中性超聲波探傷儀使用說(shuō)明書(shū)大32開(kāi)

1、數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書(shū)目 錄1功能特點(diǎn)、技術(shù)指標(biāo)61.1 概述61.2 功能特點(diǎn)61.3 主要技術(shù)指標(biāo)8探傷儀各部分名稱(chēng)及鍵盤(pán)介紹92.1 外觀及各部分名稱(chēng)92.2 鍵盤(pán)圖1022.3 屏幕各區(qū)稱(chēng)112.4 按鍵分類(lèi)（5 類(lèi)、22 個(gè)按鍵）122.5 按鍵功能簡(jiǎn)介132.6 按鍵對(duì)應(yīng)的菜單142.7 鍵盤(pán)輸入文本的方法（英文字母、數(shù)字、特殊字符）162.8 旋鈕162.9 LED 指示燈17屏幕顯示內(nèi)容介紹1733.1 屏幕上 17 個(gè)指示符號(hào)的含義173.2 測(cè)量結(jié)果183.2.1 屏幕上顯示的 12 類(lèi)、27 種測(cè)量結(jié)果及其含義183.2.2 如何讓“測(cè)量結(jié)果”顯示在屏幕上204探傷儀

2、的電源開(kāi)關(guān) / 恢復(fù)出廠設(shè)置 /區(qū)格式化 / 軟件信息. 204.1 電源開(kāi)關(guān)204.2 恢復(fù)出廠設(shè)置 /區(qū)格式化 / 軟件信息. 215探傷儀的設(shè)置215.1 探測(cè)范圍215.2 工件厚度215.3 聲程標(biāo)度225.4 屏幕背光225.5 設(shè)置日期、時(shí)間226設(shè)置. 236.1 什么是6.2 設(shè)置6.3 設(shè)置？有什么作用？23“起點(diǎn)、寬度、高度”的方法23. 24邏輯246.3.1 設(shè)置6.3.2方式：“聲”和“光” 246.3.3 開(kāi)關(guān)聲音256.4 連接探頭25I數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書(shū)7探傷儀的校準(zhǔn)267.1 校準(zhǔn)前的準(zhǔn)備267.2 直探頭的自動(dòng)校準(zhǔn)277.3 斜探頭的自動(dòng)校準(zhǔn)28文

3、件（通道文件和波形文件）2988.1 通道的.298.1.1 什么是通道？298.1.2 通道的作用298.1.3 通道的方法298.1.4 通道名：用英文、數(shù)字及有關(guān)符號(hào)給通道命名308.1.5 通道的調(diào)出（調(diào)用）308.1.6 通道的預(yù)覽318.1.7 通道的刪除318.2 波形的.328.2.1 波形文件的.328.2.2 給波形文件命名328.2.3 波形預(yù)覽338.2.4 波形調(diào)出338.2.5 波形刪除33儀器與計(jì)算機(jī)通訊349.1.1 通訊前的準(zhǔn)備349II9.1.2 向計(jì)算機(jī)傳輸數(shù)據(jù)349.1.3 瀏覽和打印計(jì)算機(jī)軟件中的文件3510 DAC/TCG 選項(xiàng)3610.1 “DAC

4、 曲線”和“TCG 曲線的”概念3610.1.1 DAC 曲線的定義和作用3610.1.2 TCG 曲線的定義和作用3710.2 DAC/TCG 曲線的制作和曲線設(shè)置3810.2.1 DAC 曲線制作步驟3810.2.2 刪除DAC 標(biāo)定點(diǎn)3910.2.3 重新標(biāo)定某個(gè)標(biāo)定點(diǎn)3910.2.4 TCG 曲線的生成4010.2.5 設(shè)置DAC 偏置曲線4010.2.6 設(shè)置曲線補(bǔ)償值，4010.3 DAC 當(dāng)量計(jì)算4110.4 刪除 DAC 或 TCG 曲線4211 AVG 選項(xiàng)4211.1 AVG 曲線的定義和作用4211.2 制作 AVG 曲線的步驟4311.3 使用 AVG 曲線4511.3

5、.1 校正AVG 曲線4511.3.2 調(diào)整AVG 曲線的當(dāng)量值4511.3.3 AVG 模式下的 6 個(gè)測(cè)量結(jié)果45III數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書(shū)11.3.4 刪除AVG 曲線4612 保養(yǎng)、維修、使用注意事項(xiàng)4712.1 環(huán)境要求4712.2 電池充電及電源適配器的使用及注意事項(xiàng)4712.3 更換電池4812.4 故障排除4812.5 安全提示49附錄 1: 焊縫探傷舉例50附錄 2: 常用焊縫超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)54附錄 3: 超聲波探傷儀制造滿(mǎn)足的標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)55DAC、TCG、AVG、AWS、B 掃、可連續(xù)200 小時(shí)、方波、半跨距、瓷套絕緣子探傷等屬于選配功能，您的探傷儀是否具備此功

6、能，請(qǐng)以型號(hào)確認(rèn)或我們的銷(xiāo)售或經(jīng)銷(xiāo)商，！IV5數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書(shū)1功能特點(diǎn)、技術(shù)指標(biāo)1.1 概述本數(shù)字超聲波探傷儀能夠快速便捷、無(wú)損傷、精確地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷，如金屬材料內(nèi)部氣孔、砂眼、夾雜、折疊、裂紋、焊縫的未熔合和未焊透性等的檢測(cè)、評(píng)估及診斷，同時(shí)具有軸類(lèi)、筒類(lèi)、無(wú)縫、直縫焊管等工件外圓周向探傷功能，廣泛應(yīng)用于鋼鐵、電力、鍋爐儀器。容器、鋼結(jié)構(gòu)、軍工、航空航天、鐵路交通、汽車(chē)、機(jī)械等領(lǐng)域。它是無(wú)損檢測(cè)行業(yè)的必備本系列超聲波探傷儀具有“更簡(jiǎn)易的菜單、更豐富的探傷功能、更人性化的人機(jī)度運(yùn)行更快”的顯著特點(diǎn)。便攜性、耐用性、可靠性、運(yùn)行穩(wěn)定性更堪稱(chēng)國(guó)內(nèi)國(guó)際一流。模式，速我公司會(huì)為您提

7、供持續(xù)的軟件更新，讓超聲波探傷儀功能更強(qiáng)大，更能滿(mǎn)足您的需求，實(shí)現(xiàn)您“標(biāo)準(zhǔn)化”及“個(gè)性化”的探傷設(shè)想。1.2 功能特點(diǎn)ll文件命名方式：通道及500 個(gè)探傷通道：通道可的波形文件均可用鍵盤(pán)上的英文、數(shù)字、特殊符號(hào)編輯名稱(chēng)、調(diào)用、通訊、瀏覽，配合快速更換探頭，調(diào)出通道即可開(kāi)展探傷工作，免去繁瑣的探傷儀調(diào)節(jié)過(guò)程；llll可500 套探傷報(bào)告；可英文輸入。高分辨率（320×240），26 萬(wàn)色 TFT 彩色液晶顯示屏，可在強(qiáng)光下清晰的顯示圖像。兩個(gè) BNC Q9 探頭插座。6、預(yù)覽、通訊、打印；可編輯探傷報(bào)告的文件名稱(chēng)；llRS232-USB 接口，用于連接探傷儀與計(jì)算機(jī)。兩種供電方式：a

