光干涉甲烷傳感器

1、常見故障與排除二、干涉條紋消失將儀器按下開關光源按鈕，光源燈已亮，而分劃板上無干涉條紋，原因：1、調(diào)零螺桿擰入連接座內(nèi)過深或過淺，使原在分劃板上的干涉條紋移動分化板0位或10%后邊，而分劃板上無干涉條紋，只有亮光或黑影?？赏ㄟ^擰調(diào)零手輪，改變反射棱鏡傾角，使條紋移到分劃板上。2、光源燈泡松動或換上新燈泡后，光路改變，造成分劃板上無條紋。應上下左右搬動，調(diào)節(jié)燈泡位置，將干涉條紋調(diào)整道分劃板上。3、聚光鏡座、聚光鏡光屏、反射棱鏡、物鏡光屏、氣室沒固牢松動，而改變位置，使光路改變。干涉條紋離開了分劃板通光面，應檢查上述零部件，調(diào)整好光路使光源射出的光經(jīng)過正確的路徑射到分劃板通光面上。如分劃板上條紋不

2、全，改變反射棱鏡或物鏡光屏位置解決。4、儀器鏡片很臟，呈在分劃板上得干涉條紋過分虛，看不清干涉條紋，無認為分劃板通光區(qū)無條紋。應擦鏡片，提高干涉條紋清晰度。5、平面鏡向后傾斜笑，甚至垂直于本體底平面，產(chǎn)生的條紋過寬。在分劃板上看不到干涉條紋，在平臺的細砂紙上磨平鏡底座后邊，是平面鏡向后傾斜約55即可產(chǎn)生干涉條紋，調(diào)整光路，使干涉條紋呈到分劃板上。干涉條紋消失，就要尋找干涉條紋，尋找干涉條紋方法（參照第八章中尋找干涉條紋）。三、測值不準儀器精度檢驗超差，在使用中測值不準。原因：主要是儀器干涉條紋寬度不準，造成檢驗精度超差，使用中測值不準。應寬磨后窄前平面鏡底座，即干涉條紋寬了。在平臺的細砂紙上磨

3、平面鏡底座的底平面后邊，窄磨前面。修理時也可墊錫鉑紙。寬墊前，窄墊后。即條紋寬了，將錫鉑紙建成長條，墊在平面鏡底座平面前面，使平面鏡向后傾斜。條紋窄了，墊平面鏡底座平面后面使平面鏡向前傾斜。調(diào)好條紋寬度，即可達到儀器精度。四、干涉條紋不清晰成在分劃板上的干涉條紋，要求兩條黑條紋又黑、又細、又直。兩側(cè)對稱的彩色條紋清楚。如果看到分劃板上得條紋虛、模糊不清，兩條黑條紋不黑，發(fā)毛、粗，為干涉條紋不清晰。原因：1、鏡片加工質(zhì)量（如平面鏡平行度、光潔度差、折光棱鏡光潔度和直角差大，可分別將平面鏡、折光棱鏡反過來裝；如無效果，分別更換平面鏡或折光棱鏡，排除由此引起干涉條紋不清晰。將換下的存好，可調(diào)用道另一

4、臺儀器上。2、鏡片臟應檢查平面鏡、折光棱鏡、反射棱鏡、物鏡、測微鏡、氣室平行玻璃。將臟的鏡片擦凈，即可排除由鏡片臟引起的干涉條紋不清晰。3、物鏡焦距不對，應上下串動物鏡座，當串到物鏡某一位置，看到條紋清晰，即為物鏡焦距調(diào)好，將其固牢。）4、光路不正。調(diào)正燈泡、聚光鏡、反射棱鏡等調(diào)好清晰度。5、平面鏡、折光棱鏡、固定得不牢不平、螺釘擰得松緊不當，產(chǎn)生空隙應力。檢查調(diào)平，螺釘擰的松緊適度。個別情況換個燈泡，換個氣室，換個目鏡組，換電池提高高度，有時也能提高干涉條紋清晰度。五、干涉條紋傾斜儀器的干涉條紋要求和儀器本體底平面平行如干涉條紋與本體底平面不平行而傾斜，傾斜度不得大于5度，產(chǎn)生傾斜的原因：1

