第8章 液晶物理參數(shù)的檢測(cè)課件

9章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)

重點(diǎn)

檢測(cè)方法實(shí)驗(yàn)設(shè)備第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)9.1體粘滯系數(shù)的測(cè)量向列相液晶的某一粘滯系數(shù)只有在特定的分子排列與速度場(chǎng)下才能單獨(dú)地顯示出來，因此測(cè)量不同的系數(shù)應(yīng)采用不同的幾何形狀與實(shí)驗(yàn)手段。通常采用奧氏粘度計(jì)來測(cè)定向列相液晶的體粘滯系數(shù)。第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)

粘度計(jì)由兩個(gè)支管組成。其中一個(gè)支管具有一根內(nèi)徑為r，長(zhǎng)度為L(zhǎng)的毛細(xì)管，毛細(xì)管上端有一個(gè)體積為V的空腔，空腔上有刻線a和b。測(cè)量時(shí)，待測(cè)液晶自A管加入，經(jīng)B管被吸至a線以上。然后使B管通大氣，任液晶流下，記錄液面流經(jīng)a、b線所需的時(shí)間t。奧氏粘度計(jì)實(shí)驗(yàn)原理L第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)這樣外加力就是高度差為h的液晶自身重力W=ρgh，其中ρ是液晶的密度。假定液晶流動(dòng)時(shí)沒有湍流發(fā)生，即外加力W全部用來克服流動(dòng)的粘滯阻力，則根據(jù)牛頓粘度定律導(dǎo)出粘滯系數(shù)式中：V為時(shí)間t內(nèi)流經(jīng)毛細(xì)管的液體體積；W為管兩端的壓力差；r為毛細(xì)管半徑；L為毛細(xì)管長(zhǎng)度。當(dāng)流速比較大時(shí)，外加力除了自身重力驅(qū)動(dòng)流體流動(dòng)外，還有能量的消耗，對(duì)這部分能耗須予修正，這里略去。第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)

實(shí)驗(yàn)方法（1）

洗凈粘度計(jì)用洗液盛滿管內(nèi)，停留一段時(shí)間，傾去洗液，再用蒸餾水洗凈。然后用酒精、乙醚蕩洗后干燥或直接干燥備用。（2）

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)液------蒸餾水用移液管向粘度計(jì)中注入5cm3或10cm3的蒸餾水（視粘度計(jì)的大小而定）。夾持粘度計(jì)垂直放入20

C的水浴中，使之達(dá)到熱平衡。第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)用短乳膠套于B端上口，小心抽吸使蒸餾水液面上升到a刻度上方約2cm處，放手使自然下降，當(dāng)水面與a刻度線相一致時(shí)開啟停表，目光注視水面恰當(dāng)水面經(jīng)過b刻度線時(shí)停表。記錄時(shí)間。（3）

測(cè)試液晶樣品粘度從上述毛細(xì)管粘度計(jì)中傾出蒸餾水，吹烘至干燥。用同法測(cè)出液晶樣品粘度。用比重瓶測(cè)出同樣溫度下的待測(cè)液晶的密度，并從手冊(cè)中查出水在該溫度下的粘滯系數(shù)和密度，就可代入公式算出待測(cè)液晶的粘滯系數(shù)。第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)用旋轉(zhuǎn)粘度計(jì)測(cè)試液晶粘滯系數(shù)實(shí)驗(yàn)原理同步電機(jī)以穩(wěn)定的速度旋轉(zhuǎn)，連接刻度圓盤，再通過游絲和轉(zhuǎn)軸帶動(dòng)轉(zhuǎn)子轉(zhuǎn)動(dòng)，如果轉(zhuǎn)子未受到液體的阻力，則游絲、指針與刻盤同速第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)轉(zhuǎn)動(dòng)，指針于刻盤上指出的讀數(shù)為0。反之如果轉(zhuǎn)子受到液體的粘滯阻力，則游絲產(chǎn)生扭矩，與粘滯阻力抗衡最后達(dá)到平衡，這時(shí)與游線連接的指針在刻度盤上指示一定的讀數(shù)（即游絲的扭轉(zhuǎn)角）。將讀數(shù)乘上特定的系數(shù)即得到液體的粘滯系數(shù)（厘泊）。Mark-E型錐型盤粘度計(jì)：用水循環(huán)系統(tǒng)來控制樣品溫度的水缸套組成。第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)9.2

