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第6頁EL1202+EL2202EL1262+EL2262XFCEL1202+EL2202EL1262+EL2262XFC模塊和超采樣模塊測試摘要:本文測試了EL1202、EL2202、EL1262、EL2262XFC/超采樣模塊在不同周期下的測試結(jié)果。附件:序號文件名備注歷史版本:免責(zé)聲明:我們已對本文檔描述的內(nèi)容做測試。但是差錯在所難免,無法保證絕對正確并完全滿足您的使用需求。本文檔的內(nèi)容可能隨時更新,如有改動,恕不事先通知,也歡迎您提出改進建議。參考信息:目錄1. 軟硬件版本 31.1. 倍福Beckhoff 31.1.1. 控制器和IO硬件 31.1.2. 系統(tǒng)和控制軟件 31.2. 數(shù)字示波器 31.2.1. 品牌、型號及生產(chǎn)廠家 32. EL1202+EL2202XFC模塊測試 32.1. 測試環(huán)境 32.1.1. 測試Basetime設(shè)為200us 32.1.2. 測試Basetime設(shè)為100us 52.1.3. 測試Basetime設(shè)為50us 63. EL1262+EL2262超采樣模塊測試 83.1. 測試環(huán)境一(超采樣細分設(shè)置為1) 83.1.1. 測試Basetime設(shè)為200us 83.1.2. 測試Basetime設(shè)為100us 103.1.3. 測試Basetime設(shè)為50us 113.2. 測試環(huán)境二(超采樣細分設(shè)置為50) 133.2.1. 測試Basetime設(shè)為50us 133.3. 測試環(huán)境三(超采樣細分設(shè)置為100) 153.3.1. 測試Basetime設(shè)為200us 153.3.2. 測試Basetime設(shè)為100us 173.4. 測試環(huán)境三(超采樣細分設(shè)置為200) 183.4.1. 測試Basetime設(shè)為200us 18
軟硬件版本倍福Beckhoff控制器和IO硬件嵌入式控制器:CX5130-0125一臺EL1202EL2202EL1262EL2262各一個系統(tǒng)和控制軟件筆記本編程電腦系統(tǒng)為WIN10企業(yè)版,TwinCAT3版本v3.1.4024.32控制器系統(tǒng)是WES7,TwinCAT3版本v3.1.4024.7數(shù)字示波器品牌、型號及生產(chǎn)廠家RIGOLDS1052E北京普源精電科技有限公司EL1202+EL2202XFC模塊測試測試環(huán)境模擬客戶的程序,建兩個PLCTask,一個掃描周期快,一個掃描周期慢;一個NCTask,4個NC軸;分核處理,I/OIdleTask一個核,PLCTask和NCTask一個核;任務(wù)優(yōu)先級,由高到低依次為:掃描周期快的PLCTask>NCTask>I/OIdleTask>掃描周期慢的PLCTask。在程序中把EL1202的通道1賦值給EL2202的通道1,目的就是觀察EL1202采集到這個電信號到EL2202輸出這個電信號的最快響應(yīng)時間是多久。測試Basetime設(shè)為200us任務(wù)循環(huán)周期和優(yōu)先級設(shè)置如下圖: 測試結(jié)果:1. 4個NC軸通過程序控制,分別以不同的速度獨立運行,CPU占用率8%;2. 超周期計數(shù)為0,沒有出現(xiàn)超周期的情況;3. EL1202+EL2202響應(yīng)時間,在有限的測試次數(shù)下統(tǒng)計在210-280us范圍內(nèi)。數(shù)字示波器采集圖樣如下:圖一圖二圖三測試Basetime設(shè)為100us任務(wù)循環(huán)周期和優(yōu)先級設(shè)置如下圖: 測試結(jié)果:1. 4個NC軸通過程序控制,分別以不同的速度獨立運行,CPU占用率13%;2. 超周期計數(shù)為0,沒有出現(xiàn)超周期的情況;3. EL1202+EL2202響應(yīng)時間,在有限的測試次數(shù)下統(tǒng)計在108-150us范圍內(nèi)。數(shù)字示波器采集圖樣如下:圖一圖二圖三測試Basetime設(shè)為50us任務(wù)循環(huán)周期和優(yōu)先級設(shè)置如下圖: 測試結(jié)果:1. 4個NC軸通過程序控制,分別以不同的速度獨立運行,CPU占用率26%;2. 超周期;3. EL1202+EL2202響應(yīng)時間,在有限的測試次數(shù)下統(tǒng)計在60-90us范圍內(nèi)。數(shù)字示波器采集圖樣如下:圖一圖二圖三EL1262+EL2262超采樣模塊測試測試環(huán)境一(超采樣細分設(shè)置為1)模擬客戶的程序,建兩個PLCTask,一個掃描周期快,一個掃描周期慢;一個NCTask,4個NC軸;分核處理,I/OIdleTask一個核,PLCTask和NCTask一個核;任務(wù)優(yōu)先級,由高到低依次為:掃描周期快的PLCTask>NCTask>I/OIdleTask>掃描周期慢的PLCTask。在程序中把EL1262的通道1賦值給EL2262的通道1,EL1262和EL2262是超采樣模塊,所以細分設(shè)置為1,目的就是觀察EL1262采集到這個電信號到EL2262輸出這個電信號的最快響應(yīng)時間是多久。測試Basetime設(shè)為200us任務(wù)循環(huán)周期和優(yōu)先級設(shè)置如下圖:EL1262和EL2262的細分設(shè)置為1,如下圖: 測試結(jié)果:1. 4個NC軸通過程序控制,分別以不同的速度獨立運行,CPU占用率7%;2. 不超周期;3.EL1262+EL2262響應(yīng)時間,在有限的測試次數(shù)下統(tǒng)計在505-680us范圍內(nèi)。數(shù)字示波器采集圖樣如下:圖一圖二圖三
