元器件檢驗(yàn)通用標(biāo)準(zhǔn).doc

機(jī)密文件 嚴(yán)禁私印外傳 來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號(hào)：WI/HV-12-001受控狀態(tài)：碳膜電阻修 改 頁：第 1 頁 共 53 頁抽樣檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 1.0；CR：AQL=0.65MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀色環(huán)標(biāo)識(shí)色環(huán)標(biāo)識(shí)與電阻標(biāo)稱值精度等級(jí)是否一一致.用毛刷沾洗板水輕擦色環(huán)，不能出現(xiàn)脫色現(xiàn)象。MI目測元件體電阻有無破損，引腳是否氧化。MI目測2尺寸符合產(chǎn)品工程圖；符合實(shí)際裝配。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺3電性1. 用LCR電橋測量電阻值是否在偏差允許范圍內(nèi),電阻值小于10K的用串聯(lián)方式，頻率選用100Hz. 電阻值大于等于10K的用并聯(lián)方式，頻率選用100Hz。2. 分別在高溫85、低溫-20、溫度93%3%、100CM高度自由跌落3次，對(duì)應(yīng)R值均符合標(biāo)稱值以及偏差允許范圍。3. 碳膜電阻誤差值：5%MALCR電橋4可焊性用40W烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在2305錫爐中一次上錫面積大于85%。表面色環(huán)的顏色不發(fā)生變化。MA烙鐵小錫爐5材料1. 所用材料與樣品相符。2. 與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。3. 外殼用刀片刮取，殼體堅(jiān)韌度需符合。MA目測、對(duì)比樣品刀片6包裝標(biāo)識(shí)1、 包裝材料用料正確。 2、小包裝方式、數(shù)量無誤。3、 裝箱方式、數(shù)量無誤。 4、（內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。MA目測擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期 來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號(hào)：WI/HV-12-002受控狀態(tài)：金屬膜電阻類修 改 頁：第 2 頁 共 53 頁抽樣檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 1.0；CR：AQL=0.65MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀色環(huán)標(biāo)識(shí)色環(huán)標(biāo)識(shí)與電阻標(biāo)稱值精度等級(jí)是否一致。MI目測元件體電阻有無破損，引腳是否氧化。MI目測2尺寸符合產(chǎn)品工程圖。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺3電性1 室溫下用LCR電橋測量電阻值是否在偏差允許范圍內(nèi)，電阻值小于10K的用串聯(lián)方式，頻率選用100Hz；電阻值大于等于10K的用并聯(lián)方式，頻率選用100Hz。2 分別在75、-5以下、濕度933、100CM高度自由跌落3次，對(duì)應(yīng)R值均符合標(biāo)稱值及偏差允許范圍。MALCR電橋43.金屬膜、精密電阻阻值偏差不得超出標(biāo)稱值的上下限。4. 金屬膜電阻誤差值1CR5可焊性用40W烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在2305錫爐中，一次上錫面積大于85%。MA烙鐵小錫爐6材料1、 所用材料與樣品相符。2、 與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。MA目測、對(duì)比樣品7包裝標(biāo)識(shí)1、 包裝材料用料正確。2、 小包裝方式、數(shù)量無誤。3、 裝箱方式、數(shù)量無誤。4、 （內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。MI目測擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號(hào)：WI/HV-12-003受控狀態(tài)：氧化膜電阻修 改 頁：第 3 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.0；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀絲印色環(huán)標(biāo)識(shí)與電阻標(biāo)稱值精度等級(jí)是否一致。MI目測元件體電阻有無破損，引腳是否氧化。MI目測2尺寸外形尺寸是否符合產(chǎn)品工程圖。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺3電性1. 用LCR電橋測量電阻值是否在偏差允許范圍內(nèi)，電阻值小于10K的用串聯(lián)方式，頻率選用100Hz；2. 分別在75、-5、濕度933、100CM高度自由跌落3次，對(duì)應(yīng)R值均符合標(biāo)稱值及偏差允許范圍CRLCR電橋4材料所用材料與樣品相符MA目測、對(duì)比樣品5包裝標(biāo)識(shí)1. 包裝材料用料正確。2. 小包裝方式、數(shù)量無誤。3. 裝箱方式、數(shù)量無誤。4. （內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。