液晶各向異性折射率的測(cè)定根據(jù)折射極限法設(shè)計(jì)的定型儀器，即可測(cè)定透明、半透明液體，也可測(cè)固體物質(zhì)的折射率。按常規(guī)只能測(cè)液晶的尋常光no，但如果對(duì)棱鏡表面進(jìn)行垂直取向處理，使被測(cè)液晶光軸垂直于棱鏡表面，則用阿貝折射計(jì)可同時(shí)測(cè)量no、ne。當(dāng)然，所測(cè)液晶的折射率不能大于棱鏡玻璃的折射率ng。測(cè)量精度主要取決于液晶分子垂直取向排列的好壞，一般精度可達(dá)到0.002。阿貝折射計(jì)第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)阿貝折射儀的基本原理即為折射定律：n1sina1=n2sina2,光線從光密介質(zhì)進(jìn)入光疏介質(zhì)，入射角小于折射角，改變?nèi)肷浣强梢允拐凵浣沁_(dá)到900

，此時(shí)的入射角稱為臨界角，可以看到望遠(yuǎn)鏡視場(chǎng)分為明暗兩部分，可讀樣品折射率。第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)

阿貝折射儀的結(jié)構(gòu)第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)測(cè)試液晶的折射率各向異性與測(cè)試普通液體的不同之處是一方面要對(duì)液晶進(jìn)行取向處理，另一方面要在目鏡上應(yīng)用偏光片。將磷脂酰膽堿的甲醛溶液涂覆在主棱鏡上來均勻排列液晶材料。尋常光折射率no用正常方法測(cè)量,而非常光ne用貼有偏光片的目鏡轉(zhuǎn)動(dòng)900來測(cè)試的。測(cè)量是用鈉燈做光源在指定溫度下進(jìn)行。第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)9.3

液晶電導(dǎo)率的測(cè)定實(shí)驗(yàn)原理：電導(dǎo)率是電阻率的倒數(shù)，定義為

式中，J為電流密度。在溶液中也常用下式定義：式中L為兩電極間的距離；A為電極的面積。電導(dǎo)率的單位是西門子每米（S/m）。第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)測(cè)定溶液電導(dǎo)率的方法是將兩個(gè)電極插入溶液，測(cè)出兩電極間的電阻Rx。L/A=Q是常數(shù)?；菟诡D原理實(shí)驗(yàn)：第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)萬能電位計(jì)MMAII-17A實(shí)驗(yàn)裝置第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)液晶材料由液晶態(tài)變?yōu)楦飨蛲砸簯B(tài)時(shí)的溫度稱為清亮點(diǎn)TNI。液晶材料由晶態(tài)變?yōu)橐壕B(tài)的相變溫度稱為熔點(diǎn)。9.4液晶熔點(diǎn)和清亮點(diǎn)溫度的測(cè)定正交偏光顯微鏡方法:在熔點(diǎn)處織構(gòu)會(huì)發(fā)生流動(dòng)重組；在清亮點(diǎn)TNI處視場(chǎng)由亮變?yōu)槿?。?章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)被測(cè)物質(zhì)（A）和參比物（B）被放在作為爐子的支持器中，通過溫差熱電偶把溫差信號(hào)改變?yōu)殡娦盘?hào)后加以記錄。待測(cè)物質(zhì)（A）和參比物（B）的溫差（ΔT）是溫度與時(shí)間的函數(shù)：ΔT=TA-TB=f(T,t)以ΔT為縱坐標(biāo)，T或t為橫坐標(biāo)所繪出的圖線即為DTA曲線。差熱分析：第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)DTA技術(shù)具有方便、快速的優(yōu)點(diǎn)，應(yīng)用范圍也十分廣泛，但有重復(fù)性差，分辨率不高，熱定量復(fù)雜的缺點(diǎn)。差示掃描量熱法(DSC):DTA記錄的是試樣和參比物在接受相同能量條件下二者的溫差,DSC是測(cè)量在各溫度下輸入到試樣和參比物的熱量差。這是兩種技術(shù)的根本不同。第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)DSC的特點(diǎn)是在試樣側(cè)和參比物側(cè)各有一個(gè)阻值相等的加熱絲，用改變兩側(cè)電流來保持TA=TB，同時(shí)還使通過兩電阻的電流之和不變第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)最早實(shí)用的透明導(dǎo)電玻璃是氧化錫玻璃，而現(xiàn)在廣泛使用的是綜合性能最好的氧化銦錫（ITO）玻璃。ITO薄膜是一種氧化物半導(dǎo)體透明導(dǎo)電薄膜。其電導(dǎo)率的提高是由于偏離化學(xué)計(jì)量比形成的氧空位和進(jìn)行摻雜增加了載流子濃度而實(shí)現(xiàn)的。

