

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
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文檔簡介
1、電子元器件檢驗(yàn)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)書修訂日期修訂單號修訂內(nèi)容摘要頁次版次修訂審核批準(zhǔn)2011/03/30/系統(tǒng)文件新制定4A/0/批準(zhǔn):審核:編制:部分電子元器件檢驗(yàn)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)書IC類檢驗(yàn)規(guī)范(包括BGA)1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)IC類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有IC(包括BGA)之檢驗(yàn)。3. 抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E,LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃;具體抽樣方式請參考抽樣計(jì)劃。4.允收水準(zhǔn)(AQL)嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5. 參考文件無檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LA
2、BEL上的P/N及實(shí)物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。b. 包裝必須采用防靜電包裝,否則不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受;b. 實(shí)際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. Marking錯(cuò)或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受;b. 來料品名錯(cuò),或不同規(guī)格的混裝,均不可接受;c. 本體變形,或有肉眼可見的龜裂等不可接受;d. 元件封裝材料表面因封裝過程中留下的沙孔,其面積不超 過0.5mm2,且未露出基質(zhì), 可接受;否則不可接受;e. Pin氧化生銹,或上錫不良,均不可接受;f. 元件腳彎曲,偏位, 缺損或
3、少腳,均不可接受;目檢或10倍以上 的放大鏡檢驗(yàn)時(shí),必須佩帶靜電帶。 備注:凡用于真空完全密閉方式包裝的IC,由于管理與防護(hù)的特殊要求不能現(xiàn)場打開封裝的,IQC僅進(jìn)行包裝檢驗(yàn),并加蓋免檢印章;該IC在SMT上拉前IQC須進(jìn)行拆封檢驗(yàn)。拆封后首先確認(rèn)包裝袋內(nèi)的濕度顯示卡20%RH對應(yīng)的位置有沒有變成粉紅色,若已變?yōu)榉奂t色則使用前必須按供應(yīng)商的要求進(jìn)行烘烤。(三) 貼片元件檢驗(yàn)規(guī)范(電容,電阻,電感)1. 目的便于IQC人員檢驗(yàn)貼片元件類物料。2. 適用范圍適用于本公司所有貼片元件(電容,電阻,電感)之檢驗(yàn)。3. 抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E,LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃;具體抽樣方式請
4、參考抽樣計(jì)劃。4.允收水準(zhǔn)(AQL)嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5. 參考文件LCR數(shù)字電橋操作指引數(shù)字萬用表操作指引檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是 否都正確,任何有誤,均不可接受。 b. 包裝必須采用防靜電包裝,否則不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受;實(shí)際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. Marking錯(cuò)或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受;b. 來料品名錯(cuò),或不同規(guī)格的混裝
5、,均不可接受;c. 本體變形,或有肉眼可見的龜裂等不可接受;d. 元件封裝材料表面因封裝過程中留下的沙孔,其面積不超過0.5mm2,且未露出基質(zhì), 可接受;否則不可接受;e. Pin氧化生銹,或上錫不良,均不可接受; 目檢10倍以上的放大鏡檢驗(yàn)時(shí),必須佩帶靜電帶。電性檢驗(yàn)MA元件實(shí)際測量值超出偏差范圍內(nèi).LCR測試儀數(shù)字萬用表檢驗(yàn)時(shí),必須佩帶靜電帶。二極管類型檢 測 方 法LED 選擇數(shù)字萬用表的二極管檔,正向測量,LED需發(fā)出與要求相符的顏色的光,而反向測量不發(fā)光;否則該二極 管不合格。 注:有標(biāo)記的一端為負(fù)極。其它二極管 選擇數(shù)字萬用表的二極管檔,正向測量,讀數(shù)需小于1,而反向測量讀數(shù)需無
