2015年超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程分析

1、標(biāo)準(zhǔn)超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程制定2015/09/281、目的1目的本工藝規(guī)程是根據(jù)NB/T470132015承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)的第1部分：通用要求和第3部分：超聲檢測(cè)，并結(jié)合我公司的實(shí)際情況進(jìn)行制定。凡按國(guó)內(nèi)規(guī)范設(shè)計(jì)、制造的鍋爐、壓力容器需作超聲檢測(cè)時(shí)，均應(yīng)執(zhí)行本工藝。本工藝自實(shí)施之日起，代替CKM-163002/06C。2、適用范圍本工2規(guī)定了鍋爐、壓力容器及承壓設(shè)備管子采用A型脈沖反射式超聲探傷儀檢測(cè)工件焊接接接頭的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定要求。且適用于鋼板、鍛件超聲檢測(cè)以及超聲測(cè)厚方法。文件編制部門(mén)質(zhì)控部編制人校對(duì)人部門(mén)負(fù)責(zé)人會(huì)簽欄審批人生效日期分發(fā)部門(mén)部門(mén)份數(shù)部門(mén)份數(shù)經(jīng)理部4管理部0技術(shù)部2

2、生產(chǎn)管理部0制造部1質(zhì)控部2采購(gòu)部0財(cái)務(wù)部0:營(yíng)業(yè)部0修訂編號(hào)年月日R02007.11.18R12009.07.01R22010.06.01R32011.05.19R42012.07.01R52013.07.01R62014.06.06R62015.09.28修訂記錄標(biāo)準(zhǔn)改版換版換版換版換版換版換版3本工藝依據(jù)下列標(biāo)準(zhǔn)、法規(guī)及技術(shù)文件GB/T12604.1無(wú)損檢測(cè)術(shù)語(yǔ)超聲檢測(cè)TSG Z8001-2013特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)人員資格考核與監(jiān)督管理規(guī)則NB/T47013.1-2015承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)第1部分：通用要求NB/T47013.3-2015承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)第4部分：超聲檢測(cè)TSG G0001-

3、2012鍋爐安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程GB/T 16507-2013鍋殼鍋爐GB/T 16508-2013水管鍋爐TSG R0004-2009固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程TSG R0005-2011移動(dòng)式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程GB 150-2011壓力容器GB/T 11259無(wú)損檢測(cè)超聲波檢測(cè)用鋼參考試塊的制作與檢驗(yàn)方法GB/T 27664.1無(wú)損檢測(cè)超聲檢測(cè)設(shè)備的性能與檢驗(yàn) 第1部分：儀器GB/T 27664.2無(wú)損檢測(cè)超聲檢測(cè)設(shè)備的性能與檢驗(yàn) 第2部分：探頭JB/T 8428無(wú)損檢測(cè)超聲檢測(cè)用試塊JB/T 9214無(wú)損檢測(cè)A型脈沖反射式超聲檢測(cè)系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法JB/T 10062超聲探傷用探

4、頭性能測(cè)試方法4術(shù)語(yǔ)和定義4.1 底波降低量BG/BF鍛件檢測(cè)時(shí)，在靠近缺陷處的完好區(qū)域內(nèi)第一次底面回波波幅BG與缺陷區(qū)域內(nèi)的第一次底面回波波幅BF的比值，用dB值來(lái)表示。4.2 密集區(qū)缺陷鍛件檢測(cè)時(shí)，在顯示屏掃描線(xiàn)上相當(dāng)于50聲程范圍內(nèi)同時(shí)有5個(gè)或5個(gè)以上的缺陷反射信號(hào)，或是在50X50的檢測(cè)面上發(fā)現(xiàn)在同一深度范圍內(nèi)有5個(gè)或5個(gè)以上的缺陷反射信號(hào)，其反射波幅均大于等于某一特定當(dāng)量的缺陷。4.3 基準(zhǔn)靈敏度和基準(zhǔn)靈敏度：一般指將對(duì)比試塊人工反射體回波高度或被檢工件底面回波高度調(diào)整到某一基準(zhǔn)時(shí)的靈敏度。掃查靈敏度則主要指實(shí)際檢測(cè)靈敏度。掃查靈敏度：為了不漏掉記錄缺陷或某些特定的缺陷，確保鍋爐、壓

5、力容器的安全，在基準(zhǔn)靈敏度基礎(chǔ)上，根據(jù)表面狀況、檢測(cè)缺陷要求及探頭類(lèi)型等適當(dāng)提高dB數(shù)（增益）進(jìn)行實(shí)際檢測(cè)的靈敏度。4.4 超聲標(biāo)準(zhǔn)試塊JB/T47013.3規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)和檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。4.5 超聲對(duì)比試塊用于檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。4.6 缺陷自身高度缺陷在工件厚度方向上的尺寸。4.7 端點(diǎn)衍射超聲波在傳播過(guò)程中，當(dāng)波陣面通過(guò)缺陷時(shí)，波陣面會(huì)繞缺陷邊緣彎曲，并呈圓心展衍，這種現(xiàn)象稱(chēng)之為端點(diǎn)衍射。4.8 端點(diǎn)最大反射波當(dāng)缺陷的端部回波的幅度達(dá)到最大時(shí)（也即缺陷端部回波峰值開(kāi)始降落前瞬時(shí)的幅度位置），該回波稱(chēng)之為缺陷端點(diǎn)最大反射波。4.9 回波動(dòng)態(tài)波型回波動(dòng)態(tài)波形是探頭移動(dòng)距離與相應(yīng)

6、缺陷反射體回波波幅變化的包絡(luò)線(xiàn)。4.10 工件厚度ta）對(duì)于平板對(duì)接接頭，焊縫兩側(cè)母材厚度相等時(shí)，工件厚度t為母材厚度；焊縫兩側(cè)母材厚度不等時(shí)，工件厚度t為薄側(cè)母材公稱(chēng)厚度；b）對(duì)于插入式接管角焊縫，工件厚度t為筒體或封頭公稱(chēng)厚度；安放式接管角焊縫，工件厚度t為接管公稱(chēng)厚度；c）對(duì)于T型焊接接頭，工件厚度t為腹板公稱(chēng)厚度。5檢測(cè)人員要求5.1超聲檢測(cè)人員必須按TSGZ8001-2013特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)人員資格考核與監(jiān)督管理規(guī)則要求進(jìn)行培訓(xùn)考核，取得超聲檢測(cè)資格證書(shū)。并且由公司向中國(guó)特種設(shè)備檢驗(yàn)協(xié)會(huì)進(jìn)行執(zhí)業(yè)注冊(cè)后，方能從事超聲檢測(cè)工作方法與等級(jí)的無(wú)損檢測(cè)工作。5.3 超聲檢測(cè)人員資格級(jí)別分為I級(jí)

