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第三章測(cè)試經(jīng)濟(jì)學(xué)和產(chǎn)品質(zhì)量3.1測(cè)試經(jīng)濟(jì)學(xué)3.2良率3.3測(cè)量品質(zhì)的缺陷等級(jí)3.1測(cè)試經(jīng)濟(jì)學(xué)總成本（TC）=固定成本（FC）+可變成本（VC）平均成本（AC）=總成本/產(chǎn)量TotalCostCostperIC

VariablecostDieCostWaferSizeYield3.1測(cè)試經(jīng)濟(jì)學(xué)十倍法則：如果一個(gè)芯片故障沒有在芯片測(cè)試時(shí)發(fā)現(xiàn)，那么在PCB級(jí)別發(fā)現(xiàn)故障的成本就是芯片級(jí)別的10倍。如果一個(gè)PCB故障沒有在電路板測(cè)試時(shí)被發(fā)現(xiàn)，那么在系統(tǒng)級(jí)別發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤的成本將是PCB級(jí)別的10倍。3.2良率良率（yield）=好的芯片數(shù)目/生產(chǎn)出來(lái)的總的芯片數(shù)圓片良率：一個(gè)圓片上的好芯片的平均數(shù)3.2良率3.3測(cè)量品質(zhì)的缺陷等級(jí)缺陷級(jí)別：在通過測(cè)試的芯片中，故障芯片所占的比例。通常用每百萬(wàn)個(gè)芯片中的故障芯片數(shù)來(lái)表示（ppm）。EX3.1Therearesomeparametersoftwodifferentprocessofachip.Theexpectedsaleofthischipbetween100,000and500,000.canyoufigureoutthecostofperchipwith65nmand90nmprocess.Everyonecanchooseadifferentprodu

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