MI目測擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期來料檢驗(yàn)通用標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號(hào)：WI/HV-12-004受控狀態(tài)：AI機(jī)用的電阻、二極管引腳標(biāo)準(zhǔn)要求修 改 頁：第 4 頁 共 53 頁抽樣檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 1.0；CR：AQL=0.65MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷碳膜電阻、金膜電阻、二極管1N4148、二極管1N4007引腳直徑序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1電阻引腳11/4W碳膜、金膜電阻引腳直徑要求必需達(dá)0.43-0.5mm2.1/4W電阻要求帶編帶（26mm），編帶中間電阻引腳的兩端尺寸為26mm，也有52mm。3電阻引腳與編帶不允許有歪斜、彎曲、變形等現(xiàn)象。CR數(shù)字卡尺目測2二極管1N4148引腳1、二極管1N4148引腳直徑為0.45-0.5mm。2二極管1N4148要求帶編帶（26mm），編帶中間二極管1N4148引腳的兩端尺寸為26mm。3二極管1N4148引腳與編帶不允許有歪斜、彎曲、變形等現(xiàn)象CR數(shù)字卡尺目測3二極管1N4007引腳1二極管1N4007引腳直徑為0.68-0.73mm。2二極管1N4007要求帶編帶（58mm），編帶中間二極管1N4007引腳的兩端尺寸為58mm。3二極管1N4007引腳與編帶不允許有歪斜、彎曲、變形等現(xiàn)象CR數(shù)字卡尺目測4可焊性用40W烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在2305錫爐中，一次上錫面積大于85%。MI烙鐵小錫爐5材料1. 所用材料與樣品相符。2. 與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。MA目測、對(duì)比樣品6包裝標(biāo)識(shí)1. 包裝材料用料正確。 3.裝箱方式、數(shù)量無誤。2. 小包裝方式、數(shù)量無誤。4.內(nèi)包裝、外箱標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。MI目測擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期、來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號(hào)：WI/HV-12-005受控狀態(tài)：瓷片電容修 改 頁：第 5 頁 共 53 頁抽樣檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 1.0；CR：AQL=0.65MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷電容：104P/50V+80%-20% 102P/50V+80%-20%(直徑5腳距5mm)序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀絲印絲印是否清晰可辯，標(biāo)識(shí)是否與來料相符。MI目測元件體引腳是否氧化，元件體是否有毛刺和破損、劃傷、裂痕等。MI目測2尺寸符合產(chǎn)品工程圖。腳距5mm，6mm，符合實(shí)際裝配。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺3電性1使用數(shù)字電容測試儀檢測其容量是否在允許范圍內(nèi)，漏電流檢測儀檢測其額定耐壓與漏電流的大小。2常溫下用數(shù)字電容測試儀檢測電容值為0.1UF+80%-20%（0.001mF+80%-20%），損耗角0.05。3常溫下，用絕緣電阻測試儀測其絕緣阻10000M4常溫下，用耐壓測試儀測端子間耐壓值75V；端子與外殼間耐壓值為100V，應(yīng)元擊穿或飛弧現(xiàn)象（高溫區(qū)95-105檢測方法相同）。5將其放于95105及低溫-18以下，使用數(shù)字電容測試儀檢測測其電容值為0.1UF+80%-20%（0.001mF+80%-20%）.6. 手工浸水濕度93%3%用數(shù)字電容測試儀測其電容0.1UF+80%-20%（0.001mF+80%-20%）.CR數(shù)字電容測試儀漏電流測試儀耐壓測試儀絕緣電阻測試儀4可焊性用烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在2305錫爐中，一次上錫面積大于85%。MI烙鐵小錫爐5材料1、 所用材料與樣品相符。2、 與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。MA目測、對(duì)比樣品6包裝標(biāo)識(shí)1.包裝材料用料正確。 2.小包裝方式、數(shù)量無誤。3.裝箱方式、數(shù)量無誤。 4.內(nèi)包裝、外箱標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。MI目測擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期 來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號(hào)：WI/HV-12-006受控狀態(tài)：高壓瓷片電容修 改 頁：第 6 頁 共 53 頁抽樣檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 1.0；CR：AQL=0.65MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷電容： 101P/1KV(直徑5腳距5mm) 102P/1KV(直徑6.5腳距5mm) 103P/1KV(直徑8.5腳距5mm)序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀絲印絲印是否清晰可辯，標(biāo)識(shí)是否與來料相符。MI目測元件體引腳是否氧化，元件體是否有毛刺和破損、劃傷、裂痕等。MI目測2尺寸符合產(chǎn)品工程圖。