8、. 大容量 5200mAh 鋰電池，無(wú)記憶效應(yīng)、連續(xù)工作 7-10 小時(shí)，使用b. 0V 交流電(配電源適配器)供電 ?？蛇叧潆姷耐瑫r(shí)進(jìn)行探傷工作長(zhǎng)；lllllllll方式：硬件驅(qū)動(dòng)實(shí)警信號(hào)，可選：進(jìn)波、失波。信號(hào)：聲光（聲：蜂鳴器、光：發(fā)光二極管）。0.2MHz 到 20MHz 可選頻率范圍與探頭匹配以達(dá)到最佳性能。超過(guò) 1000Hz 脈沖重復(fù)頻率，消除了虛像回波，實(shí)現(xiàn)了材料檢測(cè)時(shí)長(zhǎng)聲波的清除。增益步長(zhǎng)功能帶有 7 個(gè)可選步距，1 個(gè)鎖定步距。兩個(gè)的，覆蓋整個(gè)檢測(cè)范圍；可測(cè)量，也可關(guān)聯(lián)測(cè)量。凍結(jié)：可完全凍結(jié) A 掃描。探頭校準(zhǔn)：自動(dòng)校準(zhǔn)材料聲速、探頭零點(diǎn)、探頭角度DAC 曲線：最多可16 個(gè)

9、點(diǎn)；3 條偏置曲線，可對(duì)由于材料耦合差異或聲束距離引起的衰 減進(jìn)行補(bǔ)償和校正；根據(jù)增益、探測(cè)范圍等參數(shù)的改變而自動(dòng)調(diào)節(jié) DAC 曲線位置，可鎖定靈敏度的同時(shí)保持 DAC 曲線位置不變；可建立、刪除，并可隨參數(shù)進(jìn)行DAC/TCG 曲線標(biāo)定點(diǎn)可靈活標(biāo)定。、調(diào)用。llDAC 標(biāo)定點(diǎn)可選擇由探傷儀自動(dòng)捕捉，降低了斜探頭標(biāo)定時(shí)鎖定最高回波的難度。高速屏幕刷新頻率（高于 100Hz）使缺陷回波實(shí)時(shí)展現(xiàn)，無(wú)遺漏。鍵盤(pán)：薄膜面板；防水、防塵、防油污、耐酸堿、密封性強(qiáng)； 微微凸起的按鍵，提供良好的觸感；鍵盤(pán)按操作步驟布局，增強(qiáng)了操作的程序性和易用性重量輕：包括電池在內(nèi)僅重 1.0kg可自由更換鋰電池7lll數(shù)字

10、超聲波探傷儀使用說(shuō)明書(shū)1.3 主要技術(shù)指標(biāo)llllllllll探測(cè)范圍：010000mm（鋼縱波），連續(xù)可調(diào)，最小步進(jìn)值垂直線性誤差：3%水平線性誤差：0.1%靈敏度余量：62dB (2002 平底孔) 動(dòng)態(tài)范圍：34dB分辨力：32dB電噪聲電平：10%頻帶：0.2 MHz20MHz。采樣頻率：基于硬件的實(shí)時(shí)采樣頻率，160MHz。增益：0.0 dB 110.0dB。0.1mm。步進(jìn)值：0.1、0.5、1.0、2.0、6.0dB、12.0dB、24.0dB，0.0dB 檔可鎖定增益調(diào)節(jié)功能。脈沖重復(fù)頻率：20Hz 1000Hz，自動(dòng)調(diào)節(jié)。材料聲速：100 m/s20000m/s,連續(xù)可調(diào)。內(nèi)

11、置 33 個(gè)常用的材料聲速值。探頭延時(shí)：0s 100s。環(huán)境溫度：-10 70外型：150mm×230mm×45mm 重量：1.0kg（含電池）llllll82探傷儀各部分名稱(chēng)及鍵盤(pán)介紹2.1 外觀及各部分名稱(chēng)（圖 2-1：外觀及各部分名稱(chēng)）9數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書(shū)2.2鍵盤(pán)圖（圖 2-2：鍵盤(pán)）102.3 屏幕各區(qū)稱(chēng)圖 2-3 : 屏幕各區(qū)稱(chēng)11數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書(shū)2.4按鍵分類(lèi)（5 類(lèi)、22 個(gè)按鍵）共 5 類(lèi)、22 個(gè)按鍵，詳見(jiàn)下表：12按鍵名稱(chēng)按鍵數(shù)量作用1開(kāi)關(guān)鍵1 個(gè)開(kāi)關(guān)機(jī)2確認(rèn)鍵1 個(gè)1. 啟動(dòng)功能列表2. 確認(rèn)3F 鍵5 個(gè)1. 選擇當(dāng)前菜單2. 切

12、換粗調(diào)、微調(diào)4可打開(kāi)菜單的按鍵8 個(gè)見(jiàn) 4.2 的介紹5快捷鍵7 個(gè)迅速打開(kāi)相應(yīng)功能或調(diào)節(jié) 相應(yīng)參數(shù)2.5按鍵功能簡(jiǎn)介131電源開(kāi)/關(guān)鍵自動(dòng)增益鍵2探傷參數(shù)選擇鍵峰值記憶開(kāi)關(guān)鍵3前沿、聲速、零點(diǎn)自動(dòng)校準(zhǔn)快捷鍵回波凍結(jié)功能鍵4K 值自動(dòng)校準(zhǔn)快捷鍵參數(shù)類(lèi)功能鍵5DAC 曲線功能鍵全屏或半屏切換鍵6傷波鍵選項(xiàng)及確認(rèn)鍵7增益增加鍵功能設(shè)置鍵8增益減小鍵功能鍵9增益步長(zhǎng)鍵5 個(gè)F1-F5 菜單鍵/操作功能鍵、切換粗、細(xì)調(diào)數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書(shū)2.6按鍵對(duì)應(yīng)的菜單按“可打開(kāi)菜單的按鍵”打開(kāi)的相應(yīng)菜單列表：14按鍵按相應(yīng)按鍵打開(kāi)的菜單F1F2F3F4F5通道預(yù)覽/調(diào)出保存刪除全刪除通道編號(hào)通道名稱(chēng)聲速

