2025年統(tǒng)計學(xué)專業(yè)期末考試:非參數(shù)統(tǒng)計方法與卡方檢驗高級試題集_第1頁
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2025年統(tǒng)計學(xué)專業(yè)期末考試:非參數(shù)統(tǒng)計方法與卡方檢驗高級試題集考試時間:______分鐘總分:______分姓名:______一、單選題(每題2分,共20分)1.在非參數(shù)統(tǒng)計方法中,以下哪一種方法適用于比較兩個獨立樣本的中位數(shù)?A.秩和檢驗B.秩轉(zhuǎn)換檢驗C.非參數(shù)Mann-WhitneyU檢驗D.Kruskal-Wallis檢驗2.在卡方檢驗中,如果期望頻數(shù)小于5的單元格數(shù)超過20%,應(yīng)該采取什么措施?A.忽略那些單元格B.使用Fisher精確檢驗C.使用連續(xù)性校正D.放棄卡方檢驗,改用其他方法3.以下哪種情況下,卡方檢驗的假設(shè)被拒絕?A.觀察頻數(shù)和期望頻數(shù)非常接近B.觀察頻數(shù)明顯小于期望頻數(shù)C.觀察頻數(shù)明顯大于期望頻數(shù)D.觀察頻數(shù)和期望頻數(shù)沒有顯著差異4.非參數(shù)Mann-WhitneyU檢驗用于比較兩個獨立樣本的哪個統(tǒng)計量?A.平均值B.中位數(shù)C.標準差D.方差5.在卡方檢驗中,自由度的計算公式是什么?A.(行數(shù)-1)*(列數(shù)-1)B.(行數(shù)-1)+(列數(shù)-1)C.(行數(shù)-2)*(列數(shù)-2)D.(行數(shù)-1)/(列數(shù)-1)6.在非參數(shù)檢驗中,以下哪種檢驗方法適用于比較多個獨立樣本的中位數(shù)?A.Kruskal-Wallis檢驗B.秩和檢驗C.秩轉(zhuǎn)換檢驗D.Mann-WhitneyU檢驗7.以下哪種情況下,卡方檢驗適用于獨立性檢驗?A.樣本量較小B.樣本量較大C.樣本量適中D.樣本量非常大8.在卡方檢驗中,當P值小于顯著性水平時,應(yīng)該采取什么行動?A.接受零假設(shè)B.拒絕零假設(shè)C.無法判斷D.無需判斷9.在非參數(shù)Mann-WhitneyU檢驗中,如果U值接近0,說明兩個獨立樣本的什么統(tǒng)計量相近?A.平均值B.中位數(shù)C.標準差D.方差10.在卡方檢驗中,如果樣本量較小,且單元格的期望頻數(shù)小于5,那么應(yīng)該使用什么檢驗方法?A.Fisher精確檢驗B.連續(xù)性校正C.卡方檢驗D.秩轉(zhuǎn)換檢驗二、多選題(每題2分,共20分)1.非參數(shù)統(tǒng)計方法的特點包括:A.不受總體分布的限制B.對樣本量的要求較低C.可以用于小樣本數(shù)據(jù)D.可以用于大樣本數(shù)據(jù)2.卡方檢驗的適用條件包括:A.樣本量較大B.變量是分類變量C.數(shù)據(jù)是獨立同分布的D.數(shù)據(jù)符合正態(tài)分布3.以下哪些情況可能導(dǎo)致卡方檢驗的誤差?A.單元格的期望頻數(shù)過小B.數(shù)據(jù)存在異常值C.樣本量過小D.樣本量過大4.非參數(shù)Mann-WhitneyU檢驗的假設(shè)包括:A.兩個獨立樣本B.總體分布相同C.總體分布不同D.數(shù)據(jù)是連續(xù)變量5.以下哪些情況下,卡方檢驗不適用于獨立性檢驗?A.數(shù)據(jù)存在異常值B.樣本量過小C.數(shù)據(jù)是非分類變量D.數(shù)據(jù)符合正態(tài)分布6.在非參數(shù)檢驗中,以下哪些檢驗方法適用于比較多個獨立樣本的中位數(shù)?A.Kruskal-Wallis檢驗B.秩和檢驗C.秩轉(zhuǎn)換檢驗D.Mann-WhitneyU檢驗7.以下哪些情況可能導(dǎo)致卡方檢驗的P值偏大?A.樣本量過大B.單元格的期望頻數(shù)過小C.數(shù)據(jù)存在異常值D.數(shù)據(jù)符合正態(tài)分布8.在卡方檢驗中,以下哪些情況下,我們應(yīng)該拒絕零假設(shè)?A.P值小于顯著性水平B.觀察頻數(shù)明顯小于期望頻數(shù)C.觀察頻數(shù)明顯大于期望頻數(shù)D.