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文檔簡介
ICS71.040.10
CCSN69
團體標準
T/CAQIXXXX—XXXX
金剛石制備微波等離子體化學(xué)氣相沉積
設(shè)備
Diamondpreparation—Microwaveplasmachemicalvapordepositionequipment
(征求意見稿)
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2023-XX-XX發(fā)布2023-XX-XX實施
中國質(zhì)量檢驗協(xié)會發(fā)布
T/CAQIXXXX—XXXX
目次
前言.................................................................................II
1范圍...............................................................................1
2規(guī)范性引用文件.....................................................................1
3術(shù)語和定義.........................................................................1
4縮略語.............................................................................2
5設(shè)備原理及分類.....................................................................2
6技術(shù)要求...........................................................................2
7技術(shù)參數(shù)...........................................................................5
8檢驗及測試.........................................................................5
9檢驗規(guī)則...........................................................................8
10標志和包裝........................................................................9
I
T/CAQIXXXX—XXXX
前言
本文件按照GB/T1.1—2020《標準化工作導(dǎo)則第1部分:標準化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定
起草。
請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔識別專利的責(zé)任。
本文件由中國質(zhì)量檢驗協(xié)會提出并歸口。
本文件起草單位:XX、XX、XX、XX。
本文件主要起草人:XX、XX、XX、XX。
II
T/CAQIXXXX—XXXX
金剛石制備微波等離子體化學(xué)氣相沉積設(shè)備
1范圍
本文件規(guī)定了用于制備金剛石的微波等離子體化學(xué)氣相沉積設(shè)備(以下簡稱MPCVD設(shè)備)的術(shù)語和
定義、縮略語、設(shè)備原理及分類、一般要求、設(shè)計要求、安全性要求、運行要求、安全聯(lián)鎖、技術(shù)參數(shù)、
檢驗及測試、檢驗規(guī)則、標志和包裝等。
本文件適用于金剛石制備用途的微波模式為單模、多模的微波等離子體化學(xué)氣相沉積設(shè)備。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,
僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本
文件。
GB/T1804—2000一般公差未注公差的線性和角度尺寸的公差
GB/T5080.7—1986設(shè)備可靠性試驗恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗
方案