5、、平面鏡向后傾斜度過大。2、平面鏡、折光鏡鏡座左右面不平行。3、平面鏡平行度差、折光棱鏡90攝氏度尺寸超差（如平面鏡水平楔度、折光棱鏡水平楔度過大，折光棱鏡直角差過大等）。掃除方法：1、調(diào)換平面鏡、折光棱鏡。2、更換物鏡。3、修磨平面鏡底座或折光棱鏡底座左右面，改變條紋的寬度，使平面鏡向后傾斜近于55，達到條紋寬度即可排除傾斜（因有固定得水平方向夾角，靠調(diào)整不易排除傾斜）。六、干涉條紋彎曲干涉條紋出現(xiàn)局部彎曲或全部條紋彎曲。原因:平面鏡、折光棱鏡光潔度差和材質(zhì)不好等質(zhì)量問題。局部彎曲是平面鏡、折光棱鏡、反射棱鏡、物鏡、測微鏡等通光面局部質(zhì)量、硬劃傷、臟物等，其次燈泡玻璃表面不光滑等也會造成條紋

6、彎曲。如裝上氣室，發(fā)現(xiàn)彎曲是由于氣室平行玻璃平行度、光潔度、硬劃傷、臟物等造成的，排除：1、調(diào)正平面鏡、折光棱鏡位置。2、分別將平面鏡、折光棱鏡反過來試裝。3、更換物鏡等有關鏡片和燈泡排除，更換平行玻璃排除。七、干涉條紋反方向移動氣室組測量室加壓或使用中抽進被測氣體n'（n空氣折射率n）,干涉條紋在分劃板上向0的左側(cè)方向移動，（從圖6.4c可知）干涉條紋反方向移動原因：1、平面鏡向前傾斜，辨別是否平面鏡向前傾斜：正常平面鏡座前面厚、后面薄。如發(fā)現(xiàn)平面鏡底座后面比前面厚，就會產(chǎn)生向前傾斜。在調(diào)試時，用手指向后輕推平面鏡上方，如向后推條紋加寬，就是平面鏡向后傾斜。松固定平面鏡組后邊螺釘或緊

7、固平面鏡組前面的螺釘，條紋變窄，是平面鏡向前傾斜。正常寬磨平面鏡底座后邊，條紋變窄，窄磨平面鏡底座前面，條紋變寬。如出現(xiàn)磨平面鏡底座后邊，條紋增寬，磨平面鏡底座前面，條紋變窄是平面鏡向前傾斜。排除方法：將平面鏡裝平固正。磨平面鏡底座底平面后面，開始磨后裝上，條紋增寬。繼續(xù)磨后面，當寬到條紋只有一個條紋或無條紋，這時平面鏡已垂直本體底平面，再磨平面鏡底座底平面后面，平面鏡已向后傾斜，條紋開始變窄，繼續(xù)磨到條紋規(guī)定的寬度即可排除，必要時換平面鏡底座。2、氣室組連接管接錯。將空氣室接到測量氣路，測量室接到平衡氣路，條紋必然反方向移動。通過上述識別確認平面鏡組正確（向后傾斜）,而條紋出現(xiàn)反方向移動，就

8、是氣室接錯。查出錯接，重新正確的連接，即可排除條紋反方向移動。八、測量室加壓條紋彎、虛、斜儀器沒加壓或沒抽進被測氣體，干涉條紋清晰度很好，當加壓或抽進被測氣體干涉條紋移動到分劃板某位置后，條紋開始逐漸變彎、變虛、變斜，嚴重的已無條紋，原因主要是光路問題。儀器的光路調(diào)的過高（即前視場過大，后視場過?。瑴y量室加壓后向Q（010%CH4方向移動。由于后視場光不夠，當移動到某位置，就會出現(xiàn)條紋虛、彎、鈄等不良現(xiàn)象。排除：1、加大后視場。通過調(diào)正光源燈泡，將卡腰圖形調(diào)低（考本體底平面）。2、調(diào)正平面鏡，折光棱鏡，配合形成交角或更換平面鏡、折光棱鏡使光束離本體底平面平行高度近于11mm。3、更換物鏡等即

