表面化學(xué)分析 電子能譜 納米顆粒包覆層厚度和組成的測(cè)量 編制說明

編制說明（征求意見稿）中包括X射線光電子能譜（XPS）、俄歇電子能譜（AES）、近常壓X射線光電子能譜（NAP-XPS）以及同步輻射源電子能譜，可以提供材料表界面豐富的本標(biāo)準(zhǔn)起草單位為中科院化學(xué)所、清華大學(xué)、中石化石油化工科學(xué)研究院有限公司、國(guó)家納米科學(xué)中心。中國(guó)科學(xué)院化學(xué)研究所分析測(cè)試中心成立于1988年，化等研究方向?qū)崿F(xiàn)了重大學(xué)術(shù)和技術(shù)創(chuàng)新，在國(guó)際/國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的制修訂項(xiàng)目中也1）趙志娟：ISO標(biāo)準(zhǔn)文本翻譯，國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)文本起草、修改、技術(shù)把關(guān)和組2022年6月起草單位成立了標(biāo)準(zhǔn)起草小組，討論并形成了制定本標(biāo)準(zhǔn)的工作計(jì)劃及任務(wù)分工，隨后著手開展本標(biāo)準(zhǔn)的起草工作。根據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/Tspectroscopies—Measurementofthethicknessandcompositionofnanoparticlecoatings)，2022年8月完成了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)報(bào)告ISO/TR23173:2021(Surfacechemicalanalysis—Electronspectroscopies—Measur面化學(xué)分析電子能譜納米顆粒包覆層厚度和組成的測(cè)量》的草案。2022年9202X年X月形成了本標(biāo)準(zhǔn)的征求意見稿并通過E-mai國(guó)范圍內(nèi)XX家單位的XX余位專家發(fā)放了本標(biāo)準(zhǔn)征求委員會(huì)表面化學(xué)分析分技術(shù)委員會(huì)全體會(huì)議（202X年會(huì)）上提交委員會(huì)專家委二、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)編制原則、主要內(nèi)容（如技術(shù)指標(biāo)、參數(shù)、公式、性能要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則等）及其確定依據(jù)（包括試驗(yàn)、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)），修訂國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)本標(biāo)準(zhǔn)文本的編寫嚴(yán)格按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：以ISO/IEC標(biāo)準(zhǔn)化文件為基礎(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)化文件起草規(guī)則》中給出的規(guī)則和格式要本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)報(bào)告ISO/TR23173:2021(Surfacechemicalanalysis—Electronspectroscopies—Measurementofthethicknessandcompositionofnanoparticlecoatings。本標(biāo)準(zhǔn)重點(diǎn)介紹電子能譜技術(shù)的使用，特別是X射線光電子能譜、俄歇電三、試驗(yàn)驗(yàn)證的分析、綜述報(bào)告，技術(shù)經(jīng)濟(jì)論證，預(yù)期的經(jīng)濟(jì)效益、社會(huì)效益本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO/TR23173:2021(Surfacechemicalanalysis—Electronspectroscopies—Measurementofthethicknessandcompositionofnanoparticle本標(biāo)準(zhǔn)的某些內(nèi)容可能涉及專利。本標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)本工作等同采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)報(bào)告ISO/TR23173:202analysis—Electronspectroscopies—Measurementofthethicknessandcomposition本標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)領(lǐng)域?yàn)楸砻娣治?電子能譜，為測(cè)量納米顆粒包覆層厚度與