7、（初級(jí)）、n級(jí)（中級(jí)）和出級(jí)（高級(jí)）。5.4 質(zhì)量等級(jí)評(píng)定及檢測(cè)報(bào)告簽發(fā)應(yīng)有取得n級(jí)或出級(jí)資格證的人員擔(dān)任，且資格證應(yīng)在有效期內(nèi)。5.5 超聲檢測(cè)人員應(yīng)具有一定的金屬材料、設(shè)備制造安裝、焊接及熱處理等方面的基本知識(shí)，應(yīng)熟悉被檢工件的材質(zhì)、幾何尺寸及透聲性等，對(duì)檢測(cè)中出現(xiàn)的問(wèn)題能作出分析、判斷和處理。6檢測(cè)設(shè)備和器材6.1 檢測(cè)儀器、探頭和系統(tǒng)性能6.1.1 檢測(cè)儀器采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀PXUT350敗PXUT390其工作頻率范圍為0.510Hz,儀器至少在熒光屏滿(mǎn)刻度的80%范圍內(nèi)呈線(xiàn)性顯示。探傷儀應(yīng)具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器，步進(jìn)級(jí)每檔不大于2dB,其精度為任意相鄰12dB誤

8、差在±1dB以?xún)?nèi)，最大累計(jì)誤差不超過(guò)1dBo超聲儀器各性能的測(cè)試條件和指標(biāo)要求應(yīng)滿(mǎn)足附錄N的要求并由制造廠家提供證明文件，測(cè)試方法按GB/T27664.1的規(guī)定。6.1.2 探頭a超聲檢測(cè)常用探頭有直探頭、單斜探頭、雙晶直探頭和其他適用性探頭，其性能應(yīng)滿(mǎn)足各種檢測(cè)工件的檢測(cè)需要，以最大可能有效地檢測(cè)出不允許存在缺陷為原則。b圓形晶片直徑一般不應(yīng)大于40mm方形晶片任一邊長(zhǎng)一般不應(yīng)大于40mm其性能指標(biāo)應(yīng)符合附錄O的要求，測(cè)試方法應(yīng)按GB/T27664.2的規(guī)定。c單斜探頭聲束軸線(xiàn)水平偏離角不應(yīng)大于2,主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。6.1.3 超聲探傷儀和探頭的組合性能6.1.3.1

9、 儀器和探頭的組合性能包括水平線(xiàn)性、垂直線(xiàn)性、組合頻率、靈敏度余量、盲區(qū)（僅限直探頭）和遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力，測(cè)試方法按附錄C、W錄口、W錄£規(guī)定執(zhí)行。6.1.3.2 以下情況時(shí)應(yīng)測(cè)定儀器和探頭的組合性能：a）新購(gòu)置的超聲檢測(cè)儀器和探頭；b）儀器和探頭在維修或更換主要部件后；c）檢測(cè)人員有懷疑時(shí)。6.1.3.3 水平線(xiàn)性偏差不大于1%垂直線(xiàn)性偏差不大于5%6.1.3.4 儀器和探頭的組合頻率與探頭標(biāo)稱(chēng)頻率之間偏差不得大于土10%6.1.3.5 儀器-直探頭組合性能應(yīng)滿(mǎn)足以下要求：a）靈敏度余量應(yīng)不小于32dB.b）在基準(zhǔn)靈敏度下，對(duì)于標(biāo)稱(chēng)頻率為5Hz的探頭，盲區(qū)不大于10mm；對(duì)于標(biāo)稱(chēng)頻率為2

10、.5Hz的探頭，盲區(qū)不大于15mm；c）直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于20dB。6.1.3.6 儀器-斜探頭組合性能應(yīng)滿(mǎn)足以下要求：a）靈敏度余量應(yīng)不小于42dB。b）斜探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于12dB。6.1.3.7 儀器和探頭組合頻率的測(cè)試方法按JB/T10062的規(guī)定，其他組合性能的測(cè)試方法參照J(rèn)B/T9214的規(guī)定?，F(xiàn)有的探頭單位：mm探頭類(lèi)別探頭K直晶片尺寸探頭頻率直探頭/14D20D1.0Hz、2.5Hz、5Hz雙晶探頭/20D5Hz斜探頭K110X10、13X132.5HzK210X10、13X132.5HzK36X6、10X10、13X132.5Hz、5Hz7試塊和耦合劑7.1 標(biāo)

11、準(zhǔn)試塊標(biāo)準(zhǔn)試塊是指本工藝規(guī)程規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)和檢測(cè)的試塊，本工藝采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊有CSK-IA（入射點(diǎn)、3、分辨力測(cè)試）、CSK-IIA、CSK-IIIA、DZ-1（直探頭盲區(qū)測(cè)試）、DB-PZ20-2和DB-PZ20-4（垂直線(xiàn)性測(cè)試、水平線(xiàn)性測(cè)試、靈敏度余量測(cè)試）。7.1.1 標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采用與被檢工件聲學(xué)性能相同或近似的材料制成。該材料內(nèi)不得有影響人工缺陷顯示的自然缺陷，當(dāng)用直探頭檢測(cè)時(shí)，不得有大于2平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。7.1.2 校準(zhǔn)用反射體可采用長(zhǎng)橫孔、短橫孔、平底孔、線(xiàn)切割槽和V型槽等。校準(zhǔn)時(shí)，探頭主聲束應(yīng)與反射體的反射面相垂直。7.1.3 標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸精度應(yīng)符合本工藝

12、要求，并經(jīng)計(jì)量部門(mén)檢定合格。7.1.4 標(biāo)準(zhǔn)試塊的其他制造要求應(yīng)符合JB/T8428的規(guī)定。7.2 對(duì)比試塊7.2.1 對(duì)比試塊是指與被檢件或材料化學(xué)成分相似，含有意義明確參考反射體的試塊，用以調(diào)節(jié)超聲檢測(cè)設(shè)備的幅度和（或）時(shí)間分度，以將所檢出的不連續(xù)信號(hào)與已知反射體所產(chǎn)生的信號(hào)相比較，即用于檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。本工藝采用的對(duì)比試塊有：階梯平底試塊，鋼板超聲檢測(cè)對(duì)比試塊、奧氏體不銹鋼焊縫對(duì)比試塊、鋼管環(huán)向?qū)咏宇^GSt塊、鍛件CS式塊、承壓設(shè)備曲面縱向?qū)咏宇^RB-L-1和RB-L-2試塊、承壓設(shè)備曲面環(huán)向?qū)咏宇^RB-C試塊。7.2.2 對(duì)比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢

13、工件的厚度相對(duì)應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測(cè)，試塊的厚度應(yīng)由最大厚度來(lái)確定。7.2.3 對(duì)比試塊應(yīng)采用與被檢材料聲學(xué)性能相同或相似的材料制成，試塊用直探頭檢測(cè)時(shí)，不得有大于或等于2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。7.2.4 對(duì)比試塊反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合本規(guī)程的規(guī)定。7.3 耦合劑7.3.1 應(yīng)采用透聲性好，且不損傷檢測(cè)表面的耦合劑，如機(jī)油、化學(xué)漿糊、甘油和水等。7.3.2 耦合劑污染物含量的控制7.3.2.1 饃基合金上使用的耦合劑含硫量不應(yīng)大于250mg/L。7.3.2.2 奧氏體不銹鋼或鈦材上使用的耦合劑鹵素（氯和氟）的總含量不應(yīng)大于250mg/L。8超聲檢測(cè)設(shè)