6、窮大;否則該二極管不合格。 注:有顏色標(biāo)記的一端為負(fù)極。備注 抽樣計(jì)劃說明:對于CHIP二極管,執(zhí)行抽樣計(jì)劃時(shí)來料數(shù)量以盤為單位,樣本數(shù)也以盤為單位;從抽檢的每 盤中取35pcs元件進(jìn)行檢測;AQL不變。檢驗(yàn)方法見LCR數(shù)字電橋測試儀操作指引 和 數(shù)字萬用表操作指引。(四) 插件用電解電容.1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)插件用電解電容類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有插件用電解電容之檢驗(yàn)。3. 抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E,LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃;具體抽樣方式請參考抽樣計(jì)劃。4. 允收水準(zhǔn)(AQL)嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI):
7、1.5.5. 參考文件LCR數(shù)字電橋操作指引、數(shù)字電容表操作指引。檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受;b. 實(shí)際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. 極性等標(biāo)記符號印刷不清,難以辨認(rèn)不可接受;b. 電解電容之熱縮套管破損、脫落,不可接受;c. 本體變形,破損等不可接受;d.Pin生銹氧化,均不可接受。目檢可焊性檢驗(yàn)MAa.Pin上錫不良,或完全不上錫不可接受。(將PI
8、N沾上現(xiàn)使 用之合格的松香水,再插入小錫爐5秒鐘左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫;如果不是則拒收)實(shí)際操作每LOT取510PCS在 小錫爐上驗(yàn) 證上錫性尺寸規(guī)格檢驗(yàn)MA a. 外形尺寸不符合規(guī)格要求不可接受??ǔ呷粲糜谛碌腗odel,需在PCB上對應(yīng)的位置進(jìn)行試插電性檢驗(yàn)MAa. 電容值超出規(guī)格要求則不可接受。用數(shù)字電容表或LCR數(shù)字電橋測試儀量測(五) 晶體類檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)晶體類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所用晶體之檢驗(yàn)。3. 抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E,LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃;具體抽樣方式請參考抽樣計(jì)劃。4. 允收水準(zhǔn)(AQL)嚴(yán)重
9、缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5. 參考文件數(shù)字頻率計(jì)操作指引檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否都 正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受;b. 實(shí)際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. 字體模糊不清,難以辨認(rèn)不可接受;b. 有不同規(guī)格的晶體混裝在一起,不可接受;c. 元件變形,或受損露出本體等不可接受;d. Pin生銹氧化、上錫不良,或斷Pin,均不可接受。目檢每
10、LOT取510PCS在小錫爐上驗(yàn)證上錫性電性檢驗(yàn)MAa. 晶體不能起振不可接受;b. 測量值超出晶體的頻率范圍則不可接受。測試工位 和數(shù)字頻率計(jì)電性檢測方法晶體檢 測 方 法32.768KHz 16.934MHz25.000MHz 在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測晶體, 再接通電源開機(jī); 在正常開機(jī)后,用調(diào)試好的數(shù)字頻率計(jì)測量晶體,看 測量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi),若不能開機(jī)或測量值不在規(guī)格范圍內(nèi),則該晶體不合格。24.576MHz在好的樣板的相應(yīng)位置插上待測晶體、CPU、內(nèi)存條等,再接通電源開機(jī),看能否正常開機(jī)顯示;在正常開機(jī)顯示后,用調(diào)試好的數(shù)字頻率計(jì)測量晶體,看測量的頻率是否在規(guī)格范圍內(nèi),若不
11、能開機(jī)顯示或測量值不在規(guī)格范圍內(nèi),則該晶體不合格。(六) 三極管檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)三極管類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有三極管之檢驗(yàn)。3. 抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E,LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃;具體抽樣方式請參考抽樣計(jì)劃。4. 允收水準(zhǔn)(AQL)嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5. 參考文件無檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。b. 包裝必須采用防靜電包裝,否則不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 實(shí)際
