燕山大學(xué)材料考研第5章_X射線衍射實(shí)驗(yàn)方法

1、第五章第五章 X射線衍射實(shí)驗(yàn)方法射線衍射實(shí)驗(yàn)方法5.1 衍射方法分類(lèi)衍射方法分類(lèi)5.2 照相法照相法5.3 衍射儀法衍射儀法在這部分中，加入范雄P25，式樣制備、靶材選擇，濾波片的選擇5.1 衍射方法衍射方法5.1.1 衍射方法分類(lèi)衍射方法分類(lèi)1、按衍射原理分類(lèi)按衍射原理分類(lèi)1. 1. 勞埃法勞埃法 連續(xù)連續(xù)X X射線，不動(dòng)單晶體射線，不動(dòng)單晶體類(lèi)似于電子透射類(lèi)似于電子透射 在衍射實(shí)驗(yàn)時(shí)，單晶體不動(dòng)，采用連續(xù)在衍射實(shí)驗(yàn)時(shí)，單晶體不動(dòng)，采用連續(xù)X光作入射光作入射光束。這樣反射球的半徑從光束。這樣反射球的半徑從1/min到到1/max連續(xù)連續(xù)變化變化(其中，其中，min為短波極限，為短波極限， m

2、ax為可以起作為可以起作用的最大波長(zhǎng)用的最大波長(zhǎng))。 這時(shí)反射球已不是一個(gè)薄層而是具有一定厚度的這時(shí)反射球已不是一個(gè)薄層而是具有一定厚度的殼體，從而倒易點(diǎn)落在這個(gè)殼體內(nèi)者均與反射球殼體，從而倒易點(diǎn)落在這個(gè)殼體內(nèi)者均與反射球相交，這樣也就增加了反射球與更多的倒易點(diǎn)相相交，這樣也就增加了反射球與更多的倒易點(diǎn)相交的機(jī)會(huì)也即增加了反射的機(jī)會(huì)。交的機(jī)會(huì)也即增加了反射的機(jī)會(huì)。 由于晶體不動(dòng)，入射線和晶體作用后產(chǎn)生的衍射由于晶體不動(dòng)，入射線和晶體作用后產(chǎn)生的衍射束表示了各晶面的方向，所以此方法能夠反映出束表示了各晶面的方向，所以此方法能夠反映出晶體的取向和對(duì)稱(chēng)性。晶體的取向和對(duì)稱(chēng)性。2. 2. 周轉(zhuǎn)晶體法周

3、轉(zhuǎn)晶體法單色單色X X射線，轉(zhuǎn)動(dòng)單晶體射線，轉(zhuǎn)動(dòng)單晶體 在衍射實(shí)驗(yàn)時(shí)，單晶體圍繞一個(gè)結(jié)晶學(xué)方向轉(zhuǎn)在衍射實(shí)驗(yàn)時(shí)，單晶體圍繞一個(gè)結(jié)晶學(xué)方向轉(zhuǎn)動(dòng)，入射單色動(dòng)，入射單色X射線垂直轉(zhuǎn)動(dòng)軸入射。這時(shí)單射線垂直轉(zhuǎn)動(dòng)軸入射。這時(shí)單晶體的某些倒易點(diǎn)陣依次穿過(guò)反射球，當(dāng)?shù)挂拙w的某些倒易點(diǎn)陣依次穿過(guò)反射球，當(dāng)?shù)挂c(diǎn)和反射球相遇時(shí)即可能發(fā)生衍射。點(diǎn)和反射球相遇時(shí)即可能發(fā)生衍射。3. 3. 粉末法（德拜謝樂(lè)法）粉末法（德拜謝樂(lè)法）單色單色X X射線，多晶體射線，多晶體照相法照相法衍射儀法衍射儀法照相法與衍射儀法所得圖像對(duì)比照相法與衍射儀法所得圖像對(duì)比實(shí)驗(yàn)方法實(shí)驗(yàn)方法 采用單色（特征）采用單色（特征）X射線作輻射源。射

