液晶配向膜測試方法 第3部分：光電性能 征求意見稿

1液晶配向膜測試方法第3部分光電性能本文件規(guī)定了液晶配向膜光電性能的技術(shù)要求、試驗方法、檢驗規(guī)則。本文件適用于顯示用液晶配向膜。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T18910.61-2021液晶顯示器件第6-1部分：液晶顯示器件測試方法光電參數(shù)3術(shù)語和定義下列術(shù)語和定義適用于本文件。3.1預(yù)傾角（Pretiltangle）液晶配向膜，經(jīng)摩擦配向或光配向后，由于各向異性使得液晶分子與基板表面會維持一個固定夾角。3.2扭曲角（TwistAngle）LCD盒內(nèi)液晶分子沿特定軸的方向旋轉(zhuǎn)至另一個方向的旋轉(zhuǎn)角度。3.3電壓保持率（VoltageHoldingRatio）即為電壓保持率（VoltageHoldingRatio），為LCD保持電壓與LCD寫入電壓的比值，分為電壓比和面積比兩種方式。3.4離子密度（IonDensity）LCD內(nèi)可以移動離子等價的電荷量。4試驗方法2FORMTEXTGB/T丄FORMTEXTXXX4.1預(yù)傾角測試本測試需要采用液晶取向劑制備液晶測試盒。4.1.1測試機理本測試需要將液晶測試盒放置于一個特殊的光學(xué)監(jiān)測裝置，測試示意圖如圖1所示。液晶測試盒放置于兩片光學(xué)偏振板中間，兩片光學(xué)偏振板通過馬達驅(qū)動旋轉(zhuǎn)。當(dāng)入射光通過旋轉(zhuǎn)的光學(xué)偏振板和液晶測試盒后，由于液晶的雙折射效應(yīng)，光學(xué)探頭將監(jiān)測到最終的出射光信號。通過光學(xué)計算公式模擬計算獲取預(yù)傾角的數(shù)值。光學(xué)探頭光學(xué)探頭光學(xué)偏振板液晶測試盒光學(xué)偏振板入射光源圖1預(yù)傾角測試光學(xué)監(jiān)測示意圖4.1.2液晶測試盒制備液晶測試盒制備：a)基板：鍍有氧化銦錫透明導(dǎo)電膜的硼硅玻璃或鈉鈣玻璃；b)在基板導(dǎo)電膜面涂布所需測試的液晶配向膜，并固化；c)配向條件：根據(jù)需求，選擇摩擦配向或光配向；d)盒厚：根據(jù)需求選擇盒厚1~100μm之間；e)灌注液晶類型：相對應(yīng)顯示模式的液晶。4.1.3測試儀器：液晶盒光學(xué)測試系統(tǒng)4.1.4測試環(huán)境：暗室，25℃±2℃、50%±5%RH4.1.5測試設(shè)定測試設(shè)定如下：a)顯示模式設(shè)定：根據(jù)液晶測試盒的實際顯示模式設(shè)定相應(yīng)的測試模式，如TN、VA或IPS模式；b)液晶折射率各向異性參數(shù)設(shè)定：錄入液晶的尋常光折射率no和非尋常光折射率ne；c)設(shè)定量測范圍：錄入液晶測試盒的扭曲角、預(yù)傾角、光學(xué)延遲量的量測范圍。4.1.6測試方法將液晶測試盒放置于儀器的測試平臺上，液晶測試盒在平臺上的擺放，要遵循液晶盒配向角度的方向要與平臺上X軸的方向一致。關(guān)閉暗室，進行測試。計算機通過連接測試儀器，由計算機軟件分析后讀取預(yù)傾角數(shù)值并記錄。3FORMTEXTGB/T丄FORMTEXTXXX4.2扭曲角本測試需要采用液晶配向膜制備液晶測試盒，僅適用于TN、IPS顯示模式的測試。4.2.1測試原理測試原理參考4.1.1條碼的內(nèi)容。扭曲角測試與預(yù)傾角測試采用同一套測試系統(tǒng)，本同時計算輸出數(shù)值結(jié)果。4.2.2液晶測試盒制備液晶測試盒制備如下：a)基板：鍍有氧化銦錫透明導(dǎo)電膜的硼硅玻璃或鈉鈣玻璃；b)在基板導(dǎo)電膜面涂布所需測試的液晶配向膜，并固化；c)配向條件：根據(jù)需求，選擇摩擦配向或光配向；d)盒厚：根據(jù)需求選擇盒厚1~100μm之間；e)灌注液晶類型：相對應(yīng)顯示模式的液晶；4.2.3測試儀器：液晶盒光學(xué)測試系統(tǒng)4.2.4測試環(huán)境：暗室，25±2℃、50±5%RH4.2.5測試設(shè)定測試設(shè)定如下：a)顯示模式設(shè)定：根據(jù)液晶測試盒的實際顯示模式設(shè)定相應(yīng)的測試模式，如TN、IPS模式；b)液晶折射率各向異性參數(shù)設(shè)定：錄入液晶的尋常光折射率no和非尋常光折射率ne；c)設(shè)定量測范圍：錄入液晶測試盒的扭曲角、預(yù)傾角、光學(xué)延遲量的量測范圍。