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺3電性1用數(shù)字電容測試儀檢測其容量是否在允許范圍內(nèi)，漏電流檢測儀檢測其額定耐壓與漏電流的大小。2常溫下用數(shù)字電容測試儀檢測電容值為0.1UF+80%-20%（0.001mF+80%-20%），損耗角0.05。3常溫下，用絕緣電阻測試儀測其絕緣阻10000M4常溫下，用耐壓測試儀測試端子間耐壓值1.6Ur(5s)；端子與外殼間耐壓值為1250V，應(yīng)元擊穿或飛弧現(xiàn)象（高溫區(qū)95-105檢測方法相同）。5將其放于95105及低溫-18以下，使用數(shù)字電容測試儀檢測測其電容值為0.1UF+80%-20%（0.001mF+80%-20%）.6.手工浸水濕度93%3%用數(shù)字電容測試儀測其電容0.1UF+80%-20%（0.001mF+80%-20%）.CR數(shù)字電容測試儀漏電流測試儀耐壓測試儀絕緣電阻測試儀4可焊性用烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在2305錫爐中，一次上錫面積大于85%。MI烙鐵小錫爐5材料1、 所用材料與樣品相符。2、 與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。MA目測、對(duì)比樣品6包裝標(biāo)識(shí)1包裝材料用料正確。 2.小包裝方式、數(shù)量無誤。3.裝箱方式、數(shù)量無誤。 4.內(nèi)包裝、外箱標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。MI目測擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期 來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號(hào)：WI/HV-12-007受控狀態(tài)：高壓金屬膜電容修 改 頁：第 7 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 1.0；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷高壓電容（CBB金屬膜電容） CBB21-473J400V(腳距10mm)序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀絲印絲印是否清晰可辯，有明確認(rèn)證標(biāo)志，是否標(biāo)明3C、UL、TV或VDE等認(rèn)證標(biāo)志。MI目測元件體引腳是否氧化，元件體是否有毛刺和破損、劃傷，封膠是否有氣孔等。MI目測2尺寸符合產(chǎn)品工程圖MA游標(biāo)卡尺3電性1.根據(jù)所測試安規(guī)電容的容量在電容測試儀設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)容量，根據(jù)電容正負(fù)偏差設(shè)置上下偏差，然后依據(jù)電容的標(biāo)稱電壓值，設(shè)定其損耗角正切值，最后夾上待測電容，“PASS”燈亮表示合格。2.用電容測試儀測其電容0.047F5%，損耗角1.0%(20 1KHZ).3.用絕緣電阻測試儀測其R30000M（20 1min）4.常溫下100CM高度自由跌落3次，再測其電容值應(yīng)為0.047F5%.5.用耐壓測試儀測其極與極的抗電強(qiáng)度2Ur(2S).6.高溫80及低溫-20時(shí)，測其電容值為0.047F5%。CR耐壓測試儀電容測試儀漏電流測試儀絕緣電阻測試儀4可焊性使用烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在2305錫爐中，一次上錫面積大于85%。MI烙鐵小錫爐5材料1 所用材料與樣品相符。2 與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。MA目測、對(duì)比樣品6包裝標(biāo)識(shí)1 材料用料正確2 裝箱方式、數(shù)量無誤3 （內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確MI目測擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號(hào)：WI/HV-12-008受控狀態(tài)：聚酯膜（絳綸）電容 修 改 頁：第 8 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷聚脂膜電容（絳綸）： 2J103J（630V）(腳距4mm) 2J152J（630V）(腳距4mm)序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀絲印絲印是否清晰可辯，負(fù)極標(biāo)志、絲印標(biāo)識(shí)是否與來料相符。MI目測元件體引腳是否氧化，元件體是否有毛刺和破損、劃傷。MI目測2尺寸符合產(chǎn)品工程圖MA鋼尺游標(biāo)卡尺3電性1.根據(jù)所測電容器容量在電容測試儀設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)容量，根據(jù)電容正負(fù)偏差設(shè)置上下偏差，然后根據(jù)電容的標(biāo)稱耐壓來設(shè)定損耗角，最后夾上待測電容，“PASS”燈亮表示為合格。2.用電容測試儀或LCR電橋測其電容0.0001F5(0.00152F5) ，損耗角正切值0.01（20 1KHZ）。3.用耐壓測試儀測其極與極間的抗電強(qiáng)度2Ur（Ur=630VDC）時(shí)間5S4.用絕緣電阻測試儀測其R30000M（20 1min）。5.工作溫度范圍-4085CR電容測試儀萬用表穩(wěn)壓電源漏電流測試儀絕緣電阻測試儀4可焊性用烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在2305錫爐中，一次上錫面積大于85%。MI烙鐵小錫爐5材料1、所用材料與樣品相符。2、與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。