4、線作輻射源。 被分析的試樣為很細(xì)（被分析的試樣為很細(xì)（10-5-10-7m）的粉）的粉末，或者根據(jù)需要也可以是多晶體塊、末，或者根據(jù)需要也可以是多晶體塊、片、絲。片、絲。 衍射花樣通過(guò)照相法或者衍射儀法記錄。衍射花樣通過(guò)照相法或者衍射儀法記錄。 在衍射實(shí)驗(yàn)時(shí)，用在衍射實(shí)驗(yàn)時(shí)，用單色單色X射線射線照射多晶體。照射多晶體。由于多晶體粉末晶粒取向是充分紊亂的，由于多晶體粉末晶粒取向是充分紊亂的，這時(shí)多晶體的這時(shí)多晶體的倒易點(diǎn)倒易點(diǎn)落在以倒易點(diǎn)陣原點(diǎn)落在以倒易點(diǎn)陣原點(diǎn)為球心、以一定長(zhǎng)度的倒易矢量為半徑所為球心、以一定長(zhǎng)度的倒易矢量為半徑所作的球的球面上，稱(chēng)為作的球的球面上，稱(chēng)為倒易球。倒易球。 該倒易

5、球面與反射球相交，交線為一圓環(huán)，該倒易球面與反射球相交，交線為一圓環(huán)，在此圓環(huán)上會(huì)發(fā)生衍射，因此這些衍射線在此圓環(huán)上會(huì)發(fā)生衍射，因此這些衍射線構(gòu)成一個(gè)頂角為構(gòu)成一個(gè)頂角為4 的的圓錐。圓錐。成像原理成像原理（注意（注意反射球與反射球與多晶樣品多晶樣品倒易球倒易球的概念）的概念）倒易陣點(diǎn)倒易陣點(diǎn)倒易球倒易球多晶樣品：多晶樣品：Oa*b*1/ 入射線入射線衍射衍射圓錐圓錐4 衍射環(huán)衍射環(huán)入射入射X光光按衍射接收記錄系統(tǒng)分類(lèi)按衍射接收記錄系統(tǒng)分類(lèi) 照相法照相法（現(xiàn)已很少使用）（現(xiàn)已很少使用）優(yōu)點(diǎn)：直接給出衍射花樣和強(qiáng)度特征，適合優(yōu)點(diǎn)：直接給出衍射花樣和強(qiáng)度特征，適合晶體的初步探測(cè)，如對(duì)稱(chēng)性。有利于理

6、解晶體的初步探測(cè)，如對(duì)稱(chēng)性。有利于理解倒易點(diǎn)陣與衍射的厄瓦爾德圖解。倒易點(diǎn)陣與衍射的厄瓦爾德圖解。缺點(diǎn)：自動(dòng)化程度差。缺點(diǎn)：自動(dòng)化程度差。 衍射儀法衍射儀法（近些年的主要方法，重點(diǎn)了解）（近些年的主要方法，重點(diǎn)了解）優(yōu)點(diǎn)：靈敏度、準(zhǔn)確性高。自動(dòng)化程度高。優(yōu)點(diǎn)：靈敏度、準(zhǔn)確性高。自動(dòng)化程度高。缺點(diǎn)：不利于理解倒易點(diǎn)陣和衍射的厄瓦爾缺點(diǎn)：不利于理解倒易點(diǎn)陣和衍射的厄瓦爾德圖解。德圖解。5.2 照相法照相法-簡(jiǎn)單介紹簡(jiǎn)單介紹多晶粉末試樣中存在這數(shù)量極多的各種取向的晶粒。某多晶粉末試樣中存在這數(shù)量極多的各種取向的晶粒。某一晶面對(duì)應(yīng)的倒易點(diǎn)變?yōu)榈挂浊?，而倒易球面與反射球相一晶面對(duì)應(yīng)的倒易點(diǎn)變?yōu)榈挂浊颍?/p>

7、倒易球面與反射球相交，交線為一圓環(huán)，在此圓環(huán)上會(huì)發(fā)生衍射。交，交線為一圓環(huán)，在此圓環(huán)上會(huì)發(fā)生衍射。因此從原點(diǎn)到衍射環(huán)的這些衍射線構(gòu)成一個(gè)頂角為因此從原點(diǎn)到衍射環(huán)的這些衍射線構(gòu)成一個(gè)頂角為4 的的衍射衍射圓錐。圓錐。如果用以試樣為軸線的圓柱形底片截取這些衍射圓錐，如果用以試樣為軸線的圓柱形底片截取這些衍射圓錐，會(huì)得到一些列衍射弧對(duì)，每一弧對(duì)可用相應(yīng)的干涉指數(shù)標(biāo)會(huì)得到一些列衍射弧對(duì)，每一弧對(duì)可用相應(yīng)的干涉指數(shù)標(biāo)定。定。這就是德拜這就是德拜-謝樂(lè)法謝樂(lè)法。德拜德拜-謝樂(lè)照相法謝樂(lè)照相法原理原理 5.3 衍射儀法衍射儀法 采用由采用由X射線管發(fā)出的已知波長(zhǎng)的射線管發(fā)出的已知波長(zhǎng)的X射線，射線，照射到試

