見附錄B。應(yīng)根據(jù)安裝條件選擇試驗(yàn)試驗(yàn)應(yīng)從表1中的所有較低等級(jí)開始進(jìn)行，直到規(guī)定的試驗(yàn)等級(jí)(見8.3)。6.1振鈴波發(fā)生器試驗(yàn)信號(hào)發(fā)生器輸出應(yīng)具有在短路情況下工作的能力。典型的振鈴波發(fā)生器原理圖如圖2所示。C?——濾波電容；R?——充電電阻L?——振蕩電路線圈；S?——高壓開關(guān)；6——電壓振蕩頻率(圖1中的1/T):100kHz(1±10%);見表2;——Pk?的極性(見圖1):正和負(fù)。在發(fā)生器輸出端的開路電壓峰值(1±10%)短路電流峰值(1±10%)短路電流峰值(1±10%)7GB/T17626.12—2023如圖4至圖10所示，每個(gè)耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)均應(yīng)包含耦合網(wǎng)絡(luò)和去耦網(wǎng)絡(luò)。注：耦合電容可以是CDN或發(fā)生器的一部分，也可以是分立的外部元件。電容器作為耦合元件，其容量足以允許將完整波形耦合到EUT。交流或直流電源的耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)的對(duì)于I/O和通信線，去耦網(wǎng)絡(luò)的串聯(lián)阻抗限制了數(shù)據(jù)傳輸?shù)目捎脦?。如果線路能夠承受容性負(fù)用于非屏蔽互連線的耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)的設(shè)計(jì)應(yīng)使開路電壓波形和短路電流波形滿足表5和表7的每個(gè)耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)應(yīng)滿足6.2.2和6.2.3的要求，并滿足6.3的校準(zhǔn)要求。根據(jù)圖3中的流程圖來(lái)否否是是否圖8是86.2.2用于每線額定電流不大于63A的交/直流電源端口的CDN應(yīng)在電壓開路和電流短路條件下驗(yàn)證EUT端口的峰值Pk?和上升時(shí)間，此外還應(yīng)在電壓開路條件下驗(yàn)證振蕩周期。在CDN的EUT端口測(cè)得的波形參數(shù)取決于發(fā)生器，因此僅用特定的發(fā)生器/去耦電感應(yīng)由CDN的制造商選擇，以確保在規(guī)定的額定電流下經(jīng)過(guò)CDN的壓降不超過(guò)CDN輸入電壓的10%,但不宜超過(guò)1.5mH。為防止在CDN上產(chǎn)生不必要的壓降，對(duì)于額定電流大于16A的CDN,應(yīng)減小去耦元件的值。相表3在CDN的EUT端口的振鈴波參數(shù)峰值電流峰值電流Ip?16A<額定電流≤32A注：此額定電流是CDN的額定值。LN9LN圖5用于交流/直流線的電容耦合的CDN示例：線-地耦合開關(guān)S?和S?用于選擇不同的被測(cè)線。圖6用于交流線(三相)的電容耦合的CDN示例：線L3-線L2耦合交流電源端口EUT端口1)開關(guān)S?2)開關(guān)S?:位置1至4由于非屏蔽布線的特性，對(duì)稱互連線(雙絞線)的耦合總是以共模方式即所有線對(duì)地耦合的方式通常認(rèn)為從振鈴波發(fā)生器到EUT的能量轉(zhuǎn)移是與電纜內(nèi)線的數(shù)量無(wú)關(guān)的常量。CDN的選合電纜中存在的線/對(duì)線的數(shù)量；然而，多于八線/四對(duì)線的電纜應(yīng)被分開，并通過(guò)數(shù)個(gè)八線/四對(duì)線非屏蔽對(duì)稱互聯(lián)線的耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)示例見圖9。GB/T17626.12—2023L對(duì)于高速互連線，可使用圖9和圖10列舉的CDN。為了避免耦合和去耦電容器對(duì)數(shù)據(jù)傳輸產(chǎn)生濾波作用，需要采用耦合電容與耦合扼流圈相結(jié)合的用于兩對(duì)對(duì)稱互連線的耦合和去耦網(wǎng)絡(luò)示例見圖10。具有類似設(shè)計(jì)的四對(duì)對(duì)稱互連線耦合和去GB/T17626.12—2023/IEC610為了比較來(lái)自不同CDN的試驗(yàn)結(jié)果，應(yīng)定期校準(zhǔn)CDN。因此，需要按下列程序測(cè)量CDN的最基本特性。