12、包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受;b. 實(shí)際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接 受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. Marking錯(cuò)或模糊不清難以辨認(rèn)不可接受;b. 來料品名錯(cuò),或不同規(guī)格的混裝,均不可接受;c. 本體變形,或有肉眼可見的龜裂等不可接受;d. 元件封裝材料表面因封裝過程中留下的沙孔,其面積不超 過0.5mm2,且未露出基質(zhì), 可接受;否則不可接受;e. Pin氧化生銹,或上錫不良,均不可接受。目檢10倍以上的放大鏡檢驗(yàn)時(shí),必須佩帶靜電帶。電性檢驗(yàn)無(七)排針&插槽(座)類檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為IQC人員檢驗(yàn)排針&插槽(座)類物料之依
13、據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有排針&插槽(座)之檢驗(yàn)。3. 抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E,LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃;具體抽樣方式請參考抽樣計(jì)劃。4. 允收水準(zhǔn)(AQL)嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5. 參考文件無檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MA根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MA a. 實(shí)際包裝數(shù)量與Label上的數(shù)量是否相同,若不同不可接受;實(shí)際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。目檢 點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. Mark
14、ing錯(cuò)或模糊不能辯認(rèn);b. 塑料與針腳不能緊固連接;c. 塑料體破損,體臟,變形,明顯色差,劃傷,縮水;d. 過錫爐后塑料體外觀變色,變形,脫皮;e. 針腳擰結(jié),彎曲,偏位, 缺損,斷針或缺少;f. 針腳高低不平、歪針、針氧化、生銹;g. 針腳端部成蘑菇狀影響安裝.目檢焊錫性檢驗(yàn)MAa. PIN上錫不良,或完全不上錫,均不可接受;(將零件腳插入 現(xiàn)使用之合格松香水內(nèi),全部浸潤,再插入小錫爐5秒鐘 左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫;如果不是則拒收)實(shí)際操作每LOT取510PCS在小錫爐上驗(yàn)證上錫性安裝檢驗(yàn)MAa. 針腳不能與標(biāo)準(zhǔn)PCB順利安裝;b. 針腳露出機(jī)板長度小于0.5mm或大于
15、2.0mm;卡尺針腳露出機(jī)板長度的標(biāo)準(zhǔn)為0.5mm2.0mm范圍內(nèi)。八CABLE類檢驗(yàn)規(guī)范1. 目的作為C人員檢驗(yàn)CABLE類物料之依據(jù)。2. 適用范圍適用于本公司所有CABLE類之檢驗(yàn)。3. 抽樣計(jì)劃依MIL-STD-105E,LEVEL II正常單次抽樣計(jì)劃;具體抽樣方式請參考抽樣計(jì)劃。4. 允收水準(zhǔn)(AQL)嚴(yán)重缺點(diǎn)(CR): 0;主要缺點(diǎn)(MA): 0.4;次要缺點(diǎn)(MI): 1.5.5 參考文件無檢驗(yàn)項(xiàng)目缺陷屬性缺陷描述檢驗(yàn)方式備注包裝檢驗(yàn)MAa. 根據(jù)來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實(shí)物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。目檢數(shù)量檢驗(yàn)MAa. 數(shù)量與Label上的數(shù)量是
16、否相同,若不同不可接受;b. 料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量是否吻合,若不吻合不可接受。目檢點(diǎn)數(shù)外觀檢驗(yàn)MAa. 五金件變形、劃傷、生銹、起泡、發(fā)黃或其它電鍍不良;b.塑料體變形、劃傷、毛邊、破(斷)裂、異色等不良;c.排線破損、斷裂、變形、異色、露銅絲、切口不齊等均不 可接受;d.排線與支架等組裝不牢,易松脫;e.標(biāo)識CABLE接插方向的顏色不能明確分辯;c. 排線接頭的顏色不符合規(guī)格要求;g.排線表面的絲印錯(cuò).1.目檢2.按前后左右上下各輕搖3次排線接頭處,看有無松脫現(xiàn)象參考Mechanical Drawing of Cable尺寸檢驗(yàn)MAa.長度不符合規(guī)格要求不可接受.卷尺尺寸參考Mechanical Drawing of Cable電性測試檢驗(yàn)MAa. 排線的接線方式錯(cuò)不可接受;b. 排線接觸不良或不能運(yùn)行不可接受;c. IDE排線的傳輸速率不符合要求不可接受.每批取10pcs送QA,請QA的同事幫助測試?yán)y試檢驗(yàn)MAa. 與公端對插,插拔力不符合規(guī)格要求的不可接受.( 拉力測試: 用標(biāo)準(zhǔn)Box Header與排線對插好,用拉力計(jì)測出其CABLE完全被拉出后的最大拔出力。)實(shí)際操作備注
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