13、m/s *探頭零點(diǎn) us探頭前沿mm*A 門(mén)起點(diǎn) mm*調(diào)校探頭 K 值探頭角度調(diào)校開(kāi)/關(guān)A 門(mén)起點(diǎn)*標(biāo)定點(diǎn)刪除標(biāo)定點(diǎn)下一頁(yè)上一頁(yè)編輯標(biāo)定點(diǎn)調(diào)整重標(biāo)定下一頁(yè)上一頁(yè)評(píng)定線定量線判廢線下一頁(yè)上一頁(yè)表面補(bǔ)償衰減刪除曲線評(píng)估曲線文件編號(hào)預(yù)覽/調(diào)出保存刪除全刪除文件名稱(chēng)探測(cè)范圍*工件厚度*聲程標(biāo)度背光調(diào)節(jié)時(shí)間/日期注明*的是帶有近似值到精確值調(diào)節(jié)的功能。15A 門(mén)起點(diǎn)*/B 門(mén)起點(diǎn)*A 門(mén)寬度*/B 門(mén)寬度*A 門(mén)高度/B 門(mén)高度聲音邏輯 關(guān)探頭名稱(chēng) 2.5P13*13K2探頭類(lèi)型 斜探頭探頭角度 63探頭 K 值 2.0探頭前沿值 12探頭校準(zhǔn)試塊 CSK1A(K2-3)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) GB/T 11345

14、A工件厚度 200（數(shù)字自由調(diào)節(jié)） 半跨距 關(guān)(回波/坐標(biāo))曲面探測(cè)位置 外/內(nèi)工件外徑 平面/（數(shù)字自由調(diào)節(jié)）坐標(biāo)網(wǎng)格 網(wǎng)格 1/網(wǎng)格 2/網(wǎng)格 3/網(wǎng)格 4聲音 開(kāi)/關(guān)日期設(shè)定 2013-4-26時(shí)間設(shè)定 23:57:20 按鍵伴音 開(kāi)/關(guān) 背光調(diào)節(jié) 低/中/高波形顯示模式 空心/填充數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書(shū)2.7 鍵盤(pán)輸入文本的方法（英文字母、數(shù)字、特殊字符）由于探傷通道以及的波形文件需要輸入文本進(jìn)行命名，為了方便用戶(hù)操作，按探傷儀面板上的按鍵可輸入英文字母、數(shù)字、特殊字符。此外在文本編輯狀態(tài)下，功能欄將會(huì)出現(xiàn)編輯菜單， 可使用【F1】至【F5】鍵輸入編輯命令。編輯菜單中包括的編輯命令

15、有：右移（【F1】鍵）、（【F2】鍵）、刪除（【F3】鍵）、保存（【F4】鍵）和取消（【F5】鍵）。其中括號(hào)內(nèi)所標(biāo)為面板上對(duì)應(yīng)的按鍵。右移：光標(biāo)向右移動(dòng)一個(gè)字符，當(dāng)光標(biāo)處于文本行最右側(cè)時(shí)，右移功能可使光標(biāo)回到文本行最左側(cè)；：在光標(biāo)處一個(gè)空格，光標(biāo)處及其后面的字符自右移一個(gè)字符，最右側(cè)字符被刪除；刪除：刪除光標(biāo)處的字符，光標(biāo)處及其后面的字符自左移一個(gè)字符；保存：將編輯好的文本項(xiàng)存入?yún)^(qū)。取消：文本編輯狀態(tài)且不保存；2.8 旋鈕旋鈕的功能：調(diào)整數(shù)據(jù)或切換某項(xiàng)功能16鍵盤(pán)上的按鍵可以向光標(biāo)位置輸入一個(gè)字符，調(diào)整旋鈕：輸入 ASCII 碼字符。2.9 LED 指示燈充電指示燈：充電過(guò)程中指示燈亮，充電完

16、成指示燈熄滅燈：只有警燈亮。分和曲線3屏幕顯示內(nèi)容介紹3.1 屏幕上 17 個(gè)指示符號(hào)的含義圖 2-2 指示符號(hào)欄有以下有 17 種符號(hào)，這些符號(hào)在條件滿(mǎn)足時(shí)會(huì)出現(xiàn)在顯示屏的指示符號(hào)欄中，用于儀器設(shè)置狀態(tài)的提示。圖 2-4繪制了這些符號(hào)并對(duì)它們所代表的含義作了解釋。17數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書(shū)圖 3-1 儀器設(shè)置狀態(tài)指示符號(hào)3.2 測(cè)量結(jié)果3.2.1 屏幕上顯示的 12 類(lèi)、27 種測(cè)量結(jié)果及其含義探傷儀最多可以在屏幕上同時(shí)顯示 5 種測(cè)量數(shù)據(jù)，其中一個(gè)數(shù)據(jù)可使用大字體顯示，方便操作者觀察?？晒┻x擇的 27 種測(cè)量數(shù)據(jù)如下：18編號(hào)符號(hào)測(cè)量結(jié)果的含義第一類(lèi)1A%AA測(cè)定的反射體回波波幅與全屏

17、高度的百分比2A%BB測(cè)定的反射體回波波幅與全屏高度的百分比第二類(lèi)3SAA測(cè)定的反射體到試塊表面（探頭接觸面）的聲程距離4SBB測(cè)定的反射體到試塊表面（探頭接觸面）的聲程距離5SBA從 A測(cè)定的反射體到 B測(cè)定的反射體的聲程距離第三類(lèi)6DAA測(cè)定的反射體到試塊表面（探頭接觸面）的深度7DBB測(cè)定的反射體到試塊表面（探頭接觸面）的深度8DBA從 A測(cè)定的反射體到 B測(cè)定的反射體的深度19第四類(lèi)9RAA測(cè)定的反射體到探頭入射點(diǎn)的水平距離10RBB測(cè)定的反射體到探頭入射點(diǎn)的水平距離11RBA從 A測(cè)定的反射體到 B測(cè)定的反射體的水平距離第五類(lèi)12PAA測(cè)定的反射體到探頭入射點(diǎn)的水平距離減去輸入的 X

18、 值13PBB測(cè)定的反射體到探頭入射點(diǎn)的水平距離減去輸入的 X 值第六類(lèi)14LAA測(cè)定的反射體回波次數(shù)15LBB測(cè)定的反射體回波次數(shù)16LBA從 A測(cè)定的反射體到 B測(cè)定的反射體的回波次數(shù)第七類(lèi)17dBtAA測(cè)定的反射體回波波幅與 A高度的 dB 差18dBtBB測(cè)定的反射體回波波幅與 B高度的 dB 差第八類(lèi)19DACrA測(cè)定的反射體回波波幅與 DAC 曲線高度的 dB 差第九類(lèi)20dBrAA測(cè)定的反射體回波波幅與參考回波波幅的 dB 差（參考增益打開(kāi)）21dBrBB測(cè)定的反射體回波波幅與參考回波波幅的 dB 差（參考增益打開(kāi)）第十類(lèi)22A%cAA測(cè)定的反射體回波波幅與 AVG 曲線高度的百

19、分比（AVG 模式）23A%cBB測(cè)定的反射體回波波幅與 AVG 曲線高度的百分比（AVG 模式）第十一類(lèi)24dBcAA測(cè)定的反射體回波波幅與 AVG 曲線高度的 dB 差（AVG 模式）25dBcBB測(cè)定的反射體回波波幅與 AVG 曲線高度的 dB 差（AVG 模式）第十二類(lèi)26AA測(cè)定的反射體回波波幅計(jì)算出的缺陷當(dāng)量（AVG 模式）27BB測(cè)定的反射體回波波幅計(jì)算出的缺陷當(dāng)量（AVG 模式）數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書(shū)3.2.2 如何讓“測(cè)量結(jié)果”顯示在屏幕上第一步：開(kāi)機(jī)后，按【確認(rèn)】鍵打開(kāi)屏幕右側(cè)選項(xiàng)列表，按【上鍵】【下鍵】選擇能項(xiàng)，按【確認(rèn)鍵】進(jìn)入測(cè)量結(jié)果類(lèi)菜單。功項(xiàng)下面的【F1】鍵第二