在CDN的EUT端口測(cè)得的波形參數(shù)取決于發(fā)生器源，因此該參數(shù)僅適用于特定用于校準(zhǔn)CDN的測(cè)量設(shè)備與校準(zhǔn)發(fā)生器所用測(cè)量設(shè)備具有相同的要求(見6.1.4)。6.3.2用于每線電流不超過(guò)63A的交流/直流電源端口的CDN的校準(zhǔn)應(yīng)在同一電壓下在開路條件(負(fù)載大于或等于10kΩ)和短路條件(負(fù)載小于0.1Ω)測(cè)量在不連接EUT和電源的情況下，在耦合線和去耦網(wǎng)絡(luò)交流/直流電源端口的地之間測(cè)得的殘余振鈴波電壓不應(yīng)超過(guò)最大試驗(yàn)電壓15%或CDN額定電壓峰值兩倍中的較高值。在不連接EUT和電源的情況下，在非耦合線和地之間測(cè)得的非預(yù)期振鈴波電壓不應(yīng)超過(guò)最大試驗(yàn)電壓15%(開路)。單根線所有線短單根線峰值電流、上升時(shí)間單根線對(duì)線單根線所有線短單根線對(duì)線單根線峰值電流、上升時(shí)間所有線短電壓峰值電壓以及CN部分的耦合效果等。上述耦合方法對(duì)電壓和電流波形有影響。用于校準(zhǔn)的參數(shù)在表5中在CDN的EUT端口上的Up?電壓上升時(shí)間電壓振蕩在CDN的EUT端口上的Ip?電流上升時(shí)間T·宜在最大額定脈沖電壓下校準(zhǔn)CDN。因?yàn)檫@將最大限度減少CLD和GDT所產(chǎn)生的噪聲帶來(lái)的影響。表中值應(yīng)乘以1/4。下可最大限度地減少它們對(duì)測(cè)量的影響，測(cè)量上升沿和持續(xù)時(shí)間時(shí)宜忽本表所示的值是振鈴波發(fā)生器的理想值。如果振鈴波發(fā)生器的參數(shù)值接近允差，則CDN的附加允差可能使振鈴波發(fā)生器和CDN的組合產(chǎn)生的值超出允差。到地接在一起)峰值電流、上升時(shí)間到地峰值電壓電壓上升時(shí)間電壓振蕩端口上的Ip?電流上升時(shí)間T?·宜在最大額定脈沖電壓下校準(zhǔn)CDN。因?yàn)檫@將最大限度減少CLD和GDT所產(chǎn)生的噪聲帶來(lái)的影響。表中大額定脈沖電壓下進(jìn)行。應(yīng)相應(yīng)調(diào)整短路峰值電流規(guī)范。例如，如果最大電壓為4kV,短路電流值應(yīng)乘以2。通過(guò)氣體放電管、箍位器件或雪崩裝置耦合會(huì)在脈沖波形中引入一些開關(guān)噪聲。工作在下可最大限度地減少它們對(duì)測(cè)量的影響，因此在測(cè)量峰值時(shí)宜忽略開關(guān)噪聲。能使振鈴波發(fā)生器和CDN的組合產(chǎn)生的值超出允差。CD可以是電容器、氣體放電管、箱位器件、雪崩器件或任何允許EUT所需的數(shù)據(jù)功能正常并 試驗(yàn)設(shè)備的內(nèi)部連接線。GB/T17626.12—2023電的非EUT產(chǎn)生不利影響，并為振鈴波提供足夠的去耦阻抗，同時(shí)將規(guī)定的振鈴波施加到受試線纜對(duì)于表3中要求的CDN的選擇應(yīng)滿足EUT的額定電流要求(例如，額定電流5A的EUT應(yīng)采用一個(gè)額定電流16A的CDN)。對(duì)于額定電流相對(duì)較低的EUT,任何高于其額定電流的CDN都可以使用，只要該CDN滿足表3中規(guī)定的要求(例如，額定電流63A的CDN可以用于額定電流5A的對(duì)于有除PE外的其他接地端子的雙重絕緣產(chǎn)品，產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)可以決定是否進(jìn)行線-地CDN不應(yīng)影響受試線路規(guī)定的功能狀態(tài)。圖8為耦合網(wǎng)絡(luò)的示例。適用于對(duì)稱互連線的耦合網(wǎng)絡(luò)的示例見圖9和圖10。對(duì)于高速互連線的振鈴波試驗(yàn)，當(dāng)EUT由于CDN的影響而不能正常工作時(shí)，不應(yīng)施加振鈴波EUT與地絕緣，振鈴波直接施加在EUT的金屬外殼；受試端口的終端(或輔助設(shè)備)接地。該試驗(yàn)適用于使用一根或多根屏蔽線的設(shè)備(見圖11)。除受試端口，所有與EUT連接的端口都應(yīng)通過(guò)合適方法如安全隔離變壓器或合適的去耦網(wǎng)絡(luò)與受試端口與連接到該端口的電纜的另一端的裝置(圖11中的AE)之間的電纜長(zhǎng)度應(yīng)是：對(duì)于制造商規(guī)定的長(zhǎng)度≤10m的電纜不進(jìn)行注2:在這種情況下，振鈴波試驗(yàn)不適用于此類屏蔽。