GB/T5226.1—2019機械電氣安全機械電氣設(shè)備第1部分:通用技術(shù)條件
GB5959.6—2008電熱裝置的安全第6部分工業(yè)微波加熱設(shè)備的安全規(guī)范
GB/T7251.1—2013低壓成套開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備第1部分:總則
GB/T13384—2008機電產(chǎn)品包裝通用技術(shù)條件
GB/T32218—2015真空技術(shù)真空系統(tǒng)漏率測試方法
GBZ2.2—2017工作場所有害因素職業(yè)接觸限值第2部分:物理因素
3術(shù)語和定義
下列術(shù)語和定義適用于本文件。
3.1
微波等離子體化學(xué)氣相沉積設(shè)備microwaveplasmachemicalvapordeposition
equipment(MPCVD)
在近真空環(huán)境下通過微波能量將原料氣體加熱和離解,使其產(chǎn)生高密度等離子體,發(fā)生化學(xué)反應(yīng)沉
積高品質(zhì)金剛石膜的設(shè)備。
3.2
沉積溫度depositiontemperature
沉積金剛石膜(單晶、多晶或其他微電子固體薄膜)時,基片需要達到的溫度。
3.3
沉積壓強depositionpressure
沉積金剛石膜的工藝過程中,滿足沉積工藝要求的工作壓強。
3.4
氣密性airtightness
氣體密封性能的優(yōu)劣程度。
3.5
微波泄漏microwaveleakage
MPCVD設(shè)備微波系統(tǒng)中泄漏出的微波輻射能。
3.6
膜厚均勻性filmthicknessuniformity
沉積金剛石膜厚不均勻程度的最大誤差分布值。
1
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4縮略語
下列縮略語使用于本文件中。
CDA清潔干燥的空氣(Cleandryair)
MTBF平均無故障工作時間(Meantimebetweenfailure)
MTTR平均維修時間(Meantimetorepair)
MFC氣體質(zhì)量流量計(Gasmassflowmeter)
5設(shè)備原理及分類
5.1設(shè)備原理
設(shè)備由微波源產(chǎn)生微波,經(jīng)波導(dǎo)管傳輸至微波模式轉(zhuǎn)換器,微波模式轉(zhuǎn)換后,微波進入諧振腔內(nèi)形
成強電場區(qū)域,將輸入諧振腔內(nèi)的反應(yīng)氣體在強電場作用下,激發(fā)成等離子體產(chǎn)生化學(xué)反應(yīng),沉積金剛
石膜。
5.2分類
MPCVD設(shè)備根據(jù)諧振腔內(nèi)微波模式,可分為:單模、多模兩種類型,兩種微波模式激發(fā)等離子體產(chǎn)
生化學(xué)反應(yīng)沉積金剛石膜的原理一致。設(shè)備結(jié)構(gòu)根據(jù)微波饋入方式、腔內(nèi)微波模式、等離子體狀態(tài)、材
料制備等,要求不同結(jié)構(gòu)不同,其具體結(jié)構(gòu)由各廠家自行規(guī)定。
注:微波在諧振腔內(nèi)的模式為單一的模式(波形),稱為“單?!?。微波在諧振腔內(nèi)部反射震蕩,使得諧振腔內(nèi)形
成多種微波模式(波形),稱為“多?!?。
以頂部饋入微波的單模類型為例:見圖1。
標引序號說明:
1——微波發(fā)射器;6——介電窗;
2——波導(dǎo)管;7——等離子體;
3——模式轉(zhuǎn)換器;8——沉積臺;
4——諧振腔;9——排氣口;
5——進氣口;10——冷卻裝置。
圖1MPCVD單模設(shè)備示意圖
6技術(shù)要求
6.1一般要求
2
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6.1.1機柜表面涂層不應(yīng)有明顯的凹痕、劃傷、露底、脫落等缺陷。柜體表面平整、焊縫均勻、無虛
焊、漏焊、銹蝕等。
6.1.2設(shè)備外觀標識文字清晰,準確,無傾斜、無翹角等。
6.1.3設(shè)備應(yīng)具有相應(yīng)的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性和足夠的機械強度。
6.1.4設(shè)備氣體管道、液體管道等無漏氣、漏液現(xiàn)象。
6.1.5設(shè)備機械結(jié)構(gòu)運轉(zhuǎn)靈活,無卡滯、無異響。
6.2設(shè)計要求
6.2.1組件
所有處于設(shè)備內(nèi)部的組件、原材料等,應(yīng)可適應(yīng)設(shè)計要求,各種材料在工作條件下,不造成微波泄漏、
