集成電路測(cè)試和可測(cè)性設(shè)計(jì)匯編.doc

1、學(xué)習(xí) - 好資料集成電路測(cè)試和可測(cè)性設(shè)計(jì)IC Testing and Design for Testability教學(xué)大綱課程名稱：集成電路測(cè)試和可測(cè)性設(shè)計(jì)課程編號(hào)： M702004課程學(xué)分： 3適用學(xué)科：集成電路工程、電子科學(xué)與技術(shù)一、課程性質(zhì)本課程的授課對(duì)象為集成電路工程專業(yè)研究生和電子與科學(xué)技術(shù)專業(yè)研究生，課程屬性為專業(yè)基礎(chǔ)必修課 （對(duì)電子與科學(xué)技術(shù)專業(yè)研究生為專業(yè)選修課）。本課程主要講授集成電路測(cè)試尤其是大規(guī)模集成電路測(cè)試的基本概念、基本方法，數(shù)字集成電路測(cè)試向量生成算法、可測(cè)試性設(shè)計(jì)、可測(cè)試性度量、數(shù)?；旌闲盘?hào)電路測(cè)試方法以及測(cè)試設(shè)備和測(cè)試過(guò)程等內(nèi)容。通過(guò)基本思想、 基本算法的引入、

2、推導(dǎo)并配以大量的實(shí)例進(jìn)行分析，使學(xué)生能夠?qū)y(cè)試相關(guān)理論有全面的理解，并能夠利用所學(xué)的方法解決實(shí)際的電路測(cè)試及可測(cè)試性設(shè)計(jì)方面的問(wèn)題。二、課程教學(xué)目的學(xué)生通過(guò)本課程的學(xué)習(xí)， 應(yīng)能夠理解集成電路測(cè)試及可測(cè)性的基本概念、基本思想；掌握重要的測(cè)試向量生成算法以及典型的可測(cè)性設(shè)計(jì)的結(jié)構(gòu)；了解集成更多精品文檔學(xué)習(xí) - 好資料電路測(cè)試的發(fā)展趨勢(shì)及面臨的主要問(wèn)題。通過(guò)利用可測(cè)性設(shè)計(jì)方法構(gòu)建實(shí)際的可測(cè)性方案，鍛煉培養(yǎng)解決測(cè)試問(wèn)題的實(shí)踐動(dòng)手能力。同時(shí)通過(guò)對(duì)主要算法的發(fā)展歷程、思想演變等的學(xué)習(xí)，培養(yǎng)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題、解決問(wèn)題的能力以及創(chuàng)新思維。為今后從事集成電路測(cè)試方面的工程或研究工作打下基礎(chǔ)。三、教學(xué)基本內(nèi)容及基本要求第

3、一章測(cè)試?yán)碚摶A(chǔ)教學(xué)內(nèi)容：1.1 引言1.2 VLSI 測(cè)試過(guò)程和設(shè)備教學(xué)要求：1、掌握：集成電路測(cè)試的工作原理和工作過(guò)程。2、理解：集成電路測(cè)試的基本概念。3、了解：集成電路測(cè)試的特點(diǎn)，測(cè)試技術(shù)的發(fā)展及現(xiàn)狀。第二章測(cè)試經(jīng)濟(jì)學(xué)故障和故障模擬教學(xué)內(nèi)容：2.1測(cè)試經(jīng)濟(jì)學(xué)和產(chǎn)品質(zhì)量2.2故障模型教學(xué)要求：1、掌握：測(cè)試的經(jīng)濟(jì)性和故障定義。2、理解：故障的含義和分類(lèi)方法。3、了解：測(cè)試與產(chǎn)品質(zhì)量間的關(guān)系。第三章邏輯與故障模型教學(xué)內(nèi)容：3.1用于設(shè)計(jì)驗(yàn)證的模擬3.2用于設(shè)計(jì)評(píng)估的模擬3.3用于模擬的模型電路3.4用于真值模擬的算法更多精品文檔學(xué)習(xí) - 好資料3.5故障模擬算法3.6故障模擬的統(tǒng)計(jì)學(xué)方法教

4、學(xué)要求：1、掌握：模型電路概念及類(lèi)型，真值模擬的算法和故障模擬算法。2、理解：用于真值模擬的算法以及故障模擬算法的原理及意義。3、了解：設(shè)計(jì)驗(yàn)證和測(cè)試評(píng)估的模擬，故障模擬的統(tǒng)計(jì)。第四章可測(cè)試性度量教學(xué)內(nèi)容：4.1SCOAP 可控制性和可觀測(cè)性4.2高層次可測(cè)試性度量教學(xué)要求：1.掌握：集成電路測(cè)試中SCOAP 可控制性和可觀測(cè)性概念理論。2.理解： SCOAP 可控制性和可觀測(cè)性理論，以及VLSI 電路可測(cè)試性的行為綜合。3.了解：集成電路測(cè)試的可控制性和可觀測(cè)性概念。第五章組合電路測(cè)試生成教學(xué)內(nèi)容：5.1算法與表示5.2冗余識(shí)別5.3全局測(cè)試問(wèn)題5.4重要的組合 ATPG 算法5.5測(cè)試生成

