光學：1光的干涉 薄膜干涉

光的干涉

薄膜干涉光學

A．干涉條紋是空氣薄層的上下兩表面的反射光干涉產生的B．N的上表面A處向上凸起C．N的上表面B處向上凸起D．若減少薄片的厚度，則干涉條紋間距會增大E．將薄片向著劈尖移動使劈角變大時，條紋變疏兩張紙片(2)利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度。如圖(a)所示，現(xiàn)使透明標準板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層，并用單色光照射，可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋，條紋的彎曲處P和Q對應于A和B處，下列判斷中正確的是()(1)如圖示裝置，將一塊厚為d平板玻璃放置在另一平板玻璃之上，在一端夾入的兩張紙片，從而在兩玻璃表面之間形成一個劈形空氣薄膜。當光垂直入射后，從上往下看到的干涉條紋如圖所示，這便是薄膜干涉。設每張紙片厚度為x，平板玻璃左端離紙片距離為L，現(xiàn)若將波長為λ的可見光垂直入射到圖裝置后，相鄰兩亮條紋之間的距離為

。(1)從空氣膜的上下表面分別反射的兩列光是相干光，根據(jù)實驗原理有根據(jù)幾何關系有兩張紙片解析光程差為空氣層厚度的2倍，當光程差為波長整數(shù)倍時為亮條紋；聯(lián)立有：Δx：相鄰兩亮條紋之間的距離

解得：

相鄰亮條紋之間空氣層厚度差(1)如圖示裝置，將一塊厚為d平板玻璃放置在另一平板玻璃之上，在一端夾入的兩張紙片，從而在兩玻璃表面之間形成一個劈形空氣薄膜。當光垂直入射后，從上往下看到的干涉條紋如圖所示，這便是薄膜干涉。設每張紙片厚度為x，平板玻璃左端離紙片距離為L，現(xiàn)若將波長為λ的可見光垂直入射到圖裝置后，相鄰兩亮條紋之間的距離為

。A．干涉條紋是空氣薄層的上下兩表面的反射光干涉產生的B．N的上表面A處向上凸起C．N的上表面B處向上凸起D．若減少薄片的厚度，則干涉條紋間距會增大E．將薄片向著劈尖移動使劈角變大時，條紋變疏cde（a）（b）薄片(2)利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度。如圖(a)所示，現(xiàn)使透明標準板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層，并用單色光照射，可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋，條紋的彎曲處P和Q對應于A和B處，下列判斷中正確的是()A．干涉條紋是空氣薄層的上下兩表面的反射光干涉產生的B．N的上表面A處向上凸起C．N的上表面B處向上凸起D．若減少薄片的厚度，則干涉條紋間距會增大E．將薄片向著劈尖移動使劈角變大時，條紋變疏解析

A.用單色光從標準平面上面照射，從楔形空氣薄膜上下表面分別反射的兩列光波頻率相同，符合相干條件，A正確；cde（a）（b）薄片(2)利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度。如圖(a)所示，現(xiàn)使透明標準板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層，并用單色光照射，可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋，條紋的彎曲處P和Q對應于A和B處，下列判斷中正確的是()A．干涉條紋是空氣薄層的上下兩表面的反射光干涉產生的B．N的上表面A處向上凸起C．N的上表面B處向上凸起D．若減少薄片的厚度，則干涉條紋間距會增大E．將薄片向著劈尖移動使劈角變大時，條紋變疏c點本應為暗條紋處，e處本應為亮條紋，解析故B錯誤，C正確；現(xiàn)和d點在一條明條紋上，相當于提前亮了，光程差增大，A處凹陷；cde（a）（b）薄片結果向右邊推后亮了，說明B處光程差減小，可知B處凸起，(2)利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度。如圖(a)所示，現(xiàn)使透明標準板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層，并用單色光照射，可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋，條紋的彎曲處P和Q對應于A和B處，下列判斷中正確的是()薄膜干涉是等厚干涉，同一條亮條紋處光程差相同、空氣膜的厚度相同；條紋的c、d點在同一條亮條紋處，所以c、d兩點對應處的薄膜厚度相同。A．干涉條紋是空氣薄層的上下兩表面的反射光干涉產生的B．N的上表面A處向上凸起C．N的上表面B處向上凸起D．若減少薄片的厚度，則干涉條紋間距會增大E．將薄片向著劈尖移動使劈角變大時，條紋變疏解析cde（a）（b）薄片

D．當減少薄片的厚度，即減小空氣薄層的寬度，導致同級的光程差的間距變大，則干涉條紋間距會增大，故D正確；此兩處的光程差設此兩相鄰亮紋中心的距離為則由幾何關系得d1d2處為兩相鄰亮條紋即D．若減少薄片的厚度減小增大干涉條紋間距增大(2)利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度。如圖(a)所示，現(xiàn)使透明標準板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層，并用單色光照射，可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋，條紋的彎曲處P和Q對應于A和B處，下列判斷中正確的是()A．干涉條紋是空氣薄層的上下兩表面的反射光干涉產生的B．N的上表面A處向上凸起C．N的上表面B處向上凸起D．若減少薄片的厚度，則干涉條紋間距會增大E．將薄片向著劈尖移動使劈角變大時，條紋變疏ACD解析cde（a）（b）薄片

D．當減少薄片的厚度，即減小空氣薄層的寬度，導致同級的光程差的間距變大，則干涉條紋間距會增大，故D正確；E．劈角變大（）變大變小條紋變密解析此兩處的光程差設此兩相鄰亮紋中心的距離為則由幾何關系得d1d2處為兩相鄰亮條紋即(2)利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度。如圖(a)所示，現(xiàn)使透明標準板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層，并用單色光照射，可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋，條紋的彎曲處P和Q對應于A和B處，下列判斷中正確的是()當Δr＝kλ(k＝0，1，2…)時，光屏上P′處出現(xiàn)明條紋。1.

熟記薄膜干涉現(xiàn)象中形成