14、備和器材的測(cè)定、核查、運(yùn)行核查和復(fù)核要求8.1 一般要求系統(tǒng)校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使探頭主聲束垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定和最大的反射信號(hào)。8.2 校準(zhǔn)或核查8.2.1 每年至少對(duì)超聲儀器和探頭組合性能中的水平線(xiàn)性、垂直線(xiàn)性、組合頻率、盲區(qū)（僅限直探頭）、靈敏度余量、分辨力以及儀器的衰減器精度，進(jìn)行一次校準(zhǔn)并記錄，測(cè)試要求應(yīng)滿(mǎn)足6.1.3的規(guī)定。8.2.2 每年至少對(duì)標(biāo)準(zhǔn)試塊與對(duì)比試塊的表面腐蝕與機(jī)械損傷，進(jìn)行一次核查。8.3 儀器和探頭運(yùn)行核查測(cè)定方法按GB/T27664.1的規(guī)定。（見(jiàn)附錄每隔6個(gè)月至少對(duì)儀器的水平線(xiàn)性和垂直線(xiàn)性進(jìn)行一次測(cè)定,C）對(duì)實(shí)際使用中探頭每3個(gè)月至少

15、對(duì)盲區(qū)（僅限直探頭）、靈敏度余量和分辨力進(jìn)行一次運(yùn)行核查并記錄，測(cè)試要求應(yīng)滿(mǎn)足6.1.3的規(guī)定。8.4 使用前儀器和探頭系統(tǒng)測(cè)定每次檢測(cè)前應(yīng)檢查儀器設(shè)備器材外觀、線(xiàn)纜連接和開(kāi)機(jī)信號(hào)顯示情況是否正常。斜探頭在使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K直測(cè)定。測(cè)定應(yīng)按附錄M關(guān)規(guī)定進(jìn)行。8.5 檢測(cè)過(guò)程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核遇有下述情況應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核：a校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)；b檢測(cè)人員懷疑掃描量程和掃查靈敏度有變化時(shí)；c連續(xù)工作4h以上時(shí)；d工作結(jié)束時(shí)。8.6 檢測(cè)結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核a每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線(xiàn)上的偏移超過(guò)掃描線(xiàn)讀數(shù)的10%,則掃描量程

16、應(yīng)重新調(diào)整，并對(duì)檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行復(fù)核；b每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核。對(duì)距離-波幅曲線(xiàn)的校核不少于3點(diǎn)。如曲線(xiàn)上任何一點(diǎn)幅度下降2dB,則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核后所檢測(cè)的部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB,則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。8.7 注意事項(xiàng)校準(zhǔn)、復(fù)核和對(duì)儀器進(jìn)行線(xiàn)性檢測(cè)時(shí)，任何影響儀器線(xiàn)性的控制器（如抑制或?yàn)V波開(kāi)關(guān)等）都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處于最低水平上。8.8 檢測(cè)操作指導(dǎo)書(shū)。9.1 應(yīng)根據(jù)通用工藝規(guī)程的內(nèi)容以及被檢對(duì)象的檢測(cè)要求操作指導(dǎo)書(shū)，其內(nèi)容應(yīng)包括：a）檢測(cè)技術(shù)要求：檢測(cè)技術(shù)（直接接觸法-直探頭檢測(cè)、斜探頭檢測(cè)、）和檢測(cè)波形；b）檢測(cè)對(duì)象：承壓設(shè)備類(lèi)別，檢測(cè)對(duì)象的名稱(chēng)、規(guī)格、

17、材質(zhì)和熱處理狀態(tài)、檢測(cè)部位等；c）檢測(cè)設(shè)備器材：儀器型號(hào)、探頭規(guī)格、耦合劑、試塊種類(lèi)。d）檢測(cè)工藝相關(guān)技術(shù)參數(shù)：掃查方向及掃查范圍、缺陷定量方法、檢測(cè)記錄和評(píng)定要求、檢測(cè)示意圖等。9.2 操作指導(dǎo)書(shū)在首次應(yīng)用前應(yīng)進(jìn)行工藝驗(yàn)證，驗(yàn)證方式可在相關(guān)對(duì)比試塊上進(jìn)行，驗(yàn)證內(nèi)容包括檢測(cè)范圍內(nèi)靈敏度、信噪比等是否滿(mǎn)足檢測(cè)要求。10檢測(cè)實(shí)施10.1 檢測(cè)準(zhǔn)備10.1.1 承壓設(shè)備的制造、安裝和在用檢驗(yàn)中，超聲檢測(cè)的檢測(cè)時(shí)機(jī)及抽檢率的選擇等應(yīng)按相關(guān)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù)文件的規(guī)定。10.1.2 所確定檢測(cè)面應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充分檢查。10.1.3 焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格。檢測(cè)面（探頭經(jīng)過(guò)的區(qū)域）上

18、所有影響檢測(cè)的油漆、銹蝕、飛濺和污物等均應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測(cè)要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不應(yīng)影響檢測(cè)結(jié)果的有效性。10.2 檢測(cè)時(shí)應(yīng)盡量掃查到工件的整個(gè)被檢查區(qū)域是應(yīng)彳證足夠的復(fù)蓋率（應(yīng)大于探頭直徑的15%）。10.3 探頭的掃查速度應(yīng)當(dāng)不成超過(guò)150/s,以防止漏檢。10.4 掃查靈敏度不低于基準(zhǔn)靈敏度。10.5 應(yīng)采用透聲性好，且不損傷檢測(cè)表面的耦合劑，如機(jī)油、漿糊等。10.6 靈敏度補(bǔ)償在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，對(duì)引起檢測(cè)靈敏度下降和缺陷當(dāng)量誤差的因素應(yīng)進(jìn)行補(bǔ)償，這些因素包括耦合、材質(zhì)衰減和曲面的差異造成的靈敏度變化。a）耦合補(bǔ)償：在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由表面粗糙度引起的耦合損失進(jìn)行

19、補(bǔ)償；b）衰減補(bǔ)償：在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)材質(zhì)衰減引起的靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償；c）曲面補(bǔ)償：在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，對(duì)檢測(cè)面是曲面的工件，應(yīng)對(duì)由工件和試塊曲率半徑不同引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。10.7 檢測(cè)過(guò)程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核遇有下述情況應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核：a校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)；b檢測(cè)人員懷疑掃描量程和掃查靈敏度有變化時(shí)；c連續(xù)工作4h以上時(shí)；d工作結(jié)束時(shí)。10.8 掃描量程的復(fù)核如果任意一點(diǎn)在掃描線(xiàn)上的偏移超過(guò)掃描線(xiàn)該點(diǎn)讀數(shù)的10%或全掃描量程的5%,則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢。10.9 掃查靈敏度的復(fù)核復(fù)核時(shí)，如發(fā)現(xiàn)

20、掃查靈敏度或距離一波幅曲線(xiàn)上任一深度人工反射體回波幅度下降2dB,則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB,則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。10.10 不允許存在的缺陷應(yīng)返修。返修的部位及返修影響的部位均應(yīng)復(fù)探，復(fù)探部位的質(zhì)量亦應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。返修后進(jìn)行復(fù)驗(yàn)時(shí)，按原探傷條件進(jìn)行。11超聲檢測(cè)記錄和報(bào)告11.1 檢測(cè)設(shè)備器材：a）檢測(cè)儀器型號(hào)及編號(hào)；b）探頭（類(lèi)型、晶片尺寸、K值、標(biāo)稱(chēng)頻率等）；c）試塊型號(hào)；d）耦合劑。11.2 檢測(cè)工藝參數(shù)：a）檢測(cè)范圍、掃查位置（面、側(cè)等）；b）掃描比例；c）掃查方式；d）檢測(cè)靈敏度；e）耦合補(bǔ)償量等。11.3 檢測(cè)情況：a）檢測(cè)部位示

