SPC統(tǒng)計精進(jìn)教育教材(doc 30頁).doc

S P C精 進(jìn) 教 育 教 材製作: 日期:2001/3/27頁數(shù):共29頁一、SPC的源起SPC: Statistical Process Control年代人名貢獻(xiàn)1910費雪 Fisher敘述統(tǒng)計轉(zhuǎn)變?yōu)橥普摻y(tǒng)計1930修華特 Shewhart發(fā)明管制圖1950戴明 Deming統(tǒng)計與品管結(jié)合(S Q C)1980三大汽車廠推行SPC日本質(zhì)量的演進(jìn)質(zhì)量是檢驗出來的 5%質(zhì)量是制造出來的 20%質(zhì)量是設(shè)計出來的 75%二、美、日推行SPC美國推動SPC的原因1.SPC可發(fā)現(xiàn)制程中的變異,并加以解決,不僅可提升質(zhì)量,更可降低成本。2.作業(yè)者利用它,可使工作有效率。3.管理者透過它,可掌握制程的質(zhì)量。日本推動SPC的效果1. 可顯示制程中的變異。2. 可反映制程調(diào)整的效果。3. 可指出制程最須改善之處。SPC讓傳統(tǒng)兩大理論同時實現(xiàn)1. 確保高質(zhì)量與高生產(chǎn)力質(zhì)量是制造出來,不是檢查出來的。檢修人員可解決問題,但不能消除問題。2. 確保作業(yè)者的尊嚴(yán)SPC是將制程品管的責(zé)任,交由現(xiàn)場作業(yè)者負(fù)責(zé)的方法,此即謂工作的人性化。三、SPC的理論SPC觀念的來源1. 沒有兩件的事情、產(chǎn)品、人是完全一樣的。2. 制程中的變異是可以衡量的。3. 宇宙的事物與工業(yè)產(chǎn)品其都呈常態(tài)分配的。4.變異的原因可以分為機遇原因與非機遇原因。變異變異可分為機遇原因與非機遇原因機遇原因：原就存在于制程中的原因，是屬于制程的一部份。大概有85%制程的質(zhì)量問題是屬于此類，其改善須管理階層的努力方可解決。非機遇原因：原不存在于制程中的原因。大概有15%制程的質(zhì)量問題屬于此類，其改善系經(jīng)由基層作業(yè)者的努力方可解決。常態(tài)分配 99.73%95.45%68.27% -3 -2 -1 +1 +2 +3 .在隨機抽樣條件下 68.27%表在1范圍內(nèi),抽到的機率95.45%表在2范圍內(nèi),抽到的機率99.73%表在3范圍內(nèi),抽到的機率符號認(rèn)識 母體(群體) 樣本平均值 X標(biāo)準(zhǔn)差 S公式 X1+X2+ X X = n = n (X1-X)2+(X2-X)2+. (Xi-X)2 S= n-1 = n-1n-1中的1為自由度,因母體分配比抽樣范圍大.(為讓分母小一點). 若為母體則不減1.常態(tài)分配的特性1. 群體平均值()之次數(shù)最多.2. 兩邊對稱.3. 曲線與橫線不相交.4. 曲線之反曲點在1處.5. 曲線與橫軸所為之面積為1.反曲點 四、SPC的定義及實施步驟定義經(jīng)由制程中去收集資料,而加以統(tǒng)計分析,從分析中得以發(fā)覺制程的異常,并經(jīng)由問題分析以找出異常原因,立即采取改善措施,使制程恢復(fù)正常。并透過制程能力解析與標(biāo)準(zhǔn)化,以不斷提升制程能力。推行三要項1.統(tǒng)計的方法可以應(yīng)用在任何改善及追求進(jìn)步的場合。2.只是理論上的知識推演是無法融會貫通的,必須實際去了解制程管制及演練方可致效。3.持續(xù)的改善、不斷的進(jìn)步,沒有終止。不良查檢容忍浪費預(yù)先防止避免浪費管理兩面性維持&改善建立SPC的步驟1.確立制造流程 繪制制造流程圖 訂定質(zhì)量工程表2.