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1、無(wú)鉛焊點(diǎn)可靠性分析 單位: 姓名: 時(shí)間: 無(wú)鉛焊點(diǎn)可靠性分析摘 要:主要介紹了Sn-Ag-Cu合金焊接點(diǎn)發(fā)生失效的各種表現(xiàn)形式,探討失效發(fā)生與影響可靠性的各種原因及如保在設(shè)計(jì)及制程上進(jìn)行改進(jìn)以,改善焊點(diǎn)的可靠性,提高產(chǎn)品的質(zhì)量。 關(guān)鍵詞:焊點(diǎn);失效;質(zhì)量;可靠性前言:電子產(chǎn)品的“輕、薄、短、小”化對(duì)元器件的微型化和組裝密度提出了更高的要求。在這樣的要求下,如何保證焊點(diǎn)質(zhì)量是一個(gè)重要的問(wèn)題。焊點(diǎn)作為焊接的直接結(jié)果,它的質(zhì)量與可靠性決定了電子產(chǎn)品的質(zhì)量。也就是說(shuō),在生產(chǎn)過(guò)程中,組裝的質(zhì)量最終表現(xiàn)為焊接的質(zhì)量。目前,環(huán)保問(wèn)題也受到人們的廣泛關(guān)注,在電子行業(yè)中,無(wú)鉛焊料的研究取得很大進(jìn)展,在世界范圍

2、內(nèi)已開(kāi)始推廣應(yīng)用,無(wú)鉛焊料與有鉛焊料相比,其潤(rùn)濕性差、焊接溫度,形成的焊點(diǎn)外觀粗糙等不利因素。因此對(duì)其焊點(diǎn)品質(zhì)也是一個(gè)大家很關(guān)注的問(wèn)題。中將就Sn-Ag-Cu焊料合金的焊點(diǎn)質(zhì)量和可靠性問(wèn)題進(jìn)行探討。一、無(wú)鉛焊點(diǎn)的外觀評(píng)價(jià)在印刷電路板上焊點(diǎn)主要起兩方面作用。一是電連接,二是機(jī)械連接。良好的焊點(diǎn)就是應(yīng)該是在電子產(chǎn)品的使用壽命周期內(nèi),其機(jī)械和電氣性能都不發(fā)生失效。良好的焊點(diǎn)外觀表現(xiàn)為:(1) 良好的潤(rùn)濕;(2) 適當(dāng)?shù)暮噶希耆采w焊盤(pán)和焊接部位;(3) 焊接部件的焊點(diǎn)飽滿且有順暢連接的邊緣;二、壽命周期內(nèi)焊點(diǎn)的失效形式 產(chǎn)品在其整個(gè)壽命期間內(nèi)各個(gè)時(shí)期的故障率是不同的, 其故障率隨時(shí)間變化的曲線稱(chēng)為

3、壽命的曲線, 也稱(chēng)浴盆曲線(見(jiàn)下圖)如上圖所示,產(chǎn)品壽命的曲線總共分為三個(gè)階段早期故障期,偶然故障期,耗損故障期。1)、早期故障期:在產(chǎn)品投入使用的初期,產(chǎn)品的故障率較高,且具有迅速下降的特征。這一階段產(chǎn)品的故障主要是設(shè)計(jì)與制造中的缺陷,如設(shè)計(jì)不當(dāng)、材料缺陷、加工缺陷、安裝調(diào)整不當(dāng)?shù)龋a(chǎn)品投入使用后很容易較快暴露出來(lái)??梢酝ㄟ^(guò)加強(qiáng)質(zhì)量管理及采用篩選等辦法來(lái)減少甚至消滅早期故障。2)、偶然故障期:在產(chǎn)品投入使用一段時(shí)間后,產(chǎn)品的故障率可降到一個(gè)較低的水平,且基本處于平穩(wěn)狀態(tài),可以近似認(rèn)為故障率為常數(shù),這一階段就是偶然故障期。在這個(gè)時(shí)期產(chǎn)品的故障主要是由偶然因素引起的,偶然故障階段是產(chǎn)品的主要工作

4、期間。3)、耗損故障期:在產(chǎn)品投入使用相當(dāng)長(zhǎng)的時(shí)間后,產(chǎn)品就會(huì)進(jìn)入耗損故障期,其特點(diǎn)是產(chǎn)品的故障率迅速上升,很快出現(xiàn)產(chǎn)品故障大量增加直至最后報(bào)廢。這一階段產(chǎn)品的故障主要是由老化、疲勞、磨損、腐蝕等耗損性因素引起的。通過(guò)對(duì)產(chǎn)品試驗(yàn)數(shù)據(jù)分析,可以確定耗損階段的起始點(diǎn),在耗損起始點(diǎn)到來(lái)之前停止使用,對(duì)耗損的零件、部件予于維修、,更換,可以降低產(chǎn)品的故障率,延長(zhǎng)產(chǎn)品的使用壽命。產(chǎn)品的使用壽命與產(chǎn)品規(guī)定條件和規(guī)定的可接受的故障率有關(guān)。規(guī)定的允許故障率高,產(chǎn)品的使用壽命就長(zhǎng),反之,使用壽命就短。另外,并非所有產(chǎn)品的故障率曲線都可以分出明顯的三個(gè)階段。高質(zhì)量等級(jí)的電子產(chǎn)品其故障率曲線在其壽命期內(nèi)基本是一條平

