缺陷測高方法端點衍射波法測定缺陷自身高度

1、缺陷測高方法端點衍射波法測定缺陷自身高度R.1 一般要求使用端點衍射波測定缺陷自身高度時，應盡可能采用直射波法進行。靈敏度應根據(jù)需要確定，但應使噪聲水平不超過顯示屏滿刻度的10%。原則上應選用折射角45°( K1)、標稱頻率為2MHz5MHz的探頭為宜使用聚焦探頭時，其聲束會聚范圍等參數(shù)應滿足所探測缺陷位置的要求。對于裂紋類缺陷自身高度的測定，應優(yōu)先采用端點衍射波法。R.2端點衍射波法端點衍射波法主要根據(jù)缺陷端點回波來辨認衍射波，并通過缺陷上下兩端點衍射波之間的延遲時間差值(或聲程差)來確定缺陷自身高度。見圖 R.1。圖R.1用端點衍射波法測量缺陷自身高度R.3時基線校準在CSK-I

2、A試塊上校準時基線R.4測定表面開口缺陷測定(ffl5dB25d£S圖R.2檢測面與開口缺陷不在同一面時測高方法a）將聲束軸線對準角鏡，使回波高度為顯示屏滿刻度的80%，記錄此時回波的位置距檢測面的距離 （：,見圖R.2 a）。b）提高靈敏度15dB25dB，探頭沿靠近缺陷方向探測，當聲束軸線完全離 開缺陷端點的第一個峰值回波，即是端點衍射波。記錄端點距探測面距離ADW， 見圖R.2 b）;c）按式（R.1）求出缺陷自身高度AH :出=©- ADW （R.1）缺陷開口位于檢測面一側時，見圖 R.3:a）適當提高檢測靈敏度，探頭沿離開缺陷方向探測，當聲束軸線完全離開 缺陷端點

3、的第一個峰值回波，即是端點衍射波。記錄端點距探測面距離，見圖R.3。b）按式（R.2）計算缺陷自身高度:圖R.3檢測面與開口缺陷在同一側時測高方法埋藏缺陷測定單斜探頭對焊接接頭埋藏缺陷測高探頭置于任一檢測面上，前后緩慢移動探頭掃查缺陷，當發(fā)現(xiàn)缺陷的上下端點回波時，再微動探頭使缺陷的上端點前和下端點后毗鄰出現(xiàn)如圖R.1所示的上下端點衍射回波，記錄回波位置，按式(R.3)計算缺陷高度。AH = QW下-ADW上(R.3)單斜探頭對焊接接頭內(nèi)部傾斜缺陷測高，如圖R.4所示。在探測A、B端點時，使用探頭緩慢移動掃查缺陷，在發(fā)現(xiàn) A點和B點衍射回波時，精確測量探頭移動距離L1,然后再將探頭移到對應側，用

4、以上相同方法測L2圖R.4單斜探頭對焊接接頭內(nèi)部傾斜缺陷測高方法如果L1和L2移動的距離是對稱的。這可解釋為垂直缺陷。原則上L1> L2或者是L2> L1,則是傾斜缺陷。缺陷的傾角B可按式（R.4）計算：-1 9= tan （L-出tan®/ JH （R.4）傾斜缺陷按式（R.5）計算其傾斜長度AB:2 2 1/ 2AB = （L- Jl?tan®2 +出2 2 （R.5）式中：AB缺陷傾斜長度，mm；出一一缺陷傾斜高度，mm；tan®斜探頭折射角正切值，即探頭K值；L （L1或L2）探頭從B點移動至A點的距離，mm。雙斜探頭“ V”形串接法測高在缺陷

5、距探測面較深或者是端點衍射信號被端點部的散射波所淹沒無法識別時，可選雙斜探頭V型串接法進行測高（見圖R.5）。探頭2探頭2懈頭I棍頭圖R.5雙斜探頭V型串接法缺陷測高方法操作步驟如下:a）選擇兩只規(guī)格、標稱頻率及折射角（K值）相同的聚焦斜探頭（或常規(guī)斜探頭）；b）先用單斜探頭確認缺陷的上下端點距探測面的大致深度和位置；c）將探頭1置于能探測到缺陷上端點位置，探頭2置于缺陷的另一側與之相 對稱的位置，把儀器轉換成一發(fā)一收工作狀態(tài)，使上端點信號幅度升（或降）至 熒光屏的80%。d）移動探頭2,使端點信號幅度升（或降）至熒光屏的80%時，固定探頭2,移動探頭1找尋上端點信號，與該信號波幅達到最高或其前方出現(xiàn)新的最高反射 波時，固定探頭1的位置，再次移動探頭2,掃尋上端點回波。如此輪流移動兩只 探頭直到最終確認缺陷端點衍射波為止。測定缺陷端點衍射波的時間延遲（時間