20、步：按第三步：旋轉(zhuǎn)旋鈕選擇需要顯示的測(cè)量讀數(shù)。（或重復(fù)按【F1】鍵選擇需要顯示的測(cè)量讀數(shù)）按上面“第二步和第三步”的方法可設(shè)置顯示的測(cè)量讀數(shù)、4探傷儀的電源開(kāi)關(guān) / 恢復(fù)出廠設(shè)置 / 軟件信息區(qū)格式化4.1 電源開(kāi)關(guān)按下【開(kāi)關(guān)】鍵兩秒鐘，即可啟動(dòng)或關(guān)閉探傷儀。20結(jié)果放大顯示讀數(shù) 4顯示讀數(shù) 3顯示讀數(shù) 2顯示讀數(shù) 1測(cè)量結(jié)果4.2 恢復(fù)出廠設(shè)置 /區(qū)格式化 / 軟件信息l啟動(dòng)探傷儀前，先按住【通道】鍵，然后按下【開(kāi)關(guān)】鍵，等待探傷儀發(fā)出蜂鳴聲后松開(kāi)【通道】鍵和【開(kāi)關(guān)】鍵，探傷儀啟動(dòng)后進(jìn)入儀器設(shè)置狀態(tài)。l旋轉(zhuǎn)旋鈕，選擇“恢復(fù)出廠設(shè)置”或“ 即可實(shí)現(xiàn)相應(yīng)的操作區(qū)格式化”、或“軟件信息”后按確認(rèn)鍵

21、，5探傷儀的設(shè)置5.1 探測(cè)范圍第一步：按【設(shè)置】鍵下面的【F1】鍵，選中該功能項(xiàng)。第二步：按（注：探測(cè)范圍有近似和精確兩種調(diào)節(jié)模式。通過(guò)連續(xù)按對(duì)應(yīng)的【F1】鍵選擇粗調(diào)和微調(diào)模式。）第三步：旋轉(zhuǎn)旋鈕調(diào)節(jié)探測(cè)范圍值。探測(cè)范圍在 1.0mm10000mm 之間調(diào)節(jié)。5.2 工件厚度第一步：按【設(shè)置】鍵下面的【F2】鍵，選中該功能項(xiàng)。第二步：按第三步：旋轉(zhuǎn)旋鈕調(diào)節(jié)工件厚度值。探測(cè)范圍在 0.6mm10000mm 之間調(diào)節(jié)。21工件厚度探測(cè)范圍數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書(shū)5.3 聲程標(biāo)度第一步：按【設(shè)置】鍵下面的【F3】鍵，選中該功能項(xiàng)。第二步：按第三步：旋轉(zhuǎn)旋鈕調(diào)節(jié)調(diào)整聲程標(biāo)度的四個(gè)選項(xiàng)：刻度、聲程長(zhǎng)

22、度、投影長(zhǎng)度、缺陷深度5.4 屏幕背光第一步：按【設(shè)置】鍵，進(jìn)入設(shè)置功能類(lèi)菜單。第二步：按項(xiàng)下面的【F4】鍵，選中該功能項(xiàng)。第三步：反復(fù)按【F4】鍵可改變背光亮度。（也可通過(guò)旋轉(zhuǎn)旋鈕改變背光亮度）。5.5 設(shè)置日期、時(shí)間第一步：按【設(shè)置】鍵，進(jìn)入設(shè)置功能類(lèi)菜單。第二步：按項(xiàng)下面的【F5】鍵，選中該功能項(xiàng)。第三步：連續(xù)按該【F5】鍵，可順序切換年月日時(shí)分秒。第四步：旋轉(zhuǎn)旋鈕調(diào)整年月日時(shí)分秒的數(shù)值。第五步：修改完成后按【F5】鍵，直到數(shù)值位置光標(biāo)消失編輯模式。注意：一旦設(shè)置后，探傷儀內(nèi)置時(shí)鐘將保持當(dāng)前的時(shí)間和日期。22時(shí)間日期背光調(diào)節(jié)聲程標(biāo)度6設(shè)置6.1 什么是？有什么作用？1.測(cè)量數(shù)據(jù)，如缺陷深

23、度、水平、聲程等共 25 個(gè)測(cè)量結(jié)果2.6.2 設(shè)置“起點(diǎn)、寬度、高度”的方法按【設(shè)置】鍵可進(jìn)入的起點(diǎn)設(shè)置菜單，重復(fù)按【】鍵可切換 A、B。項(xiàng)下面的【F1】鍵，選中該功能項(xiàng)。第一步：按第二步：重復(fù)按【F1】鍵切換粗、細(xì)調(diào)模式。第三步：旋轉(zhuǎn)旋鈕調(diào)節(jié)起點(diǎn)。增加和減少起點(diǎn)值，分別向右和向左移動(dòng)。調(diào)節(jié)的寬度第一步：按項(xiàng)下面的【F2】鍵，選中該功能項(xiàng)。第二步：重復(fù)按【F2】鍵切換粗、細(xì)調(diào)模式。第三步：旋轉(zhuǎn)旋鈕調(diào)節(jié)寬度。設(shè)置的高度（門(mén)閾）項(xiàng)下面的【F3】鍵，選中該功能項(xiàng)。23第一步：按A 門(mén)高度A 門(mén)寬度A 門(mén)起點(diǎn)數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書(shū)第二步：旋轉(zhuǎn)旋鈕調(diào)節(jié)垂直高度。6.3 設(shè)置6.3.1 設(shè)置邏輯每一

24、個(gè)過(guò)時(shí)都可以在兩種條件中選擇一種進(jìn)行觸發(fā)。即當(dāng) A 掃波形穿過(guò)或者無(wú)回波穿的被觸發(fā)。按照下面步驟設(shè)置門(mén)的邏輯：菜單。（重復(fù)按【】鍵可切換 A、B第一步：按【鍵】進(jìn)入）第二步：按【F5 鍵】選擇功能項(xiàng)。第三步：重復(fù)循環(huán)按【F5 鍵】選擇以下 4 種邏輯。（也可旋轉(zhuǎn)旋鈕選擇邏輯）llll6.3.2進(jìn)波A 掃描信號(hào)穿過(guò)時(shí)失波無(wú) A 掃描信號(hào)穿過(guò)時(shí)功能測(cè)量只進(jìn)量，不進(jìn)行關(guān) 關(guān)閉測(cè)量和功能方式：“聲”和“光”A 和 B，都能分別設(shè)置。當(dāng)一個(gè)的被啟動(dòng)后，將出現(xiàn)下面的一種或多種情況：ll探傷儀前面板上的聲（蜂鳴）響起。指示燈（A）亮。24邏輯6.3.3 開(kāi)關(guān)聲音】鍵。 （注：重復(fù)按【】鍵可切換 A、B第一步

