電腦高級(jí)維修技術(shù).doc

電腦高級(jí)維修技術(shù)（內(nèi)部資料）主板維修流程& Q( . S8 E/ V2 x; w5 I& I1. PCB有無(wú)物理?yè)p傷# p- o2 s: & a6 v# n8 2. 有無(wú)燒焦的痕跡8 n% q9 9 J/ g, c; z0 u+ L( j( X3 K3. 電容有無(wú)漏液，鼓包，松動(dòng)等# . ?0 D, U4 ?( % A( l8 u4. 注意看主板上是否有被焊過(guò)) s8 t 3 w; U 5. 接口內(nèi)PCB反面是否有短路的地方% b& Y+ ?, m3 oOK 6. 看主板芯片組，是否支持測(cè)試CPU7 N: G7 V5 n! E6 E1 1 z* |7 XNO 1 F5 F& I8 C5 W3 l& a阻值偏小* y4 ?1 E D( K0 K9 x6 J6 _ m+ % T. l# E, A2 J1. 測(cè)電池是否夠2.6V以上電壓# |) e* V S: z) nOK 2. 看CMOS跳線是否跳反+ T8 M! ?( T- m1 d B* O3. 清CMOS跳線5 E+ d J7 Q+ D) p/ 4. 測(cè)POWER ON排針電壓是否夠2.5以上& c0 d8 F w/ | w4 a; X不能觸發(fā) 5. 測(cè)32.768KHZ晶振是否起振（電壓0.5V-1.6V，兩腳之間應(yīng)有電壓差） x3 ?; T/ h5 z8 Z6. 查找POWER ON，PS-ON: q* n0 ( x9 K3 c( k# u到南橋或I/O的線路0 m N5 c* z/ E P- _2 c0 R9 h7. I/O和南橋的待機(jī)電壓3 8 f$ i1 L! 1 |3 D& c8. 測(cè)I/O的信號(hào)有無(wú)輸出 u F, q8 x$ U) w9. 更換南橋或I/O! R3 A6 a/ a) m( Us( J P1 y. q8 u7 j% S1. 測(cè)場(chǎng)效應(yīng)管是否損壞1 Y3 o. A8 E7 s c; o& A2. 測(cè)場(chǎng)效應(yīng)管G極到電源IC的線路! * t4 F, M5 R. mG; G8 |3. 查電源IC是否有12V或5V供電* k( & g1 i2 p4. 查電源IC的外圍電路L9 R, a# a0 U# c. g5. 更換電源IC. v1 F6 h9 S: n5 Gs( z1 Q3 X7 H6 z2 Q0 9 vOK 1. 測(cè)時(shí)鐘芯片的3.3V和2.5V供電(個(gè)別主板沒(méi)有2.5供電); x; D6 6 x8 r / 8 g$ r$ E2. 測(cè)14.318晶振是否起振! C7 g( B4 O) 0 k( I3. 查時(shí)鐘IC周圍的電阻,電容+ t, u w# |+ L$ F4. 更換時(shí)鐘IC或晶振, k: r. 4 Q& ; _NO s* l0 n, D$ U! q# H; Q, G1. 量Reset排針電壓是否夠2.5V以上* o1 , H k g/ F X: f2. 測(cè)Reset進(jìn)南橋是否有跳變1 A7 E6 a1 _( x, S. s3. 查排針往門電路或南橋的連線1 L. K: G5 B5 , F4 J（有的主板有專門的復(fù)位芯片）C; 6 _5 u$ S2 |- W: z8 p4. 查POWERGOOD相關(guān)線路 p5 R: Y8 & COK 5. 南橋壞、北橋壞 g+ s9 F. j8 S& y$ P2 |7 N: A補(bǔ)充：CPU主供電電壓值不對(duì)，量VID線是否有開路或短路$ c# Z- U$ W% N8 L n- ti# C6 p1. 刷BIOS或換芯片刷/ v: & V# Q R0 b F8 V 1. 測(cè)BIOS有 A. 有片選 2. 測(cè)BIOS數(shù)據(jù)線、復(fù)位# M9 i. w) R( B3 M無(wú)CS片選 時(shí)鐘（把BIOS拔下來(lái)）$ F+ l$ j2 t- b/ L# B1 e3. 