真空泄漏或設(shè)備變形、損壞。組件應(yīng)按設(shè)計要求加工,圖面未注公差按GB/T1804—2000第5.1條的精密
f級管控。
6.2.2控制系統(tǒng)
控制系統(tǒng)應(yīng)能對設(shè)備的電氣參數(shù)、機械動作位置、氣體質(zhì)量流量、冷卻液狀態(tài)等主要指標進行監(jiān)測
和控制,并對異常情況顯示報警,應(yīng)有措施能防止故障擴大或切斷設(shè)備電源。
6.2.3真空系統(tǒng)
6.2.3.1真空系統(tǒng)的氣體管道及設(shè)備關(guān)聯(lián)的外部氣體管道應(yīng)使用耐腐蝕不銹鋼材料。
6.2.3.2管路中必要位置應(yīng)加裝過濾器,防止管路中的閥體受粉塵和其他雜質(zhì)堵塞。
6.2.3.3設(shè)備真空系統(tǒng)應(yīng)配備自動控制閥,設(shè)備意外停止時能自動關(guān)閉真空系統(tǒng)。
6.2.4微波系統(tǒng)
6.2.4.1應(yīng)具有良好的防泄漏裝置,保證操作位上人員的安全性。
6.2.4.2腔體與微波源在荷載情況下,應(yīng)具有良好的匹配,微波源正常運行時反射功率應(yīng)為零。
6.2.4.3微波模式轉(zhuǎn)換器應(yīng)能最大限度轉(zhuǎn)換微波能量,減少損耗,保證等離子體能量均勻性。
6.2.5冷卻系統(tǒng)
6.2.5.1冷卻系統(tǒng)的管路應(yīng)具有足夠長度、柔性和彎曲半徑,可承受由冷卻液產(chǎn)生的高壓和應(yīng)力,即
使管道堵塞,也不應(yīng)漏液。
6.2.5.2冷卻系統(tǒng)管路應(yīng)標出冷卻液流動方向。
6.2.5.3冷卻系統(tǒng)應(yīng)能集中控制,分別調(diào)節(jié)冷卻液流量,監(jiān)測支路中冷卻液的溫度、流量、壓力。
6.3安全性要求
6.3.1電氣安全要求
6.3.1.1電氣設(shè)備的連接和布線均應(yīng)符合GB/T5226.1—2019第13.1條的規(guī)定。
6.3.1.2電氣設(shè)備保護聯(lián)結(jié)電路應(yīng)首選銅質(zhì)導(dǎo)線,保護聯(lián)結(jié)電路所有部件的設(shè)計,應(yīng)能承受保護聯(lián)結(jié)
電路中由于流過接地故障電流所產(chǎn)生的最高熱應(yīng)力和機械應(yīng)力,保護導(dǎo)線截面積應(yīng)符合GB/T5226.1
—2019第8.2.2條規(guī)定。
6.3.1.3絕緣電阻:≥1MΩ。
6.3.1.4接地電阻:≤0.1Ω。
6.3.1.5漏電流:≤0.75mA。
6.3.1.6耐壓:設(shè)備應(yīng)能承受50Hz、2000V、5s的耐壓試驗,應(yīng)符合GB/T5226.1—2019第18.4
條的規(guī)定。
6.3.1.7電擊防護應(yīng)符合GB/T5226.1—2019第6章和GB/T7251.1—2013第8.4條要求,設(shè)備運行
或故障時,應(yīng)具備保護人們免受電擊的能力。
6.3.1.8設(shè)備機柜、水泵、油泵等應(yīng)可靠接地,安裝場所接地電阻應(yīng):≤3Ω。
6.3.1.9設(shè)備可靠性(MTBF)及維修性(MTTR),MTBF:≥500h,MTTR:≤4h。
6.3.2微波安全要求
3
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6.3.2.1為保證設(shè)備整體微波泄漏功率密度,分為3個模塊管控微波泄漏功率密度:
6.3.2.2諧振腔;
6.3.2.3波導(dǎo)管;
6.3.2.4微波源。
6.3.2.5各個模塊裝配后,系統(tǒng)整體微波泄漏功率應(yīng):≤1mW/cm2。
6.3.2.6微波泄漏的防護應(yīng)符合GB5959.6—2008第6章的規(guī)定,微波加熱設(shè)備的設(shè)計、制造和運行
應(yīng)能有效防止微波泄漏產(chǎn)生的輻射危險。
6.3.2.7設(shè)備開啟時,系統(tǒng)應(yīng)有醒目的綠色微波工作指示燈,作為微波工作信號,不得在無吸收和負
載的情況下開啟微波系統(tǒng)。
6.3.2.8設(shè)備操作應(yīng)符合GB5959.5—2014第6章等離子體系統(tǒng)和設(shè)備的操作的規(guī)定。
6.3.2.9MPCVD設(shè)備使用場所的微波輻射衛(wèi)生要求,應(yīng)符合GBZ2.2—2017第8.2條的規(guī)定。