MA目測、對(duì)比樣品6包裝標(biāo)識(shí)1、材料用料正確。2、小包裝方式、數(shù)量無誤。3、裝箱方式、數(shù)量無誤。4、（內(nèi)包裝、外箱）小標(biāo)簽內(nèi)容正確。MI目測擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號(hào)：WI/HV-12-009受控狀態(tài)：二極管IN4007修 改 頁：第 9 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷二極管：D1-D5 IN4007序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀絲印負(fù)極標(biāo)志及字符絲印是否清晰可辯。MI目測元件體元件體引腳是否氧化，是否有毛刺和破損。MI目測2尺寸符合產(chǎn)品工程圖；符合實(shí)際裝配。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺3電性1. 用晶體管測試儀先后測試二極管正向壓降：0.61.1V和反向耐壓：IN40071000V、2. IN4007在最大反向電壓下其最大反向電流值為5.0A（+25），平均輸出電流值為1A（+75）3. 工作溫度范圍為-65to+125CR晶體管測試儀穩(wěn)壓電源萬用表4可焊性用40W烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在2305錫爐中，一次上錫面積大于85%。MA烙鐵小錫爐5材料1. 所用材料與樣品相符。2. 與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。MA目測、對(duì)比樣品6包裝標(biāo)識(shí)1、 包裝材料用料正確。2、小包裝方式、數(shù)量無誤。3.裝箱方式、數(shù)量無誤。4.（內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。MI目測擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號(hào)：WI/HV-12-009A受控狀態(tài)：二極管IN4007修 改 頁：第 9A 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷型號(hào)穩(wěn)壓值及精度測試電流正向電壓（VF）IN47233.3V5%76mA當(dāng)IF=200mA時(shí),VF1.2VIN47324.3V5%53mA當(dāng)IF=200mA時(shí),VF1.2VIN47335.1V5%49mA當(dāng)IF=200mA時(shí),VF1.2VIN47345.6V5%45mA當(dāng)IF=200mA時(shí),VF1.2VIN472312V5%21mA當(dāng)IF=200mA時(shí),VF1.2VIN472327V5%9.5mA當(dāng)IF=200mA時(shí),VF1.2V穩(wěn)壓二極管參數(shù):二極管參數(shù):型號(hào)最大反向電壓(VR)正向電壓(VF)正向電流（IF）最大正向輸出電流IAFIN400150V0.7V5.0A1AIN4002100V0.7V5.0A1AIN40071000V0.7V5.0A1AIN4148100V0.7V5.0A150mABAV9975V0.7V1.0A215mA擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號(hào)：WI/HV-12-010受控狀態(tài)：二極管IN4148修 改 頁：第 10 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷二極管：D6-D7 IN4148 序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀絲印負(fù)極標(biāo)志及字符絲印是否清晰可辯。MI目測元件體元件體引腳是否氧化，是否有毛刺和破損。MI目測2尺寸符合產(chǎn)品工程圖；符合實(shí)際裝配。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺3電性1、 用晶體管測試儀先后測試二極管正向壓降：0.61.0V和反向耐壓：IN4148100V、2、 最大反向電流（+25）值為0.025A，平均輸出電流（+75）值為150mA3、 工作溫度范圍為-65to+125CR晶體管測試儀穩(wěn)壓電源萬用表4可焊性用40W烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在2305錫爐中，一次上錫面積大于85%。MA烙鐵小錫爐5材料1、 所用材料與樣品相符。2、與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。MA目測、對(duì)比樣品6包裝標(biāo)識(shí)1、 包裝材料用料正確。2、 小包裝方式、數(shù)量無誤。3、 裝箱方式、數(shù)量無誤。4、 （內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。MI目測擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號(hào)：WI/HV-12-011受控狀態(tài)：二極管(6A10)修 改 頁：第 11 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷二極管： 6A10序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀絲印負(fù)極標(biāo)志及字符絲印是否清晰可辯。MI目測元件體元件體引腳是否氧化，是否有毛刺和破損。MI目測2尺寸符合產(chǎn)品工程圖；符合實(shí)際裝配。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺3電性4. 用晶體管測試儀先后測試二極管正向壓降：0.95V（MAX）和反向耐壓：6A101000V5. 