LNL-允許不經(jīng)過(guò)上圖所示的隔離變壓器而通過(guò)去耦網(wǎng)絡(luò)為EUT和/或AE供電，但此時(shí)，EUT的保護(hù)地不宜連接到去耦網(wǎng)絡(luò)。直流供電的EUT或AE宜通過(guò)去耦網(wǎng)絡(luò)供電。需要將AE與振鈴波信號(hào)隔離時(shí)，受試線纜AE側(cè)的接地連接可以通過(guò)直接連接到屏蔽層而實(shí)現(xiàn)，而不用連接到AE的機(jī)殼。如果需要進(jìn)一步隔離，且電纜可以在不影響屏蔽完整性(例如，采用同軸連接器或以太網(wǎng)屏蔽電纜連接器)的情況下延伸，則可以通過(guò)擴(kuò)展連接器的屏蔽來(lái)實(shí)現(xiàn)地連接。在這種情況下，受試電纜的長(zhǎng)度是指EUT和擴(kuò)展連接器之間的長(zhǎng)度而非EUT和AE之間的長(zhǎng)度。擴(kuò)展連接器和AE之間的電纜長(zhǎng)度不作硬性要求。GB/T17626.12—2023——試驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定(見第9章)。除非負(fù)責(zé)制定通用標(biāo)準(zhǔn)和產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)另有規(guī)定，實(shí)驗(yàn)室氣候條件應(yīng)在EUT和應(yīng)進(jìn)行驗(yàn)證。宜在試驗(yàn)前進(jìn)行驗(yàn)證(見7.2)?！っ}沖數(shù)量(對(duì)每個(gè)耦合路徑); 對(duì)于低壓DC輸入/輸出端口(≤60V),當(dāng)次級(jí)電路(與AC電源相隔離)不承受瞬態(tài)過(guò)電壓時(shí)(例如果重復(fù)率比1/min更快的試驗(yàn)會(huì)使EUT發(fā)生故障，而按1/min重復(fù)率進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)EUT能正常GB/T17626.12—2023試驗(yàn)程序也考慮了EUT的非線性電流-電壓特性，因此，應(yīng)進(jìn)行所選試驗(yàn)等級(jí)以及所有更低等級(jí)試驗(yàn)結(jié)果應(yīng)依據(jù)EUT的功能喪失或性能降級(jí)進(jìn)行分類。相關(guān)的性能等級(jí)由設(shè)備的制造商或試驗(yàn)制造商的技術(shù)規(guī)范中可以規(guī)定一些對(duì)EUT產(chǎn)生了影響但被認(rèn)為是不重要的因而是可以接受的——第8章要求的試驗(yàn)計(jì)劃中規(guī)定的內(nèi)容；——判定試驗(yàn)合格/不合格的理由(依據(jù)通用標(biāo)準(zhǔn)、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或產(chǎn)品類標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的性能判據(jù)或制造商和買方達(dá)成的協(xié)議);0類 4類 5類安裝類別外部端口內(nèi)部端口.d外部端口內(nèi)部端口線-線線-地線-線012345·不宜對(duì)實(shí)際使用長(zhǎng)度小于或等于10m的讓通電平進(jìn)行。安裝類別屏蔽的電路/線路d,外部端口內(nèi)部端口外部端口內(nèi)部端口外部端口內(nèi)部端口線-線線-線線-地線-地線-線線-線012345·不宜對(duì)實(shí)際使用長(zhǎng)度小于或等于10m的(資料性)D.1概述EMC試驗(yàn)的復(fù)現(xiàn)性依賴于許多影響試驗(yàn)結(jié)果的因素或影響量。這些影響量可以分為隨機(jī)的或系統(tǒng)的。通常通過(guò)一系列測(cè)量來(lái)確認(rèn)實(shí)際騷擾量是否符合本文件規(guī)定的騷擾量(例如通過(guò)使用電壓或電為了評(píng)估MU,有必要：b)明確影響(輸入)量和測(cè)量(輸出)結(jié)果之間的函數(shù)關(guān)系(測(cè)量模型);c)得到輸入量的估計(jì)值和標(biāo)準(zhǔn)不確定度；d)得到包含被測(cè)量真值且具有高置信度區(qū)間的估計(jì)值。參數(shù)描述了實(shí)際的騷擾量與本基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)中所描述的騷擾量的一致程度。