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1、第二章 原子發(fā)射光譜分析2-1 光學(譜)分析基礎原子發(fā)射光譜分析法是利用原子發(fā)射光譜與待測物質(zhì)之間的關系建立起來的一種成分分析方法。這種方法常用于物質(zhì)成分的定性、半定量及定量分析。由于各種新光源和新檢驗技術的出現(xiàn),使原子發(fā)射光譜分析這一古老的分析方法獲得了新的生命力。采用電感耦合等離子體(Inductively Coupled Plasma,ICP)作為光源的原子發(fā)射光譜分析成為被公認的、有權威的現(xiàn)代儀器分析方法之一。光學分析法:依據(jù)物質(zhì)發(fā)射或吸收的電磁輻射,以及物質(zhì)與電磁的相互作用來進行分析的方法。一、 電磁輻射和電磁波譜二、 原子光譜和分子光譜三、 光譜分析法的特點:多元素同時分析、遙控

2、缺點:分析元素限制、基本效應(物理干擾)22 原子發(fā)射光譜分析的基本原理原子發(fā)射光譜法:利用發(fā)射光譜來測定物質(zhì)化學組成和含量的分析方法。發(fā)射光譜原理:原子不同、發(fā)射的譜線不同電子狀態(tài):基態(tài)、激發(fā)態(tài)、電離E=E2-E1hhc/23 發(fā)射光譜儀進行光譜分析的儀器設備主要由光源、分光系統(tǒng)(光譜儀)及觀測系統(tǒng)三部分組成。一、 光源二、 1、作用:使被測樣變?yōu)樵诱魵舛ぐl(fā)(對試樣的蒸發(fā)和激發(fā)提供能量)2、種類直流電弧:T:40007000K優(yōu)點:靈敏度高,背景小缺點:穩(wěn)定性差用途:定性分析:組含量雜質(zhì)測定交流電弧:T:50007500K優(yōu)點:穩(wěn)定性好 缺點:靈敏度低用途:定量、定性分析火花光源:溫度1

3、0000K優(yōu)點:穩(wěn)定性比較好缺點:靈敏性差用途、:定量、定性分析ICP 溫度 800010000K優(yōu)點:激發(fā)性能強、無電極污染、穩(wěn)定性好、靈敏度高、精密度高缺點:;液體進樣應用::定量、定性分析輝光優(yōu)點:激發(fā)能力強、靈敏度高、背景小、穩(wěn)定性好缺點:選擇不方便,操作繁瑣應用:超純物質(zhì)雜質(zhì)分析、難激發(fā)樣品氣體樣品分析、譜線超精細結構研究激光優(yōu)點:靈敏度高(1012g),試樣用量少宏觀上不破壞樣品,樣品不須處理、各種樣品均適用缺點:設備復雜、造價高火焰:3000K優(yōu)點:易電離成份分析 靈敏度高缺點:激發(fā)溫度低 適用范圍小用途:Na、K分析三、 選擇光源方法1、根據(jù)樣品揮發(fā)性、激發(fā)難易來選擇易揮發(fā):火

4、花,火焰易激發(fā):電弧,火焰難揮發(fā):電弧、ICP、輝光、激光難激發(fā):火花、ICP、輝光、激光2、待測元素含量高:都可低:火花、電弧不適應3、定性:直流電弧定量:火花、交流電弧、ICP4、導電性易:電弧、火花難:激光、輝光、ICP二、分光系統(tǒng)(攝譜儀)1、作用將光源發(fā)射的電磁波分解為按波長排列的光譜2、分類按分光原理分 棱鏡光譜儀、光柵光譜儀棱鏡光譜儀按材料分 玻璃(多見光區(qū))、石英(紫外光區(qū))、螢石(真空紫外)3、性能1) 色散率2) 分辨率3) R/=(1+2)/1-2四、 觀測設備1、光譜投影儀用途:定性及半定量(檢查譜線位置)2、測微光度計(黑度計)作用:測量譜線黑度定義:S=1/T=I0

5、/I其中:I0 透過的光線的強度;I 譜片變黑部分透過的光線強度;T 譜片變黑處的透光度用途:定量分析3、光電倍增管(測波的強度)24 發(fā)射光譜定性分析一、 原理 特征譜線二、 術語:a. 靈敏線:最容易激發(fā)或激發(fā)電位較低的譜線b. 共振線:激發(fā)態(tài)直接躍遷至基態(tài)時所輻射的譜線c. 最后線:最后消失的譜線d. 分校線:根據(jù)靈敏線或最后線來檢測元素的譜線,往往是特征譜線(靈敏線)分析條件:有足夠的強度 不與其它譜線重疊不產(chǎn)生自吸三、 自吸規(guī)律a. 與譜線強度成正比(固有強度)b. 蒸氣云半徑大,自吸嚴重c. 含量高自吸嚴重四、定性分析方法1、 比較法:用與指定成份鑒定(2條或2條以上特征譜線)2、

6、 鐵光譜分析法(標準光譜圖法)用于復雜樣品分析(全分析)3、 波長分析法五、定性分析測試步驟1.樣品處理 2.分析條件確定 3.攝譜 4.對譜1. 金屬或合金制電極法(自身做電極)非導電體輔助的電極(支持電極)溶液輔助的電極微量濃縮、富集、分離有機物灰化、再激發(fā)25原子發(fā)射光譜定量分析一、 原理根據(jù)實驗結果,人們發(fā)現(xiàn)原子發(fā)射光譜譜線強度I與待測元素的濃度符合羅馬金公式I=acb -式中a 與實驗條件有關的小數(shù)b 自吸系數(shù)由(1)可得:lgI=lga+blgc -二、 絕對強度法(攝譜法)S=lgH-i -(H=I.t代入得)S=lgI-i - H 光通量(暴光率) 由可得 S=/lgc+i/

7、-/ 感光板襯度 i 感光板有關的常數(shù)三、 內(nèi)標法內(nèi)標法:利用分析線與內(nèi)標線的相對強度來進行質(zhì)量分析的方法。根據(jù)羅馬金公式:對待測元素: I=acb對內(nèi)標元素:I內(nèi)=a內(nèi)cb內(nèi)相對強度:R=I1/ I內(nèi)= acb/ I內(nèi)令Aa/ I內(nèi),則RAcb ,取對數(shù)得lgR=lgA+blgc - 內(nèi)標標準曲線法 內(nèi)標元素要求與待測元素蒸發(fā)特性相近含量恒定分析線對得要求波長相近。但不相互干擾無自吸或自吸很弱強度不能相差太大內(nèi)標法測定時,往往用相對黑度來代替相對強度進行測定S=S1S2=1lgI1-i1- 2lgI2i2 由于分析線對波長相近可認為 12 i1i2IS=lgI1/I2 式中 S相對黑度感光板襯度SlgR 將代入得由可知 SlgC為直線關系若采用光電法 lgV=blgC+lgA - 式中 V積分電容端電壓四、 三標試樣法26 發(fā)射光譜半定量分析一、 譜線呈現(xiàn)法二、 譜線強度比較法(最常用)三、 均稱線對法27 原子發(fā)射光譜分析的特點和應用一、 光譜干擾1、 連續(xù)光譜1) 由物體內(nèi)部原子,分子振動被熱能激發(fā)產(chǎn)生,

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