2024環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗：溫度濕度靜負(fù)載綜合

2溫度//II目 次前 言 II引 言 III范圍 1規(guī)性用件 1術(shù)和義 1試的般明 1試設(shè)備 2試樣品 3預(yù)理 3初檢測 3試樣的裝 3驗件 4間測 4終測 4效據(jù) 5關(guān)范提的息 5驗告 5附錄 A（料）GB/T2423的成分 6附錄 B（料）靜負(fù)加裝示圖 9參考文獻(xiàn) 11——IIIIII引 言GB/T2423GB/T2423系列標(biāo)準(zhǔn)旨在為產(chǎn)品規(guī)范制定者和產(chǎn)品試驗者提供一系列統(tǒng)一且可重復(fù)的氣候、機(jī)械和綜合等環(huán)1981242350GB/T24234840項采用IEC60068-2GB/T2423A。本環(huán)境試驗通過溫度、濕度和靜負(fù)載條件的組合還可以考察電工電子設(shè)備的材料和零部件在綜合環(huán)境下的適應(yīng)性。PAGEPAGE112溫度/濕度/靜負(fù)載綜合范圍濕度本文件適用于評價電工電子設(shè)備的非金屬材料及零部件在溫度、濕度和靜負(fù)載綜合作用下的環(huán)境適應(yīng)性，包括機(jī)械或其他物理性能的變化等。（GB/T2422-2012 GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A：低溫GB/T2423.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B：高溫GB/T2423.3環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗GB/T2423.4電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）GB/T2423.222N：GB/T2422-2012界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。staticloads不隨時間變化的載荷或隨時間變化緩慢的載荷，常見載荷形式有拉伸、壓縮和彎曲等。[來源：GB/T32455-2015，5.2]本試驗是由溫度和濕度氣候環(huán)境條件與靜負(fù)載機(jī)械環(huán)境條件組合而成的綜合環(huán)境試驗方法。溫度GB/T2423系1表1溫度、濕度與靜負(fù)載組合方式氣候試驗靜負(fù)載方式拉伸壓縮彎曲低溫GB/T2423.1高溫GB/T2423.2溫度變化GB/T2423.22恒定濕熱GB/T2423.3交變濕熱GB/T2423.4試驗設(shè)備通常為常用溫濕度試驗箱與靜負(fù)載裝置的結(jié)合，靜負(fù)載裝置可以非固定式放置在溫濕度試驗箱內(nèi)部，也可以是固定式放置。除非有關(guān)規(guī)范另有規(guī)定，應(yīng)符合GB/T2423.1、GB/T2423.2、GB/T2423.3、GB/T2423.4和GB/T2423.22對相應(yīng)溫濕度試驗箱的要求。5.3.1B?！?±0.5Ra0.4μm——足夠的剛度,以確保壓縮板受壓時，壓縮板的彎曲不超過0.01mm；——足夠的尺寸,以確保試驗樣品在兩壓縮板之間壓縮時,整個試驗樣品保持在壓縮板區(qū)域內(nèi)。當(dāng)壓縮裝置組裝后，沒有安裝試驗樣品時，兩壓縮板之間的間隙應(yīng)保持在±0.01mm之內(nèi)。2mm2R=(5±0.1)≤3mmR=(2±0.2)mm，3mmR=(5±0.2)mm。0.012試驗樣品的類型、數(shù)量、形狀和尺寸,應(yīng)根據(jù)被測材料或零部件的有關(guān)性能測試要求進(jìn)行選擇，或由相關(guān)方協(xié)商規(guī)定。預(yù)處理試驗樣品應(yīng)按有關(guān)規(guī)范規(guī)定進(jìn)行預(yù)處理。有關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定試驗前對試驗樣品所采用的清潔程序，使用的清潔方法不應(yīng)影響試驗樣品的表面狀態(tài)以及帶來額外的老化影響因素。試驗前應(yīng)盡量避免手直接接觸試驗樣品表面。應(yīng)對試驗樣品進(jìn)行外觀、尺寸和功能檢查，如有必要，應(yīng)按相關(guān)規(guī)范的要求進(jìn)行機(jī)械性能檢測等。試驗樣品應(yīng)預(yù)先按照有關(guān)規(guī)范安裝在靜負(fù)載加載裝置上，試驗樣品之間保持足夠間距以避免相互影響。試驗樣品連同靜負(fù)載加載裝置一起放入溫濕度試驗箱內(nèi)準(zhǔn)備試驗。靜負(fù)載（5±1）%或（10±1）或（20±2）%0.1溫濕度GB/T2423.1-2008GB/T2423.2-2008、GB/T2423.3-2016GB/T2423.4-2008和GB/T2423.22-2012溫度、濕度試驗條件也可以由相關(guān)方商議確定。當(dāng)試驗樣品的溫度達(dá)到穩(wěn)定后，試驗開始計時。試驗持續(xù)時間宜由相關(guān)方共同商定，循環(huán)試驗周期應(yīng)在試驗持續(xù)時間內(nèi)重復(fù)進(jìn)行。溫度、濕度和靜負(fù)載綜合環(huán)境會加速試驗樣品老化，試驗時間不應(yīng)長于相應(yīng)的溫濕度試驗。根據(jù)有關(guān)規(guī)范規(guī)定，對試驗樣品進(jìn)行非破壞性檢測與破壞性檢測。非破壞性檢測包括：外觀（涂層失光、粉化、龜裂等）、功能、外形變化等。破壞性檢測包括：機(jī)械性能、熱性能、局部微觀表面形貌等。失效判據(jù)按相關(guān)規(guī)范規(guī)定。只要適用，有關(guān)規(guī)范應(yīng)包含以下內(nèi)容：試驗報告應(yīng)給出以下詳細(xì)信息，適用時：GB/T2423.66-20XX；（）（））；（）；）；附錄A（資料性）GB/T2423的組成部分除本文件外，GB/T2423系列標(biāo)準(zhǔn)的組成部分如下：GB/T2423.1—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫（IEC60068-2-1:2007，IDT）GB/T423—008第2B（IEC6068--2:0，IDT）GB/T2423.3—2016環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗（IEC60068-2-78：2012，IDT）GB/T2423.4—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）（IEC60068-2-30:2005，IDT）GB/T2423.5—2019環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ea和導(dǎo)則:沖擊（IEC60068-2-27:2008，IDT）GB/T2423.7—2018環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ec:粗率操作造成的沖擊（主要用于設(shè)備型樣品）（IEC60068-2-31:2008，IDT）GB/T2423.10—2019環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fc:振動(正弦)（IEC60068-2-6:2007，IDT）GB/T2423.15—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ga和導(dǎo)則:穩(wěn)態(tài)加速度（IEC60068-2-7:1986，IDT）GB/T2423.16—20222（IEC60068-2-10:2018,IDT）GB/T2423.17—-20XX環(huán)境試驗第（IECGB/T2423.18—2021環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）（IEC60068-2-52:2017，IDT）GB/T2423.19—2013環(huán)境試驗第2(IEC60068-2-42:2003,IDT)GB/T2423.20—2014環(huán)境試驗第2Kd：(IEC60068-2-43:2003,IDT)GB/T2423.21—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗M:低氣壓（IEC60068-2-13:1983，IDT）GB/T2423.22—2012環(huán)境試驗第2N（IECGB/T2423.23—20132Q:（IEC60068-2-17：1994，IDT）GB/T2423.24—2022環(huán)境試驗第2S驗和氣候老化試驗導(dǎo)則（IEC60068-2-5:2018，IDT）GB/T2423.27—2020環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗方法和導(dǎo)則：溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗（IEC60068-2-39:2015，IDT）GB/T2423.28—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗T：錫焊（IEC60068-2-20:1979，IDT）GB/T2423.30—2013環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗XA和導(dǎo)則:在清洗劑中浸漬（IEC60068-2-45:1980/Amd1：1993，MOD）GB/T2423.32—20082Ta:（IEC60068-2-54:2006，IDT）GB/T2423.33—2021環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Kca：高濃度二氧化硫試驗GB/T2423.34—202X環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(IEC60068-2-38:2021,IDT)GB/T2423.35—2019環(huán)境試驗第2（IEC60068-2-53:2010，IDT）GB/T2423.37—2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗L：沙塵試驗（IEC60068-2-68:1994，IDT）GB/T2423.38—2021環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗R：水試驗方法和導(dǎo)則（IEC60068-2-18:2017，IDT）GB/T2423.39—2018環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ee和導(dǎo)則:散裝貨物試驗包含彈跳（IEC60068-2-55:2013，IDT）GB/T2423.40—20132Cx（IEC60068-2-66:1994，IDT）GB/T2423.41—2013環(huán)境試驗第2部分：試驗方法風(fēng)壓GB/T2423.43—20082（IEC60068-2-47:2005，IDT）GB/T2423.45—2012環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/ABDM:氣候順序（IEC60068-2-61:1991,MOD）GB/T2423.47—20182Fg（IEC60068-2-65:2013，IDT）GB/T2423.48—2018環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ff:振動時間歷程和正弦拍頻法（IEC60068-2-57:2013，IDT）GB/T2423.50—2012環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗（IEC60068-2-67:1995，IDT）GB/T2423.51—2020環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ke：流動混合氣體腐蝕試驗(IEC60068-2-60:2015，IDT)GB/T2423.52—2003電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗77:結(jié)構(gòu)強(qiáng)度與撞擊（IEC60068-2-77:1999，IDT）GB/T2423.53—2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Xb：由手的摩擦擦造成標(biāo)記和印刷文字的磨損（IEC60068-2-70:1995，IDT）GB/T2423.54—2022環(huán)境試驗第Xc（IEC60068-2-74:2018，IDT）GB/T2423.55—20232Eh（IEC60068-2-75:2014，IDT）GB/T2423.56—2023環(huán)境試驗第2（IEC60068-2-64:2019，IDT）GB/T2423.57—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ei:沖擊沖擊響應(yīng)譜合成（IEC60068-2-81:2003，IDT）GB/T2423.58—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fi:振動混合模式（IEC60068-2-80:2005，IDT）GB/T2423.59—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/ABMFh:溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機(jī)）綜合GB/T2423.60—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗U：引出端及整體安裝件強(qiáng)度（IEC60068-2-21:2006，IDT）GB/T2423.61—2018環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗和導(dǎo)則：大型試件砂塵試驗GB/T2423.62—2018環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fx和導(dǎo)則：多輸入多輸出振動GB/T2423.63—2019環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(混合模式)綜合GB/T2423.64—2023環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fj:振動長時間歷程再現(xiàn)（IEC60068-2-85:2019，IDT）GB/T2423.65—XXXX環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗：鹽霧/溫度/濕度/太陽輻射綜合GB/T2423.101—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗：傾斜和搖擺GB/T2423.102—2008（低氣壓（綜合附錄B（資料性）靜負(fù)載