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文檔簡介
1、數(shù)據(jù)采集統(tǒng)計分析方法目的:為檢驗員檢驗數(shù)據(jù)收集提供方法適用范圍:本公司內(nèi)部對產(chǎn)品進(jìn)行檢驗從而得到檢驗數(shù)據(jù),為管理評審提供依據(jù)??捎靡韵路椒ㄗ鰹閰⒖糛C舊七種工具 排列圖,因果圖,散布圖,直方圖,控制圖,檢查表與分層法 QC新七種工具(略) 關(guān)聯(lián)圖,KJ法,系統(tǒng)圖法,矩陣圖法,矩陣數(shù)據(jù)解析法,過程決策程序圖法(PDPC)和箭頭圖法。 數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-排列圖 數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-排列圖 排列圖是由兩個縱坐標(biāo),一個橫坐標(biāo),若干個按高低順序依次排列的長方形和一條累計百分比折線所組成的,為尋找主要問題或主要原因所使用的圖。 例 1: 排列圖的優(yōu)點 排列圖有以下優(yōu)點: 直觀,明了全世界品質(zhì)管理界通用 用數(shù)
2、據(jù)說明問題說服力強(qiáng) 用途廣泛: 品質(zhì)管理 / 人員管理 / 治安管理 排列圖的作圖步驟 收集數(shù)據(jù)(某時間) 作缺陷項目統(tǒng)計表 繪制排列圖 畫橫坐標(biāo)(標(biāo)出項目的等分刻度) 畫左縱坐標(biāo)(表示頻數(shù)) 畫直方圖形(按每項的頻數(shù)畫) 畫右縱坐標(biāo)(表示累計百分比) 定點表數(shù),寫字 數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-因果圖 何謂因果圖: 對于結(jié)果(特性)與原因(要因)間或所期望之效果(特性)與對策的關(guān)系,以箭頭連接,詳細(xì)分析原因或?qū)Σ叩囊环N圖形稱為因果圖。 因果圖為日本品管權(quán)威學(xué)者石川馨博士于1952年所發(fā)明,故又稱為石川圖,又因其形狀似魚骨,故也可稱其為魚骨圖,或特性要因圖 作因果圖的原則 采取由原因到結(jié)果的格式 通常從
3、人,機(jī),料,法,環(huán)這五方面找原因 4M1E, Man, Machine, Material, Method, Environment 通常分三個層次:主干線、支干線、分支線 盡可能把所有的原因全部找出來列上 對少數(shù)的主要原因標(biāo)上特殊的標(biāo)志 寫上繪制的日期、作者、有關(guān)說明等 作因果圖應(yīng)注意的事項 問題(結(jié)果)應(yīng)單一、具體,表述規(guī)范 最后細(xì)分出來的原因應(yīng)是具體的,以便采取措施; 在尋找和分析原因時,要集思廣益,力求準(zhǔn)確和無遺漏 可召開諸葛亮?xí)?,采用頭腦風(fēng)暴法 層次要清,因果關(guān)系不可顛倒 原因歸類正確 作因果圖應(yīng)注意的事項 畫法按從左至右的貫例執(zhí)行規(guī)范化 在作因果圖前,可先從排列圖中找出主要問題,然
4、后針對主要問題,召集相關(guān)人員進(jìn)行討論,力求盡可能找出產(chǎn)生問題的原因,通過分析,確立主要原因。因果圖在今后可不斷進(jìn)行修改,逐漸完善,反復(fù)使用。 什么是直方圖? 直方圖是通過對數(shù)據(jù)的加工整理,從而分析和掌握品質(zhì)數(shù)據(jù)的分布狀況和估算工序不合格率的一種方法。 直方圖的作法 作直方圖的三大步驟 作頻數(shù)表 畫直方圖 進(jìn)行有關(guān)計算 作直方圖的步驟(例3) 1.搜集數(shù)據(jù) 作直方圖的步驟 計算極差(Range),上表中最大值Xmax=48;最小值Xmin=1; RXmax-Xmin=48-1=47 適當(dāng)分組(k) 在本例中,取k=10 確定組距(h) 組距用字母 h 表示: h=R/k=47/10=4.7, Y
5、約等于5。 確定各組界限組的邊界值單位取最小測量單位的一半。 作直方圖的步驟 本例第一組的下限為: 第一組的上限值為下界限值加上組距 第二組的下界值為上界限值,第一組的上界值加上組距就是第二組上界限值,照此類推,定出各組的邊界。 編制頻數(shù)分布表 畫直方圖 數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-直方圖(Histogram) B圖所示的直方圖旁有孤立的小島出現(xiàn),稱為孤島形,這種直方圖通常是由于工藝條件,如人、機(jī)、料、法、環(huán)、測等條件發(fā)生突變造成的。 數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-直方圖(Histogram) C圖為偏向型,通常是由于習(xí)慣性加工、返修或剔除廢品后造成的。 數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-直方圖(Histogram) D圖為陡壁型
6、,它的產(chǎn)生原因與偏向型相同。 數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-直方圖(Histogram) E圖為雙峰型,是由于將來自兩種不同生產(chǎn)條件的數(shù)據(jù)混在一起整理而造成的,若用分層法將數(shù)據(jù)預(yù)先處理后,可避免出現(xiàn)這種形狀。 數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-直方圖(Histogram) F圖為平頂形,它可能是將來自兩種不同生產(chǎn)條件的數(shù)據(jù)混在一起造成的,此外如果生產(chǎn)條件發(fā)生緩慢變化,如夾具的磨損,跳線損耗增大,測試板電流變化,操作者疲勞等都可能造成這種形狀。 什么是散布圖 散布圖也叫相關(guān)圖。它是用來研究和判斷兩個變量之間關(guān)系的圖。 兩種不同的關(guān)系 確定性的函數(shù)關(guān)系這種關(guān)系是兩個變量存在著完全確定的函數(shù)關(guān)系。如圓周長和圓的直徑D之間存在著
