介紹一種基于DSP和MCU雙處理器的內(nèi)調(diào)制光纖比色測溫儀(精)

1、介紹一種基于DSP和MCU雙處理器的內(nèi)調(diào)制光纖比色測溫儀的設(shè)計(jì)原理。測溫 儀以AT89C55和TMS 3 2 0 F 2 0 6為核心，對內(nèi)調(diào)制光電探測器進(jìn)行線性補(bǔ)償和溫度補(bǔ)償，并加入比輻射率的修正。本系統(tǒng)能夠?qū)Νh(huán)境溫度變化大、周圍環(huán)境惡劣 的高溫物體進(jìn)行高精度的溫度測量。在冶金、鋼鐵、建筑材料、化工等眾多行業(yè)中，溫度是確保順利生產(chǎn)和質(zhì)量控制的 重要參數(shù)。溫度測量直接關(guān)系到產(chǎn)品的質(zhì)量，關(guān)系到生產(chǎn)成本。熔融狀態(tài)下，鋼、鐵溫 度在1200C以上，主要測量方法有接觸式的金屬熱電偶溫度計(jì)和非接觸式的輻射溫 度計(jì)。內(nèi)調(diào)制光電管利用內(nèi)調(diào)制機(jī)制， 把高溫物體輻射出的光信號接轉(zhuǎn)化為受調(diào)制的交流 信號，方便了后

2、級放大處理，簡化了測試設(shè)備，克服了直流放大的缺點(diǎn)，為提高系統(tǒng)信 噪比和可靠性奠定了基礎(chǔ)。 筆者對利用內(nèi)調(diào)制探測器進(jìn)行高溫測量開展了多年的應(yīng)用研 究，并研制出了基于單片機(jī)的光纖比色溫度儀;基本上能完成溫度測量的功能。從武鋼連鑄、濟(jì)鋼轉(zhuǎn)爐等生產(chǎn)現(xiàn)場的使用情況看， 儀器還可以進(jìn)一步改進(jìn)。 由于單片機(jī)先天數(shù)據(jù)處理能力不足，當(dāng)要建立較為完善的處理 模型，例如進(jìn)行線性補(bǔ)償及溫度補(bǔ)償;發(fā)射系數(shù)修正、甚至進(jìn)行四比色測溫時(shí)，面對大量的數(shù)據(jù)要進(jìn)行復(fù)雜快速的處理， 單片機(jī)已不可能實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)測溫。引入DSP對數(shù)據(jù)進(jìn)行高效處理，強(qiáng)有力地提升了測 溫儀的功能。采用主從式雙處理器結(jié)構(gòu)能較好地解決這些問題，并且還具有進(jìn)一步開

3、發(fā)的潛力。1系統(tǒng)測溫原理從經(jīng)典物理學(xué)的觀點(diǎn)看，任何黑體都會(huì)向外輻射能量，其輻射出度與溫度及波長有 關(guān)，具體有普郎克定律和維恩定律描述。而物體的比色溫度簡稱色溫是指如果黑體與實(shí) 際物體在某一光譜區(qū)內(nèi)的兩個(gè)波長下的單色亮度之比相等，則黑體的溫度為實(shí)際物體的顏色溫度。根據(jù)比色測溫原理，假設(shè)兩路不同波長輻射轉(zhuǎn)換后的光電流分別為11和I2,T為待求溫度，則可以寫出：I1=M X1D1: 1 )I2=M X2D22 )式中，M是單色輻射出度，由維恩近似公式得到-5 y/TMk=c e-5T仏2=“入2 e(3)(4)由此可以得到:D1和D2分別為兩路系統(tǒng)的系數(shù)，C1和C2分別為普朗克第一、 第二輻射常數(shù)

4、當(dāng)入1和入2兩單色波長接近時(shí)，求出兩路光強(qiáng)比值，即可以計(jì)算出被測物體的溫度T。2系統(tǒng)結(jié)構(gòu)及設(shè)計(jì)2.1系統(tǒng)的信號處理總體流程測溫儀系統(tǒng)主要由內(nèi)調(diào)制光電探測器、前置模擬處理部分和以單片機(jī)、DSP為核心的雙處理器控制及處理部分構(gòu)成。內(nèi)調(diào)制光敏探測器輸出的微弱電信號由前置模擬電路處理，得到與光強(qiáng)成正比的電壓信號；兩路光電信號由兩個(gè)獨(dú)立的16位高精度模數(shù)轉(zhuǎn)換器MAX195同步采集，同時(shí)數(shù)字溫度傳感器DS18B20得到環(huán)境溫度數(shù)據(jù)，單片機(jī)將這些數(shù)據(jù)傳遞給DSP;DSP再根據(jù)事先設(shè)定的修正模式及參數(shù)經(jīng)過運(yùn)算處理后，得到被測溫度數(shù)據(jù)， 反饋給單片機(jī)；由單片機(jī)根據(jù)用戶的操作將溫度數(shù)據(jù)輸出到LED、微型打印機(jī)、上