21、意圖；b）缺陷位置、尺寸、回波波幅等；c）缺陷評(píng)定級(jí)別；d）缺陷類(lèi)型、缺陷自身高度（在用承壓設(shè)備檢測(cè)時(shí)）。11.4 檢測(cè)人員和復(fù)核人員簽字。11.5 應(yīng)依據(jù)檢測(cè)記錄出具檢測(cè)報(bào)告。超聲檢測(cè)報(bào)告除符合NB/T47013.1的規(guī)定外，還至少應(yīng)包括以下內(nèi)容：a）委托單位；b）檢測(cè)技術(shù)等級(jí)；c）檢測(cè)設(shè)備器材：儀器型號(hào)及編號(hào)、探頭、試塊、耦合劑；d）檢測(cè)示意圖：檢測(cè)部位、檢測(cè)區(qū)域以及所發(fā)現(xiàn)的缺陷位置、尺寸和分布。11.6 記錄、報(bào)告應(yīng)有相應(yīng)責(zé)任人員簽名認(rèn)可，保存期不得少于7年。7年后，若用戶(hù)需要可轉(zhuǎn)交用戶(hù)保管。11.7 缺陷類(lèi)型識(shí)別和性質(zhì)估判（見(jiàn)附錄A）12承壓設(shè)備用原材料鋼板超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)本工藝適用

22、于板厚6250的碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測(cè)及其缺陷等級(jí)評(píng)定。奧氏體鋼板材的超聲檢測(cè)可參照?qǐng)?zhí)行。12.1 探頭的選用見(jiàn)下表：（表1）承壓設(shè)備用板材超聲檢測(cè)直探頭選用板厚（）采用探頭公稱(chēng)頻率（Hz）探頭晶片尺寸（）620雙晶直探頭45圓形晶片直徑中1030圓形晶片邊長(zhǎng)1030>2060雙晶直探頭或單晶直探頭25>60單晶直探頭2512.1.1雙晶直探頭性能應(yīng)符合附錄F的要求。12.2 標(biāo)準(zhǔn)試塊的選用12.2.1 當(dāng)檢測(cè)厚度W20的鋼板時(shí)（用雙晶直探頭），采用圖1所示的階梯平底試塊。圖1階梯平底試塊12.2.2 檢測(cè)厚度大于20的板材時(shí)，對(duì)比試塊形狀和尺寸應(yīng)符合表2和圖2

23、的規(guī)定。對(duì)比試塊人工反射體為中5平底孔，反射體個(gè)數(shù)至少3個(gè)。試塊編號(hào)板材厚度t檢側(cè)面到平底孔的足寓5試塊厚度T試塊寬度8t>2(M010.20、3040102>40-6015、30.45劭403>6010015,30.45、60、80100404>100-15015,鞏45.取HO,H。、140150605>15MM15*60、削*110*140.tM200606>2(X2M0如、45、和，汕"0、140.網(wǎng)23025060圖2板厚大于20檢測(cè)用試塊表2承壓設(shè)備用板材超聲檢測(cè)用對(duì)比試塊單位：mm（單直探頭）注1：板材厚直大于40mm盹.試塊也可用厚

24、代薄,注2：為被輕單個(gè)試塊尺寸和跖匕聲學(xué)性能相同或相似的試塊上的平底孔可加工在不同厚度試塊上,13基準(zhǔn)靈敏度a板厚不大于20時(shí)，用圖1所示的試塊將與工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿(mǎn)刻度的50%,再提高10dB作為基準(zhǔn)靈敏度。b板厚大于20時(shí)，應(yīng)按圖2按所用探頭和儀器在中5平底孔試塊上繪制距離-波幅曲線(xiàn)，并以此曲線(xiàn)作為基準(zhǔn)靈敏度。c板厚不小于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，如能確定板材底面回波與不同深度中5平底孔反射波幅度之間的關(guān)系，也可取鋼板無(wú)缺陷的完好部位的第一次底波來(lái)校準(zhǔn)靈敏度。13.1掃查靈敏度一般應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度高6dB。14檢測(cè)方法14.1.1 檢測(cè)面可選鋼板的任一軋制平面進(jìn)行檢測(cè)。若檢測(cè)人員認(rèn)

25、為需要或設(shè)計(jì)上有要求時(shí)，也可對(duì)鋼板的上下兩軋制平面分別進(jìn)行檢測(cè)。14.1.2 耦合方式耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。14.1.3 靈敏度補(bǔ)償檢測(cè)時(shí)應(yīng)根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行耦合補(bǔ)償和衰減補(bǔ)償。14.1.3掃查方式a）在板材周邊或剖口預(yù)定線(xiàn)兩側(cè)范圍內(nèi)應(yīng)作100%掃查，掃查區(qū)域?qū)挾纫?jiàn)表3根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書(shū)或圖樣的要求，也可進(jìn)行其它形式的掃查。b）在板材中部區(qū)域，探頭沿垂直于板材壓延方向，間距不大于50的平行線(xiàn)進(jìn)行掃查，或探頭沿垂直和平行板材壓延方向且間距不大于100格子線(xiàn)進(jìn)行掃查。掃查示意圖見(jiàn)圖3;c）根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書(shū)或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查；d）雙晶直探頭掃查時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與

26、探頭的隔聲層相垂直。表3板材邊緣或剖口預(yù)定線(xiàn)兩側(cè)區(qū)域?qū)挾葐挝唬喊搴駞^(qū)域?qū)挾?0N10075100圖3探頭掃查示意圖50捌板中部掃指周邊100%掃存區(qū)域削口覆定線(xiàn)/一/15缺陷的測(cè)定與記錄15.1 在檢測(cè)基準(zhǔn)靈敏度條件下，發(fā)現(xiàn)下列二種情況之一即作為缺陷：a）缺陷第一次反射波（F1）波幅高于距離-波幅曲線(xiàn)，或用雙晶探頭檢測(cè)板厚小于20板材時(shí)，缺陷第一次反射波（F1）波幅大于或等于顯示屏滿(mǎn)刻度的50%;b）底面第一次反射波（B1）波幅低于顯示屏滿(mǎn)刻度的50%,即B1<50%15.2 缺陷邊界范圍的確定a）檢出缺陷后，應(yīng)在它的周?chē)^續(xù)進(jìn)行檢測(cè)，以確定缺陷的范圍；b）板材厚度小于20mm用雙晶直探

27、頭確定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，并使缺陷波下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下顯示屏滿(mǎn)刻度的25%,探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)；c）板材厚度2060mm用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，并使缺陷波下降到距離-波幅曲線(xiàn)，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)；d）用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭使缺陷第一次反射波波高下降到距離-波幅曲線(xiàn)，探頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn)；e）確定15.1b）中缺陷的邊界范圍時(shí)，移動(dòng)探頭（單直探頭或雙直探頭）使底面第一次反射波升高到顯示屏滿(mǎn)刻度的50%。此時(shí)探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)16缺陷尺寸的評(píng)定方