8、樣上產(chǎn)生衍射，根據(jù)所檢測(cè)到照射到試樣上產(chǎn)生衍射，根據(jù)所檢測(cè)到的衍射線方向（的衍射線方向（ 角），由布拉格方程計(jì)角），由布拉格方程計(jì)算晶面距，對(duì)物相進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析。算晶面距，對(duì)物相進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析。 每種物質(zhì)都有特征的晶面組合，由衍射每種物質(zhì)都有特征的晶面組合，由衍射所得晶面組合可確定物質(zhì)種類(lèi)。所得晶面組合可確定物質(zhì)種類(lèi)。X射線衍射譜2On the interfaceIn the paste5.3.1 衍射儀的發(fā)展衍射儀的發(fā)展 1912年，布拉格最先使用了電離室探測(cè)X射線信息裝置，這是最原始的X射線衍射儀。 1943年，近代X射線衍射儀由弗里德曼（FRIDMAN）設(shè)計(jì)。 現(xiàn)代X射線儀器，例如日本理學(xué)公

9、司生產(chǎn)的Rigaku D/max系列、德國(guó)的Bruker和荷蘭XPert等等。高分辨衍射儀高分辨衍射儀（D8-Discovre型，型，Bruker公司公司1999年產(chǎn)品）年產(chǎn)品）5.3.2 X射線衍射儀的基本組成射線衍射儀的基本組成 1.X射線發(fā)生器；射線發(fā)生器；用來(lái)產(chǎn)生穩(wěn)定的用來(lái)產(chǎn)生穩(wěn)定的X射線光源射線光源 2.衍射測(cè)角儀衍射測(cè)角儀；用來(lái)測(cè)量衍射花樣三要素，使用來(lái)測(cè)量衍射花樣三要素，使光源、試樣和探測(cè)器滿(mǎn)足一定的幾何和衍射條件光源、試樣和探測(cè)器滿(mǎn)足一定的幾何和衍射條件 3.輻射探測(cè)器；輻射探測(cè)器； 4.記錄系統(tǒng)記錄系統(tǒng) 1、X射線發(fā)生器射線發(fā)生器 X光源的基本要求：光源的基本要求： 簡(jiǎn)單地說(shuō)

10、，對(duì)光源的基本要求是穩(wěn)定、強(qiáng)簡(jiǎn)單地說(shuō)，對(duì)光源的基本要求是穩(wěn)定、強(qiáng)度大、光譜純結(jié)。度大、光譜純結(jié)。 光源的特性決定靶的種類(lèi)、焦斑大小和施光源的特性決定靶的種類(lèi)、焦斑大小和施加在管子上的功率。選擇工作參數(shù)的目的在加在管子上的功率。選擇工作參數(shù)的目的在于提高衍射線的蜂背比、分辨率和靈敏度等。于提高衍射線的蜂背比、分辨率和靈敏度等。 實(shí)驗(yàn)室一般應(yīng)具備有實(shí)驗(yàn)室一般應(yīng)具備有W、Mo、Cu、Co、Fe、Cr六種靶子。六種靶子。(1)化學(xué)成分原則：化學(xué)成分原則：避免入射避免入射X X射線激發(fā)被測(cè)樣品，產(chǎn)生熒光。選擇陽(yáng)極靶的射線激發(fā)被測(cè)樣品，產(chǎn)生熒光。選擇陽(yáng)極靶的原子序數(shù)應(yīng)低于或等于被研究物質(zhì)中大量存在的最輕元

