統(tǒng)計過程控制考試試題

1、統(tǒng)計過程控制（SPC課程培訓測試題部門：姓名：分數(shù)：一、名詞解釋：1變差：過程的單個輸出之間不可避免的差別；變差的原因可分為兩類：普通原因和特 殊原因。3.1固有變差：僅由普通原因造成的過程變差，由 ？ =R/d2來估計。3.2總變差：由普通原因和特殊原因共同造成的變差，用？$來估計。2、特殊特性：可能影響安全性或法規(guī)的符合性、配合、功能、性能或產(chǎn)品后續(xù)生產(chǎn)過程的產(chǎn)品特性或制造過程參數(shù)。3、標準差：過程輸出的分布寬度或從過程中統(tǒng)計抽樣值 （例如：子組均值）的分布寬度的量度，用希臘字母或字母s （用于樣本標準差）表示。4、控制限：控制圖上的一條線（或幾條線）,作為制定一個過程是否穩(wěn)定的基礎(chǔ)。如有

2、超出了控制極限變差存在，則證明過程受特殊因素的影響?？刂葡奘峭ㄟ^過程數(shù)據(jù) 計算出來的，不要與工程的技術(shù)規(guī)范相混淆。5、過程能力：一個穩(wěn)定過程的固有變差（6? : R/d2 ）的總范圍。6、Cpk （穩(wěn)定過程的能力指數(shù)）:為一穩(wěn)定過程【某一天、某一班次、某一批、某一機臺其組內(nèi)的變差（R-bar/d2 or S-bar / C4 ）】下的“能力指數(shù)”，計算時須同時考慮過程數(shù)的趨勢及該趨勢接近于規(guī)格界限的程度。即:通常定義為CPU或CPL中的最小值。7、Ppk （性能指數(shù)，即初期過程的性能指數(shù)）:為試生產(chǎn)階段一項類似于Cpk的能力指數(shù)，某一產(chǎn)品長期監(jiān)控下的“能力指數(shù)"；但本項指數(shù)的計算，是

3、以新產(chǎn)品的初期 過程 性能研究所得的數(shù)據(jù)為基礎(chǔ)。即：通常定義為PPU或PPL中的最小值。8 PPM （質(zhì)量水準，即每百萬零件不合格數(shù)）：指一種根據(jù)實際的有缺陷材料來反映過程能力 的一種方法。PPM數(shù)據(jù)常用來優(yōu)先制定糾正措施。9、過程（Process）: 組將輸入轉(zhuǎn)化為輸出的相互關(guān)聯(lián)或相互作用的活動。過程是向過程的顧客（內(nèi)部的和外部的）提供產(chǎn)品或服務的增值活動鏈。注：A）個過程的輸入通常是其它過程的輸出。B）組織為了增值通常對過程進行策劃并使其在受控條件下運行。C）過程的資源通常包括：人員、資金、設施、設備、材料、技術(shù)和方法。10、第I類錯誤：拒絕一個真實的假設。例如：采取了一個適用于特殊原因的

4、措施而實際上過程還沒有發(fā)生變化；即過度控制。、是非題（正確以表示，錯誤以“亡表示）:題目判斷1、所有的特殊特性均應使用統(tǒng)計過程控制。X2、特殊特性的選擇應由企業(yè)按產(chǎn)品/過程中特性的重要程度來制定，并沒有絕 對的正確與否。X3、在繪制控制圖時，不管米取何種方法，均應注意控制圖應能顯示過程受 控， 否則不能計算過程能力。X4、P圖控制法適用于對所有的計數(shù)型數(shù)據(jù)做統(tǒng)計過程控制。X5、1924年，美國的品管大師休哈特（W.A.Shewhart）博士提出將3Sigma原 理運用于生產(chǎn)過程當中，并發(fā)表了著名的“控制圖法"（亦稱為：Shewhart控制圖或3 c控制圖。即：一種以實際產(chǎn)品質(zhì)量特性與

5、依過去 經(jīng) 驗所研判的過程能力的控制界限比較，而以時間順序表示出來的圖形）。通過對過程變差進行控制，為統(tǒng)計質(zhì)量管理奠定了理論和方法基 礎(chǔ)。V6因為X （bar）R圖最為精確和敏感，較其它方法優(yōu)勢更強，因此大多數(shù)企 業(yè) 都選擇使用該方法。X7、特殊原因都是惡性的，都應該進行剔除。V&當過程能力較咼時，為降低成本，米取方法使之降低，這與持續(xù)改進相矛 盾，不可取。X9、當過程能力不足時，為提高過程能力，應進一步減小普通原因和特殊原因造 成的變差。V10、Ppk用于批量生產(chǎn)時對過程能力分析，Cpk用于批產(chǎn)前對過程能力的分 析。X三、簡答題：1請寫出控制圖中常見的八種過程不受控的表現(xiàn)情況？答：控

6、制圖中常見的八種過程不受控 的表現(xiàn)情況為： 、不能有點子超出上、下控制限（即：檢定規(guī)則1:1界外一有1點在A區(qū)以外）； 、連續(xù)3點中不能有2點落在A區(qū)或A區(qū)以外之區(qū)域（即:檢定規(guī)則2: 2/3A -連續(xù)3點中有2點在A區(qū)或A區(qū)以外）； 、連續(xù)5點中不能有4點落在B區(qū)或B區(qū)以外之區(qū)域（即:檢定規(guī)則3: 4/5B -連續(xù)5點中有4點在B區(qū)或B區(qū)以外）； 、不能有連續(xù)9點（或更多點）落在控制中心線的同一側(cè)（即：檢定規(guī)則4:9單側(cè)一連續(xù)9點在控制中心的同一側(cè)）； 、不能有連續(xù)7點（或更多點）持續(xù)上升或下降（即:檢定規(guī)則5: 7連串一連續(xù)7點（或更多點）持續(xù)上升或下降）； 、不能有連續(xù)14點交互著一升一

7、降（即：檢定規(guī)則6:14升降-連續(xù)14點交互著一升一降）； 、不能有連續(xù)8點在中心線的兩側(cè)，但C區(qū)并無點子（即：檢定規(guī)則7:8缺。-連續(xù)8點在中心線的兩側(cè)，但C區(qū)并無點子）。 、不能有連續(xù)15點在中心線上下兩側(cè)的C區(qū)（即：檢定規(guī)則8:15C-連續(xù)15點在中心線上下兩側(cè)的C區(qū)）。2、請寫出常用的五種計量型控制圖的簡稱和四種計數(shù)型控制圖的簡稱？答：常用的五種計 量型控制圖的簡稱為： 、平均數(shù)與極差控制圖（X-R Chart）； 、平均數(shù)與標準差控制圖（X 匚Chart）； 、中位數(shù)與極差控制圖（戈Chart）； 、個別值與移動極差控制圖（X-Rm chart）； 、最大值與最小值極差控制圖（LS chart）。常用的四