9.5透明導(dǎo)電玻璃方塊電阻的測(cè)定第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)現(xiàn)在工業(yè)生產(chǎn)的ITO玻璃是用磁控濺射法制造的。目前ITO膜層的電阻率一般在5×10-4

.cm左右，最好的可達(dá)5×10-5

.cm，已經(jīng)接近金屬的電阻率。

第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)ITO膜導(dǎo)電性能采用的指標(biāo)是方塊電阻，用R

表示。當(dāng)電流流過方形導(dǎo)電膜層時(shí)，該層的電阻為式中：

為導(dǎo)電膜的電阻率，d為膜厚，

和d是不變的定值，無論方塊大小如何，其電阻均為值/d，這就是方塊電阻的定義，即（方形：L1=L2）第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)目前在高檔超扭曲向列相液晶顯示器中所用的ITO玻璃，其最好可達(dá)到10歐左右，膜厚為1000-2000?。一般低檔TN產(chǎn)品的ITO玻璃為100-300Ω，膜厚為200-300?。方塊電阻通常用探針測(cè)試儀來測(cè)定，最常用的方法是直線四探針法。測(cè)量時(shí)是非破壞性的，因此為工廠和科研單位廣泛使用。第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)實(shí)驗(yàn)原理在半無窮的均勻的試樣上，有四根等間距為S的探針排列成一直線。由恒流源向外面兩根探針1，4通入小電流I,測(cè)量中間兩根探針2，3的電位差U，則由U，I，S的值求得樣品的電阻率。第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)直線四探針法測(cè)量電阻率的基本公式，它要求試樣為無窮大，且半導(dǎo)體各邊界與探針的距離大于探針的間距。實(shí)際上當(dāng)試樣的厚度及任一探針與試樣最近的距離至少大于四倍探針間距時(shí)即可以認(rèn)為已滿足上述要求。在樣品無限薄的情況下，可視為二維平面，由上式可得出方塊電阻的計(jì)算公式：?第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)9.6透明導(dǎo)電玻璃透光率的測(cè)定透光率的定義，以透過材料的光通量與入射的光通量之比的百分?jǐn)?shù)表示，實(shí)驗(yàn)儀器采用紫外可見光分光光度計(jì)測(cè)試。第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)薄膜厚度定義有三種：接近于直觀形式的形狀膜厚dT；表現(xiàn)薄膜質(zhì)量的量的概念的質(zhì)量膜厚dM；實(shí)際上很有用的薄膜物性等價(jià)厚度的物性膜厚dP。多數(shù)情況是：dT≥dM≥dP。為了要知道膜厚，人們發(fā)展了各種各樣的膜厚測(cè)試技術(shù)。9.7薄膜厚度的測(cè)定第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)廣泛使用的方法有兩種：一種是用針掃描薄膜表面并將針的上下運(yùn)動(dòng)放大，以機(jī)械方式來確定表面形狀，這種方法稱為觸針法：首先將基片與薄膜之間做出溝槽，形成臺(tái)階形狀，這種觸針法膜厚測(cè)試儀就是臺(tái)階儀。另一種是利用單色光的多次反射干涉而產(chǎn)生鮮明的干涉條紋，根據(jù)條紋的偏移來確定薄膜的厚度，這種方法稱為多光束干涉測(cè)量法(MBI法)，它是所有膜厚測(cè)量方法中最普遍采用的方法之一。測(cè)量形狀膜厚的光學(xué)方法還有等色級(jí)干涉法(FECO法)和雙光束干涉法，另外還有電子顯微鏡法。形狀膜厚的測(cè)量第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)利用重力測(cè)量質(zhì)量的方法和測(cè)量與原子數(shù)對(duì)應(yīng)的量來測(cè)量質(zhì)量的方法：可用化學(xué)天平法、微量天平法、扭力天平法和石英晶體振蕩法。