決定管制項目 顧客之需求為何?3.實施標(biāo)準(zhǔn)化 標(biāo)準(zhǔn)之建立、修正與營運4.制程能力解析 是否符合規(guī)格或顧客的要求?5.管制圖的運用 如何正確的使用適當(dāng)之管制圖6.問題分析解決 原因為何? 如何避免問題再次發(fā)生?7.制程之繼續(xù)管制延長管制界限作為制程之繼續(xù)管制SPC的應(yīng)用步驟(圖解)一.確立製造流程二.決定管制項目三.實施標(biāo)準(zhǔn)化六.問題分析解決四.製程能力調(diào)查 Ca、Cp、CpkCpk1管制條件變動時Cpk1五.管制圖的運用六.問題分析解決七.製造之繼續(xù)管制流程五、制程能力調(diào)查制程能力定義使制程標(biāo)準(zhǔn)化，除去異常因素，當(dāng)制程維持在穩(wěn)定狀態(tài)時，所實現(xiàn)的質(zhì)量程度。制程能力評價定期評價：防止制程能力衰退(包括工具損耗、材料變異、人為變異及其它因素)。不定期評價：防止制程能力錯誤,凡生產(chǎn)條件有所變更時,須實施評價。(買入新設(shè)備、新產(chǎn)品開發(fā)、工具更換、機器設(shè)備修理完成、規(guī)格或作業(yè)方式變更時、其它生產(chǎn)因素變更時、某種工程發(fā)生不良時)。調(diào)查步驟明確的目的選定調(diào)查對象4M的標(biāo)準(zhǔn)化明確的目的標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)的教育確的目的標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)的實施數(shù)據(jù)收集.分析製程處於非管制狀態(tài)時製程處於管制狀態(tài)時找出非機遇原因製程能力的把握Cpk1.0Cpk1.0能力足夠能力不足先掌握機械能力,並追究原因標(biāo)準(zhǔn)化活動及再發(fā)防止標(biāo)準(zhǔn)化活動原因不明,且無法採取技術(shù)性的措施l 調(diào)節(jié)製程管制l 檢討規(guī)格公差l 修正檢驗等等六、數(shù)值法制程能力分析制程準(zhǔn)確度Ca(Capability of Accuracy)衡量制程之實際平均值與規(guī)格平均值之一致性。計算：100% Ca= X - T/2100% = 實際中心值-規(guī)格中心值 規(guī)格容許差 (T= Su-SL = 規(guī)格上限-規(guī)格下限)l 單邊規(guī)格無規(guī)格中心值,故不能算Ca等級判定：l Ca愈小,品質(zhì)愈佳。依Ca大小分四級等級Ca值A(chǔ) |Ca| 12.5%B 12.5% |Ca| 25.0%C 25.0% |Ca| 50.0%D 50.0% |Ca| 處置原則l A級：維持現(xiàn)狀l B級：改進(jìn)為A級l C級：立即檢討改善l D級：采取緊急措施,全面檢討,必要時停止生產(chǎn)習(xí)題：某鋼管之切削規(guī)格為75010mm，五月之切削實績?yōu)閄3=7488mm；六月份為7498mm，求Ca值及等級。制程精密度 Cp(Capability of Precision)衡量制程之變異寬度與規(guī)格公差范圍相差之情形。計算：雙邊規(guī)格 =Cp= T 規(guī)格公差 6 6個標(biāo)準(zhǔn)差 單邊規(guī)格或Cp=Cp= Su X X - SL 3 3表估計的標(biāo)準(zhǔn)差等級判定：l Cp愈大,品質(zhì)愈佳。