25、：按【）第二步：按【F4】鍵選擇功能項(xiàng)。第三步：重復(fù)按【F4 鍵】打開(kāi)或關(guān)閉聲音。（或旋轉(zhuǎn)旋鈕打開(kāi)或關(guān)閉聲音）6.4 連接探頭探頭與探傷儀連接時(shí)，不僅要連接正確，而且所安裝探頭還要與探傷儀設(shè)置相匹配。若安裝一個(gè)單晶探頭，設(shè)置收發(fā)模式為單晶，將探頭線與任意一個(gè) BNC 端口相連接。若安裝兩個(gè)單晶探頭，設(shè)置收發(fā)模式為單晶或穿透，兩個(gè)端口任意連接若安裝一個(gè)雙晶探頭，設(shè)置收發(fā)模式為雙晶，兩個(gè)端口任意連接。25聲音數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書(shū)7探傷儀的校準(zhǔn)7.1 校準(zhǔn)前的準(zhǔn)備為提高校準(zhǔn)的準(zhǔn)確度及質(zhì)量，請(qǐng)?jiān)谛?zhǔn)前做以下準(zhǔn)備：lllllll探頭連接完好；收發(fā)模式（單晶、雙晶、穿透）的設(shè)置必須與探頭匹配； 探頭

26、零點(diǎn)：設(shè)置為 0清除 DAC/TCG、AVG 曲線凍結(jié)：關(guān)閉；抑制：設(shè)置為 0%。在試塊上放置少許的機(jī)油作為耦合劑267.2 直探頭的自動(dòng)校準(zhǔn)如圖 7-1 所示，由于“材料聲速的不同”和“直探頭保護(hù)層厚度的存在”會(huì)給探傷帶來(lái)誤差，所以探傷前必須校準(zhǔn)“材料聲速”和“探頭零點(diǎn)”這兩個(gè)參數(shù)。運(yùn)用自動(dòng)校準(zhǔn)功能，步驟如下：第一步：按【參數(shù)】鍵，旋轉(zhuǎn)旋鈕，選擇探頭類(lèi)型， 按【確認(rèn)】鍵，旋轉(zhuǎn)旋鈕，選擇直探頭，按【參數(shù)】鍵，參數(shù)設(shè)置第二步：按【校準(zhǔn)】鍵，啟動(dòng)自動(dòng)校準(zhǔn)功能。第三步： 按【確認(rèn)】鍵，屏幕下方出現(xiàn)“請(qǐng)輸入位置 1 mm”，旋轉(zhuǎn)旋鈕輸入試塊的厚度值。(如使用 CSK-1A 試塊的 25mm 厚度進(jìn)行校

27、準(zhǔn)，則位置 1 輸入為 25mm)。第四步： 按【確認(rèn)】鍵，屏幕下方出現(xiàn)“請(qǐng)輸入位置 2 mm”，旋轉(zhuǎn)旋鈕輸入試塊的厚度值的 2 倍。（如上所述則輸入 50mm）第五步：按 2 次【F5】鍵, “材料聲速”和“探頭零點(diǎn)”自動(dòng)調(diào)校完成。保護(hù)層厚度（圖 7-1：直探頭結(jié)構(gòu)示意圖）27注：雙晶直探頭的校準(zhǔn)和單晶直探頭校準(zhǔn)方法相同數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書(shū)7.3 斜探頭的自動(dòng)校準(zhǔn)如圖 7-2 所示，由于探頭零點(diǎn)、前沿、K 值會(huì)給探傷帶來(lái)誤差，所以探傷前必須校準(zhǔn)，校準(zhǔn)步驟如下： 第一步：按【參數(shù)】鍵，旋轉(zhuǎn)旋鈕，選擇探頭類(lèi)型，按【確認(rèn)】鍵，旋轉(zhuǎn)旋鈕，選擇斜探頭，按【參數(shù)】鍵，參數(shù)設(shè)置第二步：按【校準(zhǔn)】鍵，

28、啟動(dòng)自動(dòng)校準(zhǔn)功能如圖 7-3 所示，左右移動(dòng)探頭，找到 R50 和 R100 兩個(gè)圓弧的最高波，保持探頭不動(dòng)，按 2 次【F5】鍵，和自動(dòng)校準(zhǔn)完成。第三步：在上述第二步，保持探頭不動(dòng)的情況下，在探頭刻度尺上讀出試塊零刻度對(duì)應(yīng)的刻度值，即為。第四步：如圖 7-4 所示左右移動(dòng)探頭，找到最高波，保持探頭（圖 7-2：斜探頭結(jié)構(gòu)示意圖）不動(dòng)，按 2 次【F3】鍵，自動(dòng)校準(zhǔn)完成。50° 60°70°（圖 7-3：校準(zhǔn)材料聲速、探頭零點(diǎn)、探頭前沿）（圖 7-4：校準(zhǔn)探頭K 值）28探頭 K 值探頭前沿探頭零點(diǎn)材料聲速8文件（通道文件和波形文件）8.1 通道的8.1.1 什么

29、是通道？通道是用于校準(zhǔn)的探傷儀參數(shù)、探頭參數(shù)及 DAC 曲線或 ACG 曲線、探傷標(biāo)準(zhǔn)及其它設(shè)置的一種探傷文件。8.1.2 通道的作用簡(jiǎn)單的講，通道的作用是：“，使工作更輕松方便”具體的講，通道的作用是：由于在現(xiàn)場(chǎng)探傷時(shí)往往要探測(cè)多種工件、更換多個(gè)探頭，這就需要用戶(hù)多次對(duì)探傷儀進(jìn)行調(diào)校。為了避免現(xiàn)場(chǎng)調(diào)校帶來(lái)的不便，可以事先將調(diào)校好的探傷儀參數(shù)、探頭參數(shù)及探傷標(biāo)準(zhǔn)在通道中，在現(xiàn)場(chǎng)探傷時(shí)直接調(diào)用，這樣就可以使探傷更輕松方便。8.1.3 通道的方法按 2 次【通道】鍵，在屏幕左側(cè)顯示通道文件列表，旋轉(zhuǎn)旋鈕，選擇一個(gè)空的通道號(hào)，按【確認(rèn)】鍵，再按 2 次【F3】鍵，通道完成。29注：1.通道完成后，通