11、原子序數(shù)應(yīng)低于或等于被研究物質(zhì)中大量存在的最輕元素原子序數(shù)，素原子序數(shù)，Z Z靶靶 Z Z樣樣。此時(shí)，所用特征。此時(shí)，所用特征X X射線的波長(zhǎng)都大射線的波長(zhǎng)都大于試樣中最輕元素的于試樣中最輕元素的K K吸收性波長(zhǎng)，不會(huì)引起熒光輻射。吸收性波長(zhǎng)，不會(huì)引起熒光輻射。（2）分辨能力：）分辨能力：如要提高分辨率可選長(zhǎng)波長(zhǎng)靶?？梢允咕骈g距相近的如要提高分辨率可選長(zhǎng)波長(zhǎng)靶?？梢允咕骈g距相近的兩條衍射線不至于因太靠近而重疊在一起。兩條衍射線不至于因太靠近而重疊在一起。（3）盡可能多的衍射線條）盡可能多的衍射線條有的衍射工作，如對(duì)點(diǎn)陣參數(shù)進(jìn)行測(cè)定，要求在高角區(qū)有的衍射工作，如對(duì)點(diǎn)陣參數(shù)進(jìn)行測(cè)定，要求在高角

12、區(qū)60-8060-80之間出現(xiàn)盡可能多的衍射條數(shù)。這要求使用波長(zhǎng)之間出現(xiàn)盡可能多的衍射條數(shù)。這要求使用波長(zhǎng)較小的輻射。較小的輻射。 選靶原則選靶原則 2、測(cè)角儀、測(cè)角儀 準(zhǔn)直準(zhǔn)直-原則原則準(zhǔn)直光欄系統(tǒng)參數(shù)的選擇應(yīng)當(dāng)注意如下事實(shí)準(zhǔn)直光欄系統(tǒng)參數(shù)的選擇應(yīng)當(dāng)注意如下事實(shí) 1)1)發(fā)散狹縫對(duì)衍射強(qiáng)度的影響比起對(duì)分辨率的影晌要大；發(fā)散狹縫對(duì)衍射強(qiáng)度的影響比起對(duì)分辨率的影晌要大； 2)2)由于采用平板試樣，發(fā)散狹縫增大引起散焦使得衍射峰向低角由于采用平板試樣，發(fā)散狹縫增大引起散焦使得衍射峰向低角移動(dòng)，從而引起峰的不對(duì)稱(chēng)性，使得分辨率下降；移動(dòng)，從而引起峰的不對(duì)稱(chēng)性，使得分辨率下降； 3)3)在掃描過(guò)程中衍

13、射角在掃描過(guò)程中衍射角 是變化的，為比較各衍射線的相對(duì)強(qiáng)度必是變化的，為比較各衍射線的相對(duì)強(qiáng)度必須用同一寬度的狹縫，且在任何須用同一寬度的狹縫，且在任何 角入射光束均能照射在試樣內(nèi)，以角入射光束均能照射在試樣內(nèi)，以保證參與衍射體積恒定。保證參與衍射體積恒定。 掃描方式掃描方式探測(cè)器裝在測(cè)角儀臂上，它和試樣臺(tái)以探測(cè)器裝在測(cè)角儀臂上，它和試樣臺(tái)以2：1的角速度繞測(cè)角儀軸的角速度繞測(cè)角儀軸心轉(zhuǎn)動(dòng)，這樣，試樣臺(tái)上裝上分析試樣，探測(cè)器即可按收到衍射心轉(zhuǎn)動(dòng)，這樣，試樣臺(tái)上裝上分析試樣，探測(cè)器即可按收到衍射信息并由記錄系統(tǒng)記錄下來(lái)。探測(cè)器的掃描方式可分連續(xù)掃描、信息并由記錄系統(tǒng)記錄下來(lái)。探測(cè)器的掃描方式可分

14、連續(xù)掃描、步進(jìn)掃描與跳躍步進(jìn)掃描三種。掃描方式對(duì)探測(cè)記錄下衍射花樣步進(jìn)掃描與跳躍步進(jìn)掃描三種。掃描方式對(duì)探測(cè)記錄下衍射花樣的質(zhì)量有很大影響。的質(zhì)量有很大影響。 測(cè)角儀工作原理（測(cè)角儀工作原理（1） 試樣臺(tái)位于測(cè)角儀的試樣臺(tái)位于測(cè)角儀的中心，試樣臺(tái)的中心中心，試樣臺(tái)的中心軸軸ON與測(cè)角儀的中心與測(cè)角儀的中心軸（垂直向上）軸（垂直向上）O垂垂直。直。 試樣臺(tái)既可以繞測(cè)角試樣臺(tái)既可以繞測(cè)角儀中心軸轉(zhuǎn)動(dòng)，又可儀中心軸轉(zhuǎn)動(dòng)，又可以繞自身的中心軸轉(zhuǎn)以繞自身的中心軸轉(zhuǎn)動(dòng)。動(dòng)。 試樣臺(tái)上的試樣表面試樣臺(tái)上的試樣表面與測(cè)角儀中心軸嚴(yán)格與測(cè)角儀中心軸嚴(yán)格地重合。地重合。 測(cè)角儀示意圖測(cè)角儀示意圖 測(cè)角儀工作原理（