6.3.3使用安全要求
由于MPCVD設(shè)備的沉積工藝中可能使用易燃、易爆或有毒的氣體,為了保證設(shè)備安全與人身安全,
特提出以下要求:
a)設(shè)備運行環(huán)境中應(yīng)配有相應(yīng)的易燃、易爆氣體監(jiān)測設(shè)備。
b)MPCVD設(shè)備真空系統(tǒng)、微波系統(tǒng)、氣體管道、連接機構(gòu)、安全聯(lián)鎖裝置、氣瓶柜等關(guān)鍵部件,
都應(yīng)安全可靠工作,如有裝置失效或功能異常時禁止開機使用。
c)設(shè)備安裝后應(yīng)進行氣體泄漏測試,保證運行設(shè)備無泄漏。
d)MPCVD設(shè)備的氣密性、極限真空度未達到本文件規(guī)定的技術(shù)要求時,應(yīng)排除漏點,使設(shè)備滿足
要求后開機使用。
e)應(yīng)定期檢查設(shè)備微波泄漏功率密度是否符合要求。
f)當采用氧氣作為催化劑時,應(yīng)確認其混合氣體的比例在安全范圍內(nèi),防止爆炸。
g)氣體管路安裝的密閉柜體應(yīng)有內(nèi)徑Ф≥40mm的排氣端口,防止可燃氣體累積導(dǎo)致爆炸。
h)設(shè)備應(yīng)有固定裝置,防止地震或其他意外情況時設(shè)備傾倒。
i)設(shè)備運行環(huán)境應(yīng)有良好的廢氣排放措施,場所排廢通道內(nèi)徑Ф≥50mm,如反應(yīng)氣體為有毒有
害的危險氣體,或反應(yīng)生成物中含有有毒有害物質(zhì),需加裝報警裝置和尾氣處理裝置與設(shè)備配
套使用。
6.4運行要求
設(shè)備運行條件符合表1的要求。
表1設(shè)備運行要求
序號項目要求單位
1運行環(huán)境溫度20~26℃
2運行環(huán)境濕度25%~75%(無凝露)-
3冷卻水電導(dǎo)率<150ms/m
4冷卻水硬度<15°dH
5冷卻水溫16~20,無凝露℃
6冷卻進水壓力0.6~0.8MPa
7進水/回水壓差≥0.42MPa
8CDA進氣溫度15~20℃
9電源380±10%、三相五線制VAC
10頻率50/60Hz
11安裝場所接地電阻≤3Ω
12微波頻率915/2450MHz
6.5安全聯(lián)鎖
6.5.1氣體流量偏差報警
MPCVD設(shè)備應(yīng)具有反應(yīng)氣體流量超出設(shè)定時的報警功能,并設(shè)置安全防護。
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6.5.2冷卻水流量偏差報警
MPCVD設(shè)備應(yīng)具有冷卻水流量超出設(shè)定時的報警功能。當水流量偏差超出設(shè)定時,設(shè)備自動報警。
6.5.3諧振腔壓力異常報警
MPCVD設(shè)備應(yīng)具有諧振腔壓力超出設(shè)定時的報警功能,設(shè)備自動停止運行。
6.5.4微波系統(tǒng)反射功率異常報警
當微波系統(tǒng)反射功率超出設(shè)定時,微波系統(tǒng)應(yīng)自動異常報警,設(shè)備進入保護狀態(tài),微波系統(tǒng)自動停
止運行。
6.5.5微波系統(tǒng)溫、濕度異常報警
當微波系統(tǒng)的微波電源發(fā)熱超過50℃或環(huán)境濕度超過75%時,微波系統(tǒng)應(yīng)自動異常報警,設(shè)備進入
保護狀態(tài),微波系統(tǒng)自動停止運行。
6.5.6微波系統(tǒng)冷卻水溫異常報警
當微波系統(tǒng)運行時冷卻水溫超過設(shè)定時,微波系統(tǒng)應(yīng)自動異常報警,設(shè)備進入保護狀態(tài),微波系統(tǒng)
自動停止運行。
6.5.7微波系統(tǒng)滿功率提醒
當微波系統(tǒng)調(diào)節(jié)至滿功率狀態(tài)時,微波系統(tǒng)應(yīng)有滿功率提醒。
6.5.8MPCVD設(shè)備誤操作防止
MPCVD設(shè)備應(yīng)具有防止誤操作的安全保護措施,設(shè)備運行參數(shù)改動均需二次確認。
6.5.9緊急停止
MPCVD設(shè)備應(yīng)設(shè)置緊急停止按鈕。緊急停止按鈕的位置應(yīng)方便操作。
6.5.10斷電保護
MPCVD設(shè)備的停電狀態(tài)應(yīng)為安全狀態(tài),即MPCVD設(shè)備的反應(yīng)氣體自動停止輸入,冷卻水和冷卻氣體暢
通,MPCVD設(shè)備再通電時,微波系統(tǒng)不會自動開啟。
7技術(shù)參數(shù)
7.1MPCVD設(shè)備主要技術(shù)參數(shù)見表2。