30、道號(hào)前面出現(xiàn)符號(hào)“*”，表示該通道已經(jīng)被過(guò)了2.通道文件可以保存、預(yù)覽、調(diào)出、刪除，也可以通過(guò) USB 接口傳輸并保存到計(jì)算機(jī)。探傷參數(shù)和探傷標(biāo)準(zhǔn)數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書(shū)8.1.4 通道名：用英文、數(shù)字及有關(guān)符號(hào)給通道命名命名：通道編號(hào)不利于操作者記憶通道內(nèi)容，因此最好為每個(gè)通道設(shè)置名稱(chēng)，通道名可以是命名步驟第一步：按【通道】鍵，旋轉(zhuǎn)旋鈕選擇需名的通道。第二步：按編號(hào)下面的【F1】鍵進(jìn)入“通道名編輯狀態(tài)”。第三步：按鍵盤(pán)輸入英文大寫(xiě)、小寫(xiě)字母、數(shù)字、或旋轉(zhuǎn)旋鈕輸入特殊符號(hào)進(jìn)行命名。通道名顯示位置：顯示位置 1：當(dāng)該通道被調(diào)出后，通道名稱(chēng)會(huì)顯示在屏幕右側(cè)的前儀器的工作通道。顯示區(qū)，以提示用戶(hù)當(dāng)

31、顯示位置 2：按 2 次【通道】鍵，屏幕左側(cè)通道文件列表會(huì)顯示通道名。8.1.5 通道的調(diào)出（調(diào)用）第一步：按 2 次通道鍵第二步：旋轉(zhuǎn)旋鈕，選擇需調(diào)出的通道號(hào)第三步：按確認(rèn)鍵調(diào)出通道注意：通道文件被調(diào)出后，將替換調(diào)出前所有正在使用的參數(shù)，包括基本配置、收發(fā)、探頭參數(shù)、探傷曲線等。、30通道名稱(chēng)通道“英文”、“數(shù)字”、“特殊符號(hào)”8.1.6 通道的預(yù)覽通道調(diào)出后，如果希望盡快查閱該通道的參數(shù)設(shè)置，按 2 次【F2】鍵,即可預(yù)覽該通道，預(yù)覽內(nèi)容共 3 頁(yè)，按確認(rèn)鍵可循環(huán)預(yù)覽每一頁(yè)，按【F2】鍵可預(yù)覽。8.1.7 通道的刪除刪除一個(gè)通道第一步：按【通道】鍵，旋轉(zhuǎn)旋鈕選擇需要?jiǎng)h除的通道。第二步：按

32、2 次【F4】鍵即可刪除當(dāng)前通道。刪除全部通道 第一步：按【通道】鍵第二步：按【F5】選擇功能項(xiàng)，旋轉(zhuǎn)旋鈕，屏幕下方出現(xiàn)提示：“F5 =全部刪除”。在該提示消失前按【F5 鍵】可刪除全部通道，否則可放棄刪除操作。31注意：全部刪除功能將所有通道文件全部清除，此操作是不可恢復(fù)的，操作時(shí)需謹(jǐn)慎。全部刪除注意：刪除功能將當(dāng)前通道清除掉的操作是不可恢復(fù)的，操作時(shí)需謹(jǐn)慎。數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書(shū)8.2 波形的完成現(xiàn)場(chǎng)探傷工作后，需要依據(jù)波形文件對(duì)探傷結(jié)果進(jìn)行分析并出具報(bào)告，所以波形文件的存儲(chǔ)。波形主要探測(cè)過(guò)程中的“缺陷回波”及“測(cè)量結(jié)果”。波形文件可以保存、預(yù)覽、調(diào)出、刪除，也可以通過(guò)通訊接口傳輸?shù)絺€(gè)

33、人計(jì)算機(jī)，并利用探傷儀配套的數(shù)據(jù)處理軟件進(jìn)行瀏覽、打印等。8.2.1 波形文件的按【鍵】進(jìn)入類(lèi)菜單。第一步：旋轉(zhuǎn)旋鈕，選擇一個(gè)空的文件編號(hào)（即沒(méi)有“*”的文件號(hào)）第二步：再按 2 次【F3】鍵，完成。8.2.2 給波形文件命名文件編號(hào)不方便操作者記憶文件內(nèi)容，因此本儀器可為每個(gè)文件設(shè)置名稱(chēng)第一步：選擇需名的的文件號(hào)。編號(hào)下面的【F1】鍵進(jìn)入“文件名編輯狀態(tài)”。第二步：按第三步：按鍵盤(pán)輸入英文大寫(xiě)、小寫(xiě)字母、數(shù)字、或旋轉(zhuǎn)旋鈕輸入特殊符號(hào)進(jìn)行命名。32文件文件編號(hào)前面出現(xiàn)符號(hào)*表示該文件已經(jīng)被過(guò)了8.2.3 波形預(yù)覽第一步：選擇要預(yù)覽的的文件號(hào)第二步：按 2 次【F2】鍵，可預(yù)覽該波形文件，預(yù)覽內(nèi)

34、容共 3 頁(yè)，按確認(rèn)鍵可循環(huán)預(yù)覽每一頁(yè)，再次按【F2】鍵可8.2.4 波形調(diào)出預(yù)覽。波形文件調(diào)出后，儀器的參數(shù)設(shè)置將會(huì)被更新為文件回波曲線在屏幕背景上建立并繪制一條用于比較的回波。的內(nèi)容，同時(shí)可以利用文件內(nèi)的第一步：按【鍵】，旋轉(zhuǎn)旋鈕，選擇需要調(diào)出的文件編號(hào)。第二步：按【F2】鍵，旋轉(zhuǎn)旋鈕調(diào)出波形文件。8.2.5 波形刪除刪除一個(gè)波形第一步：按【】鍵，旋轉(zhuǎn)旋鈕選擇需要?jiǎng)h除的文件編號(hào)。第二步：按 2 次【F4】鍵即可刪除當(dāng)前波形。刪除全部波形第一步：按【】鍵第二步：按【F5】鍵選擇功能項(xiàng)，旋轉(zhuǎn)旋鈕，屏幕下方出現(xiàn)提示：“F5 =全部刪除”。在該提示消失前按【F5 鍵】可刪除全部波形，否則可放棄刪除

35、操作。33注意：全部刪除功能將所有波形文件全部清除，此操作是不可恢復(fù)的，操作時(shí)需謹(jǐn)慎。全部刪除注意：刪除功能不可恢復(fù)，操作時(shí)需謹(jǐn)慎。數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書(shū)9儀器與計(jì)算機(jī)通訊9.1.1通訊前的準(zhǔn)備llll9.1.2用的 USB-RS232 通訊線將探傷儀主機(jī)和計(jì)算機(jī)：在計(jì)算機(jī)上正確安裝隨探傷儀配備的數(shù)據(jù)通訊處理軟件和 USB 驅(qū)動(dòng)軟件探傷儀主機(jī)內(nèi)按了需要傳輸?shù)臄?shù)據(jù)文件。探傷儀處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)。向計(jì)算機(jī)傳輸數(shù)據(jù)傳輸數(shù)據(jù)時(shí)，可按下面的步驟操作：第一步：打開(kāi)計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)通訊處理軟件，點(diǎn)【連接】按鈕進(jìn)行聯(lián)機(jī)，出現(xiàn)通訊端口設(shè)置框。第二步：選擇計(jì)算機(jī)上與探傷儀連接的通訊端口（COM），點(diǎn)【確定】按鈕，軟件自動(dòng)