15、測(cè)角儀工作原理（2） 入射線從X射線管焦點(diǎn)F發(fā)出，經(jīng)入射光闌系統(tǒng)S1和H投射到試樣表面生產(chǎn)衍射，衍射線經(jīng)接收光闌系統(tǒng)M、S2、G進(jìn)入計(jì)數(shù)器D X射線管焦點(diǎn)F與接收光闌G位于同一圓周上，把這個(gè)圓周稱(chēng)為測(cè)角儀（或衍射儀）圓 測(cè)角儀圓所在平面稱(chēng)為測(cè)角儀平面 測(cè)角儀示意圖測(cè)角儀示意圖 測(cè)角儀工作原理（測(cè)角儀工作原理（3） 試樣臺(tái)和計(jì)數(shù)器分別固定在兩個(gè)同軸的圓盤(pán)上，由兩個(gè)步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng) 在衍射測(cè)量時(shí)，試樣繞測(cè)角儀中心軸轉(zhuǎn)動(dòng)，不斷地改變?nèi)肷渚€與試樣表面的夾角，計(jì)數(shù)器沿測(cè)角儀圓轉(zhuǎn)動(dòng)，接收各衍射角2 所對(duì)應(yīng)的衍射強(qiáng)度測(cè)角儀示意圖測(cè)角儀示意圖 測(cè)角儀工作原理（測(cè)角儀工作原理（4） 和2角可以根據(jù)需要單獨(dú)驅(qū)動(dòng)或自動(dòng)

16、匹配連動(dòng) 和 2角一般以1：2的角速度聯(lián)合驅(qū)動(dòng) 測(cè)角儀的掃描范圍：正向2可達(dá)145165 ，負(fù)向可達(dá)-45，2角測(cè)量的絕對(duì)精度為0.02，重復(fù)精度為0.001測(cè)角儀示意圖測(cè)角儀示意圖測(cè)角儀的光學(xué)布置測(cè)角儀的光學(xué)布置水平發(fā)散度水平發(fā)散度(1) 過(guò)濾片法過(guò)濾片法; ;(2) 晶體單色器晶體單色器; ; 工作原理：選擇一個(gè)晶體的某個(gè)反射能力強(qiáng)的晶面（高原子密度晶面）。由試樣產(chǎn)生的衍射線（一次衍射線）經(jīng)光闌系統(tǒng)投射到單色器的單色晶體上，調(diào)整單晶體這個(gè)高反射本領(lǐng)晶面與一次衍射線的夾角，使其滿(mǎn)足布拉格方程（夾角等于該晶面的布拉格角）。這樣，就能反射出純凈而強(qiáng)的單色光（是單晶體衍射后發(fā)出的二次衍射線）。 通

17、常，它在測(cè)角儀上的安裝方法有兩種，一是裝在入射線一側(cè)，另一是裝在衍射線一側(cè)。目前大多數(shù)采用后一種裝法。這種裝法可以抑制樣品的連續(xù)X射線、熒光輻射、非相干散射以及空氣散射等引起的背底，還具有便于安裝和調(diào)整等優(yōu)點(diǎn)。光源單色化的方法光源單色化的方法為了消除衍射花樣的背底，最有效的辦法是利用晶體單為了消除衍射花樣的背底，最有效的辦法是利用晶體單色器。通常是在衍射線光路上安裝彎曲晶體單色器。色器。通常是在衍射線光路上安裝彎曲晶體單色器。 石墨晶體單色器石墨晶體單色器 選用石墨單晶體的（0002）作為反射面 使用石墨彎曲晶體單色器，對(duì)Cu K輻射而言，其衍射強(qiáng)度與不用單色器時(shí)相比大約降低36%。相當(dāng)于用濾