28、法16.1 缺陷指示長(zhǎng)度的評(píng)定規(guī)則用平行于板材壓延方向矩形框包圍缺陷，其長(zhǎng)邊作為該缺陷的指示長(zhǎng)度。16.2 單個(gè)缺陷指示面積的評(píng)定規(guī)則a）一個(gè)缺陷按其指示的矩形面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積；b）多個(gè)缺陷其相鄰間距小于相鄰較小缺陷的指示長(zhǎng)度時(shí)，按單個(gè)缺陷處理，缺陷指示面積為各缺陷面積之和。16.3 缺陷面積占有率的評(píng)定規(guī)則在任一1mxm1檢測(cè)面積內(nèi)，按缺陷面積所占的百分比來(lái)確定。如鋼板面積小于1mx1m,可按比例折算。16.4 鋼板質(zhì)量分級(jí)鋼板質(zhì)量分級(jí)見(jiàn)表4和表5。在具體進(jìn)行質(zhì)量分級(jí)要求時(shí)，表4和表5應(yīng)獨(dú)立使用。16.5 在檢測(cè)過(guò)程中，檢測(cè)人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷存在時(shí)，應(yīng)評(píng)為V

29、級(jí)。16.6 在鋼板中部檢測(cè)區(qū)域，按最大允許單個(gè)缺陷指示面積和任一1mxim檢測(cè)面積內(nèi)缺陷最大允許個(gè)數(shù)確定質(zhì)量等級(jí)。如整張板材中部檢測(cè)面積小于1mxim缺陷最大允許個(gè)數(shù)可按比例折算。16.7 在鋼板邊緣檢測(cè)區(qū)域，按最大允許單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度、最大允許單個(gè)缺陷指示面積和任一1m檢測(cè)長(zhǎng)度內(nèi)最大允許缺陷個(gè)數(shù)確定質(zhì)量等級(jí)。如整張板材邊緣檢測(cè)長(zhǎng)度小于1m,缺陷最大允許個(gè)數(shù)可按比例折算。16.8 斜探頭檢測(cè)a在檢測(cè)過(guò)程中對(duì)缺陷有疑問(wèn)或合同雙方技術(shù)協(xié)議中有規(guī)定時(shí)，可采用斜探頭檢測(cè)。b承壓設(shè)備用鋼板斜探頭檢測(cè)應(yīng)按附錄B進(jìn)行。表4承壓設(shè)備用鋼板中部檢測(cè)區(qū)域質(zhì)量分級(jí)等覆最大允許革個(gè)缺陷指示囿積5或當(dāng)量平底孔直徑D在

30、任一Imx1m檢惻而根內(nèi)缺陷晟大允許個(gè)數(shù)單個(gè)缺陷指示面積*當(dāng)垃平底孔直控殍定盛國(guó)疆大允許個(gè)數(shù)I雙品直探頭精測(cè)日如1*77.宜探頭檢赭時(shí)10或單晶斷探頭檢測(cè)時(shí)：或單品度探頭檢0H時(shí)：域注：使用單晶直探頭檢測(cè)并確定15.1b）所示缺陷的質(zhì)量分級(jí)（I級(jí)和口級(jí)）時(shí)，與雙晶直探頭要求相同表5承壓設(shè)備用鋼板邊緣或剖口預(yù)定線(xiàn)兩側(cè)檢測(cè)區(qū)域質(zhì)量分級(jí)等級(jí)最大允許觸個(gè)映酷指示長(zhǎng)度最大允許柒個(gè)喊陷指示面積耳或當(dāng)量平底孔直徑。在任一Im檢測(cè)長(zhǎng)度內(nèi)最大允許疑陷個(gè)數(shù)單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度工或當(dāng)量平底孔直徑評(píng)定茶圃最大允許個(gè)數(shù)J<20.雙品也探頭檢測(cè)時(shí):$軍50雙晶宜探頭檢測(cè)時(shí)工10弋工珞202或酷晶置探頭檢評(píng)時(shí)：5+SdB

31、域單蔚在廉頭檢測(cè)時(shí)：破n-30雙晶直探頭檢稠附；5«1（»雙品直探頭檢洌耐*15（工W3。3或單晶直猴頭檢泅時(shí)5+J4dB或單品1操如W:.別膽父以,升14dBIII00025<£505IV<100SG00050<141006V超過(guò)IV級(jí)者注：使用單晶直探頭檢測(cè)并確定15.1b）所示缺陷的質(zhì)量分級(jí)（I級(jí)和口級(jí)）時(shí)，與雙晶直探頭要求相同17承壓設(shè)備焊接接頭超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)17.1 檢測(cè)范圍和一般要求17.1.1 本章規(guī)定了鋼制承壓設(shè)備焊接接頭的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)，其適用范圍和使用原則見(jiàn)表617.1.2 奧氏體不銹鋼承壓設(shè)備對(duì)接接頭超聲檢測(cè)方法

32、和質(zhì)量分級(jí)按附錄H的規(guī)定進(jìn)行。17.1.3 與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測(cè)可參照本章的規(guī)定進(jìn)行。表6鋼制承壓設(shè)備焊接接頭的超聲檢測(cè)適用范圍和使用原則單位:承壓設(shè)備類(lèi)別焊接接頭回工件厚度t檢測(cè)向直徑焊接接頭分類(lèi)檢測(cè)技術(shù)等級(jí)要求檢測(cè)方法質(zhì)量分級(jí)鍋爐、壓力容器筒體（或封頭）對(duì)接接頭>6-200>500,縱向?qū)咏宇^時(shí)，內(nèi)外徑比）70%I型17.2.417.217.4.1>100500的縱向?qū)咏宇^且內(nèi)外徑比）70%I型附錄J>159500的環(huán)向?qū)咏宇^I型附錄K接管與筒體（或封頭）角接接頭>6-200插入式：筒體（或封頭）>500且內(nèi)外徑比）70%,接管

33、公稱(chēng)直徑>80安放式：筒體（或封頭）>300且接管公稱(chēng)直徑）100I型附錄L管子環(huán)向?qū)咏宇^>6-150外徑）500I型17.2.417.217.4.2>6-150外徑）159500I型17.2.4附錄K17.4.2>6-50外徑）32159n型17.2.417.317.4.2a46外徑）32n型17.2.417.317.4.2管子縱向?qū)咏宇^>6-150外徑）500,內(nèi)外徑比）70%I型17.2.417.217.4.2外徑）100500,內(nèi)外徑比）70%I型17.2.4附錄J17.4.217.2 承壓設(shè)備I型焊接接頭超聲檢測(cè)方法17.2.1 范圍本條適用I

34、型焊接接頭的超聲檢測(cè)，I型焊接接頭范圍見(jiàn)表617.2.2 探頭探頭頻率選用2Hz5Hz。17.2.3 試塊采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為CSK-IA、CSK-nA、CSK-mA。其形狀和尺寸應(yīng)分別符合圖4、圖5、圖6規(guī)定。125110K2.0 K2.5 K3.0K1.0K1.5200其余3.2圖4CSK-IA試塊全部30CSKyA編號(hào)適用工件厚度f(wàn)試塊厚度T橫孔位置橫孔直徑d1CSK-HA4注K)43115.25.3542.0CSK-UA-2>40-100110030.50.70.90CSKJ1A-3>40-20021010.30.50>70.90%1101t140、170)200*20圖

