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文檔簡介
ICS33.180.10
CCSM33
CAICI
中國通信企業(yè)協(xié)會團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
T/CAICIXXXX—XXXX
耐高溫光纖技術(shù)規(guī)范
Specificationofhigh-temperature-resistantopticalfiber
(征求意見稿)
XXXX-XX-XX發(fā)布XXXX-XX-XX實施
中國通信企業(yè)協(xié)會發(fā)布
T/CAICIXXXX—XXXX
耐高溫光纖技術(shù)規(guī)范
1范圍
本文件規(guī)定了耐高溫光纖的命名、要求、試驗方法、檢驗規(guī)則以及包裝、標(biāo)志、運(yùn)輸和貯存。
本文件適用于通信光纜和其他信息傳輸設(shè)備中使用的耐高溫光纖,也適用于航空航天、溫度傳感、
油氣/井下等高溫應(yīng)用場景下的耐高溫光纖。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,
僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本
文件。
GB/T191包裝儲運(yùn)圖示標(biāo)志
GB/T15972(所有部分)光纖試驗方法規(guī)范
GB/T33779.1光纖特性測試導(dǎo)則第1部分:衰減均勻性
GJB1427B光纖通用規(guī)范
IECTR62048:2014光纖-可靠性-冪次律理論(Opticalfibres-Reliability-Powerlawtheory)
3術(shù)語和定義
GB/T15972(所有部分)、GB/T33779.1界定的術(shù)語和定義適用于本文件。
4命名
4.1耐高溫光纖的命名見圖1所示,其應(yīng)包括下列內(nèi)容:
a)光纖類型;
b)耐溫等級。
-
耐溫等級
光纖類型
圖1耐高溫光纖命名
4.2典型的耐高溫光纖命名、類型及耐溫等級見表1。
5要求
5.1材料
包層材料、纖芯材料為石英玻璃,涂覆層材料為耐高溫的聚丙烯酸酯、硅橡膠、聚酰亞胺。
5.2光纖外觀
耐高溫光纖的表面應(yīng)均勻一致,無凹凸斑痕、氣泡、開裂、斷裂、擦傷或發(fā)白、發(fā)彩等不良。
3
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表1典型的耐高溫光纖的命名、類型及耐溫等級
命名類型耐溫等級
A1a-G150150℃
A1a-G200A1a類多模光纖200℃
A1a-G300300℃
A1b-G150150℃
A1b-G200A1b類多模光纖200℃
A1b-G300300℃
B-G150150℃
B-G200B類單模光纖200℃
B-G300300℃
5.3尺寸參數(shù)
5.3.1耐高溫多模光纖的尺寸參數(shù)應(yīng)符合表2規(guī)定。
表2耐高溫多模光纖的尺寸參數(shù)要求
項目單位A1a-G150A1a-G200A1a-G300A1b-G150A1b-G200A1b-G300
芯直徑μm50.0±2.562.5±2.5
包層直徑μm125±2
芯/包同心度誤差μm≤1.5
包層不圓度-≤2.0%
芯不圓度-≤6.0%
涂覆層直徑μm245±10155±5245±10155±5
包層/涂覆層同心度誤差μm≤12.5
5.3.2耐高溫單模光纖的尺寸參數(shù)應(yīng)符合表3規(guī)定。
表3耐高溫單模光纖的尺寸參數(shù)要求
項目單位B-G150B-G200B-G300
包層直徑μm125±1125±2
纖芯/包層同心度誤差μm≤0.8
包層不圓度-≤1.0%
涂覆層直徑μm245±10155±5
包層/涂覆層同心度誤差μm≤12.5
翹曲度m≥4
5.4傳輸特性
5.4.1耐高溫多模光纖的傳輸特性要求應(yīng)符合表4規(guī)定。
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表4耐高溫多模光纖傳輸特性要求
項目單位A1a-G150A1a-G200A1a-G300A1b-G150A1b-G200A1b-G300
850nm≤3.0≤3.5≤4.0≤3.0≤3.5≤4.0
衰減系數(shù)注dB/km
1300nm≤1.2≤1.5≤2.0≤1.2≤1.5≤2.0
850nm≥300≥300≥300≥150≥150≥150
滿注入帶寬MHz·km
1300nm≥300≥300
數(shù)值孔徑-0.220±0.0150.275±0.015
注:進(jìn)行衰減測試時,對于耐溫等級150℃的光纖,需正常篩選后在直徑大于15cm盤具上進(jìn)行測試;對于耐溫等