5、穩(wěn)的直線。而質(zhì)量低劣的產(chǎn)品可能存在大量的早期故障或很快進(jìn)人耗損故障階段三、焊點(diǎn)可靠性影響因素1、設(shè)計(jì)不良 在設(shè)計(jì)上如果為充分考慮到各種嚴(yán)肅的影響而設(shè)計(jì)上存在缺陷時(shí)將導(dǎo)致焊點(diǎn)存在缺陷。例如當(dāng)PCB的上的焊盤(pán),孔徑與零件腳的匹配不當(dāng)時(shí),焊點(diǎn)不飽滿,存在缺陷將嚴(yán)重影響焊點(diǎn)質(zhì)量。2、原才不良的影響PCB 板材原材不良導(dǎo)致焊點(diǎn)的質(zhì)量下降。良好的焊點(diǎn)需充分的潤(rùn)濕,PCB原才的孔壁鍍層厚度太薄、沖孔(鉆孔)質(zhì)量差,孔焊盤(pán)OSP層太薄等導(dǎo)致焊接時(shí)焊點(diǎn)點(diǎn)潤(rùn)濕不良,造成缺陷,影響焊點(diǎn)的品質(zhì)與可靠性;板材基材為酚醛樹(shù)脂與環(huán)氧樹(shù)脂加各種增強(qiáng)物,在PCB生產(chǎn)過(guò)程中處理不當(dāng)時(shí)容易在儲(chǔ)存過(guò)程中吸水,導(dǎo)致焊接時(shí)形成錫洞、焊點(diǎn)

6、不飽滿等焊點(diǎn)缺陷,最終導(dǎo)致焊點(diǎn)可靠性下降。3、焊接制程中工藝參數(shù)的影響在焊接的過(guò)程中,制程工藝參數(shù)直接了焊點(diǎn)的形成,制程工藝參數(shù)選擇不當(dāng),容易形成有缺陷的焊點(diǎn),特別是無(wú)鉛焊錫的使用對(duì)工藝提出了更高的要求。無(wú)鉛的多層板表面一般使用OSP涂層保護(hù),在SMT階焊接過(guò)程中既要使焊接部分的OSP溶解而形成在潤(rùn)濕的焊點(diǎn)又要使未焊接部分保留OSP保護(hù)膜保護(hù)焊盤(pán)。當(dāng)掌握不好時(shí),往往形成有缺陷的焊點(diǎn),影響了焊接質(zhì)量。而且在無(wú)鉛焊接過(guò)程中,由于焊料,助焊劑、鍍層的影響,當(dāng)掌握不好其特點(diǎn),工藝參數(shù)有偏差時(shí)容易形成錫洞、連錫、未焊、冷焊等等焊接缺陷,導(dǎo)致焊點(diǎn)可靠性下降。4、熱應(yīng)力與熱沖擊焊接過(guò)程中快速的冷熱變化,對(duì)元

7、件造成暫時(shí)的溫度差,這使元件承受熱應(yīng)力。當(dāng)溫差過(guò)大時(shí),導(dǎo)致元件不同材質(zhì)部分產(chǎn)生應(yīng)力裂紋。應(yīng)力裂紋是影響焊點(diǎn)長(zhǎng)期可靠性的不利因素。 焊料固化后,PCB還必須由1800C降低到室溫。由于PCB和元件之間的熱膨脹系數(shù)不同,有時(shí)也會(huì)產(chǎn)生焊點(diǎn)的微裂紋,從而影響焊點(diǎn)的可靠性5、金屬化合物的生產(chǎn) 在焊接過(guò)程中,熔融的釬料與焊接襯底接觸時(shí),在界面會(huì)形成一層金屬間化合物(IMC)。其形成不但受回流焊接過(guò)程中溫度、時(shí)間的控制,而且在后期的服役過(guò)程中其厚度也會(huì)隨著時(shí)間的延長(zhǎng)而增加。研究表明界面上的金屬間化合物是影響焊點(diǎn)可靠性的一個(gè)關(guān)鍵因素。在Sn-Ag與Cu基界面上存在Cu6Sn5及Cu3Sn兩種合金成分,且隨著熱