35、5CSK-nA試塊單位:注1；孔徑誤差不大于±0.02皿It,其他尺寸謨差不大于即，05mn“注冊(cè)成塊長(zhǎng)度由使用的聲程等確定.注3：如聲學(xué)特性相同或相近成塊也可用厚代海、注4：可以在試塊全厚度施圍增加橫孔數(shù)信口注5：也可使用其他直徑的橫孔，靈敏度應(yīng)與此梢當(dāng)注6：升孔受直度偏差不大FQJ，6.3圖6CSK-mA試塊17.2.4 超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)17.2.4.1 超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)分為A、BC三個(gè)檢測(cè)級(jí)別。17.2.4.2 超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)的選擇超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)的選擇應(yīng)符合制造、安裝等有關(guān)規(guī)范、標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)計(jì)圖樣規(guī)定。承壓設(shè)備焊接接頭的制造、安裝時(shí)的超聲檢測(cè)，一般應(yīng)采用b級(jí)超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)進(jìn)行

36、檢測(cè)。對(duì)重要設(shè)備的焊接接頭，可采用ca超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)進(jìn)行檢測(cè)。17.2.4.3 不同檢測(cè)技術(shù)等級(jí)的一般要求不同類(lèi)型焊接接頭超聲檢測(cè)的具體要求見(jiàn)附錄G（規(guī)范性附錄）。17.2.4.4 A級(jí)檢測(cè)A級(jí)適用于工件厚度為640mm焊接接頭的檢測(cè)?？捎靡环NK直斜探頭采用直射波法和一次反射波法在焊接接頭的單面單側(cè)或單面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。一般不要求進(jìn)行橫向缺陷的檢測(cè)。17.2.4.5 B級(jí)檢測(cè)a）B級(jí)適用于工件厚度為6200mrm1接接頭的檢測(cè)；b）焊接接頭一般應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測(cè)；c）對(duì)于按附錄G（規(guī)范性附錄）要求進(jìn)行雙面雙側(cè)檢測(cè)的焊接接頭，如受幾何條件限制或由于堆焊層（或復(fù)合層）的存在而選擇單面雙側(cè)檢測(cè)時(shí)，

37、還應(yīng)補(bǔ)充斜探頭作近表面缺陷檢測(cè)。17.2.4.6 C級(jí)檢測(cè)a）C級(jí)適用于工件厚度大于等于6500mm旱接接頭的檢測(cè)；b）采用微檢測(cè)時(shí)應(yīng)將焊接接頭的余高磨平。對(duì)焊接接頭斜探頭掃查經(jīng)過(guò)的母材區(qū)域要用直探頭進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)方法按以下的規(guī)定進(jìn)行：對(duì)于C檢測(cè)或必要時(shí)，斜探頭掃查聲束通過(guò)的母材區(qū)域，應(yīng)先用直探頭檢測(cè)，以便檢測(cè)是否有影響斜探頭檢測(cè)結(jié)果的分層或其他類(lèi)型缺陷存在。該項(xiàng)檢測(cè)僅作記錄，不屬于對(duì)母材的驗(yàn)收檢測(cè)。母材檢測(cè)的要點(diǎn)如下：1）掃查靈敏度：將無(wú)缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為顯示屏滿(mǎn)刻度的100%;2）凡缺陷信號(hào)幅度超過(guò)顯示屏滿(mǎn)刻度20%的部位，應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記，并予以記錄。c）工件厚度大于15mmi焊

38、接接頭一般應(yīng)在雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)，如受幾何條件限制或由于堆焊層（或復(fù)合層）的存在而選擇單面雙側(cè)檢測(cè)時(shí)，還應(yīng)補(bǔ)充斜探頭作近表面缺陷檢測(cè)；d）工件厚度大于40mmi對(duì)接焊接接頭，還應(yīng)增加直探頭檢測(cè)；e）焊接接頭應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測(cè)。17.2.4.7 用兩種或兩種以上K值斜探頭檢測(cè)時(shí)，探頭間折射角相差不應(yīng)小于10。17.2.5 檢測(cè)準(zhǔn)備17.2.5.1 檢測(cè)區(qū)17.2.5.2 檢測(cè)區(qū)由焊接接頭檢測(cè)區(qū)寬度和焊接接頭檢測(cè)區(qū)厚度表征。17.2.5.3 焊接接頭檢測(cè)區(qū)寬度應(yīng)是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各10mmi定。對(duì)接接頭檢測(cè)區(qū)示意見(jiàn)圖7。17.2.18對(duì)接焊接接頭檢測(cè)區(qū)厚度應(yīng)為工件厚度加上焊縫余高。17.2

39、.5.5 超聲檢測(cè)應(yīng)覆蓋整個(gè)檢測(cè)區(qū)。若增加檢測(cè)探頭數(shù)量或增加檢測(cè)面（側(cè)）還不能完全覆蓋，應(yīng)增加輔助檢測(cè)，包括采用其他無(wú)損檢測(cè)方法。圖7檢測(cè)區(qū)示意圖4昨平4注：a表示焊接接頭檢測(cè)區(qū)寬帶17.2.6 檢測(cè)面準(zhǔn)備17.2.6.1 探頭移動(dòng)區(qū)寬度17.2.6.2 探頭移動(dòng)區(qū)寬度應(yīng)能滿(mǎn)足檢測(cè)到整個(gè)檢測(cè)區(qū)。見(jiàn)圖817.2.6.3 采用一次反射法檢測(cè)時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)寬度應(yīng)大于或等于1.25P:P=2Kt或P=2txtan3式中：P跨距，；T工件厚度，；K探頭K值；3探頭折射角，（°）。17.2.6.4 采用直射法檢測(cè)時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)寬度應(yīng)大于或等于0.75P。17.2.6.5 檢測(cè)面應(yīng)清除油漆、焊接飛

40、濺、鐵屑、油垢及其他異物，以免影響聲波耦合和缺陷判斷。檢測(cè)面應(yīng)平整，檢測(cè)面與探頭楔塊底面或保護(hù)膜間的間隙不應(yīng)大于0.5mm,其表面粗糙度Ra值應(yīng)小于或等于25科值檢測(cè)面一般應(yīng)進(jìn)行打磨。17.2.6.6 去除余高的焊縫，應(yīng)將余高打磨到與鄰近母材平齊。保留余高的焊縫，如果焊縫表面有咬邊、較大的隆起和凹陷等也應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)男弈ィ⒆鲌A滑過(guò)渡以免影響檢測(cè)結(jié)果的評(píng)定。17.2.6.7 探頭K直（角度）采用一次反射法檢測(cè)時(shí)，斜探頭K值（角度）的選取應(yīng)盡可能使主聲束與檢測(cè)面相對(duì)的底面法線(xiàn)夾角在35。70°之間，當(dāng)使用兩個(gè)或兩個(gè)以上K值（角度）探頭檢測(cè)時(shí)，應(yīng)至少有一種K直（角度）的探頭滿(mǎn)足這一要求。斜