7.2需求方對技術(shù)性能有其他特殊要求時,可由供需雙方協(xié)商確定并在合同中說明。
表2技術(shù)參數(shù)
序號參數(shù)名稱參數(shù)要求單位
1整機真空漏率≤1.33×10-10Pa·m3/s
2氣體流量設(shè)定范圍0~3000(可選配)sccm
3微波泄漏功率密度≤1mW/cm2
4MFC控制精度≤±0.2%Fs(飛秒)響應(yīng)時間l0s-
5沉積溫度≤1400℃
6沉積壓強≤40KPa
7氣密性<16Pa/h
8膜厚均勻性≤±7%
9CDA控制壓力0.5~0.7壓力可調(diào)MPa
8檢驗及測試
8.1試驗條件和儀器
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8.1.1測試環(huán)境應(yīng)滿足表1的要求。
8.1.2試驗設(shè)備、工具,應(yīng)經(jīng)專業(yè)計量機構(gòu)檢定,并在檢定合格有效期內(nèi),具體包括:
a)三坐標測量儀;
b)高度計;
c)千分尺;
d)卡尺;
e)扭力儀;
f)水平儀;
g)數(shù)字視頻顯微鏡;
h)氦質(zhì)譜檢漏儀;
i)紅外測溫儀;
j)兆歐表;
k)接地電阻測試儀;
l)耐壓測試儀;
m)泄漏電流測試儀;
n)電子天平(分度值0.1mg);
o)微波漏能儀(分度值0.01mw/cm2);
p)真空計(分度值0.1pa);
q)氣壓表(分度值0.05Mpa)。
8.2測試方法
8.2.1一般要求檢驗
目視檢查,檢查時應(yīng)避免陽光直射,檢查場所照度應(yīng)保持500ULX以上,離樣品50cm的位置采用45°
和90°夾角觀察法,應(yīng)符合第6章的要求。
8.2.2絕緣電阻測試
采用絕緣電阻測試儀,在設(shè)備的動力導(dǎo)線與保護聯(lián)結(jié)電路間施加500Vd.c.電氣設(shè)備絕緣電阻應(yīng)符
合GB/T5226.1—2019第18.3條的規(guī)定,絕緣電阻:≥1MΩ。
8.2.3接地電阻測試
采用接地電阻測試儀測量設(shè)備接地電阻,接地電阻:≤0.1Ω
8.2.4漏電流測試
采用泄漏電流測試儀測試設(shè)備漏電流,漏電流:≤0.75mA。
8.2.5耐壓測試
采用耐壓測試儀在電源引入端與機殼間加交流2000V(有效值)電壓,5s內(nèi),應(yīng)無擊穿、無飛弧,
應(yīng)符合8.1.6的要求。
8.2.6MPCVD設(shè)備真空漏率測試
采用氦質(zhì)譜檢漏儀檢測,符合GB/T32218—2015第7.2.3條的要求,真空部件如諧振腔、微波發(fā)射
器、波導(dǎo)管、模式變換器、的各連接處的真空漏率,應(yīng)符合表2第1項的要求。
8.2.7微波泄漏功率密度測試
采用微波漏能儀檢測,測量條件符合GB5959.6—2008第6.2、6.3條的要求,微波泄漏功率密度應(yīng)
符合表2第3項的要求。
8.2.8MFC控制精度測試
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MFC量程應(yīng)滿足工藝反應(yīng)氣體的實際需求,具體以MFC廠家說明書為依據(jù),使用時根據(jù)MFC說明書的
換算系數(shù)進行換算。在滿足正常運行的條件下,通入定量(2%~100%)的安全氣體(如氮氣),將壓力
設(shè)置為規(guī)定的壓力,待流量穩(wěn)定后,讀取MFC實際流量計算偏差,應(yīng)符合表2第4項的要求。
8.2.9沉積溫度測試
沉積工藝相同的條件下,采用測溫儀測試基片中心溫度,沉積溫度范圍符合表2第5項的要求。
8.2.10沉積壓強測試
當設(shè)備真空漏率符合表2第1項要求時,設(shè)定(可取不超過32KPa的任何值,一般采用16KPa)規(guī)定
壓強值,啟動工業(yè)微波源,向反應(yīng)腔通入一定量安全氣體,讀取MPCVD設(shè)備真空壓力計測得值,沉積壓
強應(yīng)符合表2第6項的要求,且能進行范圍內(nèi)的壓強調(diào)節(jié)。
8.2.11氣密性測試
開啟設(shè)備電源,關(guān)閉MPCVD設(shè)備進氣、出氣閥門,連接真空泵,對MPCVD設(shè)備進行真空抽氣。當設(shè)備
真空漏率穩(wěn)定后,保持3min~5min,然后停止抽真空,靜態(tài)保持12h,12h平均壓力波動應(yīng)符合表2
第7項的要求。
8.2.12膜厚均勻性測試
采用千分尺測量基片臺不同點位厚度,并依據(jù)公式(1)、公式(2)計算膜厚均勻性,需符合表2第8
項的要求。
a????a???