測(cè)PCI的AD線對(duì)地阻值( s+ L2 u1 G v1 j/ j4. 測(cè)CPU座周圍的排阻- I$ G) F2 Q- 9 F7 g9 wq4 E8 T|1. 測(cè)PCI的Frame(幀周期) ! X- v$ D: F: w2. 如無(wú)幀周期信號(hào)再量CPU的! Q8 w$ E- w4 U iADS#和DBSY（南橋）; y( F0 P& G! 9 Jo! W a、如有ADS#或DBSY而無(wú)PCI6 z2 v r0 vW* XB. 無(wú)片選 幀周圍信號(hào)北橋可能壞# t! # H& iEV y% 3 t7 J b、如有幀周期信號(hào)，則南橋可能壞 t+ X7 w- G9 ENG1 mOK c、最終通過(guò)CPU之HA，HD和PCI; O: - o1 n$ w9 $ h0 v. | 的AD線來(lái)確定南北橋好壞9 g8 v& ?3 r8 L; mA& T: h: y$ % t# _5 |& K; kS0 E i+ l0 n7 b) k在PCI有復(fù)位的情況下： ?4 ( N D c , O: 1 s ?2. 無(wú)CPU復(fù)位 1. 北橋及周圍電路6 wh# n6 B4 a/ d1 J2. 查CPU到北橋之間是否斷線 3 E) H4 k 7 A2 s, T+ d, a1 _. r: cA8 w: t7 l0 b1. 內(nèi)存接口接觸不良# F3 l7 e* g1 V2 B; Q2. 量?jī)?nèi)存供電SDR（3.3V）；DDR（2.5V）負(fù)載電壓1.25V2 N5 t2 y1 . ( r8 D3. 測(cè)內(nèi)存CA/CS片選信號(hào)& _0 H5 V6 |# ; a1 NO 4. 測(cè)內(nèi)存時(shí)鐘CLKB/ Y# v* k( % 1 g+ HC1，C3，A7等 5. 測(cè)SDA、SCL1 i; Y |5 y, 6. 測(cè)內(nèi)存接口旁邊的排阻 m8 t0 m9 U: o7 B% J0 ) q1 J% s8 I1 m7. 刷BIOS9 7 t8 w, ?- M% N8 N8. 北橋壞、I/O ( & X$ K* cZ8 J7 ! H1. 32768KHZ晶振是否有雜波, p8 W d9 ! h3 : T2 COK 2. I/O壞 8 2 l5 f5 + u4 q; FC1C5循環(huán) 3. I/O與南橋的連線$ z7 n; H M s) |4. BIOS壞7 KD f& + G( k% B2 R) Q# K5. 南橋壞5 J8 dc k0 B P7 i1刷BIOS3 Y2 U% $ f n( / u8 h 檔OB2. 量HD的數(shù)據(jù)線- H f3 F1 |. e% G5 q) u, W- V4 T 3. 查北橋和AGP之間線路. 9 T. n. 3 * a% x4 f N D2 f+ R- b R$ X0 u0 b1測(cè)內(nèi)存供電，清除CMOS! + _* m0 B) ROK 檔B0 2. 測(cè)北橋供電/ r4 0 JI$ H8 K3. 北橋壞5 E) C& nr8 U, _3 l & W$ b% r6 |0 V: : * C6 B# E, w4 : N7 T% J& p. DA9 v t2 V, k0 B5 1. 查CPU是否超頻% d% z$ y; T: Z# G5 p( e* v# E) ; h% G 檔od2. 更換74F244- M7 d0 CZ+ ONO3. PCI接口之間電阻和排阻; b( B/ 7 T9 q2 K& n8 T2 $ W還是檔機(jī)$ O0 F1 w5 Q7 t8 _5 YF1. 量AGP的AD線 j& n0 B8 N/ f9 # v 檔2d 2. 測(cè)INTA信號(hào)+ T; |8 j( Io( # Y 3. 北橋供電* S0 W4 D% p( R* + J 4. 北橋壞) I, l& xR9 q# W0 $ v2 J- X; j9 L7 z7 x* S) ?6 h Z/ K b OK 1. 刷BIOS2 ( f& K, g: 5 K) H* G+ X4 _檔26 2. 