依Cp大小分五級等級Cp值A(chǔ)+ 1.67 CpA 1.33 Cp 1.67B 1.00 Cp 1.33C 0.67 Cp 1.00D Cp 0.67處置原則l A+級：考慮管理簡單化或成本降低l A級：維持現(xiàn)狀l B級：改進(jìn)為A級l C級：需全數(shù)選別,并管理、改善工程l D級：進(jìn)行質(zhì)量的改善,探求原因,需要采取緊急對策,并重新檢討規(guī)格習(xí)題：某電鍍品其鍍金厚度規(guī)格為502.0mm1.昨日之生產(chǎn)實績?yōu)閄3=531.5 mm2.今日之生產(chǎn)實績?yōu)?12.3 mm求Cp值及等級？制程能力指數(shù)Cpk綜合Ca與Cp兩值之指數(shù)1. Cpk = (1-|Ca|) Cp當(dāng)Ca=0 時 Cpk = Cp單邊規(guī)格時,Cpk即以Cp值計算ZLSL= ZUSL=2. USL-X X-LSL Cpk= Z min 3Z值用于計算Cpk(Cp、Ca)、面積、查表知不良率等級判定：l Cpk愈大,品質(zhì)愈佳。依Cpk大小分五級等級Cpk值A(chǔ)+ 1.67 CpkA 1.33 Cpk 1.67B 1.00 Cpk 1.33C 0.67 Cpk 1.00D Cpk 10,則使用X-S公式：X管制圖：中心線 (CL)=X管制上限(UCL)=X+A3S管制下限(LCL)=X-A3SR管制圖：中心線 (CL)=S管制上限(UCL)=B4S管制下限(LCL)=B3SSC4= p Chart適用制程：l 產(chǎn)品依規(guī)格分合格/不合格、可以/不可以、通過/不通過公式： 中心線 (CL)=Pl 當(dāng)樣組樣本n相等或不超過25% P(1-P)管制上限(UCL)=P+3 n P(1-P)管制下限(LCL)=P-3 n l 當(dāng)樣組樣本n超過25% P(1-P)管制上限(UCL)=P+3 n P(1-P)管制下限(LCL)=P-3 n建立解析用管制圖(p Chart)步驟1.收集數(shù)據(jù)依測定時間順序排列.2.數(shù)據(jù)分組每組樣本內(nèi)含有15個不良品為佳.3.記入管制圖的數(shù)據(jù)欄內(nèi).4.計算每組之不良率.5.計算平均值不良率P及平均樣本數(shù)n.6.計算管制界限.7.繪制管制界線及中心線.8.點繪點在其數(shù)值之位置并以直線連接之.9.管制界限檢討-如X-R管制圖一樣.建立制程管制用管制圖(p Chart)步驟同X-R管制圖nP Chart適用制程：l 基本上與P Chart,惟每組樣本數(shù)須相同.公式：中心線 (CL)=nP 管制上限(UCL)= nP+3 nP(1-P) 管制下限(LCL)=nP-3 nP(1-P)建立解析用管制圖(nP Chart)步驟1.收集數(shù)據(jù)依測定時間順序排列.2.數(shù)據(jù)分組每組樣本內(nèi)含有15個不良品為佳.3.記入管制圖的數(shù)據(jù)欄內(nèi).4.計算每組之不良率P.5.計算平均值不良率P.6.計算管制界限.7.繪制管制界線及中心線.8.點繪點在其數(shù)值之位置并以直線連接之.9.管制界限檢討-如X-R管制圖一樣.建立制程管制用管制圖(nP Chart)步驟同X-R管制圖C Chart適用制程：l 以單位數(shù)量內(nèi)缺點數(shù)發(fā)生之次數(shù)者.公式：中心線 (CL)=C管制上限(UCL)= C+3 C 管制下限(LCL)= C-3 C U Chart適用制程：l 同C管制圖,但其檢查單位(樣本大小)不同.公式：中心線 (CL)=管制上限(UCL)=+3 /n 管制下限(LCL)=-3 /n管制圖的判讀1.任何一點超出管制上、下限。2.連續(xù)三點中,任何二點在23間。3.連續(xù)七點(不含)以上