天平法測(cè)量膜厚的缺點(diǎn)是難以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化，石英晶體振蕩法可適用于自動(dòng)化，而且在真空設(shè)備內(nèi)部很容易安裝，其原理是：在石英振蕩器上附著薄膜，使石英的表觀質(zhì)量增加，從而改變了石英的固有振蕩周期，將石英振蕩器組裝到振蕩回路中使薄膜質(zhì)量的變化作為頻率的變化讀出。測(cè)量原子數(shù)量的方法有比色法、熒光X射線法、離子檢測(cè)法和輻射分析法等。質(zhì)量膜厚的測(cè)量第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)物質(zhì)的電阻、光的吸收等多種物理性質(zhì)與物質(zhì)的量有關(guān)系，凡是隨厚度而變化的物理性質(zhì)，按理說都可以用于膜厚測(cè)量，但考慮靈敏度高低，測(cè)量是否簡(jiǎn)便等原因，膜厚測(cè)量中最廣泛利用的是電和光的性質(zhì)。物性膜厚的電學(xué)測(cè)量方法有電阻法、總電壓法、渦流法和電容法；光學(xué)測(cè)量方法有干涉色法、偏振光解析法和光吸收法。物性膜厚的測(cè)量：第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)雙光束干涉原理平行光9.7.1液晶盒間隙的測(cè)定第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)I=I1+I2+2(I1I2)1/2sin(2nd/

)1/

m+1-1/m=2nd干涉法測(cè)量cellgap第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)當(dāng)膜厚遠(yuǎn)小于光的波長(zhǎng)時(shí)，有效的測(cè)量方法是橢偏測(cè)量法。橢圓偏振法廣泛應(yīng)用于測(cè)量光學(xué)薄膜的折射率、厚度等。它的靈敏度高、精度好。對(duì)樣品沒有什么特殊要求，是一種簡(jiǎn)單而有效的測(cè)量方法。在液晶器件物理實(shí)驗(yàn)測(cè)試中，可以用橢圓偏振法測(cè)試玻璃基板上透明電極ITO膜的厚度(

500?)和取向?qū)覲I膜的厚度(

500?)。9.7.2取向膜厚度的測(cè)定第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)橢偏儀測(cè)膜厚和折射率第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)入射光照射樣品時(shí)，通常反射光的振幅減小并且發(fā)生相移。如果在表面上存在一層薄膜，則還會(huì)出現(xiàn)多次反射。各反射光將進(jìn)一步相互干涉，產(chǎn)生強(qiáng)度極大值和極小值。這種干涉效應(yīng)與它們的相對(duì)振幅，各面之間的光程差和相移有關(guān)。第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)薄膜兩側(cè)的介質(zhì)是半無限大的，折射率分別為no和n2。通常no

為環(huán)境(空氣等)的折射率，介質(zhì)n2為襯底。薄膜折射率為n1，它與兩側(cè)介質(zhì)界面平行并且都是理想光滑平面，兩界面之間的距離就是膜厚d。第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)如果入射光是線偏振的，可以將它分解為平行于入射面的P分量和垂直于入射面的S分量。反射以后，兩個(gè)分量則經(jīng)受了不同的相移，而且它們的反射系數(shù)也是不同的。這樣，反射光不再是線偏振的，而呈橢圓偏振。橢偏儀的基本原理第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)