北橋供電 H4 K- r; x. A R$ T! Q 3. 清CMOS, n+ 0 ?+ ZU$ B- / G/ _# ! p 4. 北橋壞+ l0 I2 p; w$ ! E# I! W, Y9 E 1. I/O供電A6 . 4 s+ r# G檔50 2. I/O不良% % E/ n1 e3 X( 4 v3. 南北橋供電* Z+ p2 : O0 j, M# y ; A: * J+ P) j* ! K* D8 ?* u1. 刷BIOS或換BIOS. s( j. k) J/ |7 A/ 2 t檔41 2. 量BIOS的數(shù)據(jù)線有無(wú)短路8 l7 Z j( X, s: H+ 0 J 3. 量HA和HD有無(wú)短路, n7 x# F; & Q! m6 R, y/ _* W3 X 4. 南橋或I/O壞! A6 o# B( T% j! L. U% a$ U2 e) q2 Z1. 測(cè)硬盤接口對(duì)地?cái)?shù)值3 r9 h! F k: m: f* V0 P( P 檔硬盤 2. 查硬盤口排阻或電容6 z1 ) s$ X2 K3 N% A5 2 z3. 南橋不良* dp4 U) p; i! y& n+ g; E8 l) K# j5 R* P7 t+ MOK: n% & n5 l2 n, h9 5 b1. 北橋供電4 l) w$ z5 z檔機(jī) 2. 南橋不良 J: u: K/ H* 8 v4 o, i$ X. K6 S3. 北橋不良: L: y/ n% , r% + q0 w6 _/ f1 KS0 aB: F# X1 5 Q1 y$ |7 x9 o+ I6 OK! j% W3 c7 V4 e3 O4 W1. 刷BIOS+ W6 f$ J4 F, f S- 0 b* R! kNO 2. CMOS電路1 2 s# k5 I9 c3. 更換內(nèi)存4 5 r# ?9 1 l ?. a不能進(jìn)系統(tǒng) 4. 南橋旁邊電阻，排阻或南橋壞% B6 i: W3 a& f/ j; B; n6 i6 G 5. 查CPU周圍排阻、電容。 M+ s4 Z1 q6 B2 M ?; p6 ( o5 |+ oOK / q. D) F/ N& Y 0 9 p7 _2 v3 0 L+ - 2 O8 g* k$ s) j$ b& B* p- c* K: B9 ?- * I3 W& 4 d# * B. / s! m) JC: . r+ M# q tP: b 0 s1. 時(shí)鐘頻率不對(duì)0 N9 0 g% 1 B K( M2. I/O不良8 R$ d( f4 q: t! n: F- Z! X. Y7 m. _ 出現(xiàn)死機(jī)藍(lán)屏3. 南橋不良 不穩(wěn)定也是一樣% P8 r5 p: x$ C7 I3 K4. 參考電壓偏低 H0 W2 e9 g: e6 N7 $ u 5. 南北橋脫焊/ n& F+ l# U- L8 u6 * d6 a8 0 N7 xOK! y* n3 O w- O3 A h- T, T. k9 C# l1 V* k8 5 a4 X 1. 量AGP之1N1A r$ C! z( % C7 a; g, l2. 量AGP之INTR J) u6 V; X0 C$ C- A6 ?0 k顯卡無(wú)法裝驅(qū)動(dòng)，即不能裝顏色 3. 北橋供電或北橋不良: # a/ x- r4 q6 + l! i8 Z3 D5 b, m E3 ( ? B; w; 4 W+ h: uOK7 M& 9 _. t5 P8 ( S; l4 5 2 z0 M6 d3 dn! e) ! m- g圖6-2 主板檢修流程圖1 I8 F- a: M2 e, P6 X$ Q1 X. t6 m2 SI8 T依據(jù)個(gè)人習(xí)慣，故障檢測(cè)的流程可以各不相同，這里我們按先易后難、先簡(jiǎn)后繁的原則介紹一下我們的檢測(cè)流程(供參考)。由于目前P級(jí)主板已基本淘汰，所以一般以P級(jí)以上檔次主板為主來(lái)介紹。: R- t6 G- _) I! O j+ 1. 