5、傳 給微機(jī)或者通過D/A轉(zhuǎn)換以電流形式輸出給監(jiān)控儀表。2.2測溫儀硬件結(jié)構(gòu)12o2c2(17X,-1/K,)C,/T(5)測溫儀硬件結(jié)構(gòu)如圖1所示。圖1甚于上從式取處理器的測溫儀結(jié)構(gòu)圖系統(tǒng)軟件由兩部分組成：作為主機(jī)的單片機(jī)M C U部分主要完成系統(tǒng)的外部接口、控制功能；作為從機(jī)的數(shù)字信號處理器則通過主機(jī)傳送來的各種數(shù)據(jù)通過一系列修正模型計(jì)算出溫度，然后將結(jié)果返回給主機(jī)。這樣將原本由單片機(jī)處理需要花費(fèi)很長時(shí)間的數(shù)學(xué)模型計(jì)算交給D S P ,讓MCU和D S P各取所長，使得整個(gè)系統(tǒng)計(jì)算溫度的速度大大提高，提高了測溫儀的實(shí)時(shí)響應(yīng)特性。2.2.1單片機(jī)M C U部分單片機(jī)主要負(fù)責(zé)信號的采集和人機(jī)接口

6、。主要包括A/D采集和轉(zhuǎn)換模塊、與數(shù)字 溫度傳感器DS18B20的接口模塊、顯示模塊以及鍵盤輸入處理模塊。由于光敏管具有非線性特性，此外還受環(huán)境溫度的影響，因此，為提高測量精度，不僅要對其非線性進(jìn)行校正， 還要對其溫度特性進(jìn)行補(bǔ)償，這就導(dǎo)致其數(shù)字信號修正表 是二維的。大量實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，內(nèi)調(diào)制光敏管的輸出特性隨溫度變化的漂移相對其非線 性較小，故先校正非線性特性，再對溫度進(jìn)行補(bǔ)償。設(shè)被測物體輻射出的光信號經(jīng)過內(nèi)調(diào)制光敏管轉(zhuǎn)換后變成微弱電壓信號，再由放大器放大，然后經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換得到的結(jié)果為V1,測得環(huán)境溫度為T1,假設(shè)T1TiT2,對應(yīng)于修正表中的位置查表可以得到： 在T1環(huán)境溫度時(shí)處于VI、V2

7、之間， 在T2溫度時(shí)處于V1、V2之間，分別查表得到光強(qiáng)值P1、P2和P1、P2P為插值校正后的值，內(nèi)調(diào)制光電探測器輸出電流I與光強(qiáng)值P成正比，代入公式(5)便可以得到物體的色溫。雖然選取兩個(gè)接近的波長作為測溫儀的工作波段，希望 兩個(gè)波長處的單色輻射率近似相等，使得非黑體的色溫與它的實(shí)際溫度相等。但作為高 精度的測量，仍不能忽視在冶金行業(yè)等工業(yè)生產(chǎn)過程中，有某些金屬材料的輻射率隨波長的增加而減少，即所測的色溫高于物體的真實(shí)溫度。為了得到更精確的測量結(jié)果，必須考慮比輻射率的修正?？紤]到實(shí)際被測物體為非黑體，可以得到:于是插值得到P1、P1、片=/7+-+弊-(T廠口)(6)(7)(8)其中，T為

8、非黑體的色溫，T為非黑體的實(shí)際溫度。通過(9)式的修正，可以 得到更為精確的結(jié)果。2.2.2針對不同測溫對象的模式處理可以說，經(jīng)過線性補(bǔ)償、環(huán)溫補(bǔ)償以及各種修正的加入后，儀器已經(jīng)能應(yīng)付絕大部 分高溫測量的需要。但在某些特定的應(yīng)用中， 仍需根據(jù)現(xiàn)場的特殊環(huán)境和要求使測溫儀 能夠更好地適應(yīng)不同的環(huán)境。(1)連鑄現(xiàn)場鋼板測量模式：高溫的鋼板上會(huì)有塊狀的氧化層附著，氧化層的溫度相比鋼板的表面溫度要低得多。在生產(chǎn)中需要測量鋼板表面的溫度，而不是附著在其上的塊狀氧化層的溫度。因此如果不做任何處理，那么測溫儀的示值與鋼板表面的溫度 肯定是不相符的。這種情況下，在DSP的數(shù)字濾波處理程序上必須能夠除掉氧化層

9、的影響。(2 )轉(zhuǎn)爐鋼水溫度測量模式：程序通過信號的檢測，判斷出轉(zhuǎn)爐的生產(chǎn)工作狀態(tài)。 當(dāng)轉(zhuǎn)爐轉(zhuǎn)動(dòng)到一定角度時(shí)系統(tǒng)開始測量，在轉(zhuǎn)爐回轉(zhuǎn)之前可以通過分析信號準(zhǔn)確得出鋼水的溫度，而不是爐內(nèi)鋼渣等其他干擾物質(zhì)的溫度。將此溫度值保持到下次轉(zhuǎn)動(dòng)爐體出 鋼，以便工人記錄操作。由于現(xiàn)場干擾信號較大，要求軟件能剔除大量干擾信號。出鋼 時(shí)爐口有大量的煙塵、熾熱的火焰，為得到鋼水的溫度，程序把連續(xù)測量的溫度值存儲 下來后，利用統(tǒng)計(jì)誤差修正的方法對大量數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，得到接近真實(shí)情況的溫度值。3非線性校止示意圖3實(shí)驗(yàn)結(jié)果測溫儀由武鋼溫度計(jì)量實(shí)驗(yàn)室的高溫黑體輻射爐進(jìn)行標(biāo)定，標(biāo)定后對黑體爐的溫度進(jìn)行測量。在9 0 0 C1 7 0 0 C的測量范圍內(nèi)，與黑體爐的比照結(jié)果，測溫儀的測量精度在1 C。匕匚人V/ V/通過實(shí)驗(yàn)室測試和現(xiàn)場使用情況看，本雙處理器系統(tǒng)響應(yīng)速度快（