P分量和S分量，經(jīng)過反射后，兩分量可能出現(xiàn)兩種情況：第一，無相移，但強(qiáng)度相對(duì)變化，反射光仍是線偏振光，但振動(dòng)面發(fā)生了轉(zhuǎn)動(dòng)，轉(zhuǎn)角為

；第二，出現(xiàn)了相移（位相差）

Δ＝Δp－Δs，

和Δ就是橢圓偏振法測(cè)量中的兩個(gè)橢偏角?？梢圆捎谜{(diào)整檢偏器的方位角至使通過檢偏器的偏振光達(dá)到消光狀態(tài)來確定反射光偏振轉(zhuǎn)動(dòng)的變化；另外反射光S和Ｐ分量的相移Δ，可以附加光學(xué)元件引入一個(gè)相移來補(bǔ)償Δ

，使之重新變成線偏振光從而確定Δ

。第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)由實(shí)驗(yàn)測(cè)定

和Δ后出現(xiàn)的問題是如何將這兩個(gè)參數(shù)與薄膜的厚度和折射率聯(lián)系起來。在波長(zhǎng)、入射角、襯底等參數(shù)一定的條件下，

和Δ是膜厚d和膜材料折射率n的函數(shù)，即

=(d，n)，Δ=Δ(d，n)。因此反射光與入射光的偏振狀態(tài)不同，這種變化與膜厚和折射率有關(guān)。第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)P光S光的復(fù)反射率比第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)

測(cè)膜厚實(shí)驗(yàn)方法 入射單色平行光束，經(jīng)起偏器P變成線偏振光，通過

／4波片后通常為一橢圓偏振光。光束經(jīng)透明薄膜反射后，其偏振態(tài)即振幅與相位發(fā)生變化，對(duì)于給定的透明薄膜試樣，只要調(diào)節(jié)起偏器P和

／4波片的相對(duì)方位，可使透明薄膜反射后的橢圓偏振光補(bǔ)償成線偏振光。調(diào)節(jié)檢偏器A至消光位置，以確定振幅衰減量。激光橢圓偏振儀第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)(1)將被測(cè)樣品放在載物臺(tái)的中央，旋轉(zhuǎn)載物臺(tái)使達(dá)到預(yù)定的入射角700，并使反射光白屏上形成一亮點(diǎn)。(2)置

／4波片快軸于+450，仔細(xì)調(diào)節(jié)檢偏器A和起偏器P，使白屏上的亮點(diǎn)消失，記下消光點(diǎn)的2套A和P值，A值分別為大于和小于900。第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)（3）然后將

／4波片快軸轉(zhuǎn)到-450，也可以找到兩組消光位置數(shù)值。（4）將測(cè)得的4組數(shù)據(jù)經(jīng)下列公式換算后取平均值，就得到所要求的A和P值：第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)最后查P,A—n,d數(shù)據(jù)表得到n,d

，或者用計(jì)算機(jī)解方程算出透明薄膜的厚度d和折射率n。,當(dāng)膜厚超過一個(gè)周期時(shí)，需用其他方法判斷周期。第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)9.7.3光延遲的測(cè)量光延遲

=(ne-no)d橢偏儀的測(cè)量第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)干涉法測(cè)量光延遲

Cauchy色散關(guān)系:第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)1、測(cè)液晶膜厚2、測(cè)液晶光延遲3、計(jì)算有序度第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)干涉法測(cè)量O光光程nod9.7.4第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)在做液晶盒之前，用橢偏儀分別測(cè)量ITO和取向膜的厚度tITO、tP，使影響光程的未知數(shù)只剩下nod，再以nod