4.2.6測試方法將液晶測試盒放置于儀器的測試平臺上，液晶測試盒在平臺上的擺放，要遵循液晶盒配向角度的方向要與平臺上X軸的方向一致。關(guān)閉暗室，進行測試。計算機通過連接測試儀器，由計算機軟件分析后讀取預(yù)傾角數(shù)值并記錄。4.3電壓保持率4.3.1測試原理液晶電性測試系統(tǒng)對液晶測試盒施加電壓，施加電壓后斷開并監(jiān)測液晶測試盒電極兩端的電壓變化，如圖2為測試加電示意圖，如圖3為電壓保持率計算曲線，根據(jù)公式（2）計算液晶測試盒的電壓保持率。4FORMTEXTGB/T丄FORMTEXTXXXV1電壓電壓保持時間加壓時間保持時間保持時間加壓時間保持時間電壓保持率加壓示意圖V1電壓電壓V2圖3電壓保持率計算示意圖VHRarea=×100%…………………式中：V1為施加于液晶測試盒的電壓，單位為伏特（V）；V2為經(jīng)過保持時間后液晶測試盒的殘留電壓，單位為伏特（V）；SV1為假定的施加于液晶測試盒的電壓V1在經(jīng)過保持時間后100%保持時的積分面積，如圖3虛框部分；5SV2為施加于液晶測試盒的電壓V1在經(jīng)過保持時間后電壓下降曲線的積分面積，如圖3陰影部分。4.3.2液晶測試盒制備液晶測試盒制備如下：a)基板：鍍有氧化銦錫透明導(dǎo)電膜的硼硅玻璃；b)在基板導(dǎo)電膜面涂布所需測試的液晶配向膜，并固化；c)配向條件：根據(jù)需求，選擇摩擦配向或光配向；d)盒厚：根據(jù)需求選擇盒厚1~100μm之間，一般采用4μm；e)灌注液晶類型：相對應(yīng)顯示模式的液晶。4.3.3測試條件測試條件如下：a)測量設(shè)備：液晶電性測試系統(tǒng)b)測試電壓：5V/3V/1Vc)測試波形：方波（square）d)加壓時間：60μse)保持時間：一般設(shè)定為1.667s，根據(jù)實際需求，可以設(shè)定為0.1667、16.67s；f)測量溫度：60℃,烘箱要求控溫精度0.1℃以內(nèi)。4.3.4測試方法按照以下步驟順序進行測試：a)測試前先要將待測液晶測試盒的兩極通過導(dǎo)線連接至設(shè)備測試電極，置于電磁屏蔽盒內(nèi)，并連同電磁屏蔽盒一起置于高溫烘箱內(nèi)加熱；b)測試設(shè)備開機，并設(shè)定測試電壓、加壓時間、保持電壓數(shù)值；c)啟動烘箱60℃加熱30min后開始測試，測試完畢讀取電壓保持率VHRarea數(shù)值。4.4離子濃度4.4.1測試原理通過將對液晶測試盒的電極施加三角波形的電壓，并在此施加周期內(nèi)監(jiān)測液晶測試盒的電流隨電壓的變化。當(dāng)施加電壓隨三角波形變化時，雜質(zhì)離子在液晶測試盒內(nèi)移動，形成電流，該電流會在電流與電壓的關(guān)系曲線中形成一個波峰，如圖4所示。此波峰的積分面積即為液晶測試盒的離子濃度。6FORMTEXTGB/T丄FORMTEXTXXX電流（A）電壓（V）圖4離子濃度測試曲線圖4.4.2液晶測試盒制備參考4.3.2中的液晶測試盒制作條件。4.4.3測試條件測試條件如下：a)測量設(shè)備：液晶電性測試系統(tǒng)；b)測試電壓：5V/2.5V；c)測試波形：三角波（triangle）；d)測試頻率（Frequency）：0.01Hz；e)測量溫度：60℃,烘箱要求控溫精度0.1℃以內(nèi)。4.4.4測試方法按照以下步驟順序進行測試：a)測試前先要將待測液晶測試盒的兩極通過導(dǎo)線連接至設(shè)備測試電極，置于電磁屏蔽盒內(nèi)，并連同電磁屏蔽盒一起置于高溫烘箱內(nèi)加熱；b)在設(shè)備設(shè)置界面內(nèi)設(shè)定測試電壓、頻率；c)啟動烘箱60℃加熱30min后開始測試；d)測試完畢后，如圖4中離子濃度測試曲線，采用切線法獲取陰影區(qū)域，并對陰影區(qū)域面積進行積分，即得到離子濃度的數(shù)值。5檢驗規(guī)則5.1檢驗分類按照檢驗的目的分為開發(fā)檢驗、出廠檢驗。5.2組批每一個生產(chǎn)主體設(shè)備的每一個連續(xù)工藝處理過程所得到的產(chǎn)品為一組批。7FORMTEXTGB/T丄FORMTEXTXXX5.3抽樣原則抽樣原則如下：a)從每一組批中平行取樣兩份，每份250g,其中一份用于檢測，另一份用于留樣；b)用抽樣的樣品代表該組批的檢驗。5.4開發(fā)檢驗在產(chǎn)品的每一組批均應(yīng)進行生產(chǎn)完成時，均應(yīng)進行一次檢驗。5.5