GB 15208.1-2005 微劑量X射線安全檢查設(shè)備 第1部分：通用技術(shù)要求

CS13.310A91中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB15208.1-2005代替GB15208-1994微劑量X射線安全檢查設(shè)備第1部分：通用技術(shù)要求Micro-doseX-raysecurityinspectionsystem-Part1:Generaltechnicalreguirements2005-09-01發(fā)布2006-06-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會GB15208.1一2005三次前言引言1范圍2規(guī)范性引用文件3術(shù)語和定義4通用技術(shù)要求5試驗方法6測試圖像的評價7包裝、標(biāo)志、貼存和運輸隨機(jī)技術(shù)文件附錄A（規(guī)范性附錄)世漏電流測試方法附錄B（規(guī)范性附錄)泄漏射線劑量率測試散射體15附錄C（資料性附錄)測試圖像評價記錄表16GB15208.12005本部分的全部技術(shù)內(nèi)容為強(qiáng)制性微劑量X射線安全檢查設(shè)備分為兩個部分：-第1部分：通用技術(shù)要求;第2部分：測試體。本部分是第1部分。本部分是對GB15208一1994微劑量X射線安全檢查設(shè)備的修訂,修訂的內(nèi)容包括1.修改后的標(biāo)準(zhǔn)包括兩部分：GB15208.1一2005微劑量X射線安全檢查設(shè)備第1部分:通用技術(shù)要求和GB/T15208.2微劑量X射線安全檢查設(shè)備第2部分:測試體;2.增加了新定義；3.提高了安全性要求;修改了試驗方法和檢測方法;修改了電磁兼容部分，增加了對設(shè)備強(qiáng)擾度要求;6修改了規(guī)范性附錄;7，刪除了“檢驗規(guī)則”。本部分自實施之日起代替GB152081994。本部分的附錄A和附錄B為規(guī)范性附錄.附錄C為資料性附錄。本部分由中華人民共和國公安部提出。本部分由全國安全防范報警系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC100)歸口。本部分由公安部第一研究所、中國民用航空總局公安局制定。本部分主要起草人：崔玉華、陳學(xué)亮、孟波、林彥群、王立軍、呂保軍。本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次發(fā)布情況為：GB152081994.GB15208.1-2005本部分包含了微劑量X射線安全檢查設(shè)備的基本要求,這些要求是根據(jù)工程設(shè)計的原理、研究結(jié)果、實驗記錄和現(xiàn)場工作的實際經(jīng)驗，以及生產(chǎn)制造、安裝、使用過程中的問題和有關(guān)生產(chǎn)廠商、用戶、權(quán)威機(jī)構(gòu)和在這個領(lǐng)域有著豐富經(jīng)驗的專家共同協(xié)商的結(jié)果。訂工作參考了UnderwritersLab（UL)187StandardforX-rayEquipment”、21CFR1020.40FDAPerformanceStandardsforIonizingRadiationEmittingproducts”GB9706.1-1995（idtEC60601-1:1988）醫(yī)用電氣設(shè)備第一部分：安全通用要求、GB4793.11995(idtIEC61010-1:1990)測量、控制和試驗室用電氣設(shè)備的安全要求第1部分：通用要求等標(biāo)準(zhǔn)。GB15208.12005微劑量X射線安全檢查設(shè)備第1部分:通用技術(shù)要求范圍本部分規(guī)定了微劑量X射線安全檢查設(shè)備(以下簡稱設(shè)備)的技術(shù)要求和試驗方法，是設(shè)計、制造組裝、驗收和使用此類設(shè)備及制定產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的基本依據(jù)。本部分適用于各種透射式微劑量X射線安全檢查設(shè)備規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是杏可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。GB/T191包裝儲運圖示標(biāo)志(GB/T1912000,eqyISO780:1997）GB/T2423.1一2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A:低溫(idtIEC60068-2-1:1990)GB/T2423.22001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B:高溫（idtIEC60068-2-2:1974)GB/T2423.31993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca:恒定濕熱試驗方法（eqvIEC60068-2-3:1984）GB/T2423.51995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ea和導(dǎo)則：沖擊(idtIEC60068-2-27:1987）GB/T2423.10一1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分;試驗方法試驗Fe和導(dǎo)則：振動(正弦）(idtIEC60068-2-6:1982)GB4208-1993外殼防護(hù)等級(IP代碼)eqvIEC60529:1989)GB9254一1998信息技術(shù)設(shè)備的無線電騷擾限值和測量方法（idtCISPR22:1997)GB/T15208.2！1微劑量X射線安全檢查設(shè)備第2部分:測試體GB17060一1997X射線行李包檢查系統(tǒng)的放射衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)GB/T17626.2一1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(idtIEC61000-4-2:1995）GB/T17626.31998電磁兼容試驗和測量技術(shù)耐頻電磁場輻射抗擾度試驗（idtIEC61000-4-3:1995)GB/T17626.4-1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗（idtIEC61000-4-4:1995)GB/T17626.51999電磁兼容試驗和測量技術(shù)浪涌(沖擊)抗擾度試驗(idtIEC61000-4-5:1995)