、A1、A2、…A6為擬合參數(shù)擬合I-

曲線，獲得nod。第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)光程nod的測(cè)量擬合第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)干涉法測(cè)量e光光程ned將偏振片光軸平行液晶光軸，透過光強(qiáng)的表達(dá)式中液晶層的光程為ned，且需考慮色散。其它做法同上。第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)

為防止施加電壓時(shí)發(fā)生傾斜疇向錯(cuò)，液晶分子的排列需要有一定的預(yù)傾角。預(yù)傾角的大小與液晶材料、取向劑材料和液晶盒的制作工藝有直接的關(guān)系；同時(shí)，對(duì)于不同扭曲角的器件，又要求有不同的預(yù)傾角。測(cè)定預(yù)傾角的方法有晶體旋轉(zhuǎn)法、電容法、零磁場(chǎng)法和全反射衰減法等，其中，晶體旋轉(zhuǎn)法精度高測(cè)試時(shí)間短而得到廣泛的應(yīng)用.9.8液晶分子預(yù)傾角的測(cè)試實(shí)驗(yàn)第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)晶體旋轉(zhuǎn)法測(cè)定液晶分子預(yù)傾角的原理是根據(jù)液晶的雙折射效應(yīng)：當(dāng)一液晶盒置于偏振方向平行或正交的兩偏光片之間，液晶盒取向?qū)拥哪Σ练较蚺c偏光片的偏振方向成450角；一束單色光通過這一系統(tǒng)時(shí)產(chǎn)生雙折射效應(yīng)；由于液晶層很薄，兩束雙折射光是相干的。如果液晶第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)盒按圖示方向旋轉(zhuǎn)時(shí)，相當(dāng)于e光的折射率改變，故單色光的衍射光強(qiáng)變化。設(shè)

為液晶分子預(yù)傾角，o光和e光位相差表達(dá)式：a為入射角;

為波長(zhǎng);d為液晶盒厚度。第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)當(dāng)光的偏振方向與液晶分子長(zhǎng)軸平行時(shí)，o光和e光的位相差最大，此時(shí)入射角a=am。由此得出:預(yù)傾角

較小(一般TN型

≈30，STN型

≈60)的情況下，n2(

)≈no2,cos

sin

≈

，得出:第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)它適用于更大范圍的預(yù)傾角測(cè)量。當(dāng)

較大時(shí)偏差已很大，把

2展開到三階，得：第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)

當(dāng)液晶盒的厚度較薄時(shí)，對(duì)稱點(diǎn)與非對(duì)稱點(diǎn)的峰或谷的差別不明顯，造成測(cè)試結(jié)果偏離真實(shí)值較遠(yuǎn)，所以應(yīng)用旋轉(zhuǎn)晶體法測(cè)試預(yù)傾角時(shí)，一般要求液晶盒厚大于20um。為測(cè)試薄盒預(yù)傾角，可以對(duì)旋轉(zhuǎn)晶體法進(jìn)行改進(jìn)：加入一恒定位相差，有助于判定對(duì)稱點(diǎn)的準(zhǔn)確位置，可以提高測(cè)試精度。第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)實(shí)驗(yàn)方法晶體旋轉(zhuǎn)法測(cè)試預(yù)傾角的基本裝置如前圖所示。入射偏振器和出射偏振器的偏振方向互相垂直，液晶盒的摩擦方向與偏振器的偏光方向成450，液晶盒可以繞與摩擦方向垂直而且通過液晶層中心的軸旋轉(zhuǎn)，如果液晶盒厚較薄，在光路中加入補(bǔ)償器。由步進(jìn)電機(jī)帶動(dòng)液晶盒轉(zhuǎn)動(dòng)。單色光經(jīng)過液晶盒后產(chǎn)生雙折射，干涉光強(qiáng)度信號(hào)由光電倍增管接收，經(jīng)信號(hào)放大，A/D變換后由計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。計(jì)算機(jī)畫出干涉光強(qiáng)度隨入射角度變化的曲線，通過計(jì)算機(jī)找出曲線上的極值角度am或其兩側(cè)的對(duì)稱峰角度a-i,a+i·，選擇計(jì)算模式計(jì)算出預(yù)傾角。第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)力矩矩9.9（方位）第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)錨定能測(cè)試系統(tǒng)第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)通常有以下幾方面的測(cè)試項(xiàng)目：

