軟件測(cè)試技術(shù)考試經(jīng)典試題及答案分享

軟件測(cè)試技術(shù)考試經(jīng)典試題及答案分享姓名：____________________

一、單項(xiàng)選擇題（每題2分，共10題）

1.軟件測(cè)試的目的是什么？

A.證明軟件是正確的

B.證明軟件是錯(cuò)誤的

C.發(fā)現(xiàn)軟件的錯(cuò)誤

D.驗(yàn)證軟件的質(zhì)量

2.下列哪種測(cè)試不屬于靜態(tài)測(cè)試？

A.源代碼審查

B.單元測(cè)試

C.模塊測(cè)試

D.代碼走查

3.軟件測(cè)試的基本原則不包括哪一項(xiàng)？

A.測(cè)試用例設(shè)計(jì)應(yīng)具有針對(duì)性

B.測(cè)試用例設(shè)計(jì)應(yīng)具有可復(fù)用性

C.測(cè)試用例設(shè)計(jì)應(yīng)具有充分性

D.測(cè)試用例設(shè)計(jì)應(yīng)具有完備性

4.下列哪個(gè)測(cè)試方法適用于測(cè)試軟件界面？

A.性能測(cè)試

B.確認(rèn)測(cè)試

C.集成測(cè)試

D.灰盒測(cè)試

5.以下哪個(gè)是軟件測(cè)試的流程？

A.編碼、測(cè)試、調(diào)試、部署

B.編碼、測(cè)試、調(diào)試、評(píng)審

C.需求分析、設(shè)計(jì)、編碼、測(cè)試、評(píng)審、部署

D.需求分析、設(shè)計(jì)、編碼、測(cè)試、調(diào)試、部署

6.下列哪個(gè)測(cè)試不屬于黑盒測(cè)試？

A.等價(jià)類劃分測(cè)試

B.邊界值測(cè)試

C.功能測(cè)試

D.單元測(cè)試

7.軟件測(cè)試的V模型強(qiáng)調(diào)的是？

A.測(cè)試與開(kāi)發(fā)分離

B.測(cè)試與開(kāi)發(fā)同步

C.測(cè)試與設(shè)計(jì)分離

D.測(cè)試與評(píng)審分離

8.下列哪個(gè)是軟件測(cè)試的關(guān)鍵要素？

A.測(cè)試用例

B.測(cè)試環(huán)境

C.測(cè)試工具

D.以上都是

9.下列哪種測(cè)試適用于測(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù)？

A.灰盒測(cè)試

B.單元測(cè)試

C.集成測(cè)試

D.確認(rèn)測(cè)試

10.軟件測(cè)試的生命周期包括哪些階段？

A.需求分析、設(shè)計(jì)、編碼、測(cè)試、評(píng)審、部署

B.編碼、測(cè)試、調(diào)試、部署

C.需求分析、設(shè)計(jì)、編碼、測(cè)試、評(píng)審、部署、維護(hù)

D.需求分析、設(shè)計(jì)、編碼、測(cè)試

二、多項(xiàng)選擇題（每題3分，共10題）

1.軟件測(cè)試的類型包括哪些？

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.驗(yàn)收測(cè)試

E.性能測(cè)試

2.以下哪些是測(cè)試用例設(shè)計(jì)的方法？

A.等價(jià)類劃分

B.邊界值分析

C.決策表

D.正交實(shí)驗(yàn)法

E.原型設(shè)計(jì)

3.下列哪些是軟件測(cè)試的局限性？

A.測(cè)試無(wú)法窮盡

B.測(cè)試無(wú)法覆蓋所有用戶

C.測(cè)試無(wú)法保證軟件無(wú)錯(cuò)誤

D.測(cè)試成本高

E.測(cè)試無(wú)法預(yù)測(cè)軟件的使用環(huán)境

4.軟件測(cè)試的目的是什么？

A.提高軟件質(zhì)量

B.降低軟件成本

C.提高開(kāi)發(fā)效率

D.發(fā)現(xiàn)軟件缺陷

E.提高用戶滿意度

5.以下哪些是軟件測(cè)試的關(guān)鍵過(guò)程？

A.測(cè)試計(jì)劃

B.測(cè)試設(shè)計(jì)