36、與探傷儀進(jìn)行連接測(cè)試。如果軟件狀態(tài)欄出現(xiàn)提示“通訊端口無(wú)效”，說(shuō)明端口選擇錯(cuò)誤， 請(qǐng)重新選擇并連接探傷儀。第三步：點(diǎn)【】按鈕列出探傷儀內(nèi)的數(shù)據(jù)文件，此過(guò)程所需時(shí)間因儀器所能的文件數(shù)量多少有所不同。列舉完成后出現(xiàn)文件列表欄，欄內(nèi)顯示文件編文件類(lèi)型，其中 SET 文件為通道文件，WAV 為探傷報(bào)告文件。名稱(chēng)和第四步：用鼠標(biāo)選擇需要傳輸?shù)奈募?，點(diǎn)【確定】按鈕開(kāi)始傳輸文件，軟件同步提示傳輸進(jìn)度，傳輸完成后文件列表自動(dòng)消失，軟件顯示文件內(nèi)容，可瀏覽、打印等。34第五步：傳輸?shù)挠?jì)算機(jī)上的數(shù)據(jù)暫時(shí)放置在內(nèi)存中，如果需要保存到數(shù)據(jù)庫(kù)中，請(qǐng)按【存入】按鈕，按提示到數(shù)據(jù)庫(kù)中。否則該數(shù)據(jù)被保存。注意：傳輸數(shù)據(jù)過(guò)程

37、中關(guān)閉探傷儀，以免傳輸錯(cuò)誤。9.1.3 瀏覽和打印計(jì)算機(jī)軟件中的文件瀏覽和打印計(jì)算機(jī)軟件中的文件可按下面的步驟操作：第一步：打開(kāi)計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)通訊處理軟件，點(diǎn)【調(diào)出】按鈕進(jìn)入數(shù)據(jù)庫(kù)查閱框。第二步：用鼠標(biāo)選擇需要打印的文件，點(diǎn)【調(diào)出數(shù)據(jù)】按鈕將數(shù)據(jù)庫(kù)內(nèi)的文件調(diào)入內(nèi)存。第三步：點(diǎn)【打印】按鈕出現(xiàn)打印模式選擇框，打印模式分為快速打印和模板編輯。其中模板編輯模式可對(duì)報(bào)告進(jìn)行編輯和操作；快速打印模式只能打印，不能編輯。注意：如需將選擇的文件從軟件數(shù)據(jù)庫(kù)中清除，點(diǎn)【調(diào)出】按鈕進(jìn)入數(shù)據(jù)庫(kù)查閱框，用鼠標(biāo)選擇需要?jiǎng)h除的文件，點(diǎn)【刪除數(shù)據(jù)】按鈕刪除該文件。點(diǎn)【全部刪除】按鈕刪除數(shù)據(jù)庫(kù)內(nèi)的全部文件。刪除的文件是不可恢復(fù)

38、的。軟件面板上的【清除】按鈕用于清除內(nèi)存中的數(shù)據(jù)文件， 通道文件只能查閱，不能進(jìn)行打印操作。清除數(shù)據(jù)庫(kù)的內(nèi)容。35數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書(shū)10 DAC/TCG 選項(xiàng)10.1 “DAC 曲線”和“TCG 曲線的”概念10.1.1 DAC 曲線的定義和作用DAC 定義：DAC 是一條距離-波幅曲線，同一當(dāng)量的缺陷隨著深度的增大，受信號(hào)的衰減、聲束的擴(kuò)散及其他因素的影響，其回波幅度呈指數(shù)下降趨勢(shì)，把不同深度的同一當(dāng)量的人工缺陷的反射回波幅度連成一條曲線， 這條曲線就是 DAC 曲線；DAC 作用：DAC 曲線是用于區(qū)分大小相同，但距離不同的反射體幅度的變化。通常情況下，在繪制好 DAC 曲線后，不

39、管材料中反射體的位置如何，同樣大小的反射體產(chǎn)生的回波峰值均在同一條曲線上。同樣道理，比曲線所表示的反射體小的，其反射回波會(huì)落在該曲線下面，而較大一些的會(huì)落在該曲線上面。圖 10-1DAC 曲線3610.1.2 TCG 曲線的定義和作用TCG 定義：TCG 曲線是一條深度補(bǔ)償曲線，用DAC 曲線沿深度方向的下降趨勢(shì)對(duì)不同深度的反射回波幅度進(jìn)行補(bǔ)償，將所有的深度補(bǔ)償值連成一條曲線，這條曲線即是 TCG 曲線。TCG 作用：TCG 功能通過(guò)對(duì) A 掃描回波幅度進(jìn)行深度補(bǔ)償后，使得同一反射體回波幅度與其在被檢材料中的深度無(wú)關(guān)。因此在 TCG 模式下，當(dāng)探傷儀增益條件不變時(shí)更有利于發(fā)現(xiàn)位于材料內(nèi)部較深位

40、置的缺陷。激活 DAC/TCG 后將在指示符號(hào)欄中顯示符號(hào)。圖 10-2TCG 曲線37數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書(shū)10.2 DAC/TCG 曲線的制作和曲線設(shè)置注：1.參考點(diǎn)之前，需完成探傷儀與探頭的校準(zhǔn)及必要的設(shè)置（收發(fā)、參數(shù)、設(shè)置等）。2.本儀器最多可16 個(gè)點(diǎn)，2 個(gè)點(diǎn)即可以自動(dòng)生成 DAC 曲線，建議最少3 個(gè)點(diǎn)。3.參考點(diǎn)以后，為不影響測(cè)量的準(zhǔn)確性（參考國(guó)際探傷儀做法），這些設(shè)置將不修改。10.2.1 DAC 曲線制作步驟DAC 曲線表示位于不同深度相同曲線，DAC 曲線制作步驟如下：反射體的回波幅度，探傷儀利用的參考點(diǎn)來(lái)建立 DAC第一步：按【DAC】鍵，打開(kāi) DAC 菜單。第二步

41、：將探頭放在第一個(gè)反射孔附近并移動(dòng)探頭獲得最高反射回波，如果需要，可調(diào)整增益使回波峰值接近滿(mǎn)屏的 80%，但最高回波不得超過(guò)滿(mǎn)屏高度。調(diào)節(jié) A波。起點(diǎn)，使 A套住該回重要提示：按【峰值記憶】鍵，啟動(dòng)功能可方便的尋找并最高回波的峰值信息。第三步：使 A功能項(xiàng)下面的【F3】鍵，位于第一個(gè)參考回波上并使回波穩(wěn)定后，按選中該功能項(xiàng)，再按一下【F3】鍵，標(biāo)定點(diǎn)由 0 變?yōu)?1 時(shí)表示已將回波的最高點(diǎn)下來(lái)。第四步：重復(fù)第二、三步的方法，可動(dòng)生成。的回波波峰，當(dāng)兩個(gè)標(biāo)定點(diǎn)時(shí)，DAC 曲線自38說(shuō)明：當(dāng)兩個(gè)標(biāo)定點(diǎn)后，DAC 曲線自動(dòng)繪制在屏幕上，但通常要求至少2 個(gè)標(biāo)定點(diǎn)。標(biāo)定點(diǎn)峰值記憶10.2.2 刪除 D