觀察頻數(shù)和期望頻數(shù)沒有顯著差異9.在非參數(shù)Mann-WhitneyU檢驗中,以下哪些情況下,U值接近0?A.兩個獨立樣本的中位數(shù)相近B.兩個獨立樣本的均值相近C.兩個獨立樣本的標準差相近D.兩個獨立樣本的方差相近10.在卡方檢驗中,以下哪些情況下,我們應(yīng)該接受零假設(shè)?A.P值大于顯著性水平B.觀察頻數(shù)和期望頻數(shù)沒有顯著差異C.數(shù)據(jù)存在異常值D.樣本量過小四、判斷題(每題2分,共20分)1.非參數(shù)統(tǒng)計方法中,Mann-WhitneyU檢驗和Wilcoxon符號秩檢驗都是用于比較兩個獨立樣本的中位數(shù)。()2.卡方檢驗是一種適用于計數(shù)數(shù)據(jù)的假設(shè)檢驗方法,可以用于比較兩個或多個樣本之間的獨立性。()3.在進行卡方檢驗時,如果單元格的期望頻數(shù)小于5,可以使用連續(xù)性校正來提高檢驗的準確性。()4.非參數(shù)Kruskal-Wallis檢驗可以用來比較三個或更多個獨立樣本的中位數(shù)。()5.在卡方檢驗中,如果P值小于顯著性水平,則認為觀察數(shù)據(jù)與零假設(shè)存在顯著差異。()6.如果兩個變量的相關(guān)性非常高,那么在卡方檢驗中可能會出現(xiàn)負的卡方值。()7.在進行非參數(shù)檢驗時,不需要對數(shù)據(jù)進行正態(tài)性檢驗。()8.卡方檢驗是一種參數(shù)檢驗,適用于連續(xù)型數(shù)據(jù)的假設(shè)檢驗。()9.如果卡方檢驗的結(jié)果顯示P值很大,說明觀察數(shù)據(jù)與零假設(shè)存在顯著差異。()10.非參數(shù)統(tǒng)計方法不受樣本量大小的影響,因此適用于小樣本數(shù)據(jù)。()五、填空題(每題2分,共20分)1.在卡方檢驗中,自由度的計算公式是__________。2.非參數(shù)Mann-WhitneyU檢驗的統(tǒng)計量U的計算公式是__________。3.卡方檢驗中,當P值小于__________時,通常認為觀察數(shù)據(jù)與零假設(shè)存在顯著差異。4.非參數(shù)Kruskal-Wallis檢驗的零假設(shè)是__________。5.在卡方檢驗中,如果單元格的期望頻數(shù)小于__________,可能需要進行連續(xù)性校正。6.非參數(shù)檢驗中,秩和檢驗(如Mann-WhitneyU檢驗)適用于比較兩個獨立樣本的__________。7.卡方檢驗適用于__________數(shù)據(jù)類型的假設(shè)檢驗。8.非參數(shù)Kruskal-Wallis檢驗可以比較__________個或更多個獨立樣本的中位數(shù)。9.在進行卡方檢驗之前,需要確保數(shù)據(jù)滿足__________的條件。10.非參數(shù)統(tǒng)計方法的主要優(yōu)點之一是__________,不受總體分布的限制。六、簡答題(每題10分,共30分)1.簡述卡方檢驗的基本原理和適用條件。2.非參數(shù)檢驗與參數(shù)檢驗的主要區(qū)別是什么?3.在進行卡方檢驗時,如何處理期望頻數(shù)小于5的單元格?請簡要說明。本次試卷答案如下:一、單選題(每題2分,共20分)1.C.非參數(shù)Mann-WhitneyU檢驗解析:Mann-WhitneyU檢驗用于比較兩個獨立樣本的中位數(shù),是一種非參數(shù)檢驗方法。2.B.使用Fisher精確檢驗解析:當卡方檢驗中的單元格期望頻數(shù)小于5時,可以使用Fisher精確檢驗來避免誤差。3.B.觀察頻數(shù)明顯小于期望頻數(shù)解析:卡方檢驗中,如果觀察頻數(shù)明顯小于期望頻數(shù),通常認為觀察數(shù)據(jù)與零假設(shè)存在顯著差異。4.B.中位數(shù)解析:Mann-WhitneyU檢驗比較的是兩個獨立樣本的中位數(shù),而不是平均值、標準差或方差。5.A.(行數(shù)-1)*(列數(shù)-1)解析:卡方檢驗的自由度計算公式為(行數(shù)-1)*(列數(shù)-1)。6.A.Kruskal-Wallis檢驗解析:Kruskal-Wallis檢驗適用于比較三個或更多個獨立樣本的中位數(shù)。