8、處理時(shí)間增加,Cu6Sn5合金層增厚,并在該處容易出現(xiàn)裂紋而導(dǎo)致焊點(diǎn)強(qiáng)度減弱,從而使焊點(diǎn)產(chǎn)生疲勞失效。所以過(guò)厚的金屬間化合物層會(huì)導(dǎo)致焊點(diǎn)斷裂韌性和抗低周疲勞能力下降,從而導(dǎo)致焊點(diǎn)可靠性的下降;除了在焊接時(shí)生成IMC層以外,焊料中的錫也和焊接金屬表現(xiàn)出固化反應(yīng),甚至在室溫下,都可能發(fā)生這樣的反應(yīng)。例如。,一年后Cu Sn層的厚度會(huì)增加0.5um;通常合金化合物是硬而脆的。相比較而言有些是硬的,如Cu Sn,其它則較軟,如AuSn4, Ni Sn合金層則是中等硬度。而軟合金層將導(dǎo)致焊點(diǎn)破裂,特別容易發(fā)生在含金的焊料中。整個(gè)薄層合金的變化將導(dǎo)致粘附力的降低或電接觸的老化。這些都將導(dǎo)致焊點(diǎn)可靠性的下降

9、;在焊接金屬與合金層之間的界面處也經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)焊接金屬的伴生物,如銅一錫合金層之間出現(xiàn)的SnO2。這些氧化物的較脆,其生成都導(dǎo)致焊點(diǎn)可靠性的下降。6、裝卸和移動(dòng)造成的焊點(diǎn)失效 電子產(chǎn)品從元器件裝配、電路組裝和直到成品的運(yùn)輸和使用的整個(gè)壽命周期內(nèi),可能會(huì)承受由于機(jī)械負(fù)載引起的各種振動(dòng)和沖擊,于印制板彎曲可能會(huì)給焊點(diǎn)和元件施加過(guò)量的應(yīng)力,較重的元件如變壓器等的晃動(dòng)導(dǎo)致焊點(diǎn)受力使大通孔元件的焊點(diǎn)所受應(yīng)力很容易超過(guò)屈服極限; 7、 腐蝕免清洗型助焊劑殘留,空氣污染所致的干性化學(xué)腐蝕等。在潮濕和有偏置電壓的情況下,在焊點(diǎn)上容易產(chǎn)生腐蝕和離子遷移(由于電解作用,金屬析出蔓延形成樹(shù)枝狀晶體)。破壞電氣性能,使

10、產(chǎn)品失效;8、 蠕變斷裂材料在長(zhǎng)時(shí)間的恒溫、恒應(yīng)力作用下,即使應(yīng)力小于屈服強(qiáng)度也會(huì)慢慢地產(chǎn)生塑性變形的現(xiàn)象稱(chēng)為蠕變。這種變形引起的斷裂稱(chēng)為蠕變斷裂。不同的材料出現(xiàn)蠕變的溫度不同。一般來(lái)說(shuō),當(dāng)溫度超過(guò)材料熔點(diǎn)的0.3倍以上時(shí),才出現(xiàn)較明顯的蠕變。而錫焊料在室溫下也有蠕變現(xiàn)象。 為了防止重的元件造成的蠕變破裂,建議有引線元件的焊點(diǎn)施加的應(yīng)力不超過(guò)0.1N/焊點(diǎn)。 焊點(diǎn)在焊接后多少會(huì)釋放一些應(yīng)力,如果焊點(diǎn)位于PCB的某一彎曲的位置,就會(huì)受到持久的擠壓。大尺寸IC的焊點(diǎn),帶有相對(duì)較硬的引線,這樣的焊點(diǎn)在這種情況下會(huì)斷裂。如果焊料同發(fā)生塑性形變的引線固化在一起,就會(huì)發(fā)生蠕變斷裂,這取決于引線的硬度和塑性

11、形變量。9、焊接疲勞 焊點(diǎn)在整個(gè)壽命周期內(nèi),因?yàn)?PCBA上各個(gè)組件的元件、焊料以及基板材料有著不同的熱膨脹系數(shù)。同時(shí),周期性的溫度改變,散熱的變化以及環(huán)境溫度的改變都會(huì)引起每次溫度改機(jī)械應(yīng)力。這部分應(yīng)力由蠕變釋放出來(lái),從而引起每次溫度改變時(shí)的塑性形變。這種累積的破壞性影響將最終導(dǎo)致焊點(diǎn)的疲勞斷裂,微觀變化如下圖:焊點(diǎn)在受熱與冷熱沖擊過(guò)程中,焊點(diǎn)晶粒逐漸粗大,而晶粒粗大導(dǎo)致micro-voids后焊點(diǎn)的電阻也將變大,導(dǎo)致該點(diǎn)位溫度升高,也加導(dǎo)致焊點(diǎn)晶粒越來(lái)越大,晶界的裂縫也逐漸增大從而導(dǎo)致焊點(diǎn)的斷裂!四、結(jié)論 綜上所述,影響焊點(diǎn)質(zhì)量的因素有很多,我們探討了在設(shè)計(jì),原材、制造缺陷對(duì)其不良影響與在制造,運(yùn)輸,使用過(guò)程中的機(jī)械負(fù)載、熱沖擊、裝卸和移動(dòng)、老化等方面的影響,那么在設(shè)計(jì)與制造過(guò)程時(shí),應(yīng)該注意一下幾點(diǎn)來(lái)盡量減小影響焊點(diǎn)質(zhì)量的不利因素,保證焊點(diǎn)的質(zhì)量,提高

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