光澤儀演示文稿

1、 光澤儀，也叫光澤度儀，是用來測量物體表面的光澤程度的儀器。 光澤儀按照角度分為高光澤，中光澤和低光澤三種類型。 光澤儀操作簡便。一般在測量之前需要在隨機(jī)的標(biāo)準(zhǔn)板校準(zhǔn)儀器，然后進(jìn)行測量。 光澤儀的角度大多分為以下幾種，20，45，60，75，85等。不同廠家，會制作出雙角度或者三角度光澤度儀。85度為低光澤儀，20度為高光澤儀，依次類推。適用最多的是60度中光澤光澤儀。 1.測量原理 光澤度是在一組幾何規(guī)定條件下對材料表面反射光的能力進(jìn)行評價(jià)的物理量。因此，它表述的是具有方向選擇的反射性質(zhì)。根據(jù)光澤的特征，可將光澤分成幾類，我們通常說的光澤是指“鏡向光澤”，所以光澤度計(jì)，有時(shí)也叫鏡向光澤度計(jì)。

2、光澤度與機(jī)械加工行業(yè)的“光潔度”或“粗糙度”的概念完全不同，后者是對材料表面微小不平度的評定。 光源出射一束光經(jīng)過透鏡L1到達(dá)被測面P，被測面P將光反射到透鏡L2，透鏡L2將光束會聚到位于光欄B處的光電池，光電池進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換后將電信號送往處理電路進(jìn)行處理，然后儀器顯示測量結(jié)果。見下圖所示： 測量第一步：校準(zhǔn)測量第一步：校準(zhǔn) 在使用光澤度計(jì)之前，一定要校準(zhǔn)儀器，首先，用已知光澤度值的校準(zhǔn)板進(jìn)行測量，設(shè)此校準(zhǔn)板的光澤度值為a，光源發(fā)出的光光強(qiáng)為b,光電池檢測到的光強(qiáng)度為c。通過校準(zhǔn)過程可知光源光強(qiáng)為： bc/a （1） 校準(zhǔn)這一步非常重要，如果校準(zhǔn)做的不好，測量就會受很大影響。所以在校準(zhǔn)過程中，一

3、定要保證光澤度計(jì)底面和校準(zhǔn)板接觸得非常緊密。 校準(zhǔn)完成之后，即可以開始對待測平面進(jìn)行測量。設(shè)被測平面光澤度值為，光電池檢測到的光強(qiáng)度為，光源光強(qiáng)為b。 b / （2） 聯(lián)合(1)(2)兩式，得到 / ca （3） 這里的即為我們要測量的被測平面光澤度值， 、c為通過測量可以得到的值, a為標(biāo)準(zhǔn)板光澤度值。 需要注意的是，此時(shí)所得出的光澤度的值和國家標(biāo)準(zhǔn)是有區(qū)別的，因?yàn)槊糠N型號的光澤度儀的設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)是不同的，理論上和國家標(biāo)準(zhǔn)會存在一個(gè)線性關(guān)系。在定標(biāo)過程中，我們認(rèn)為BYK的光澤度計(jì)是符合國家標(biāo)準(zhǔn)的一級光澤度計(jì)。事實(shí)上，在各個(gè)計(jì)量院的檢定工作中，都是采用BYK的光澤度計(jì)進(jìn)行對光澤度校準(zhǔn)板的檢定的。對

4、光澤度測量中，習(xí)慣分為高、中、低三個(gè)光澤度值范圍。理論上，我們只要用兩塊已知標(biāo)準(zhǔn)光澤度值的校準(zhǔn)板進(jìn)行測量就可以知道它的線性關(guān)系。但實(shí)際情況是理論值和實(shí)際值不一定保持如此理想的線性關(guān)系。所以我們要通過大量采集光澤度值來進(jìn)行定標(biāo)。使用前的注意事項(xiàng)測量主機(jī)裝有敏感且精密的光學(xué)和電子元件，切勿跌落在地，應(yīng)避免碰撞和擠壓。把持儀器時(shí)，請勿用手接觸測量口。應(yīng)避免任何外部物體進(jìn)入測量口。請勿將儀器長時(shí)間的暴露在直射日光中。勿將儀器放置在高溫和多灰塵的環(huán)境中。儀器不用時(shí)，請放置在隨機(jī)供應(yīng)的攜帶箱中。請避免長期的高濕度及水氣凝結(jié)請保護(hù)測量主機(jī)不接觸潮濕，化學(xué)品和腐蝕氣體。主機(jī)底座和外殼能耐數(shù)種溶劑。但我們不能保