6A10在最大反向電壓下其最大反向電流值為10A（+25），平均輸出電流值為1.0mA（+100）6. 工作溫度范圍為-55to+150CR晶體管測試儀穩(wěn)壓電源萬用表4可焊性用40W烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在2305錫爐中，一次上錫面積大于85%。MA烙鐵小錫爐5材料1、 所用材料與樣品相符。2、 與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。MA目測、對(duì)比樣品6包裝標(biāo)識(shí)1、 包裝材料用料正確。 2、小包裝方式、數(shù)量無誤。3. 裝箱方式、數(shù)量無誤。4. （內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。MI目測擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號(hào)：WI/HV-12-012受控狀態(tài)：快速恢復(fù)二極管FR107修 改 頁：第 12 頁 共53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷二極管： FR107DO-41序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀絲印負(fù)極標(biāo)志及字符絲印是否清晰可辯。MI目測元件體元件體引腳是否氧化，是否有毛刺和破損。MI目測2尺寸符合產(chǎn)品工程圖。MA鋼尺游標(biāo)卡尺3電性1.用晶體管測試儀（10mADC）測試二極管正向壓降VF0.7V，反向耐壓：FR1071000V（工作溫度范圍-65+150）.2.用萬用表先后測量二極管最大反向電流IRM=5.0A(25)與平均輸出電流IO=1A（75）CR晶體管測試儀穩(wěn)壓電源萬用表4可焊性用烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在2305錫爐中，一次上錫面積大于85%。MA烙鐵小錫爐5材料所用材料與樣品相符。與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。MA目測、對(duì)比樣品6包裝標(biāo)識(shí)包裝材料用料正確。小包裝方式、數(shù)量無誤。裝箱方式、數(shù)量無誤。（內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。MI目測擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號(hào)：WI/HV-12-013受控狀態(tài)：快速恢復(fù)二極管HER303修 改 頁：第 13 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷二極管： HER303DO-27序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀絲印負(fù)極標(biāo)志及字符絲印是否清晰可辯。MI目測元件體元件體引腳是否氧化，是否有毛刺和破損。MI目測2尺寸符合產(chǎn)品工程圖。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺3電性1.用晶體管測試儀（10mADC）測試二極管正向壓降VF0.7V，反向耐壓：FR200V（工作溫度范圍-65+150）.2.用萬用表先后測量二極管最大反向電流IRM=5.0A(25)與平均輸出電流IO=1A（75）CR晶體管測試儀穩(wěn)壓電源萬用表4可焊性用烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在2305錫爐中，一次上錫面積大于85%。MA烙鐵小錫爐5材料所用材料與樣品相符。與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。MA目測、對(duì)比樣品6包裝標(biāo)識(shí)包裝材料用料正確。小包裝方式、數(shù)量無誤。裝箱方式、數(shù)量無誤。（內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。MI目測擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號(hào)：WI/HV-12-014受控狀態(tài)： 12V穩(wěn)壓二極管類修 改 頁：第 14 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀絲印負(fù)極標(biāo)志及字符絲印是否清晰可辯。MI目測元件體元件體引腳是否氧化，是否有毛刺和破損。MI目測2尺寸符合產(chǎn)品工程圖。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺3電性按下圖將穩(wěn)壓管電流調(diào)整在5mA時(shí)，其12V的穩(wěn)壓管的允許穩(wěn)壓范圍值在11.4V-12.7V為正常（1分鐘內(nèi)無損壞） 穩(wěn)壓電源 VCR晶體管測試儀穩(wěn)壓電源萬用表示波器4可焊性用烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在2305錫爐中，一次上錫面積大于85%。MA烙鐵小錫爐5材料1、 所用材料與樣品相符。2、 與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。MA目測、對(duì)比樣品6包裝標(biāo)識(shí)1、 包裝材料用料正確。2、 小包裝方式、數(shù)量無誤。3、 裝箱方式、數(shù)量無誤。4、 （內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。MI目測擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號(hào)：WI/HV-12-015受控狀態(tài)： 18V穩(wěn)壓二極管 修 改 頁：第 15 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀絲印負(fù)極標(biāo)志及字符絲印是否清晰可辯。