目測(cè)：拿過(guò)一個(gè)主板，先目測(cè)一下主板有沒(méi)有明顯的機(jī)械損傷、燒壞、劃痕、元器件缺損等。順便了解一下主板的基本情況，比如廠家型號(hào)，芯片組型號(hào)，能支持CPU的類型等。4 X* 5 M- J; % & s- s6 q2. 根據(jù)主板的型號(hào)，插上電源插頭、測(cè)試卡、CPU假負(fù)載，通電，測(cè)試主板各部分的供電情況。6 v5 y9 R! Y. h8 u) R% W2 ; v3. 如果不能觸發(fā)開機(jī)，可以把電源插頭的綠色線PS-ON對(duì)地短路強(qiáng)制開機(jī)。對(duì)于P級(jí)以上的主板，有四個(gè)電壓必須正常，其一是南北橋的3.3V供電；其二是CPU的主供電（Vcore）；其三CPU的內(nèi)核電壓1.5V；第四是CPU的外圍2.5V供電。如供電不正常，首先要解決供電問(wèn)題。通電測(cè)電壓的同時(shí)要注意觸摸主板上的一些主要芯片，如南北橋、I/O、時(shí)鐘發(fā)生器、電源控制器、場(chǎng)效應(yīng)管等、看它們是否有溫度過(guò)高的情況。4 J v$ D6 y# ?* u- E. n5. 如果CPU供電正常，接著把跳線跳好，包括CMOS跳線、電壓跳線、倍頻外頻跳線等，然后就可以把CPU插到主板上了，插上CPU后還要再次測(cè)試CPU的供電，以防電壓不正常燒壞CPU。! R+ S+ B Q$ T6. 通電后注意觀察測(cè)試卡的代碼顯示情況，一般來(lái)說(shuō)會(huì)有以下幾種情況：如圖6-2所示% S! R# ) q$ t4 H/ M: z1 F% z3 Q$ y+ t, h. q6.4 主板常見故障總結(jié). Z* m8 E1 % ) _3 9 V3 N9 g: x6 y1 x! - y1 D4 A1主板不加電（開機(jī)觸發(fā)電路不工作）+ Q Q* T% P3 fG9 y某些主板，未插CPU以前，不開機(jī)+ s! , L8 Z% D2 w& J! 換電源有時(shí)可解決問(wèn)題 t) O- 4 L5 s. q8 電池沒(méi)電$ 8 ?3 h0 d C: Y5 Q8 wCMOS跳線& Y C% w* ( U. R板上粘有導(dǎo)電物$ t( T5 u3 & P |5 W5 X0 sPCB有斷線+ S# B, ) / c9 ?電源控制器芯片壞1 h# z) n4 d( ! n- m2 z$ C邏輯門電路芯片壞& Qy 0 l6 j板上某芯片短路( T* S+ E$ w, R4 J7 T/ B2 L實(shí)時(shí)時(shí)鐘壞0 P3 D# 4 U9 D- h8 v3 P+ / b8 C8 h時(shí)鐘發(fā)生器壞7 R # r& T8 * U! Q/ a# CI/O芯片壞7 n5 g, O/ z1 Y2 U 南橋壞% t2 7 k9 N _! D3 6 P8 a4 p/ _, r0 Q# S! P; o+ a+ % Y2供電不正常. b( r3 ?4 V0 G* d; w某些主板，未插CPU以前，供電不正常Y* O1 v. L. k3 s+ / N4 k電源插座+5V，+12V，+3.3V A( # f# P2 G板上沾有導(dǎo)電物$ j5 S e$ r! i( Y5 R, $ B$ Q2 F板上某一個(gè)或幾個(gè)芯片短路3 d9 i8 s; c|1 s板上PCB有斷線現(xiàn)象% g6 K+ E8 H$ t. a與+5V相連的電感線圈、電解電容7 Z7 a/ J g& ( E場(chǎng)效應(yīng)管 Q% L7 S1 h# s- X& r; A) G與場(chǎng)效應(yīng)管輸出端相連的電感線圈、電解電容/ A9 s8 5 q9 N, J; c+ K- 電源控制器8 S5 U9 M1 e& |7 M r) a3 % g) I電源控制器的外圍電路, y/ f) c3 Z3 f7 7 d場(chǎng)效應(yīng)管的柵極電壓及通路9 3 a. k2 Z7 T檢查南北橋、I/O、時(shí)鐘發(fā)生器的、BIOS的供電$ H6 h5 S3 Q$ B3 r+ k4 q+ + l+ R3 j4 q8 q0 c& c( V4 Q3無(wú)時(shí)鐘: p Q6 I; X j1 Y# p查供電3.3V 和2.5V- i9 G: M6 時(shí)鐘發(fā)生器的外圍電路：晶振、諧振電容、激勵(lì)電壓、限流小電阻。