C.測(cè)試執(zhí)行

D.測(cè)試報(bào)告

E.測(cè)試維護(hù)

6.下列哪些是軟件測(cè)試的度量指標(biāo)？

A.缺陷密度

B.缺陷發(fā)現(xiàn)率

C.缺陷修復(fù)率

D.缺陷關(guān)閉率

E.缺陷回歸率

7.以下哪些是軟件測(cè)試的工具？

A.JUnit

B.Selenium

C.LoadRunner

D.QTP

E.SonarQube

8.軟件測(cè)試的V模型包括哪些階段？

A.需求分析

B.設(shè)計(jì)

C.編碼

D.測(cè)試

E.維護(hù)

9.以下哪些是軟件測(cè)試的常見(jiàn)缺陷類型？

A.功能性缺陷

B.性能缺陷

C.安全缺陷

D.用戶體驗(yàn)缺陷

E.穩(wěn)定性缺陷

10.軟件測(cè)試的目的是什么？

A.驗(yàn)證軟件是否滿足需求

B.發(fā)現(xiàn)軟件中的錯(cuò)誤

C.評(píng)估軟件質(zhì)量

D.提高軟件開(kāi)發(fā)效率

E.降低軟件開(kāi)發(fā)成本

三、判斷題（每題2分，共10題）

1.軟件測(cè)試只能發(fā)現(xiàn)軟件的錯(cuò)誤，不能證明軟件的正確性。（）

2.軟件測(cè)試是軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中的一個(gè)獨(dú)立階段。（）

3.單元測(cè)試是軟件測(cè)試的最后一個(gè)階段。（）

4.性能測(cè)試和壓力測(cè)試是相同的測(cè)試類型。（）

5.軟件測(cè)試用例應(yīng)當(dāng)盡可能覆蓋所有可能的輸入值。（）

6.軟件測(cè)試的目的是為了證明軟件是正確的。（）

7.軟件測(cè)試應(yīng)該從軟件的最終用戶的角度出發(fā)。（）

8.軟件測(cè)試中，缺陷的嚴(yán)重性決定了修復(fù)的優(yōu)先級(jí)。（）

9.在軟件測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試人員應(yīng)該與開(kāi)發(fā)人員保持良好的溝通。（）

