標準解讀
《JJF 2174-2024 旋光儀及旋光糖量計用低透過率模擬器校準規(guī)范》為國家計量技術(shù)規(guī)范,主要針對用于旋光儀及旋光糖量計的低透過率模擬器的校準過程制定了詳細的技術(shù)要求與方法。該標準適用于新制造、使用中以及修理后的此類設(shè)備,旨在確保其測量結(jié)果的一致性和準確性。
在適用范圍方面,明確指出本規(guī)范適用于所有符合特定條件的低透過率模擬器,這些條件包括但不限于模擬器的設(shè)計原理、工作波長范圍等。此外,還對參與校準工作的人員提出了資格要求,強調(diào)了需具備相應(yīng)專業(yè)知識和技能的重要性。
對于校準環(huán)境條件,《JJF 2174-2024》給出了具體規(guī)定,如溫度、濕度控制等,以保證在校準時外界因素不會對結(jié)果造成顯著影響。同時,標準內(nèi)也列舉了必要的校準設(shè)備及其性能指標要求,確保所使用的儀器能夠滿足高精度測量的需求。
校準項目主要包括但不限于:透射比準確度、重復性、穩(wěn)定性等關(guān)鍵參數(shù)。每個項目的測試方法都經(jīng)過精心設(shè)計,并附有詳細的步驟說明,以便于操作者遵循執(zhí)行。此外,還提供了數(shù)據(jù)處理方式及不確定度評定指南,幫助用戶正確分析實驗結(jié)果并評估其可靠性。
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....
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- 即將實施
- 暫未開始實施
- 2024-10-19 頒布
- 2025-04-19 實施
文檔簡介
中華人民共和國國家計量技術(shù)規(guī)范
JJF2174—2024
旋光儀及旋光糖量計用
低透過率模擬器校準規(guī)范
CalibrationSpecificationforLowTransmittanceSimulatorsof
PolarimetersandPolarimetricSaccharimetersCalibration
2024-10-19發(fā)布2025-04-19實施
國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布
JJF2174—2024
旋光儀及旋光糖量計用
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TransmittanceSimulatorsofPolarimeters
andPolarimetricSaccharimetersCalibration
歸口單位全國物理化學計量技術(shù)委員會
:
主要起草單位黑龍江省計量檢定測試研究院
:
新疆維吾爾自治區(qū)計量測試研究院
遼寧省計量科學研究院
參加起草單位黑龍江省墾區(qū)質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督檢驗檢測中心
:
本規(guī)范委托全國物理化學計量技術(shù)委員會負責解釋
JJF2174—2024
本規(guī)范主要起草人
:
丁海銘黑龍江省計量檢定測試研究院
()
郭麗新疆維吾爾自治區(qū)計量測試研究院
()
陶成遼寧省計量科學研究院
()
參加起草人
:
于亞洲黑龍江省計量檢定測試研究院
()
張濤黑龍江省計量檢定測試研究院
()
王玉晶黑龍江省墾區(qū)質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督檢驗檢測中心
()
JJF2174—2024
目錄
引言
………………………(Ⅱ)
范圍
1……………………(1)
引用文件
2………………(1)
術(shù)語
3……………………(1)
概述
4……………………(1)
計量特性
5………………(1)
校準條件
6………………(2)
環(huán)境條件
6.1……………(2)
測量標準及其他設(shè)備
6.2………………(2)
校準項目和校準方法
7…………………(2)
校準前檢查
7.1…………(2)
透射比
7.2………………(2)
校準結(jié)果的表達
8………………………(3)
復校時間間隔
9…………(4)
附錄光譜中性衰減低透過率模擬器的透射比相對偏差測量結(jié)果的不確定度
A
評定示例
………………………(5)
附錄機械斬波低透過率模擬器的透射比相對偏差測量結(jié)果的不確定度
B
評定示例
………………………(7)
附錄校準記錄格式參考
C()………(10)
附錄校準證書內(nèi)頁格式
D()………(15)
Ⅰ
JJF2174—2024
引言
國家計量校準規(guī)范編寫規(guī)則通用計量術(shù)語及
JJF1071—2010《》、JJF1001—2011《
定義測量不確定度評定與表示共同構(gòu)成支撐本規(guī)范制定工作
》、JJF1059.1—2012《》
的基礎(chǔ)性系列規(guī)范本規(guī)范主要參考了旋光儀及旋光糖量計中的技
。JJG536—2015《》
術(shù)要求
。
本規(guī)范為首次發(fā)布
。
Ⅱ
JJF2174—2024
旋光儀及旋光糖量計用
低透過率模擬器校準規(guī)范
1范圍
本規(guī)范適用于旋光儀及旋光糖量計檢定用低透過率模擬器的校準
。
2引用文件
本規(guī)范引用了下列文件
:
旋光儀及旋光糖量計
JJG536—2015
光學儀器術(shù)語
GB/T13962—2009
凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本規(guī)范凡是不注日期的引用文
,;
件其最新版本包括所有的修改單適用于本規(guī)范
,()。
3術(shù)語
光切法
3.1light-sectionmethod
測定物體表面微觀形狀粗糙度等的光學方法用細縫狀的光束像刀刃那樣切截被
、。
測物體表面從側(cè)面觀測在物體表面產(chǎn)生的切割線的形狀
,。
來源
[:GB/T13962—2009,8.21]
4概述
低透過率模擬器是用于檢定旋光儀及旋光糖量計低透過率示值誤差的輔助設(shè)備常
,
用的低透過率模擬器有光譜中性衰減低透過率模擬器機械斬波低透過率模擬器
、。
光譜中性衰減低透過率模擬器使用光譜中性衰減片機械斬波低透過率模擬器通過
、
高速電機帶動扇形缺口斬光片的旋轉(zhuǎn)對入射光光通量的衰減來模擬檢定旋光儀及旋
溫馨提示
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