MI目測元件體元件體引腳是否氧化，是否有毛刺和破損。MI目測2尺寸符合產(chǎn)品工程圖。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺3電性按下圖將穩(wěn)壓管電流調(diào)整在5mA時(shí)，其18V的穩(wěn)壓管的允許穩(wěn)壓范圍值在16.8.V-19.1V為正常（1分鐘內(nèi)無損壞） 穩(wěn)壓電源 VCR晶體管測試儀穩(wěn)壓電源萬用表示波器4可焊性用烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在2305錫爐中，一次上錫面積大于85%。MA烙鐵小錫爐5材料1、 所用材料與樣品相符。2、 與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。MA目測、對(duì)比樣品6包裝標(biāo)識(shí)1、 包裝材料用料正確。2、小包裝方式、數(shù)量無誤。3、裝箱方式、數(shù)量無誤。4、（內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。MI目測擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號(hào)：WI/HV-12-016受控狀態(tài)： 27V穩(wěn)壓二極管修 改 頁：第 16 頁 共 53頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀絲印負(fù)極標(biāo)志及字符絲印是否清晰可辯。MI目測元件體元件體引腳是否氧化，是否有毛刺和破損。MI目測2尺寸符合產(chǎn)品工程圖。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺3電性按下圖將穩(wěn)壓管電流調(diào)整在5mA時(shí)，其27V的穩(wěn)壓管的允許穩(wěn)壓范圍值在25.1V-28.9V為正常（1分鐘內(nèi)無損壞） 穩(wěn)壓電源 VCR晶體管測試儀穩(wěn)壓電源萬用表示波器4可焊性用烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在2305錫爐中，一次上錫面積大于85%。MA烙鐵小錫爐5材料1、所用材料與樣品相符。2、 與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。MA目測、對(duì)比樣品6包裝標(biāo)識(shí)1、 包裝材料用料正確。2、 小包裝方式、數(shù)量無誤。3、 裝箱方式、數(shù)量無誤。4、 （內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。MI目測擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期 來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號(hào)：WI/HV-12-016A受控狀態(tài)： 1/2W穩(wěn)壓管修 改 頁：第 16 A 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.5；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷1/2W參數(shù)穩(wěn)壓值(V)穩(wěn)壓值范圍（精度5）穩(wěn)壓值(V)穩(wěn)壓值范圍32.853.154340.8545.153.33.133.474744.6549.353.63.423.785148.4553.553.93.74.15653.258.84.34.084.526258.965.14.74.464.946864.671.45.14.845.367571.2578.755.65.325.888277.986.16.25.896.519186.4595.556.86.46757.127.888.27.798.619.18.649.56109.510.51110.4511.551211.412.61312.3513.651514.2515.751615.216.81817.118.92019212220.923.12422.825.22725.6528.353028.531.53331.3534.653634.237.83937.0540.95擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期 來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號(hào)：WI/HV-12-017受控狀態(tài)： 三端精密穩(wěn)壓器（431BCZ）修 改 頁：第17 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.0；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷精密穩(wěn)壓器： IC2 LM431BCZ TO-92序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀絲印絲印是否清晰可辯，標(biāo)識(shí)是否與來料相符。MI目測元件體檢查三極管的引腳是否氧化，元件體是否有毛刺和破損。MI目測2尺寸符合產(chǎn)品工程圖，符合實(shí)際裝配。MA游標(biāo)卡尺3電性2K1穩(wěn)壓值檢測，偏差1%。 12V2.5V1%V2、陰極電壓VKA36V。 3、IKA100mA MA晶體管測試儀萬用表穩(wěn)壓電源示波器4可焊性用烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在2305錫爐中，一次上錫面積大于85%。MI烙鐵小錫爐5材料1所用材料與樣品相符。2與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。