測試Basetime設(shè)為100us任務(wù)循環(huán)周期和優(yōu)先級設(shè)置如下圖:EL1262和EL2262的細分設(shè)置為1,如下圖: 測試結(jié)果:1. 4個NC軸通過程序控制,分別以不同的速度獨立運行,CPU占用率16%;2. 不超周期;3.EL1262+EL2262響應(yīng)時間,在有限的測試次數(shù)下統(tǒng)計在260-360us范圍內(nèi)。數(shù)字示波器采集圖樣如下:圖一圖二圖三測試Basetime設(shè)為50us任務(wù)循環(huán)周期和優(yōu)先級設(shè)置如下圖:EL1262和EL2262的細分設(shè)置為1,如下圖: 測試結(jié)果:1. 4個NC軸通過程序控制,分別以不同的速度獨立運行,CPU占用率28%;2. 超周期;3.EL1262+EL2262響應(yīng)時間,在有限的測試次數(shù)下統(tǒng)計在150-180us范圍內(nèi)。數(shù)字示波器采集圖樣如下:圖一圖二圖三測試環(huán)境二(超采樣細分設(shè)置為50)模擬客戶的程序,建兩個PLCTask,一個掃描周期快,一個掃描周期慢;一個NCTask,4個NC軸;分核處理,I/OIdleTask一個核,PLCTask和NCTask一個核;任務(wù)優(yōu)先級,由高到低依次為:掃描周期快的PLCTask>NCTask>I/OIdleTask>掃描周期慢的PLCTask。在程序中把EL1262的通道1賦值給EL2262的通道1,細分設(shè)置為50,目的就是觀察EL1262采集到這個電信號到EL2262輸出這個電信號的最快響應(yīng)時間是多久,響應(yīng)時間是否穩(wěn)定測試Basetime設(shè)為50us任務(wù)循環(huán)周期和優(yōu)先級設(shè)置如下圖:EL1262和EL2262的細分設(shè)置為50,如下圖: 測試結(jié)果:1. 4個NC軸通過程序控制,分別以不同的速度獨立運行,CPU占用率31%;2. 超周期;3.EL1262+EL2262響應(yīng)時間,在有限的測試次數(shù)下響應(yīng)時間穩(wěn)定在230us左右。圖一圖二圖三測試環(huán)境三(超采樣細分設(shè)置為100)模擬客戶的程序,建兩個PLCTask,一個掃描周期快,一個掃描周期慢;一個NCTask,4個NC軸;分核處理,I/OIdleTask一個核,PLCTask和NCTask一個核;任務(wù)優(yōu)先級,由高到低依次為:掃描周期快的PLCTask>NCTask>I/OIdleTask>掃描周期慢的PLCTask。在程序中把EL1262的通道1賦值給EL2262的通道1,細分設(shè)置為100,目的就是觀察EL1262采集到這個電信號到EL2262輸出這個電信號的最快響應(yīng)時間是多久,響應(yīng)時間是否穩(wěn)定。測試Basetime設(shè)為200us任務(wù)循環(huán)周期和優(yōu)先級設(shè)置如下圖:EL1262和EL2262的細分設(shè)置為100,如下圖: 測試結(jié)果:1. 4個NC軸通過程序控制,分別以不同的速度獨立運行,CPU占用率8%;2. 不超周期;3.EL1262+EL2262響應(yīng)時間,在有限的測試次數(shù)下響應(yīng)時間穩(wěn)定在505us左右。圖一圖二圖三
測試Basetime設(shè)為100us任務(wù)循環(huán)周期和優(yōu)先級設(shè)置如下圖:EL1262和EL2262的細分設(shè)置為100,如下圖: 測試結(jié)果:1. 4個NC軸通過程序控制,分別以不同的速度獨立運行,CPU占用率17%;2. 超周期計算測得有1次超周期;3.EL1262+EL2262響應(yīng)時間,在有限的測試次數(shù)下響應(yīng)時間穩(wěn)定在265us左右。圖一圖二圖三測試環(huán)境三(超采樣細分設(shè)置為200)模擬客戶的程序,建兩個PLCTask,一個掃描周期快,一個掃描周期慢;一個NCTask,4個NC軸;分核處理,I/OIdleTask一個核,PLCTask和NCTask一個核;任務(wù)優(yōu)先級,由高到低依次為:掃描周期快的PLCTask>NCTask>I/OIdleTask>掃描周期慢的PLCTask。在程序中把EL1262的通道1賦值給EL2262的通道1,細分設(shè)置為200,目的就是觀察EL1262采集到這個電信號到EL2262輸出這個電信號的最快響應(yīng)時間是多久,響應(yīng)時間是否穩(wěn)定。測試Basetime設(shè)為200us任務(wù)循環(huán)周期和優(yōu)先級設(shè)置如下圖:EL1262和EL2262的細分設(shè)置為200,如下圖: 測試結(jié)果:1. 4個NC軸通過程序控制,分別以不同的速度獨立運行,CPU占用率7%;2. 不超周期;3.EL1262+EL2262響應(yīng)時間,在有限的測試次數(shù)下響應(yīng)時間穩(wěn)定在505us左右。圖一圖二圖三
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