41、探頭K值（角度）選取可參照表6的規(guī)定。條件允許時(shí)，應(yīng)盡量采用較大K值探頭。直探頭標(biāo)稱(chēng)頻率的選取可參照表7的規(guī)定。（表6）推薦米用的斜探頭K值和標(biāo)稱(chēng)頻率工件厚度"mm折射角（用值）標(biāo)稱(chēng)頻率/MHi孑6254-556*68o<1,5-2.5)2-5>40450-63*<1.0-2.0)21772-2-5（表7）推薦采用的直探頭標(biāo)稱(chēng)頻率工件厚度標(biāo)稱(chēng)糠率/MHh參D45>402517.2.6.8 母材的檢測(cè)對(duì)于C級(jí)檢測(cè)，斜探頭掃查聲束通過(guò)的母材區(qū)域，應(yīng)先用直探頭檢測(cè)，以便檢測(cè)是否有影響斜探頭檢測(cè)結(jié)果的分層或其他種類(lèi)缺陷存在。該項(xiàng)檢測(cè)僅作記錄，不屬于對(duì)母材的驗(yàn)收檢測(cè)。母

42、材檢測(cè)規(guī)程要點(diǎn)如下：a檢測(cè)方法：接觸式脈沖反射法，采用25H和直探頭，晶片尺寸1025。b檢測(cè)靈敏度：用接觸式脈沖反射法，將無(wú)缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿(mǎn)刻度的100%。c凡缺陷信號(hào)幅度超過(guò)熒光屏滿(mǎn)刻度20%的部位，應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記，并予以記錄。17.2.7 儀器調(diào)節(jié)17.2.7.1 斜探頭入射點(diǎn)、折射角斜探頭入射點(diǎn)、折射角的測(cè)量應(yīng)選擇在CSK-IA、CSK-IIA或CSK-IIIA上進(jìn)行。17.2.7.2 儀器時(shí)基線(xiàn)儀器時(shí)基線(xiàn)的調(diào)整應(yīng)選擇在CSK-IA、CSK-IIA或CSK-IIIA上進(jìn)行。17.2.8 距離一波幅曲線(xiàn)繪制17.2.8.1 距離-波幅曲線(xiàn)應(yīng)按所用探頭和儀器在試塊上實(shí)測(cè)

43、的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線(xiàn)族由評(píng)定線(xiàn)、定量線(xiàn)和判廢線(xiàn)組成。評(píng)定線(xiàn)與定量線(xiàn)之間（包括評(píng)定線(xiàn)）為I區(qū)，定量線(xiàn)與判廢線(xiàn)之間（包括定量線(xiàn)）為II區(qū)，判廢線(xiàn)及其以上區(qū)域?yàn)镮II區(qū)，如圖9所示。如果距離-波幅曲線(xiàn)繪制在顯示屏上，則在檢測(cè)范圍內(nèi)曲線(xiàn)任一點(diǎn)高度不低于顯示屏滿(mǎn)刻度的20%。圖9距離一波幅曲線(xiàn)波幅dB判廢線(xiàn)（RL）23-7717.2.9 距離一波幅曲線(xiàn)的靈敏度選擇17.2.9.1 工件厚度為6200mmB勺焊接接頭，斜探頭或直探頭檢測(cè)時(shí)，用CSK-IIA試塊制作的距離-波幅曲線(xiàn)靈敏度按表6的規(guī)定。表6斜探頭或直探頭檢測(cè)距離-波幅曲線(xiàn)的靈敏度試塊型式工件厚度t/評(píng)定線(xiàn)定量線(xiàn)判廢線(xiàn)>6-40小2X4

44、0-18dB小2X40-12dB小2X40-4dBCSK-IIA>40100小2X60-14dB小2X60-8dB2X60+2dB>100200小2X60-10dB小2X60-4dB小2X60+6dB17.2.9.2 工件厚度為8720mm勺焊接接頭，斜探頭檢測(cè)時(shí)，用CSK-IIIA試塊制作的距離-波幅曲線(xiàn)靈敏度按表7的規(guī)定。表7距離一波幅曲線(xiàn)的靈敏度試塊型式工件厚度x/mni評(píng)定紐定fl：線(xiàn)判鹿城CSK-IIIA85>IS40>0-120*1x#1*1x6-64B* 1x6-6dB* 1x6-3dB1x6*1xfr+2dB*x6+5dB,117.2.9.3工件厚度大于

45、200500的焊接接頭，斜探頭或直探頭檢測(cè)時(shí)距離-波幅曲線(xiàn)靈敏度按表8的規(guī)表8斜探頭或直探頭檢測(cè)距離-波幅曲線(xiàn)的靈敏度試塊型式工件厚度mm評(píng)定線(xiàn)定品線(xiàn)判康線(xiàn)CSKJVA>200-300>300-500xKOJIdB17.2.9.4 檢測(cè)橫向缺陷時(shí)，應(yīng)將掃查靈敏度至少再提高6dB進(jìn)行檢測(cè)。17.2.9.5 工件的表面耦合損失和材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同，否則應(yīng)按附錄I（規(guī)范性附錄）的規(guī)定測(cè)量聲能傳輸損耗差并進(jìn)行補(bǔ)償，補(bǔ)償量應(yīng)計(jì)入距離-波幅曲線(xiàn)。17.2.9.6 掃查靈敏度不應(yīng)低于評(píng)定線(xiàn)靈敏度，此時(shí)在檢測(cè)范圍內(nèi)最大聲程處的評(píng)定線(xiàn)高度不應(yīng)低于熒光屏滿(mǎn)刻度的20%。17.2.10 掃查方法17.

46、2.10.1 斜探頭掃查檢測(cè)焊接接頭縱向缺陷時(shí)，斜探頭應(yīng)垂直于焊縫中心線(xiàn)放置在檢測(cè)面上，作鋸齒型掃查，見(jiàn)圖10探頭前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊接接頭截面。在保持探頭垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí)，掃查時(shí)還應(yīng)作10°15。的左右轉(zhuǎn)動(dòng)。為觀察缺陷動(dòng)態(tài)波形和區(qū)分缺陷信號(hào)或偽缺陷信號(hào)，確定缺陷的位置、方向和形狀，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式，見(jiàn)圖11。OOTWW(5(前后左右轉(zhuǎn)角環(huán)繞圖11四種基本掃查方法17.2.10.2 檢測(cè)焊接接頭橫向缺陷時(shí)，可在焊接接頭兩側(cè)邊緣使斜探頭與焊接接頭中心線(xiàn)成不大于10。作兩個(gè)方向斜平行掃查，見(jiàn)圖12。如焊接接頭余高磨平，探頭應(yīng)在焊接接頭

47、及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查，見(jiàn)圖13圖12斜平行掃查圖13平行掃查17.2.10.3 對(duì)電渣焊焊接接頭還應(yīng)增加與焊縫中心線(xiàn)成45°的斜向掃查。17.2.10.4 直探頭掃查直探頭掃查時(shí)，應(yīng)確保超聲聲束能掃查到焊接接頭的整個(gè)被檢區(qū)域。17.2.10.5 檢測(cè)面曲率半徑小于或等于250mm寸接焊接接頭超聲檢測(cè)的一般原則17.2.10.6 檢測(cè)曲面工件時(shí)，如檢測(cè)面曲率半徑RwW/4時(shí)（W為探頭接觸面寬度，環(huán)縫檢測(cè)時(shí)為探頭寬度，縱縫檢測(cè)時(shí)為探頭長(zhǎng)度），應(yīng)采用與檢測(cè)面曲率相同對(duì)比試塊，反射孔的位置可參照對(duì)比試塊確定。試塊寬度b一般應(yīng)滿(mǎn)足：bR2入s/Do式中：b一試塊寬度，mm入一超聲波