(1)對(duì)比度：對(duì)比度的電壓相依性；對(duì)比度的視角相依性；對(duì)比度的波長(zhǎng)相依性。

(2)視角。

(3)閾值電壓和飽和電壓。

(4)功耗電流。

(5)占空比：占空比的電壓、溫度相依性。

(6)響應(yīng)時(shí)間：響應(yīng)時(shí)間的電壓、溫度相依性。9.10液晶器件電光特性的測(cè)定第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)

液晶顯示器的相對(duì)透光率隨外加信號(hào)電壓變化的特性，就是電光響應(yīng)特性。外加電壓高于某個(gè)數(shù)值時(shí)透光率開始變化，此時(shí)的電壓稱為閾值電壓Uth，Uth一般為1～3伏，與液晶的介電常數(shù)和彈性常數(shù)有關(guān)。另外幾個(gè)重要的參數(shù)是Ul0，U50和U90，分別是透光率達(dá)到10％、50％和90％時(shí)對(duì)應(yīng)的外加電壓值。9.10.1閾值電壓和飽和電壓第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)透光率第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)各種測(cè)試儀器的綜合誤差應(yīng)小于被測(cè)量允許誤差的1／3。測(cè)試時(shí)應(yīng)選用合適的量程。各種儀表應(yīng)在各自校驗(yàn)的有效期內(nèi)工作。直流電源電壓波紋系數(shù)不大于±1％，穩(wěn)定度不低于±1％。光源應(yīng)符合國(guó)際照明委員會(huì)（CIE）規(guī)定的A，C兩類光源；應(yīng)使用平行光束，其擴(kuò)散度不大于±100。 液晶顯示器件參數(shù)的測(cè)試應(yīng)在GB2421—81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程總則》規(guī)定的正常大氣條件下(環(huán)境溫度15～350C，相對(duì)濕度為45％～75％以及氣壓為86~10kPa)進(jìn)行。檢測(cè)要求第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)

驅(qū)動(dòng)信號(hào)源電壓為3V，4V，5V，5V，6V，7．5V，9V，12V，15V中一個(gè)或幾個(gè)，頻率為32Hz，l00Hz，200Hz，1000Hz中的一個(gè)或幾個(gè)。驅(qū)動(dòng)信號(hào)源波形為對(duì)稱方波，其周期允許有±1％的變化；其直流分量小于50mV。測(cè)試驅(qū)動(dòng)信號(hào)：驅(qū)動(dòng)方式分為靜態(tài)驅(qū)動(dòng)和動(dòng)態(tài)驅(qū)動(dòng)：加有持續(xù)驅(qū)動(dòng)的信號(hào)為空間分割的靜態(tài)驅(qū)動(dòng)；同時(shí)施加掃描信號(hào)和尋址信號(hào)稱為時(shí)間分割的動(dòng)態(tài)驅(qū)動(dòng)。第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)LCD屬被動(dòng)型顯示器件，不能用亮度標(biāo)定其顯示效果，只能用對(duì)比度來標(biāo)定其顯示效果。對(duì)比度定義：在恒定的照明條件下，液晶顯示器件顯示部分的亮態(tài)與暗態(tài)亮度之比稱為對(duì)比度Cr.液晶顯示器在非選擇段(亮態(tài))透過率與選擇段(暗態(tài))透過率之比值：9.10.2液晶器件對(duì)比度的測(cè)定第8章液晶物理參數(shù)的檢測(cè)式中Te為非選擇段(亮態(tài))的透過率；Td為選擇態(tài)(暗態(tài))的透過率；Ue為光電變換器在亮態(tài)的輸出電壓；Ud為光電變換器在暗態(tài)的輸出電壓。對(duì)比度一般數(shù)值要求不小于3～5。但是，在不同的測(cè)試條件下測(cè)得的顯示對(duì)比度差異是很大的。一般在白光照射