MA目測6包裝標(biāo)識(shí)1材料用料正確。2小包裝方式、數(shù)量無誤。3裝箱方式、數(shù)量無誤。4（內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。MI目測擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號(hào)：WI/HV-12-018受控狀態(tài)： 三端穩(wěn)壓器修 改 頁：第 18 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.0；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀絲印絲印是否清晰可辯，標(biāo)識(shí)是否與來料相符。MI目測元件體檢查三極管的引腳是否氧化，元件體是否有毛刺和破損。MI目測2尺寸符合產(chǎn)品工程圖；符合實(shí)際裝配。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺3電性1. 將三端穩(wěn)壓器接在調(diào)壓穩(wěn)壓電源上，調(diào)穩(wěn)壓電源至7-20V電壓，為三端穩(wěn)壓器輸入電壓，并測出其輸出為5.0 0. 2 V。（精度為4）2. 穩(wěn)壓管滿負(fù)載連續(xù)工作2小時(shí)，溫升測試應(yīng)小于503. 分別于100CM高度自由跌落三次，濕度達(dá)93%3%，其輸出電壓為5.0 0. 2 V。4、 將其接在調(diào)壓穩(wěn)壓電源上，調(diào)穩(wěn)壓電源測出三端5、 穩(wěn)壓器的輸入電壓穩(wěn)壓范圍，并測出其穩(wěn)壓值。6、 帶負(fù)載能力，在電路里串入負(fù)載和電流表，調(diào)到電流為1A左右，測出其輸出電壓。MA晶體管測試儀萬用表穩(wěn)壓電源示波器4可焊性用烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在2305錫爐中，一次上錫面積大于85%。MI烙鐵小錫爐5材料1. 所用材料與樣品相符。2. 與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。MA目測、對(duì)比樣品6包裝標(biāo)識(shí)1. 材料用料正確。2. 小包裝方式、數(shù)量無誤。3. 裝箱方式、數(shù)量無誤。4. （內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。MI目測擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號(hào)：WI/HV-12-018A受控狀態(tài)： 三端穩(wěn)壓器修 改 頁：第 18 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.0；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷三端穩(wěn)壓塊參數(shù)測試條件7805/（78L05）78127924最小、典型、最大最小、典型、最大最小、典型、最大V1101933V0(空載)4.9 5.0 5.111.75 12 12.2523.5 24 24.5V0（負(fù)載）4.8 5V 5.211.5 12 12.523 24 25擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號(hào)：WI/HV-12-019受控狀態(tài)：接收頭修 改 頁：第 19 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.0；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 及 要 求AQL檢驗(yàn)方法1外觀絲印絲印是否清晰可辯，標(biāo)識(shí)是否與來料相符。MI目測元件體引腳是否氧化，元件體是否有毛刺和破損、劃傷。MI目測2尺寸符合產(chǎn)品工程圖MA鋼尺或游標(biāo)卡尺3電性1. 把其接在測試板上，用遙控器從各個(gè)方位遙控，看它的接受性能，接收角度為60。2. 將測試板放在日光燈下（距離很近），再用遙控器遙控，看其的抗干擾能力，接收距離3M。CR遙控器測試夾具4可焊性用烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在2305錫爐中，一次上錫面積大于85%。MI烙鐵小錫爐5材料1. 所用材料與樣品相符。2. 與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。MA目測、對(duì)比樣品6包裝標(biāo)識(shí)1. 材料用料正確。2. 小包裝方式、數(shù)量無誤。3. 裝箱方式、數(shù)量無誤。4. （內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。MI目測擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號(hào)：WI/HV-12-019A受控狀態(tài)： 接收頭修 改 頁：第 19A 頁 共 53 頁抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STD-105D-； MI：AQL=1.0；MA：AQL= 0.65；CR：AQL=0.4MI：次要缺陷 MA：主要缺陷 CR：致命缺陷接收頭參數(shù)參數(shù)名稱最小值典型值最大值條件靜態(tài)電流IS1.1mA2.8mA無信號(hào)工作電壓VS4.7V5.0V5.3V無信號(hào)接收距離L110m12m=0接收距離L28m9m30接收距離L34m6m45載波頻率f038KHZ接收波長p940nm高電平輸出電壓VH4.5V低電平輸出電壓VL0.5V擬制：審核：批準(zhǔn)：日期日期日期來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)版 本：第三版文件編號(hào)：WI/HV-12-020受控狀態(tài)：輕觸按鍵/防水按鍵修 改 頁：A第 20 頁 共