48、波長(zhǎng)，mmS一聲程，mmD0-聲源有效直徑，mm17.2.10.7 曲面工件對(duì)接焊接接頭的檢測(cè)17.2.10.8 檢測(cè)面為曲面時(shí)，可盡量按平板對(duì)接焊縫的檢測(cè)方法進(jìn)行檢測(cè)外。對(duì)于受幾何形狀限制，無(wú)法檢測(cè)的部位應(yīng)予以記錄。17.2.10.9 縱縫檢測(cè)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑應(yīng)為工件檢測(cè)面曲率半徑的0.91.1倍。a根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭K值，并考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整個(gè)焊縫。b探頭接觸面修磨后，應(yīng)注意探頭入射點(diǎn)和K值的變化，并用曲率試塊作實(shí)際測(cè)定。c應(yīng)注意到熒光屏指示的缺陷深度或水平距離與缺陷實(shí)際的徑向埋藏深度或水平距離弧長(zhǎng)的差異，必要時(shí)應(yīng)進(jìn)行定位修正。17.2.10.10

49、 .環(huán)縫檢測(cè)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑應(yīng)為檢測(cè)面曲率半徑的0.91.5倍。17.2.11 缺陷定量檢測(cè)17.2.11.1 靈敏度應(yīng)調(diào)到定量線(xiàn)靈敏度。17.2.11.2 對(duì)所有反射波幅超過(guò)定量線(xiàn)的缺陷，均應(yīng)明確其位置、最大反射波幅和缺陷當(dāng)量。17.2.11.3 缺陷位置測(cè)定應(yīng)以獲得缺陷最大反射波的位置為準(zhǔn)。17.2.11.4 缺陷定量17.2.11.5 應(yīng)根據(jù)缺陷最大反射波幅確定缺陷當(dāng)量直徑或缺陷指示長(zhǎng)度L。17.2.11.6 缺陷指示長(zhǎng)度L的測(cè)定采用以下方法：1）當(dāng)缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn)，且位于II區(qū)或II區(qū)以上時(shí)，用-6dB法測(cè)量其指示長(zhǎng)度。2）當(dāng)缺陷反射波峰值起伏變化，有多個(gè)高點(diǎn)，且位于II區(qū)

50、或II區(qū)以上時(shí)，應(yīng)以端點(diǎn)-6dB法測(cè)量其指示長(zhǎng)度。3）當(dāng)缺陷波幅位于I區(qū)，將探頭左右移動(dòng)，使波幅降到評(píng)定線(xiàn)，以評(píng)定線(xiàn)靈敏度測(cè)量缺陷指示長(zhǎng)度。17.2.12 缺陷評(píng)定17.2.12.1 超過(guò)評(píng)定線(xiàn)的信號(hào)應(yīng)注意其是否具有裂紋等危害性缺陷特征，如有懷疑時(shí)，應(yīng)采取改變探頭K值、增加檢測(cè)面、觀察動(dòng)態(tài)波型并結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特征作判定，或輔以其它檢測(cè)方法作綜合判定。17.2.12.2 沿缺陷長(zhǎng)度方向相鄰的兩缺陷，其長(zhǎng)度方向間距小于其中較小的缺陷長(zhǎng)度且兩缺陷在與缺陷長(zhǎng)度相垂直方向的間距小于5時(shí)，應(yīng)作為一條缺陷處理，以?xún)扇毕蓍L(zhǎng)度之和作為其指示長(zhǎng)度（間距計(jì)入）。如果兩缺陷在長(zhǎng)度方向投影有重疊，則以?xún)扇毕菰陂L(zhǎng)度方向上投

51、影的左、右端點(diǎn)間距離作為其指示長(zhǎng)度。17.3 承壓設(shè)備n型焊接接頭超聲檢測(cè)方法17.3.10 范圍本條適用于n型焊接接頭超聲檢測(cè)，n型焊接接頭范圍見(jiàn)表6。17.3.11 探頭17.3.11.1 推薦采用線(xiàn)聚焦斜探頭和雙晶斜探頭，其性能應(yīng)能滿(mǎn)足檢測(cè)要求。17.3.11.2 探頭標(biāo)稱(chēng)頻率一般采用4Hz5Hz,當(dāng)管壁厚度大于15mm時(shí)，采用2Hz2.5Hz的探頭。探頭主聲束軸線(xiàn)水平偏離角不應(yīng)大于2°。17.3.11.3 斜探頭K值的選取可參照表9的規(guī)定。如有必要，也可采用其他K值的探頭。17.3.11.4 探頭楔塊的曲率應(yīng)加工成與接管外徑相吻合的形狀。加工好曲率的探頭應(yīng)對(duì)其K值和前沿值進(jìn)行

52、測(cè)定，要求一次波至少掃查到焊接接頭根部。表9斜探頭K值的選擇管壁厚度r/mm探頭折射角值）探頭前沿/mm6S0-72Q(2.5-3.O)百>>1556G*(1.5-10)<1217.3.12 對(duì)比試塊17.3.12.1 采用的對(duì)比試塊型號(hào)為GS-1、GS-2、GS-3、GS-4,其形狀和尺寸應(yīng)分別符合圖14和表10的規(guī)定。圖14GS試塊形狀和尺寸表10試塊圓弧曲率半徑試塊型號(hào)試塊圓弧曲率半往屬適用管外徑范圍試塊圓瓠曲率半徑以適用管外征范圃GS-1183240224(MKGS-22646-573257-72GS-34072To509010GS*46011013272132159

53、注I根據(jù)檢測(cè)需要.可添加適用不同曲率和厚度范圍的試塊17.3.13 檢測(cè)位置及探頭移動(dòng)區(qū)17.3.13.1 一般要求從焊接接頭兩側(cè)進(jìn)行檢測(cè)，確因條件限制只能從焊接接頭一側(cè)檢測(cè)時(shí)，應(yīng)采用兩種或兩種以上的不同值探頭進(jìn)行檢測(cè)，并在報(bào)告中加以說(shuō)明。17.3.13.2 探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其他雜質(zhì)，其表面粗糙度Ra<25d,探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)大于1.5P,P的計(jì)算按17.2.6.3的規(guī)定17.3.14 距離-波幅曲線(xiàn)的繪制。17.3.15 1按表10選擇與實(shí)際工件曲率相對(duì)應(yīng)的對(duì)比試塊。17.3.16 2距離-波幅曲線(xiàn)按所用探頭和儀器在所選擇的試塊上實(shí)測(cè)的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線(xiàn)族圖由評(píng)定線(xiàn)、定量線(xiàn)和判廢線(xiàn)組成。評(píng)定線(xiàn)與定量線(xiàn)之間（包括評(píng)定線(xiàn)）為I區(qū)，定量線(xiàn)與判廢線(xiàn)之間（包括定量線(xiàn)）為II區(qū)，判廢線(xiàn)及其以上區(qū)域?yàn)镮II區(qū)，如圖15所示。圖15距離-波幅曲線(xiàn)示意圖17.3.17 2不同管壁厚度的距離-波幅曲線(xiàn)靈敏度應(yīng)符