5、證能耐所有溶劑。應(yīng)該用柔軟的濕布來清潔。要清潔特別的污漬，請使用乙醇或清潔劑。不要使用任何酮類溶劑！如果長時(shí)間的不使用測量主機(jī)，請取出電池，防止電池漏液進(jìn)而損壞儀器。1.模式滾輪：用來打開儀器和菜單選擇2.引導(dǎo)用戶使用和顯示測量值的顯示屏3.綠色指示燈：實(shí)施測量指示；紅色時(shí)：出錯(cuò)4.操作按鈕（測量按鈕）：用來實(shí)施測量5.保護(hù)底座6.定標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)板7.測量位置標(biāo)志8.連接到計(jì)算機(jī)的接口 Sample mode 樣品測量模式：不帶統(tǒng)計(jì)評估的測量 Statistics 統(tǒng)計(jì)測量模式：帶統(tǒng)計(jì)的多次測量 Continuous 連續(xù)測量模式：自動反復(fù)的測量 Basic mode 基本測量模式：沒有儲存/差值

6、Advanced mode 高級測量模式：重開”模式“菜單，激活所有菜單和功能 在統(tǒng)計(jì)測量模式中，你可以進(jìn)行每個(gè)樣品上的多次測量。這些測量會被統(tǒng)計(jì)評估并顯示。 測量結(jié)果可被儲存和與標(biāo)準(zhǔn)作比較。這些功能必須預(yù)先選擇并被激活。啟用儲存功能時(shí)，在樣品上的所有測量后會提示名稱。你可直接確認(rèn)或更改該名稱。 啟用統(tǒng)計(jì)功能時(shí)，在按下滾輪后根據(jù)場合可得到各種附加功能。 Main menu Mode Statistics 測量結(jié)果可被儲存和與標(biāo)準(zhǔn)（目標(biāo)值）作比較，操作如下： Main menu Save Input name Difference Statistics Number of meas 確定 Dis

7、play Exit block Delete block Delete meas 該功能使你能連續(xù)進(jìn)行多達(dá)99次的測量，測量間隔時(shí)間可調(diào)。當(dāng)你在大面積樣品上評估表面一致性時(shí)可用該功能 如果選擇該功能，首先會要求你輸入測量間隔的時(shí)間。間隔的最長可能時(shí)間是9秒設(shè)置為0秒時(shí)指示為最短的測量間隔。設(shè)為1時(shí)，測量的間隔時(shí)間約為每一角度0.5秒 Main menu Mode Continuous Measuring interval 確定 在基本測量模式中，只有最基本的選項(xiàng)可供選擇。在該模式中最大程度的簡化了操作 你可以選擇角度和實(shí)施定標(biāo)。另外，可得到所有設(shè)置菜單中的功能 選擇測量角度只能用在三角度光澤儀

8、上。你可以在測量顯示中選擇要顯示一個(gè)或多個(gè)Main menu Geometry 20 60 85 2060 60 85 20 6085 此功能能儲存多達(dá)999個(gè)測量值，儲存功能可用于樣品測量模式，統(tǒng)計(jì)測量模式和連續(xù)測量模式。在一個(gè)記憶區(qū)中，可以更改測量模式和標(biāo)準(zhǔn)（目標(biāo)值），但是不能更改角度。（具體操作方法請參考技術(shù)說明書） Select memory 選擇記憶：從表中選擇記憶 Creat memory 創(chuàng)建記憶：能創(chuàng)建50個(gè)記憶 Delete memory 清除記憶：不能清除預(yù)設(shè)記憶（M60） Display memory 顯示記憶：喚出記憶內(nèi)容（使用滾輪）Difference 差值：開啟或關(guān)