5、系統(tǒng)5.6測(cè)試矢量壓縮教學(xué)要求：1、掌握：重要的組合ATPG 算法，測(cè)試生成與壓縮。2、理解：冗余識(shí)別，全局測(cè)試相關(guān)理論。3、了解：算法與冗余識(shí)別的概念；算法在集成電路測(cè)試中的作用。第六章時(shí)序電路的測(cè)試矢量生成教學(xué)內(nèi)容：更多精品文檔學(xué)習(xí) - 好資料6.1單時(shí)鐘同步電路的ATPG6.2時(shí)間幀展開(kāi)方法6.3基于模擬的時(shí)序電路ATPG教學(xué)要求：1、掌握：時(shí)間幀的展開(kāi)方法。2、理解：基于模擬的時(shí)序電路ATPG 和時(shí)間幀的展開(kāi)理論。3、了解：時(shí)序電路的測(cè)試矢量生成的具體過(guò)程。第七章數(shù)字電路 DFT 和掃描設(shè)計(jì)教學(xué)內(nèi)容：12.1特定的 DFT 方法12.2掃描設(shè)計(jì)12.3部分掃描設(shè)計(jì)12.4掃描的變種教學(xué)

6、要求：1、掌握：數(shù)字電路的可測(cè)性設(shè)計(jì)以及掃描設(shè)計(jì)的相關(guān)理論。2、理解：掃描設(shè)計(jì)的原理和實(shí)現(xiàn)方法。3、了解：特定的可測(cè)性設(shè)計(jì)方法，掃描設(shè)計(jì)和它的演變。第八章內(nèi)建自測(cè)試教學(xué)內(nèi)容：13.1BIST 的經(jīng)濟(jì)性情況13.2隨機(jī)邏輯 BIST13.3存儲(chǔ)器 BIST13.4延遲故障 BIST教學(xué)要求：1、掌握：內(nèi)建自測(cè)試的工作原理和實(shí)現(xiàn)方法。2、理解：內(nèi)建自測(cè)試的工作原理和實(shí)現(xiàn)方法。3、了解：內(nèi)建自測(cè)試的經(jīng)濟(jì)性情況。第九章邊界掃描標(biāo)準(zhǔn)教學(xué)內(nèi)容：更多精品文檔學(xué)習(xí) - 好資料14.1邊界掃描的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)14.2邊界掃描的描述語(yǔ)言教學(xué)要求：1、掌握：邊界掃描標(biāo)準(zhǔn)定義的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。2、理解：邊界掃描語(yǔ)言。3、了解：邊

7、界掃描的相關(guān)知識(shí)。第十章模擬測(cè)試總線標(biāo)準(zhǔn)教學(xué)內(nèi)容：15.1模擬電路的可測(cè)試性設(shè)計(jì)15.2模擬測(cè)試總線教學(xué)要求：1、掌握：模擬電路的可測(cè)性設(shè)計(jì)相關(guān)理論，模擬測(cè)試總線要求。2、理解：模擬測(cè)試和測(cè)試總線的相關(guān)概念和具體要求。3、了解：模擬電路可測(cè)試性和測(cè)試總線的具體實(shí)現(xiàn)方法。四、本課程與其它相關(guān)課程的聯(lián)系與分工在學(xué)習(xí)本課程之前，應(yīng)對(duì)數(shù)字集成電路、模擬集成電路和超大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)有深入的了解。本課程的先修課程為數(shù)字集成電路和模擬集成電路。五、實(shí)踐環(huán)節(jié)教學(xué)內(nèi)容的安排與要求無(wú)六、本課程課外練習(xí)的要求每章布置一定的思考題或討論題，學(xué)生需要自己上網(wǎng)搜集資料，課堂上針對(duì)問(wèn)題情況和學(xué)生反饋安排討論。有時(shí)需要留少

8、量的作業(yè)要求學(xué)生完成。七、本課程的教學(xué)方法及使用現(xiàn)代化教學(xué)手段方面的要求更多精品文檔學(xué)習(xí) - 好資料1、本課程以課堂講授為主，輔以一定的討論環(huán)節(jié)。2、使用 MS PowerPoint幻燈片作為主要教學(xué)輔助工具，主要方法用軟件演示其效果。八、本課程成績(jī)的考查方法及評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)本課程成績(jī)由平時(shí)成績(jī)及期末考試成績(jī)二部分組成。課程成績(jī)以百分制計(jì)算，平時(shí)成績(jī)占 30% （其中出勤成績(jī)占10% ，作業(yè)成績(jī)占20% ），期末考試成績(jī)占 70% 。九、教材及參考書(shū)教材：Michael L.Bushnell,Vishwanni D. Agrawal著，將安平、馮建華等譯，超大規(guī)模集成電路測(cè)試數(shù)字、存儲(chǔ)器和混合信號(hào)系統(tǒng)，電子工業(yè)出版社，2005.8參考書(shū)：雷紹充等著，超大規(guī)模集成電路測(cè)試，電子工業(yè)出版社，2008.5十、課程各章節(jié)學(xué)時(shí)分配章節(jié)內(nèi)容總學(xué)講授課討論、論備時(shí)時(shí)文、注實(shí)驗(yàn)、設(shè)計(jì)更多精品文檔學(xué)習(xí) -好資料第一章測(cè)試?yán)碚摶A(chǔ)22第二章測(cè)試經(jīng)濟(jì)學(xué)故障和故障模擬22第三章邏輯與故障模型22第四章可測(cè)試性度量422第五章組合電路測(cè)試生成44第六章時(shí)序電路