電子技術(shù)基礎(chǔ)實驗 組合邏輯電路

1、實驗二組合邏輯電路的設(shè)計及測試一、實驗?zāi)康膎掌握組合邏輯電路的設(shè)計與測試方法 二、組合邏輯電路的設(shè)計程 三、實驗設(shè)備與器件n1、電子技術(shù)實驗箱n2、數(shù)字萬用表n3、主要參考器件 74LS002、74LS202、74LS86、74LS08、74LS512、74LS32、74LS02 、74LS04 四、實驗內(nèi)容n實驗內(nèi)容：n1、設(shè)計用與非門,以及用異或門、與門組成的半加器（74LS00、74LS86、74LS08）n2、設(shè)計一個一位全加器，要求用異或門、與門及或門組成（74LS86、74LS08、74LS32）n3、設(shè)計一位全加器，要求用與或非門實現(xiàn)（74LS51）n4、設(shè)計一個對兩個兩位無符號

2、的二進(jìn)制數(shù)進(jìn)行比較的電路，根據(jù)第一個數(shù)是否大于、等于、小于第二個數(shù)，使相應(yīng)的三個輸出端中的一個輸出為“1”，要求用與門、與非門及或非門實現(xiàn)（74LS08、74LS00、74LS20、74LS02） 五、實驗報告要求n1、選擇設(shè)計方案要，畫出總電路原理框圖，敘述設(shè)計思路。n2、單元電路設(shè)計及基本原理分析。n3、提供參數(shù)計算過程和選擇器件依據(jù)。n4、記錄調(diào)試過程，對調(diào)試過程中遇到的故障進(jìn)行分析。n5、記錄測試結(jié)果并做簡要說明。n6、設(shè)計過程的體會與創(chuàng)新點、建議。n7、元件清單。數(shù)字電路實驗常見故數(shù)字電路實驗常見故障分析及排除障分析及排除 產(chǎn)生故障的原因 n1、電路設(shè)計錯誤；n2、集成器件使用不當(dāng)或

3、功能不正常；n3、布線錯誤；n4、實驗箱等儀器或插座板不正常n5、導(dǎo)線接觸不良 常見故障的分析和解決方法n1、正確細(xì)心使用集成塊 使用前應(yīng)使其引腳間距適當(dāng)；插入插座時應(yīng)使器件的正方向一致 ，拔出時，必須用專用拔鉗工具（U形夾），夾住集成塊兩頭，垂直往上拔起，或用小起子對撬，以免受力不均，使引腳彎曲或斷裂。n2、正確合理地布線 在數(shù)字實驗中，由錯誤布線引起的故障，常占很大比例。布線錯誤不僅會引起電路故障，有時甚至?xí)p壞器件。 布線原則：應(yīng)便于檢查，排除故障和更換器件布線順序：通常是先接地線和電源線，再接輸入線、輸出線及控制線。 n3、認(rèn)真仔細(xì)地復(fù)查 接好全部聯(lián)線后，對照標(biāo)有器件引腳號的邏輯圖仔細(xì)

4、地復(fù)查一遍。檢查集成塊正方向是否插對，是否有漏線和錯線，是否有兩個以上的輸出端錯誤地連在一起。1、用萬用表的“歐姆”檔，測量實驗電路的電源與地線端之間的電阻值，排除電源與地線的開路與短路現(xiàn)象后再上電。 具體檢查方法n然后，讓電路固定在某一故障狀態(tài)，用萬用表（或邏輯筆）測試各輸入、輸出端的直流電平，參考比較表中的數(shù)值范圍（指TTL器件），從而判斷插座板、集成塊引腳或連線等原因造成的故障。表1 TTL電路在不同情況下引腳電壓范圍n3、改變輸入狀態(tài)，判斷故障。如果輸出保持高電平不變，則集成塊可能沒有接地或接觸不良。若輸出信號保持與輸入信號同樣規(guī)律變化，則集成塊可能沒有接電源。n4、采用替換法檢查故障。對于有多個輸入端或多個門的器件，實際使用中如有多余的，在查故障時，可調(diào)換其另一個輸入端或另一個門試用。必要時可更換器件，以排除器件功能不正常所引