9、閉差值測量模式Measure reference 測量標(biāo)準(zhǔn)：測量標(biāo)準(zhǔn)（目標(biāo)值）Select reference 選擇標(biāo)準(zhǔn)：從表中選擇標(biāo)準(zhǔn)選擇一個(gè)已有的標(biāo)準(zhǔn) 顯示目標(biāo)值 最大值 最小值 如未設(shè)定則以0.0 或2000顯示Create reference 創(chuàng)建標(biāo)準(zhǔn)： 此項(xiàng)可以通過滾輪輸入標(biāo)準(zhǔn)值 最大值 最小值來定義一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)值Delete reference 清除標(biāo)準(zhǔn)：清除個(gè)別標(biāo)準(zhǔn)Change reference 更改標(biāo)準(zhǔn)：輸入或改變合格/不合格的允差值 Main menu Difference Measure Reference 命名 確定 Main menu Difference Create

10、Reference 命名 Define reference 校標(biāo) 安裝有玻璃標(biāo)準(zhǔn)板的底座用來校標(biāo)。要始終將測量主機(jī)存放在底座里。這樣能保護(hù)測量光學(xué)系統(tǒng)并確保標(biāo)準(zhǔn)板隨時(shí)可用 假如你有數(shù)臺這種類型的儀器，你必須使用在攜帶箱內(nèi)屬于這臺儀器的底座（可對照系列號）。當(dāng)你將儀器放入底座時(shí)，請確保儀器緊密的平躺在里面。Calibration 校標(biāo) calibrate 校標(biāo) scale 標(biāo)尺單位 change cal.values 更改校標(biāo)值 state 狀態(tài) Main menu calibration Change cal.values 選擇更改角度 輸入新的 校標(biāo)值 確認(rèn) 要確保正確的校標(biāo)，要使用生產(chǎn)商供

11、應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)板。他們都對照原始標(biāo)準(zhǔn)板定過標(biāo)。請勿觸摸標(biāo)準(zhǔn)板的表面并必須加以保護(hù)以免劃傷。然而由于環(huán)境的影響，即使處理的非常得當(dāng)，過一段時(shí)間后標(biāo)準(zhǔn)板的光澤值會發(fā)生變化，因此應(yīng)該由生產(chǎn)商定期對標(biāo)準(zhǔn)版進(jìn)行定標(biāo)（一般需要一年進(jìn)行一次）。 每次在底座里打開儀器時(shí)，他先進(jìn)行自我測試。在測試中，對照已儲存的校標(biāo)資料，對測量信號中的任何變化都進(jìn)行測試。這能允許一個(gè)長時(shí)間的校標(biāo)，即大約每周才需要一次新的校標(biāo)。除此之外，當(dāng)氣候有較大變化時(shí)才需要校標(biāo)。建議每日進(jìn)行一次在底座內(nèi)的自我測試Date/time 日期/時(shí)間Display time 顯示持續(xù)時(shí)間(無操作關(guān)機(jī) 時(shí)間)Language 設(shè)置語言Info 信息(產(chǎn)品說明書編號/儀 器系列號/版本/生產(chǎn)商定標(biāo)日期/上一次校標(biāo)日期/上一次頒證日期) 根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)，反射儀的值與一種黑色的玻璃標(biāo)準(zhǔn)板有關(guān)，這種玻璃板具有指定的反射率（通常為1.567），相等于100單位。 反射儀以光源入射的角度來區(qū)分。標(biāo)準(zhǔn)中設(shè)定的角度為20，60，85。 根據(jù)應(yīng)用的領(lǐng)域，不同角度的使用按以下來劃分： 半光澤的表面用入射光為60來測量，光澤范圍應(yīng)在10到70個(gè)光澤單位。 對于在60時(shí)測量值超過70單位的高反射表面，應(yīng)該使用20來測量。 反之，對于平光的表面，光澤在10單位（60時(shí)）以下時(shí)，應(yīng)該采用85來測量。 只有在平整的表面上才能實(shí)施合適的測量。 在污垢的，劃傷的或者其它