±??=×100%··················································(1)
2×??
式中:
1?
??=∑?=1a·······································································(2)
?
式中:
?a——誤差百分比;
amax——同組測試數(shù)據(jù)的最大值;
amin——同組測試數(shù)據(jù)的最小值;
ā——同組測試數(shù)據(jù)的算術(shù)平均值;
n——測試點數(shù)。
對于方形基片,在邊長1/5、2/5、3/5、4/5的4×4的網(wǎng)格上共取16個點,如圖2所示。
對于圓形基片,按圓心45°角,八等分圓,R/4、2R/4、3R/4圓心的位置上共取25個點,如圖3所示。
圖2方形基片臺膜厚均勻性測試點
7
T/CAQIXXXX—XXXX
圖3圓形基片臺膜厚均勻性測試點
8.2.13CDA控制壓力測試
MPCVD設(shè)備的壓力傳感器測得用于設(shè)備自動控制的進氣口壓力值,設(shè)備CDA控制壓力應(yīng)符合表2第9
項的要求。
8.2.14緊急停止和斷電保護測試
按下MPCVD設(shè)備緊急停止按鈕,此按鈕應(yīng)能切斷設(shè)備總電源。電源切斷后,輸入氣體、冷卻水、暢
通,再通電時,MPCVD設(shè)備不會自動開啟。
8.2.15可靠性(MTBF)及維修性(MTTR)測試
對于批量生產(chǎn)(含)3臺以上各種型號的設(shè)備,應(yīng)進行可靠性統(tǒng)計測試,采用GB/T5080.7—1986
第5章的規(guī)定進行測試,測試結(jié)果應(yīng)符合8.1.9條的要求。
9檢驗規(guī)則
9.1檢驗類型
檢驗分為:型式檢驗和出廠檢驗兩種。
9.2檢驗項目
組織在產(chǎn)品不同階段應(yīng)進行型式檢驗、出廠檢驗,具體按表3。
表3檢驗項目
序號檢驗項目型式檢驗出廠檢驗
1一般要求檢驗√√
2絕緣電阻測試√-
3接地電阻測試√-
4漏電流測試√-
5耐壓測試√-
6MPCVD設(shè)備真空漏率測試√√
7微波泄漏功率密度測試√√
8MFC控制精度測試√-
9沉積溫度測試√-
10沉積壓強測試√-
11氣密性測試√-
12膜厚均勻性測試√-
13CDA控制壓力測試√-
14緊急停止和斷電保護測試√√
可靠性(MTBF)及維修性(MTTR)
15√-
測試
9.3檢驗項目具體要求
8
T/CAQIXXXX—XXXX
檢驗項目、檢驗方法及檢驗項目要求,具體按表4。
表4檢驗項目具體要求
序號檢驗項目檢驗方法對應(yīng)章節(jié)檢驗項目要求對應(yīng)章節(jié)
1一般要求檢驗12.2.17
2絕緣電阻測試12.2.28.1.3
3接地電阻測試12.2.38.1.4
4漏電流測試12.2.48.1.5
5耐壓測試12.2.58.1.6
6MPCVD設(shè)備真空漏率測試12.2.68.2.1
7微波泄漏功率密度測試12.2.711
8MFC控制精度測試12.2.811
9沉積溫度測試12.2.911
10沉積壓強測試12.2.1011
11氣密性測試
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