7、C*D的關(guān)系。 非確定性的相關(guān)關(guān)系這種關(guān)系是非確定性的依賴或制約關(guān)系。如兒童的年齡和體重; 散布圖的基本形式 散布圖是由一個縱坐標(biāo),一個橫坐標(biāo)及很多散布點組成; 打點X為橫坐標(biāo)(自變量),Y為縱坐標(biāo)(應(yīng)變量),把數(shù)據(jù)表中的各組對應(yīng)數(shù)據(jù)一一按坐標(biāo)位置表示出來。如果碰上兩組完全相同,則在點上加圈表示,三組相同,則加上雙重圈表示;從散布圖上的點子分布狀況,可以觀察分析出兩個變量(X,Y)之間是否有相關(guān)關(guān)系,以及關(guān)系的密切程度如何。 散布圖的判斷分析 對照典型圖例是法這是最簡單的方法。把畫出的散布圖例對照就可得出兩個變量之間是否相關(guān)及屬于哪一種相關(guān)的結(jié)論。 強(qiáng)正相關(guān)X變量增加,Y變量亦隨之增加;且點子
8、的分布比較密集,相關(guān)關(guān)系明顯呈直線趨向。 散布圖的判斷分析 弱正相關(guān)點子的分布比較松散,相關(guān)關(guān)系大致呈直線趨向。 散布圖的判斷分析 強(qiáng)負(fù)相關(guān)X變量增加,Y變量隨之減少;且點子的分布比較密集,相關(guān)關(guān)系明顯呈直線趨向。 散布圖的判斷分析 弱負(fù)相關(guān)點子的分布比較松散,相關(guān)關(guān)系大致呈直線趨向。 數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-分層法 何謂分層法 分層的目的是把雜亂無章和錯綜復(fù)雜的數(shù)據(jù),按照不同的目的、性質(zhì)、來源等加以分類整理,使之系統(tǒng)化、條理化,能更確切地反映數(shù)據(jù)所代表的客觀事實,便于查明產(chǎn)品質(zhì)量波動的實質(zhì)性原因和變化規(guī)律,以便抓住主要矛盾,找到主要影響因素,從而對癥下藥,采取相應(yīng)的措施。 分層的原則 分層的原則是
9、使同一層內(nèi)的數(shù)據(jù)波動盡可能小、而層與層之間的差別盡可能大。 數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-分層法 為了達(dá)到目的,通常按操作者、機(jī)器設(shè)備、材料、工藝方法、測量手段、環(huán)境條件和時間等標(biāo)志對數(shù)據(jù)進(jìn)行分層。 例如: * 對操作者可以按產(chǎn)地、生產(chǎn)廠、成分、尺寸、批量、型號等分層。 * 對操作環(huán)境可以按噪聲、清潔程度、采光、運輸形式。 * 對時間可以按季、月、周、日、班次、上午、下午等來進(jìn)行分層。 *對操作人員可以按男工人、女工人、老工人、新工人、不 同技術(shù)等進(jìn)行分層。 數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-分層法 數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-調(diào)查表 調(diào)查表 調(diào)查表也叫檢查表或核對表,它是一種為了便于搜集數(shù)據(jù)而使用簡單記號并予統(tǒng)計整理,并作進(jìn)一步
10、分析或作為核對、檢查之用而事先設(shè)計的一種表格或圖表 數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-調(diào)查表 數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-調(diào)查表 常用的調(diào)查表: 常用的調(diào)查表有不良項目調(diào)查表(也叫不合格品項目調(diào)查表)、缺陷位置調(diào)查表、不良原因調(diào)查表、工序分布調(diào)查表(也叫質(zhì)量分布調(diào)查表、頻數(shù)表)、矩陣調(diào)查表。 缺陷位置調(diào)查表用來調(diào)查產(chǎn)品各部位的缺陷情況。 不良項目調(diào)查表用來調(diào)查發(fā)生的哪些不良項目、各自的比率; 不良原因調(diào)查表可以按影響工藝過程的人、機(jī)、料、法、環(huán)、測等標(biāo)志進(jìn)行分層調(diào)查; 工序分布調(diào)查表用來調(diào)查工序過程中各種質(zhì)量特性出現(xiàn)頻率的一種表格。每測一個相應(yīng)地在欄中記一個,測量完畢時,頻數(shù)的分布狀態(tài)也顯示出來了。 矩陣調(diào)查表是一種多因素調(diào)查表,它把問題及其對應(yīng)的影響因素分別排成行和列,在行列交叉點上標(biāo)出調(diào)查到的各種缺陷、問題和數(shù)量。 數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-調(diào)查表 數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法-控制圖 控制圖 控制圖是用于分析和控制過程質(zhì)量的一種方法 控制圖
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