級200℃和300℃的光纖,需以1~2g張力復(fù)繞在直徑大于35cm盤具上進(jìn)行測試
5.4.2耐高溫單模光纖的傳輸特性應(yīng)符合表5規(guī)定。
表5耐高溫單模光纖的傳輸特性
項目單位B-G150B-G200B-G300
1310nmdB/km≤0.5≤0.5≤1.0
衰減系數(shù)注
1550nmdB/km≤0.5≤0.5≤0.8
衰減均勻性dB/km≤0.05≤0.1
色散斜率(1550nm)ps/nm2?km≤0.07
色散系數(shù)(1550nm)ps/nm?km≤23
截止波長nm≤1260
模場直徑μm(8.6~9.5)±0.6
注:進(jìn)行衰減測試時,對于耐溫等級150℃的光纖,需正常篩選后在直徑大于15cm盤具上進(jìn)行測試;對于耐溫等
級200℃和300℃的光纖,需以1g~2g張力復(fù)繞在直徑大于35cm盤具上進(jìn)行測試
5.5機(jī)械性能
耐高溫光纖的機(jī)械性能要求應(yīng)符合表6規(guī)定。
表6耐高溫光纖機(jī)械性能要求
項目單位要求
篩選應(yīng)力aGPa≥0.69
平均值N1.0~5.0
涂覆層剝離力b
峰值N1.0~8.9
抗張強(qiáng)度威布爾概率水平為15%時GPa≥3.14
(0.5m標(biāo)距長度)威布爾概率水平為50%時GPa≥3.80
動態(tài)疲勞參數(shù)nd-≥20
a篩選應(yīng)力值0.69GPa與1.0%的應(yīng)變或8.8N的張力值。三種不同單位之間的換算依據(jù)IEC62048:2014中8.4。
b涂覆層剝離力平均值和峰值都是在試驗過程中定義的,可以由供應(yīng)商和用戶協(xié)商規(guī)定。對于表1中耐溫等級300℃
的光纖,涂覆層剝離力不作要求。
5.6環(huán)境性能
5.6.1耐高溫光纖環(huán)境試驗光衰減變化應(yīng)符合表7規(guī)定。
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表7耐高溫光纖環(huán)境試驗光衰減變化
項目單位A1a-G150、A1a-G200、A1a-G300、
B-G150B-G200B-G300
A1b-G150A1b-G200A1b-G300
監(jiān)測波長nm850、13001310、1550
溫度循環(huán)-
——試驗溫度℃-60~+150-60~+200-60~+300-60~+150-60~+200-60~+300
——允許衰減變化dB/km≤0.20≤0.20≤0.40≤0.05≤0.05≤0.35
高溫壽命-
——試驗溫度℃150200-150200300
——試驗時間d30-30-
——允許衰減變化-≤0.20≤0.20-≤0.05≤0.05-
5.6.2耐高溫光纖環(huán)境試驗后機(jī)械性能要求應(yīng)符合表8規(guī)定。
表8耐高溫光纖環(huán)境試驗后機(jī)械性能要求
剝離力抗張強(qiáng)度(0.5m標(biāo)距長度)
動態(tài)疲勞參數(shù)
試驗項目NGPa
nd
平均值峰值威布爾概率水平為15%時威布爾概率水平為50%時
高溫壽命1.0~5.0≤8.9≥2.76≥3.03≥20
注:涂覆層剝離力平均值和峰值都是在試驗過程中定義的,可以由供應(yīng)商和用戶協(xié)商規(guī)定。對于表1中耐溫等級
300℃的光纖,環(huán)境試驗后的涂覆層剝離力不作要求
5.6.3按照6.4.2溫度循環(huán)試驗后,試樣涂覆層應(yīng)無裂紋,不隆起或軟化。
5.6.4按照6.4.3高溫壽命試驗后,試樣涂覆層應(yīng)無裂紋,無顏色變化,不隆起或軟化。試驗后光纖
的重量變化應(yīng)小于10%,按照式(1)進(jìn)行計算。
……………(1)
式中:
m1—試驗前光纖的重量,單位為克(g);
m2—試驗后光纖的重量,單位為克(g)。
6試驗方法
6.1尺寸參數(shù)的試驗方法
6.1.1芯直徑
按照GB/T15972.20規(guī)定的方法測量。
6.1.2包層直徑
按照GB/T15972.20規(guī)定的方法測量。
6.1.3芯/包同心度誤差
6
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按照GB/T15972.20規(guī)定的方法測量。
6.1.4包層不圓度
按照GB/T15972.20規(guī)定的方法測量。
6.1.5芯不圓度
按照GB/T15972.20規(guī)定的方法測量。
6.1.6涂覆層直徑
按照GB/T15972.21規(guī)定的方法測量。
6.1.7包層/涂覆層同心度誤差
按照GB/T15972.21規(guī)定的方法測量。
6.1.8翹曲度
按照GB/T15972.34規(guī)定的方法測量。