9、可排除。九、干涉條紋寬度變化加壓或抽進被測氣體，條紋移動到某位置，發(fā)現(xiàn)條紋寬度發(fā)生變化（變寬或變窄），這時校驗超差測值不準，這種現(xiàn)象的產(chǎn)生，是物鏡、折光棱鏡或平面鏡表面平面度不好。如條紋移動到鏡面不平位置，該點條紋寬度必發(fā)生變化。調(diào)換物鏡、平面鏡或折光棱鏡即可排除。十、干涉條紋視場小為便于測量讀數(shù)，要求在分劃板通光面上有足夠的干涉條紋。規(guī)定：兩條黑條紋右側(cè)黑條紋對零，分劃板右側(cè)均是條紋，無黑影、為后規(guī)場夠；右側(cè)黑條紋左側(cè)有兩條以上彩色條紋為前視場夠。如通過調(diào)節(jié)滿足不了前后視場的為視場小。原因：主要是光路沒調(diào)好，光速離本體底平面不在11mm高度。1、平面鏡或折光棱鏡向后或向前傾斜的過大或過小，使

10、折光棱鏡折回的光不能全部射到平面鏡上，部分光射到平面鏡上部或底面，使干涉區(qū)域縮小。2、聚光鏡、物鏡座高度差，使光束不能通過鏡片的中心高度位置，使視場小。3、燈泡玻璃頭小。排除：調(diào)整光路，改變折光棱鏡與平面鏡的傾斜角度，更換燈泡玻璃頭大的，修換平面鏡座物鏡座或物鏡即可排除。如干涉條紋視場區(qū)域很大，只是前視場或后視場小，可調(diào)整光源燈泡解決。如前視場小，移動光源燈泡使卡腰圖形提高，加大前視場，如后視場小，調(diào)正光源燈泡。使卡腰形降低；加大后視場，將前后調(diào)整均勻，即可排除。十一、分劃板晃動轉(zhuǎn)動保護玻璃座，分劃板通光區(qū)隨轉(zhuǎn)動而晃動。原因：1、目鏡組中場鏡、接目鏡、同心度、互相平行度差。2、場鏡、目鏡沒裝平

11、。排除方法：首先檢查組裝的場鏡、接目鏡是否裝平，沒裝平、重裝，將場鏡、接目鏡平裝牢，如裝平還晃動，分別更換場鏡、接目鏡（新型目鏡組無場鏡，將目鏡裝平或更換）排除。CJG10例目鏡組中無場鏡、目鏡，因此不產(chǎn)生晃動。十二、出現(xiàn)明顯付像從目鏡組中看到分劃板通光區(qū)周圍有幾個很明顯的分劃板像，這些分劃板像隨轉(zhuǎn)動保護玻璃座而變換位置。這些付像影響讀數(shù)，產(chǎn)生付像的原因：1、分劃板上部的場鏡、接目鏡、保護玻璃不平行。2、儀器亮度過強，分劃板刻字面光滑，付像就明顯。付像只靠調(diào)節(jié)，一般無法排除。只有從設計上調(diào)高場鏡、接目鏡、保護玻璃鏡的平行度。降低亮度與分劃板刻字面的光潔度?？s小通孔，距圈加消光螺紋等措施，可降低

12、付像或排除。CJG10例目鏡組，分劃板前只裝一片雙凸保護玻璃，無付像。十三、零位失調(diào)分劃板上的干涉條紋，轉(zhuǎn)動調(diào)零手輪，黑條紋調(diào)不到零位。造成儀器無法調(diào)正零位的原因與排除：反射棱鏡組中的彈簧片無彈性或彈簧片弧度小，螺釘松動反射棱鏡組沒顧牢等所造成。排除：1、更換彈簧片弧度大，彈性強。2、修理加大彈簧弧度。3、擰緊螺釘，固牢反射棱鏡組。十四、測量氣路加不上壓，使用中抽不進被測氣體這種情況是：1、測量氣路嚴重漏氣。加壓或測量抽氣時，漏氣點隨之流出，所以加不上壓。2、空氣室，測量室嚴重的互相串氣，這時加到測量室的壓，串到空氣室，由空氣室連接的盤形管流出，所以加不上壓。應分段檢查，查出漏氣、串氣處排除，

13、即可加上壓。十五、能加上壓，條紋不動校驗儀器氣密或精度時，能加上壓，誤認為氣密性良好。將氣球接到被校儀器出氣咀上做暢通試驗，暢通良好。在使用中握扁氣球，松手后，氣球立即鼓起，誤認為暢通良好，測量握壓多次氣球，或用校正儀加壓，條紋不動。產(chǎn)生的原因：進氣咀至氣室測量室堵，測量室至氣球之間漏：這時將壓力校正儀接到進氣咀上，因氣室至進氣咀之間堵，壓力進不到測量室內(nèi)，測量室沒進入壓力，所以條紋不動。將氣球接出氣咀上，握扁氣球抽氣時，氣室至出氣咀間漏氣，氣體從漏點進入氣球，使氣球鼓起。測量室內(nèi)的氣體沒抽出來。所以條紋不動。排除：將氣室至進氣咀堵處通開，氣室至出氣咀之間漏氣處查到排除，測量室能加上壓條紋移動