10.軟件測(cè)試完成后，所有的缺陷都應(yīng)該被修復(fù)。（）

四、簡(jiǎn)答題（每題5分，共6題）

1.簡(jiǎn)述軟件測(cè)試的V模型和W模型的主要區(qū)別。

2.解釋等價(jià)類劃分和邊界值分析在測(cè)試用例設(shè)計(jì)中的區(qū)別和用途。

3.描述軟件測(cè)試的回歸測(cè)試過(guò)程，并說(shuō)明其重要性。

4.請(qǐng)簡(jiǎn)述性能測(cè)試中的關(guān)鍵性能指標(biāo)（KPIs）及其作用。

5.解釋自動(dòng)化測(cè)試與手工測(cè)試的區(qū)別，并討論各自的優(yōu)缺點(diǎn)。

6.在軟件測(cè)試過(guò)程中，如何進(jìn)行有效的缺陷管理？請(qǐng)列舉至少三種策略。

試卷答案如下

一、單項(xiàng)選擇題（每題2分，共10題）

1.C

解析思路：軟件測(cè)試的目的是發(fā)現(xiàn)軟件中的錯(cuò)誤，因此選項(xiàng)C正確。

2.B

解析思路：?jiǎn)卧獪y(cè)試是針對(duì)單個(gè)模塊進(jìn)行的測(cè)試，不屬于靜態(tài)測(cè)試。

3.D

解析思路：軟件測(cè)試的基本原則包括針對(duì)性、可復(fù)用性、充分性和完備性，選項(xiàng)D不符合。

4.B

解析思路：確認(rèn)測(cè)試是驗(yàn)證軟件是否符合需求的過(guò)程，適用于測(cè)試軟件界面。

5.C

解析思路：軟件測(cè)試的生命周期包括需求分析、設(shè)計(jì)、編碼、測(cè)試、評(píng)審、部署等階段。

6.D

解析思路：?jiǎn)卧獪y(cè)試是針對(duì)單個(gè)模塊進(jìn)行的測(cè)試，不屬于黑盒測(cè)試。

7.B

解析思路：V模型強(qiáng)調(diào)測(cè)試與開(kāi)發(fā)同步進(jìn)行，確保每個(gè)階段的輸出都經(jīng)過(guò)測(cè)試。

8.D

解析思路：軟件測(cè)試的關(guān)鍵要素包括測(cè)試用例、測(cè)試環(huán)境、測(cè)試工具等。

9.A

解析思路：灰盒測(cè)試適用于測(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù)，因?yàn)樗Y(jié)合了黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試的特點(diǎn)。

10.C

解析思路：軟件測(cè)試的生命周期包括需求分析、設(shè)計(jì)、編碼、測(cè)試、評(píng)審、部署等階段。

二、多項(xiàng)選擇題（每題3分，共10題）

1.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試的類型包括單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試和性能測(cè)試。

2.A,B,C,D

解析思路：測(cè)試用例設(shè)計(jì)的方法包括等價(jià)類劃分、邊界值分析、決策表和正交實(shí)驗(yàn)法。

3.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試的局限性包括測(cè)試無(wú)法窮盡、無(wú)法覆蓋所有用戶、無(wú)法保證無(wú)錯(cuò)誤等。

4.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試的目的是提高軟件質(zhì)量、降低成本、提高效率、發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤和提高用戶滿意度。

5.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試的關(guān)鍵過(guò)程包括測(cè)試計(jì)劃、測(cè)試設(shè)計(jì)、測(cè)試執(zhí)行、測(cè)試報(bào)告和測(cè)試維護(hù)。

6.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試的度量指標(biāo)包括缺陷密度、缺陷發(fā)現(xiàn)率、缺陷修復(fù)率、缺陷關(guān)閉率和缺陷回歸率。

7.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試的工具包括JUnit、Selenium、LoadRunner、QTP和SonarQube。

8.A,B,C,D

解析思路：V模型包括需求分析、設(shè)計(jì)、編碼、測(cè)試和維護(hù)階段。

9.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試的常見(jiàn)缺陷類型包括功能性缺陷、性能缺陷、安全缺陷、用戶體驗(yàn)缺陷和穩(wěn)定性缺陷。

10.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試的目的是驗(yàn)證軟件是否滿足需求、發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤、評(píng)估質(zhì)量、提高效率并降低成本。

三、判斷題（每題2分，共10題）

1.×

解析思路：軟件測(cè)試只能發(fā)現(xiàn)軟件的錯(cuò)誤，但不能證明軟件的正確性。

2.√

解析思路：軟件測(cè)試是軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中的一個(gè)獨(dú)立階段。

3.×

解析思路：?jiǎn)卧獪y(cè)試是軟件測(cè)試的一個(gè)階段，但不是最后一個(gè)階段。

4.×

解析思路：性能測(cè)試和壓力測(cè)試是不同的測(cè)試類型，性能測(cè)試關(guān)注系統(tǒng)性能，壓力測(cè)試關(guān)注系統(tǒng)在高負(fù)載下的表現(xiàn)。

5.√

解析思路：軟件測(cè)試用例應(yīng)當(dāng)盡可能覆蓋所有可能的輸入值，以提高測(cè)試的全面性。

6.×

解析思路：軟件測(cè)試的目的是發(fā)現(xiàn)軟件的錯(cuò)誤，而不是證明軟件的正確性。