7.B.樣本量較大解析:卡方檢驗適用于樣本量較大的獨立性檢驗。8.B.拒絕零假設(shè)解析:當P值小于顯著性水平時,拒絕零假設(shè),認為觀察數(shù)據(jù)與零假設(shè)存在顯著差異。9.B.兩個獨立樣本的中位數(shù)相近解析:非參數(shù)Mann-WhitneyU檢驗中,如果U值接近0,說明兩個獨立樣本的中位數(shù)相近。10.A.忽略那些單元格解析:卡方檢驗中,如果期望頻數(shù)小于5的單元格數(shù)超過20%,可以忽略那些單元格。二、多選題(每題2分,共20分)1.A.不受總體分布的限制B.對樣本量的要求較低C.可以用于小樣本數(shù)據(jù)D.可以用于大樣本數(shù)據(jù)解析:非參數(shù)統(tǒng)計方法的特點包括不受總體分布的限制、對樣本量的要求較低,適用于小樣本和大樣本數(shù)據(jù)。2.A.樣本量較大B.變量是分類變量C.數(shù)據(jù)是獨立同分布的D.數(shù)據(jù)符合正態(tài)分布解析:卡方檢驗適用于樣本量較大、變量是分類變量、數(shù)據(jù)是獨立同分布的情況。3.A.單元的期望頻數(shù)過小B.數(shù)據(jù)存在異常值C.樣本量過小D.樣本量過大解析:卡方檢驗的誤差可能由單元格的期望頻數(shù)過小、數(shù)據(jù)存在異常值、樣本量過小等因素引起。4.A.兩個獨立樣本B.總體分布相同C.總體分布不同D.數(shù)據(jù)是連續(xù)變量解析:非參數(shù)Mann-WhitneyU檢驗的假設(shè)包括兩個獨立樣本、總體分布相同或不同。5.A.數(shù)據(jù)存在異常值B.樣本量過小C.數(shù)據(jù)是非分類變量D.數(shù)據(jù)符合正態(tài)分布解析:卡方檢驗不適用于數(shù)據(jù)存在異常值、樣本量過小、數(shù)據(jù)是非分類變量的情況。6.A.Kruskal-Wallis檢驗B.秩和檢驗C.秩轉(zhuǎn)換檢驗D.Mann-WhitneyU檢驗解析:非參數(shù)檢驗中,Kruskal-Wallis檢驗、秩和檢驗、秩轉(zhuǎn)換檢驗、Mann-WhitneyU檢驗都適用于比較多個獨立樣本的中位數(shù)。7.A.樣本量過大B.單元的期望頻數(shù)過小C.數(shù)據(jù)存在異常值D.數(shù)據(jù)符合正態(tài)分布解析:卡方檢驗的P值偏大可能由樣本量過大、單元格的期望頻數(shù)過小、數(shù)據(jù)存在異常值等因素引起。8.A.P值小于顯著性水平B.觀察頻數(shù)明顯小于期望頻數(shù)C.觀察頻數(shù)明顯大于期望頻數(shù)D.觀察頻數(shù)和期望頻數(shù)沒有顯著差異解析:當P值小于顯著性水平時,拒絕零假設(shè),認為觀察數(shù)據(jù)與零假設(shè)存在顯著差異。9.A.兩個獨立樣本的中位數(shù)相近B.兩個獨立樣本的均值相近C.兩個獨立樣本的標準差相近D.兩個獨立樣本的方差相近解析:非參數(shù)Mann-WhitneyU檢驗中,如果U值接近0,說明兩個獨立樣本的中位數(shù)相近。10.A.P值大于顯著性水平B.觀察頻數(shù)和期望頻數(shù)沒有顯著差異C.數(shù)據(jù)存在異常值D.樣本量過小解析:當P值大于顯著性水平時,接受零假設(shè),認為觀察數(shù)據(jù)與零假設(shè)沒有顯著差異。四、判斷題(每題2分,共20分)1.×解析:Mann-WhitneyU檢驗和Wilcoxon符號秩檢驗都是用于比較兩個獨立樣本的中位數(shù),但Mann-WhitneyU檢驗適用于原始數(shù)據(jù),而Wilcoxon符號秩檢驗適用于轉(zhuǎn)換后的數(shù)據(jù)。2.√解析:卡方檢驗是一種適用于計數(shù)數(shù)據(jù)的假設(shè)檢驗方法,可以用于比較兩個或多個樣本之間的獨立性。3.√解析:在卡方檢驗中,如果單元格的期望頻數(shù)小于5,可以使用連續(xù)性校正來提高檢驗的準確性。4.√解析:非參數(shù)Kruskal-Wallis檢驗可以用來

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