6.2傳輸特性的試驗方法
6.2.1衰減系數(shù)
按照GB/T15972.40規(guī)定的方法測量。
6.2.2帶寬
按照GB/T15972.41規(guī)定的方法測量。
6.2.3數(shù)值孔徑
按照GB/T15972.43規(guī)定的方法測量。
6.2.4色散特性
按照GB/T15972.42規(guī)定的方法測量。
6.2.5衰減均勻性
按照GB/T33779.1規(guī)定的方法測量。
6.2.6截止波長
按照GB/T15972.44規(guī)定的方法測量。
6.2.7模場直徑
按照GB/T15972.45規(guī)定的方法測量。
6.3機(jī)械性能的試驗方法
6.3.1篩選試驗
按照GB/T15972.30規(guī)定的方法測量。
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6.3.2抗張強(qiáng)度
按照GB/T15972.31規(guī)定的方法測量。
6.3.3涂覆層剝離力
按照GB/T15972.32規(guī)定的方法測量。
6.3.4動態(tài)疲勞參數(shù)
按照GB/T15972.33規(guī)定的方法測量。
6.4環(huán)境性能的試驗方法
6.4.1試樣長度
為了達(dá)到要求的衰減測量重復(fù)性,對于多模光纖,試樣長度至少為1100m。對于單模光纖,試樣長
度至少為2200m。
6.4.2溫度循環(huán)
按照GJB1427B的相關(guān)規(guī)范進(jìn)行試驗:溫度設(shè)定室溫~-60℃,恒溫0.5h;最高溫度,恒溫0.5h;循
環(huán)5次。
6.4.3高溫壽命
按照GJB1427B的相關(guān)規(guī)范進(jìn)行試驗。溫度設(shè)定為最高長期工作溫度,保溫30d。
7檢驗規(guī)則
7.1總則
光纖產(chǎn)品檢驗分出廠檢驗和型式檢驗。檢驗項目和試驗方法應(yīng)符合本章和第5章規(guī)定。除非供需雙
方另行規(guī)定,檢驗規(guī)則應(yīng)遵照本章規(guī)定。
7.2出廠檢驗
7.2.1組批
出廠檢驗以批為單位進(jìn)行檢驗,在同一連續(xù)生產(chǎn)期內(nèi)(例如1周或1月),采用相同的材料和工藝制造
出來的產(chǎn)品為一批。
7.2.2檢驗項目
出廠檢驗項目應(yīng)符合表9的規(guī)定。
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表9出廠檢驗和型式檢驗
序號試驗項目要求試驗方法出廠檢驗項目型式檢驗項目
1芯直徑5.3.1GB/T15972.20√√
2包層直徑5.3.1、5.3.2GB/T15972.20√√
3芯/包同心度誤差5.3.1、5.3.2GB/T15972.20√√
4包層不圓度5.3.1、5.3.2GB/T15972.20√√
5芯不圓度5.3.1GB/T15972.20√√
6涂覆層直徑5.3.1、5.3.2GB/T15972.21√√
7包層/涂覆層同心度誤差5.3.1、5.3.2GB/T15972.21√√
8翹曲度5.3.2GB/T15972.34√√
9衰減系數(shù)5.4.1、5.4.2GB/T15972.40√√
10帶寬5.4.1GB/T15972.41√√
11數(shù)值孔徑5.4.1GB/T15972.43√√
12色散特性5.4.2GB/T15972.42√√
13衰減均勻性5.4.2GB/T33779.1√√
14截止波長5.4.2GB/T15972.44√√
15模場直徑5.4.2GB/T15972.45√√
16篩選試驗5.5GB/T15972.30√√
17抗張強(qiáng)度5.5GB/T15972.31-√
18涂覆層剝離力5.5GB/T15972.32-√
19動態(tài)疲勞參數(shù)5.5GB/T15972.33-√
20溫度循環(huán)5.6GJB1427B√√
21高溫壽命5.6GJB1427B√√
注:√表示進(jìn)行此項試驗,-表示不進(jìn)行此項試驗。
7.2.3抽樣
出廠檢驗按照檢驗項目分為100%檢驗和抽樣檢驗。除外觀為100%檢驗項目外,其他出廠檢驗項目為
抽樣檢驗項目。抽樣按照GB/T2828.1規(guī)定,采用正常檢驗1次抽樣方案,取一般檢驗水平I,接收質(zhì)量限
(AQL)為6.5,具體抽樣方案見表12。抽樣基本單位N為單盤。
表10抽樣方案
批量范圍(N)樣本大?。╪)接收數(shù)(Ac)拒收數(shù)(Re)
2~8201
8~15201
16~25301
26~50501
51~90501
91~150801
151~2801312
2
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