/ F6 s, R. u, y板上粘有導(dǎo)電物2 L% H! 1 y8 F4 ; H( PCB有斷線/ h B) _3 w4 & A北橋損壞會(huì)導(dǎo)致時(shí)鐘發(fā)生器部分輸出端無(wú)波形。/ 3 z. M2 a2 O! k& i時(shí)鐘發(fā)生器或晶振損壞. s2 Oa) g; 9 W: Q- J, _7 + e& g% hs/ w4不復(fù)位+ E- e4 F4 c! B某些主板，不插CPU不復(fù)位4 Zo! q8 q: O |2 t換電源有時(shí)可解決問(wèn)題7 A5 Z. g. Y0 3 P6 S; 5 p# XCMOS跳線錯(cuò)有時(shí)不復(fù)位 ( I( n/ |! W8 C當(dāng)+5V，3.3V等電源指標(biāo)不符合要求時(shí)，系統(tǒng)會(huì)發(fā)出RST信號(hào)+ * O1 M. N, I/O芯片壞. # A. D0 T1 w c8 X, c. M1 v; y邏輯門電路芯片壞% a1 G2 z5 R8 A4 M: C: p( f實(shí)時(shí)時(shí)鐘壞% U 2 _2 e1 Y% 5 ZQ% F2 V M時(shí)鐘發(fā)生器壞0 G. R+ N) B, K S南北橋，I/O，ISA，PCI等地方供電問(wèn)題6 |! c4 _: h, V B I電源控制器芯片壞, h/ 5 C! 2 S. . q; QPCI卡的RST連入南北橋、AGP，如不復(fù)位也可能是北橋壞! p$ JX1 1 e) O+ i+ n+ q南橋壞% D q; D/ 9 O0 RH) , $ a8 b! J4 E3 T) 6 Y; C/ N; i5自動(dòng)開機(jī)7 T8 % u0 F/ s5 某些主板，不插CPU、內(nèi)存、顯卡等會(huì)自動(dòng)開機(jī)+ v: N* Q# _7 m: U5 A; : BBIOS設(shè)置有問(wèn)題3 N. e, Y4 j; p- J/ M* Cs與開機(jī)相關(guān)的某電容漏電$ f4 z( t8 2 K. Q: y1 K, MPWR相關(guān)通路并入一個(gè)電容 _2 H3 % + M2 . b1 z# T% p E! m邏輯門電路芯片壞) E6 n+ # n% h. FI/O芯片壞 z+ m6 M8 Y, ( G1 KN南橋壞0 p; T. E, % y& J0 L8 C- D# S d# l( t2 r0 k6. 自動(dòng)復(fù)位4 L6 I1 l6 q8 A- w8 B0 YPOWERGOOD電路有電容漏電$ $ r5 z! q* SI0 l7 G南橋壞+ T$ r- j; _, aK8 o( % e5 I; e$ 6 Y2 t |$ J$ : J7如CPU不工作7 OS9 % R4 w 刷新BIOS0 _9 k* f# z換電源、換CPU、換轉(zhuǎn)接卡有時(shí)可解決問(wèn)題, P/ B; 9 A$ W! eBIOS座接觸不好，尤其是PLCC的BIOS座& I9 L& X# U1 + O( Q( B( 4 jBIOS供電 2 r& D4 J& c- D) 2 BIOS的CS、OE* R4 z2 w2 z/ _& W B4 q$ # nBIOS的地址、數(shù)據(jù)線5 j# p O7 a0 u0 T3 e/ 5 p oPCB斷線、板上粘有導(dǎo)電物0 L; ( t% V1 x, Q g3 o電池是否有電/ N8 M4 ?& O9 _! 3 V- MCMOS放電，重新設(shè)置BIOS; y$ l& I) y+ R+ x) p; GCMOS跳線- r, w( I+ Q* U4 r0 I4 q1 s: W外頻倍頻跳線，用示波器測(cè)CPU外頻，看跳線是否正確，有沒(méi)有超頻。