采用紫外可見光譜法求取禁帶寬度PPT演示課件

由UV-vis光譜求樣品的Eg,1,一半導(dǎo)體禁帶求導(dǎo)公式,2,通常(ahv)是有單位的，(eV)1/2.cm-1/2或(eV)1/2.cm-1/2。由上述公式可知，（ahv）1/2和(ahv)2只與hv成線性關(guān)系，能用于估算Eg。由朗伯-比爾定律知，A=abc，a是吸光系數(shù)，b是比色皿或者薄膜樣品厚度，c是濃度。b，c是固定值，a=A/bc=A/K。禁帶公式可寫成如下形式：,3,4,K值的大小對Eg沒有影響，以hv為橫坐標(biāo)，以或為縱坐標(biāo)，作圖，再做切線，即可得到Eg。hv用1024/波長代替。前者為直接半導(dǎo)體禁帶寬度值，后者為間接半導(dǎo)體禁帶寬度值。A(Absorbance)即為紫外可見漫反射中的吸光度。,5,Kubelka-Munk公式,A=-lg(R)（1）F(r)=(1-R)2/2R=a/s（2）R為反射率,a吸收系數(shù)，s反射系數(shù)求禁帶寬度：利用第一個公式求每個吸光度對應(yīng)的R，用E1240/波長，做橫坐標(biāo)，利用第二個公式求F（R），再用做縱坐標(biāo)，做圖，再做切線，即得帶隙圖譜,6,二求半導(dǎo)體禁帶實例,將紫外可見分光漫反射數(shù)據(jù)導(dǎo)入到excell，然后進行數(shù)據(jù)處理，下面用第一個公式進行數(shù)據(jù)處理：,7,8,9,10,下面用Kubelka-Munk公式處理：,11,12,13,三關(guān)于K值大小對結(jié)果的影響,14,同一組數(shù)據(jù)在不同的處理方法下得到的Eg.以下也是這一組數(shù)據(jù)的處理,15,16,17,由上圖可見，密度，厚度等因素影響K的大小，但并不影響所求的Eg.,18,由UV-vis光譜求樣品的Eg,19,一半導(dǎo)體禁帶求導(dǎo)公式,20,通常(ahv)是有單位的，(eV)1/2.cm-1/2或(eV)1/2.cm-1/2。由上述公式可知，（ahv）1/2和(ahv)2只與hv成線性關(guān)系，能用于估算Eg。由朗伯-比爾定律知，A=abc，a是吸光系數(shù)，b是比色皿或者薄膜樣品厚度，c是濃度。b，c是固定值，a=A/bc=A/K。禁帶公式可寫成如下形式：,21,22,K值的大小對Eg沒有影響，以hv為橫坐標(biāo)，以或為縱坐標(biāo)，作圖，再做切線，即可得到Eg。hv用1024/波長代替。前者為直接半導(dǎo)體禁帶寬度值，后者為間接半導(dǎo)體禁帶寬度值。A(Absorbance)即為紫外可見漫反射中的吸光度。,23,Kubelka-Munk公式,A=-lg(R)（1）F(r)=(1-R)2/2R=a/s（2）R為反射率,a吸收系數(shù)，s反射系數(shù)求禁帶寬度：利用第一個公式求每個吸光度對應(yīng)的R，用E1240/波長，做橫坐標(biāo)，利用第二個公式求F（R），再用做縱坐標(biāo)，做圖，再做切線，即得帶隙圖譜,24,二求半導(dǎo)體禁帶實例,將紫外可見分光漫反射數(shù)據(jù)導(dǎo)入到excell，然后進行數(shù)據(jù)處理，下面用第一個公式進行數(shù)據(jù)處理：,25,26,27,28,下面用Kubelka-Munk公式處理：,29,30,31,三關(guān)于K值大小對結(jié)果的影響,32,同一組數(shù)據(jù)在不同的處理方法下