14、。1、簡述分劃板常見故障及處理辦法。A、分劃板上有臟物，當旋轉(zhuǎn)目鏡時污點不隨之轉(zhuǎn)動，若是實點，則臟物在有刻線的一面，若是虛點，則臟物在另一面，擦拭分劃板時不許用酒精、苯、乙醚等有機溶液，以免損壞劃線等。B、分劃板與分劃板座脫落，應用蟲膠或指甲油重新粘合，粘合時注意有刻線的一面朝上，并與分劃板座同心。2、光瓦光學鏡片維護的注意事項有哪些？A、擦拭鏡片時，手指不能與拋光面接觸，以免腐蝕鏡片；B、擦光學鏡片的溶劑最好用無水乙醇，油污嚴重的鏡片用無水乙醇清洗后，再用乙醚擦拭，使鏡片表面更加干凈。C、用熱膠安裝物鏡時，要嚴格控制溫度，而冷膠時，要配制好適宜濃度的蟲膠溶液，嚴禁乙醇進入膠合層，造成物鏡開膠

15、，影響光譜清晰度。D、在裝物鏡時，當鏡片與鏡座孔徑不吻合時，眼睛用力強壓，以免脫膠。4、光瓦儀測量室外加壓時干涉條紋反向移動，其原因是什么？怎樣處理？原因：一是平面鏡底座傾向、傾角不對。二是氣室接反；根據(jù)情況更換平面鏡底座或重新接氣室即可。1、簡述計量檢定規(guī)程？答：為評定計量器具的計量特性，由國務院計量行政部門組織，制定并批準頒布，在全國范圍內(nèi)施行，作為確定計量器具法定地位的技術文件。2、光學瓦斯檢定儀的氣路系統(tǒng)主要原件是什么？答：氣路系統(tǒng)有測量氣路和平衡氣路兩部分組成。測量氣路有：吸收管、氣室的瓦斯室、氣球組成。平衡氣路有平衡（盤形管）和氣室及各種連接管組成。3、簡述“A類不確定度評定”、“

16、B類不確定度評定”答：A類：用統(tǒng)計方法計算的那些分量。B類：用其他方法計算的那些部分。4、氣室組的作用是什么？答：氣室組是儀器中的測量組件，它分為空氣室和測量室，當空氣室和測量室的成分相同時，兩束光通過的介質(zhì)相同，折射率相同，沒有光程差，條紋不移動，當改變測量室的氣體成分后，兩束光通過的介質(zhì)折射率不同、光程不同，產(chǎn)生的光程差，干涉條紋移動，事項測出被測氣體的濃度。5、簡述測微器的工作原理？答：1）是讀取小數(shù)值的組件；2）旋轉(zhuǎn)測微手輪帶動有刻度盤的測微螺桿運動；3）頂起測微鏡座改變測微鏡角度，使干涉條紋在分劃板上移動01%范圍內(nèi)的有限值，從而讀取小數(shù)值。六、論述題。1、為什么在井下同一地點用檢定合格的光學瓦斯鑒定器和催化燃燒式甲烷測定器測量環(huán)境中的甲烷氣體濃度，但測量結(jié)果不一樣？答：因為兩種儀器的測量原理不同，井下測量環(huán)境對兩種儀器測量結(jié)果都會造成影響。1）光學瓦斯檢定器受溫度、濕度、氣壓影響大，讀取后應進行溫壓修正。2）催化燃燒甲烷測定器受可燃性氣體影響較大，在無其它可燃性氣體的條件下，其測量值不需要修正。3）若修正后兩種儀器測量結(jié)果仍不一樣，就應考慮測量環(huán)境中是否有其它可燃性氣體造成催化儀器讀數(shù)不準確，有其它有毒、有害其它造成測量元件中毒。另外要考慮測量環(huán)境中二氧化碳含量過高，會造成藥品失效，使光學瓦斯檢定器測量值不準確。2、為什么在檢定中會出現(xiàn)加壓后干涉