從特定騷擾量導(dǎo)出的估計(jì)值和不確定度評(píng)定，并不能描述本基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)由于騷擾量參數(shù)對(duì)EUT的影響是不可預(yù)知的，并且在大多數(shù)情況下EUT表現(xiàn)為非線性狀態(tài)，所D.2振鈴波參數(shù)的說(shuō)明T?——振鈴波的上升時(shí)間(電壓或電流，10%～90%);Pk?——振鈴波的第二個(gè)峰值(電壓);Pk?——振鈴波的第三個(gè)峰值(電壓);D.4.1概述在振鈴波抗擾度試驗(yàn)中，騷擾量是由試驗(yàn)發(fā)電流。如D.1所述，每個(gè)騷擾量的測(cè)量參數(shù)都需要提供不確定度報(bào)告。這些騷擾量的參數(shù)是(開路)電壓和(短路)電流波形的上升時(shí)間T?、電壓和電流波形的第一峰值幅度Pk?、電壓波形頻率1/T、電壓波形的衰減(Pk?和Pk?、Pk?和Pk?、D.4.5和D.4.6中描述了評(píng)定脈沖MU采用的方法。表D.1和表D.2分別給出了第一個(gè)峰值幅度和上升時(shí)間參數(shù)的不確定度報(bào)告的示例。表1和表2包含本示例中認(rèn)為最關(guān)鍵的輸入量、MU的每個(gè)D.4.2振鈴波的上升時(shí)間式中：T?o%——達(dá)到第一個(gè)峰值幅度10%時(shí)的時(shí)間；Tg%——達(dá)到第一個(gè)峰值幅度90%時(shí)的時(shí)間；TMs——測(cè)量系統(tǒng)階躍響應(yīng)的上升時(shí)間(10%～90%),單位為微秒(μs);表D.1振鈴波上升時(shí)間T1的不確定度評(píng)定的示例值誤差范圍除數(shù)C單位三角1三角10正態(tài)(k=1)1αB合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度u.(y)=√∑u(y)擴(kuò)展不確定度U(y)=2u.(y)yT1o%,Tgo%:在第一個(gè)峰值幅度10%或90%處的時(shí)間讀數(shù)。誤差范圍通過(guò)假設(shè)采用一臺(tái)采樣率為讀數(shù)假定為T?o%=0.07μs和Tgo%=0.64μs。Tns:計(jì)算得到的測(cè)量系統(tǒng)階躍響應(yīng)的上升時(shí)間。系數(shù)a取決于測(cè)量系統(tǒng)的脈沖響應(yīng)波形，其取值范圍360±40代表了一大類系統(tǒng)，雖然每個(gè)系統(tǒng)具有不同的脈沖響應(yīng)波形(見D.4.5和表D.3)。測(cè)量系統(tǒng)的帶寬B,可以通過(guò)實(shí)驗(yàn)方法獲得(直接測(cè)量帶寬)或根據(jù)測(cè)量系統(tǒng)的每個(gè)組成部分(本質(zhì)上是電壓和布置和振鈴波發(fā)生器自身特性引起的重復(fù)性不足。它通過(guò)實(shí)驗(yàn)方法確定。這是一種基于n次重復(fù)測(cè)量q,樣本的實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)差s(qx)公式的A類評(píng)估，公D.4.3振鈴波的峰值Zr——轉(zhuǎn)移阻抗(或靈敏度)或電流探頭或分流器；δV——示波器的直流垂直準(zhǔn)確度；B——電流測(cè)量系統(tǒng)的-3dB帶寬；表D.2振鈴波短路電流峰值(Ip?)的不確定度報(bào)告示例值誤差范圍除數(shù)c單位VV三角AΩaA011AA011AAβABA合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度u.(y)=√2u:(y)A擴(kuò)展不確定度U(y)=2u.(y)AyA%Vpk?:電流探頭輸出端或電流分流器兩端的電壓峰值讀數(shù)。誤差范圍通過(guò)假設(shè)示波器有8位垂直分辨率和插值功能(三角形概率密度函數(shù))獲得。Zr:電流分流器或探頭的轉(zhuǎn)移阻抗(或靈敏度)。假設(shè)估值為0.001Ω且誤差范圍為5%(矩形概率它用相對(duì)量表示，假設(shè)估計(jì)值為0%,誤差范圍為3%(1倍標(biāo)準(zhǔn)差)。8V:量化示波器的直流幅度測(cè)量誤差。假設(shè)誤差范圍為2%(矩形概率密度函數(shù)),估計(jì)值為0。B:測(cè)量系統(tǒng)的帶寬B,可以通過(guò)實(shí)驗(yàn)方法獲得(直接測(cè)量帶寬)或根據(jù)測(cè)量系統(tǒng)的每個(gè)組成部分時(shí)基誤差與抖動(dòng)：可采用示波器的技術(shù)參數(shù)作為誤差范圍(矩形概