18、波片降低的強(qiáng)度 在Cu K輻射上使用石墨單色器測(cè)鐵試樣，可使背底降到10cps（每秒計(jì)數(shù)），得到滿(mǎn)意的效果 通常使用的石墨彎曲晶體單色器不能消除的K2輻射，所以經(jīng)彎曲晶體單色器聚焦的二次衍射線，由計(jì)數(shù)器檢測(cè)后給出的是的K雙線衍射峰。3、輻射探測(cè)器、輻射探測(cè)器-信號(hào)接收信號(hào)接收 通常X射線衍射儀的輻射探測(cè)器有正比計(jì)數(shù)器、閃爍計(jì)數(shù)器和位敏正比計(jì)數(shù)器。作用是將射線光子能量轉(zhuǎn)換為電脈沖信號(hào)，來(lái)記錄衍射強(qiáng)度。閃爍計(jì)數(shù)器閃爍計(jì)數(shù)器：利用X射線激發(fā)某些固體發(fā)射可見(jiàn)熒光。 - 0.5%鉈的NaI單晶體。-連續(xù)掃描連續(xù)掃描 掃描速度快，工作效率高。當(dāng)需要對(duì)衍射花樣進(jìn)行全掃描測(cè)量時(shí)，一般選用連續(xù)掃描測(cè)量方法。 連

19、續(xù)掃描的測(cè)量精度受掃描速度和時(shí)間常數(shù)的影響，對(duì)衍射線強(qiáng)度、峰位和線形有很大影響，快速掃描引起強(qiáng)度和分辨率下降，并使峰值向掃描方向偏移，引起線形的不對(duì)稱(chēng)性；慢速掃描精度較高，但是耗費(fèi)機(jī)時(shí)。因此，在測(cè)量前要合理地選定這兩個(gè)參數(shù)。計(jì)數(shù)測(cè)量（掃描）方法計(jì)數(shù)測(cè)量（掃描）方法-步進(jìn)掃描步進(jìn)掃描 步進(jìn)掃描每步停留的測(cè)量時(shí)間較長(zhǎng)，測(cè)量的總脈沖數(shù)較大，從而可減小脈沖統(tǒng)計(jì)波動(dòng)的影響 步進(jìn)掃描不使用計(jì)數(shù)率計(jì)，沒(méi)有滯后效應(yīng)。所以，它的測(cè)量精度是很高的，能給出精確的衍射峰位、衍射線形、積分強(qiáng)度和積分寬度等衍射信息，適合作各種定量分析 步進(jìn)掃描的精度取決于步進(jìn)寬度和步進(jìn)時(shí)間，所以在測(cè)量前要根據(jù)實(shí)際需要選定合適的步進(jìn)寬度和

20、步進(jìn)時(shí)間連續(xù)掃描連續(xù)掃描步進(jìn)掃描步進(jìn)掃描1020304050607001002003004001.371.402.381.602.081.511.742.53 23.474544K 1 衍射線強(qiáng)度K 2 粒度要求粒度要求 一般要求通過(guò)一般要求通過(guò)360360目（目（38m38m）篩選）篩選。有些樣品。有些樣品要求更細(xì)，如石英粉末的顆粒大小至少小于要求更細(xì)，如石英粉末的顆粒大小至少小于5m5m 晶粒尺寸小于晶粒尺寸小于10001000埃時(shí)，衍射儀就可察覺(jué)衍射埃時(shí)，衍射儀就可察覺(jué)衍射線的寬化。所以，要測(cè)量到良好的衍射線，晶線的寬化。所以，要測(cè)量到良好的衍射線，晶粒亦不宜過(guò)細(xì)，對(duì)于粉末衍射儀，適宜的晶粒粒亦不宜過(guò)細(xì)，對(duì)于粉末衍射儀，適宜的晶粒大小應(yīng)在大小應(yīng)在0.10.110m10m的數(shù)量級(jí)范圍內(nèi)的數(shù)量級(jí)范圍內(nèi)5.3.3 樣品制備樣品制備 實(shí)際上，衍射儀的布置是接近理想聚焦條件的，按照布拉格公式實(shí)際上，衍射儀的布置是接近理想聚焦條件的，按照布拉格公式導(dǎo)出的衍射線方位不是只出