量具自校操作規(guī)程

1、量具自校操作規(guī)程一適用范圍適用于量具出現(xiàn)異常，如碰撞、出現(xiàn)明顯的誤差，貝仙公司內(nèi)部實(shí)驗(yàn)室 校驗(yàn)量具，日常定期校驗(yàn)?zāi)敲此屯馕行ｒ?yàn)。二工作職責(zé)2.1質(zhì)量部實(shí)驗(yàn)室負(fù)責(zé)游標(biāo)卡尺、千分尺的校驗(yàn)，并做好校驗(yàn)記錄；2.2正確按各標(biāo)準(zhǔn)的要求校驗(yàn)、按鑒定的某一量具為依據(jù)，校驗(yàn)其它的量具并 要求數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠。三操作規(guī)程3.1游標(biāo)卡尺校驗(yàn)規(guī)程測(cè)量上限不大于700MM。校驗(yàn)條件校驗(yàn)卡尺的室內(nèi)溫度對(duì)分度值為 0.02的卡尺為20士3C。33.1.2.1 夕卜觀3.1.2.1.1 要求：卡尺的外表應(yīng)無(wú)銹蝕，碰傷或其它缺陷，刻線和數(shù)字應(yīng)清晰、 均勻，不應(yīng)有脫色現(xiàn)象，游標(biāo)刻線應(yīng)刻至斜面下邊緣?？ǔ呱蠎?yīng)標(biāo) 有分度值，制造廠名

2、，工廠標(biāo)志和出廠編號(hào)，使用中和修理后的卡尺不應(yīng)有影響使用準(zhǔn)確度的外觀缺陷。3.121.2 校驗(yàn)方法：目視觀察33.1.2.2.1 要求：尺框沿尺身移動(dòng)應(yīng)平穩(wěn)，不應(yīng)有阻滯現(xiàn)象，緊固螺釘?shù)淖饔?應(yīng)可靠，深度尺不允許有竄動(dòng)，微動(dòng)裝置的空程，新制造的應(yīng)不超過(guò)1/4轉(zhuǎn)，使用中和修理后的應(yīng)不超過(guò) 1/2轉(zhuǎn)，尺身和尺柜的配合 應(yīng)無(wú)明顯晃動(dòng)。3.1.2.2.2 校驗(yàn)方法：觀察和試驗(yàn)。對(duì)于尺身和尺柜的配合質(zhì)量，用手輕輕擺動(dòng)活動(dòng)量爪，進(jìn)行校驗(yàn)。3.1.2.3刻線寬度和刻線寬度差。3.1.2.3.1 要求：應(yīng)不超過(guò)表1的規(guī)定。表 1 mr分度值刻線寬度刻線寬度差3.1.2.3.2 校驗(yàn)方法：尺身和游標(biāo)的刻線應(yīng)至少各

3、抽3條，刻線寬度差以受?？叹€中最大與最小寬度之差確定。3.1.241 要求：零值誤差以零刻度線和尾刻度線的重合度表示，應(yīng)不超過(guò)表2的規(guī)定表2分度值零刻線重合度尾刻度線重合度3.1.2.4.2 校驗(yàn)方法：移動(dòng)尺框使兩測(cè)量面接觸有微動(dòng)裝置的需使用微動(dòng)裝置分別在尺框緊固和松開(kāi)的情況下，用目力觀察，必要時(shí)用放大鏡或工具顯微鏡檢定。33.1.2.5.1 要求：應(yīng)不超過(guò)表3的規(guī)定表3尺寸分度值范圍示值誤差0-300> 300-500> 500-700> 700-900> 900-10003.125.2 校驗(yàn)方法：用鑒定過(guò)的千分尺，對(duì)于尺寸范圍在300mm內(nèi)的卡尺，不少于均勻分布3點(diǎn)

4、；對(duì)于尺寸范圍大于300mnt勺卡尺，不少于均 勻分布6點(diǎn)帶深度尺的卡尺，深度尺在尺寸 20mn一點(diǎn)檢定，其示值誤差不超過(guò) 卡尺游標(biāo)的分度值檢定時(shí)，每一受檢點(diǎn)應(yīng)在量爪的里端和外端兩位 置檢定。每受檢點(diǎn)里端外端尺寸之差應(yīng)不超過(guò)表 4的規(guī)定。表4尺寸范圍分度值每受檢點(diǎn)里端與外端尺寸之差0-200> 200-500> 500-1000321.1 夕卜觀新制的不應(yīng)有碰傷、銹蝕、帶磁或其它缺陷，刻線應(yīng)清晰均勻。檢定用目力觀察3.2.1.2 各局部相互作用32121微分筒轉(zhuǎn)動(dòng)和測(cè)微螺桿的移動(dòng)應(yīng)平穩(wěn)無(wú)卡住現(xiàn)象。鎖緊裝置的作用應(yīng)切實(shí)有效。3.2.1.2 試驗(yàn)和目力觀察32121 刻線寬度及寬度差3

5、2122 固定套管縱刻線和微分筒上的刻線寬度為,同一把千分尺上的刻線寬度差應(yīng)不大于0.03MM3.2.1.3 兩測(cè)量面的平行度3.2.1.3.1 應(yīng)不大于表5的規(guī)定表5微米千分尺校驗(yàn)參數(shù)測(cè)量范圍MM0-2525-5050-7575-100100125125150150175175200200300示值0級(jí)± 2± 2± 2± 2-誤差1級(jí)± 4± 4± 4± 4± 5± 5± 6± 6± 732132 校驗(yàn)方法：用鑒定過(guò)的游標(biāo)卡尺來(lái)校驗(yàn)。測(cè)量上限大于150MM勺千分尺可只檢測(cè)微頭的示值誤差。用專用量具按0-25伽的千分尺受檢點(diǎn)檢定，測(cè)微頭各點(diǎn)相對(duì)于零點(diǎn)的示值誤差不超過(guò)3微米。3.2.1.4 校對(duì)用量桿32141要求：校對(duì)用量桿尺寸偏差和兩測(cè)量面平行度不超過(guò)?校對(duì)用量桿參數(shù)表?表5的規(guī)定。校對(duì)用量桿的公稱尺寸伽尺寸偏差兩測(cè)量面的平行度微米0級(jí)1級(jí)25± 1± 2150± 2175± 2100-1252150-175± 3200-225250-275325-375± 44425-475±