0 l 5 V+ m/ EC$ H3 I/O壞，導(dǎo)致ISA復(fù)位電壓1.5V，CPU也不工作5 ) R( u$ T+ + w% I3 |I/O短路，導(dǎo)致BIOS的總線不正常- F T. Ad4 U* 8 m+ k有些主板，插上測(cè)試卡會(huì)導(dǎo)致CPU不工作s/ : |/ m6 f% aI/O，南北橋等芯片供電不正常 / T3 H1 D Z4 Z南北橋虛焊，加壓1 j: S5 L8 e7 Z. fCPU接口臟，針腳壞，接觸不好# g4 _* k0 c8 * d時(shí)鐘發(fā)生器工作不正常，某些輸出端無(wú)波形；2 x8 $ _ g: m3 F- & R0 監(jiān)控芯片、集成的聲卡、網(wǎng)卡、DMA66芯片壞6 v9 K P- : z5 r+ mISA、PCI、CPU等總線有地址或數(shù)據(jù)線斷裂，需打阻值來(lái)查找故障點(diǎn) U2 F2 z1 G$ F$ & V& 南北橋壞. h+ O! * $ _6 I0 c* & r n t5 b# g b: S8. AGP接口不能用, g0 m1 0 t6 G l% p0 G接口壞. X, & e3 l; X( ! D2 NmCPCB斷線、板上粘有導(dǎo)電物6 Q; i% _/ v2 FAGP供電5 W- c2 v1 IL, Y9 G o北橋壞4 L2 # J# n) e9 U U! H+ f% J- Q, Z9. 顯示到內(nèi)存容量不動(dòng)$ z# d9 a% i% B- Y: / c內(nèi)存壞或接口壞6 9 ! K0 ?n. ?t北橋壞, v2 W; D# M- F: 9 K0 S; Z4 b4 m+ L$ |1 s9 S10. 64M顯示為16M+ B1 as1 n+ A0 O. I換內(nèi)存! B+ c0 : i4 t7 I8 w刷BIOS. K& H n, 2 k _1 z% l設(shè)置CMOS& M5 h h, a9 m$ 9 Y( E; U) . N/ 北橋壞/ s8 Z% ?- M$ Q; * x3 D o& A11. 鍵盤鼠標(biāo)口不能用0 Y; q; v% Y o; / ! |. Y. F鍵盤跳線 q0 y- S2 h7 J& M7 A/ g刷BIOS$ F4 E4 n3 a; u9 i; Zt7 L) p3 i鍵盤鍵盤接口損壞G l x6 r1 C& P7 M+5V供電. i2 ? h) B6 K6 y* k$ l! eCLK、DATA的+5V提升電壓, h2 z9 l2 ! J3 Yz) w h濾波電容! ( E) J3 G; F; l T電感& ! 3 . ?$ |1 y$ E% tCLK、DATA斷線; m$ SS1 v4 t; BKEYLOCK5 + l h) e+ I+ p* c3 DI/O外圍電路+ C5 r) P7 c7 O KI/O壞1 t6 5 Q9 ( C0 ?南橋壞（鍵盤口集成在南橋里）8 l4 V, B e+ D換電源有時(shí)可解決問(wèn)題4 g+ E2 ; x3 R/ o1 v) g- 0 L5 8 H鍵盤口鼠標(biāo)口有時(shí)上下顛倒 ?2 r( |& x; s9 & 7 f; b. c n. W: a( K; q12. 顯示屏顯示到CPU主頻時(shí)不動(dòng)* K; x* x$ D/ u0 X9 HCPU接口接觸不良7 : r9 b+ |) a& K7 % . 5 X/ w跳線或CMOS設(shè)置錯(cuò)誤. v! V+ M+ Z% . I9 X, z( ! g北橋與CPU之間線路壞h) F6 G! lZ0 u, d- _ O0 7 M+ L- E% I6 B. l, ; L13 檢測(cè)CPU、內(nèi)存時(shí)死機(jī)6 z( a& T7 F! a$ ?9 S2 9 a換CPU、換內(nèi)存、換電源$ s7 7 Y J) S9 e) U清除CMOS2 O0 B! I$ L/ ECPU超頻跳線2 0 A/ n6 X6 D7 A5 g% Q刷BIOS1 v& |9 B. x$ W N- TCPU供電濾波不良& G4 M( M# ! s+ iz0 C, d9 yu8 q8 d14 不能正確識(shí)別CPU$ ! Z6 R; E+ S( ) 刷BIOS$ i+ C: z) B1 W& CMOS設(shè)置1 o* Y; J+ o& b& dCPU接觸不良，或CPU損壞。 J. W* A0 z+ p8 ) b- ( p: I+ X比如433被識(shí)別為488，時(shí)鐘發(fā)生器壞、時(shí)鐘發(fā)生器外圍電路壞$ s7 f* 4 5 S) n1 l0 z8 O4 J$ 1 Z# E 3 0 9 s15 檢測(cè)IDE時(shí)不動(dòng)5 _S5 h/ x7 # , A硬盤與光驅(qū)連線沖突7 C, d# s3 B, K( j4 x硬盤參數(shù)設(shè)置錯(cuò)誤% n2 N4 Dd5 v s G1 R0 q* 5 V硬盤排線、插針接觸不良( M! H& 0 + u! z kU南橋旁的排阻壞或南橋壞: Z8 ! R/ A6 & Z3 K |, A$ W, S8 n0 H* D; 16 IDE口不能檢測(cè)到, v7 R! vY& t T: H$ sIDE口插針壞$ |$ z1 J) M3 I7 c2 MARST沒(méi)有# Z4 P/ j+ WK% m Z刷BIOS2 n7 g& K/ i% q- P# RIDE到南橋之間排阻壞 s: b+ v( D, O# $ E IPCB短路或開路# B8 O# v4 V- C) I南橋壞 c) , E7 0 _- 2 l, _* y9 Ze- a9 _. d! K% c6 R17 軟驅(qū)檢測(cè)錯(cuò)誤/ 6 h) K, K8 Y2 q# mBIOS設(shè)置錯(cuò)誤/ F* t( P( u& X4 b- e排線接反或壞# B# f8 T8 c3 C& K7 |- e接口或I/O壞) J X8 R7 F G. T5 F8 d& F) J4 m6 q) T. A% x3 s L18 不能保存CMOS信息9 H3 |, 4 S! n5 p電池電壓不夠2.5V以上 B1 o+ h. c6 s5 OCMOS跳線錯(cuò)! E) A! o( d! s( X7 ) M電池座壞& b% q- B: J* m2 n南橋壞3 o & I M* e+ l! n: RPCB斷線* j+ V* ; |) P; R9 s6 D- te% x二極管! A# Q0 n l( z1 W% r( A1 g3 5 p; z. K% y0 o8 p1 h9 y+ 19 不能進(jìn)入操作系統(tǒng)2 4 L$ Z( ) f8 n. r w2 fCPU、內(nèi)存頻率不對(duì)或CPU主供電濾波不良 F( m0 . p; t4 3 CMOS設(shè)置硬盤參數(shù)、CACHE關(guān)閉、優(yōu)化性能關(guān)閉、DMA66功能關(guān)閉$ D. $ Bi% 換數(shù)據(jù)線5 b, s h$ JF5 換硬盤+ F) % q1 R. _% T/ X$ m5 e刷BIOS/ m/ _9 h; ) r) ?. J南橋旁排阻壞2 O* O( Z O$ S% a2 F7 I2 u. K- q1 i+ 4 E: d4 p20 進(jìn)操作系統(tǒng)過(guò)程中死機(jī), r1 j7 D: j! z0 / : CCPU、內(nèi)存超頻了 i, t$ s0 c; 0 + ? XCPU供電濾波不良: N! 0 ) |2 q! I7 h5 h, G3 y某芯片發(fā)熱; n$ V y. v8 z; 2 O, o Y. ? R硬件某部分資源不正常，在CMOS里把其關(guān)閉或更換該集成資源的芯片0 E# F G- I! 6 n6 o( u N9 q8 5 D Z6 U1 _% y21 LOGO畫面死機(jī). p% o7 m & F( U* p O時(shí)鐘發(fā)生器不良A5 z; j$ q( x( H. ZI/O不良或不穩(wěn)定) s# % A6 Q4 B, k% l c南橋或北橋性能變差: F& 6