42、AC 標(biāo)定點(diǎn)如需刪除標(biāo)定點(diǎn)，可按功能項(xiàng)下面的【F4】鍵執(zhí)行刪除注：刪除標(biāo)定點(diǎn)功能刪除的是聲程最大位置的標(biāo)定點(diǎn)（即屏幕最右側(cè)的標(biāo)定點(diǎn)先被刪除），而不一定是最后標(biāo)定的標(biāo)定點(diǎn)，因此建議用戶(hù)盡量按聲程順序進(jìn)行標(biāo)定和刪除（先深度小的反射孔的回波，再更深的反射孔的回波）。10.2.3 重新標(biāo)定某個(gè)標(biāo)定點(diǎn)如果用戶(hù)只是想對(duì)某一個(gè)標(biāo)定點(diǎn)的幅度進(jìn)行調(diào)整或重新標(biāo)定，可使用第二頁(yè)的編輯標(biāo)定點(diǎn)功能。步驟是：按【F5】鍵進(jìn)入第二頁(yè)，按【F2】鍵選擇，繼續(xù)按【F2】鍵，該項(xiàng)參數(shù)由關(guān)變?yōu)殚_(kāi)，同時(shí)第 1 個(gè)標(biāo)定點(diǎn)以符號(hào)“*”顯示在回波區(qū)。繼續(xù)按【F2】鍵切換到下一個(gè)標(biāo)定點(diǎn)，直至參數(shù)變?yōu)殛P(guān)，如此反復(fù)。選擇好要編輯的標(biāo)定點(diǎn)后，按【

43、F3】鍵選擇線的高度。，旋轉(zhuǎn)旋鈕調(diào)整此測(cè)試點(diǎn)的波幅曲重新標(biāo)定如需重新標(biāo)定該標(biāo)定點(diǎn)，按【F4 鍵】選擇，穩(wěn)定回波后，再按一次【F4 鍵】重新標(biāo)定。39重標(biāo)定調(diào)整編輯標(biāo)定點(diǎn)刪除標(biāo)定點(diǎn)數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書(shū)10.2.4 TCG 曲線的生成如需探傷儀工作在 TCG 模式下，可修改功能項(xiàng)，按下的 F1，切換為 TCG，再按【F5】鍵進(jìn)入第四頁(yè)，修改評(píng)估曲線為基準(zhǔn)線，TCG 即會(huì)顯示在屏幕上。10.2.5 設(shè)置 DAC 偏置曲線按【DAC】鍵，再按【F5】鍵進(jìn)入第三頁(yè)按【F2】鍵選擇“評(píng)定線”菜單，旋轉(zhuǎn)旋鈕，可以調(diào)整評(píng)定線的偏置值按【F3】鍵選擇“定量線”菜單，旋轉(zhuǎn)旋鈕，可以調(diào)整定量線的偏置值按【F4

44、】鍵選擇“判廢線”菜單，旋轉(zhuǎn)旋鈕，可以調(diào)整判廢線的偏置值偏置曲線設(shè)置完成后，將顯示在屏幕上，并且在曲線的后面標(biāo)明偏置曲線的名稱(chēng)，其中：10.2.6 設(shè)置曲線補(bǔ)償值，按【DAC】鍵，再連續(xù)按【F5 鍵】進(jìn)入第四頁(yè)功能項(xiàng)，旋轉(zhuǎn)旋鈕調(diào)節(jié)并設(shè)定工件表面補(bǔ)償值（只對(duì) DAC 模式有效）選擇選擇功能項(xiàng)，旋轉(zhuǎn)旋鈕調(diào)節(jié)并設(shè)定材料衰減補(bǔ)償值（只對(duì) TCG 模式有效）；40表面補(bǔ)償衰減EL：評(píng)定線；SL：定量線；RL：判廢線GL：基準(zhǔn)線DAC/TCGDAC/TCG說(shuō)明：1. 工件表面補(bǔ)償值用于補(bǔ)償因標(biāo)定試塊與被測(cè)材料探測(cè)表面耦合條件不同引起的差異。2. 材料衰減補(bǔ)償值用于補(bǔ)償因標(biāo)定試塊與被測(cè)材料聲衰減系數(shù)不同引起

45、的差異；3. DAC/TCG 參考點(diǎn)、曲線偏置及補(bǔ)償、DAC 模式（關(guān)閉、TCG 、DAC）可隨其它參數(shù)一起被儲(chǔ)存在通道文件中，當(dāng)需要調(diào)用時(shí)，可隨其它參數(shù)一同被調(diào)出。10.3 DAC 當(dāng)量計(jì)算在 DAC 模式下，DAC 偏置曲線將屏幕回波顯示區(qū)劃分為幾個(gè)區(qū)域，例如圖 7-1 所示的三條 DAC 偏置曲線將屏幕劃分為四個(gè)區(qū)域，最上方的偏置曲線稱(chēng)為判廢線，中間的偏置曲線稱(chēng)為定量線，最下方的偏置曲線稱(chēng)為評(píng)定線。運(yùn)用 DAC 曲線需要執(zhí)行以下幾步：第一步：進(jìn)入 DAC 菜單后，選擇能項(xiàng)內(nèi)容，直到顯示為 DAC。功能項(xiàng)，旋轉(zhuǎn)旋鈕或連續(xù)按對(duì)應(yīng)的【F1】鍵調(diào)節(jié)功第二步：選擇 DAC 當(dāng)量計(jì)算結(jié)果顯示：按【F

46、5 鍵】進(jìn)入第三頁(yè)，選擇功能項(xiàng)，旋轉(zhuǎn)旋鈕或連續(xù)按對(duì)應(yīng)的【F5】鍵選擇用于測(cè)量的 DAC 偏置曲線，被選中的曲線將以彩色顯示。第三步：調(diào)整顯示讀數(shù)，將測(cè)量結(jié)果 DACr 設(shè)置為當(dāng)前顯示；第四步：移動(dòng) A量差將會(huì)被計(jì)算并顯示。套住被測(cè)的 A 掃描回波，則反射體回波波幅與 DAC 偏置曲線高度的 dB 當(dāng)41當(dāng)量標(biāo)準(zhǔn)DAC/TCG數(shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書(shū)10.4 刪除 DAC 或 TCG 曲線進(jìn)入 DAC 菜單后，按【F5】鍵進(jìn)入第三頁(yè)，按兩次【F5】鍵即可刪除曲線。注：1.DAC 曲線可隨時(shí)波形一同調(diào)出。在通道里，并可自由調(diào)出；也可在波形時(shí)進(jìn)行，并可隨該2.刪除 DAC 曲線功能僅刪除當(dāng)前內(nèi)存中

47、的信息，不改變其它的參數(shù)設(shè)置和通道。11 AVG 選項(xiàng)11.1 AVG 曲線的定義和作用AVG 曲線的定義：AVG 曲線是根據(jù)的已知形狀及大小的人工反射體回波通過(guò)理論計(jì)算得出的一條參考曲線。AVG 的作用：檢測(cè)缺陷的當(dāng)量值。42注：按【確認(rèn)】鍵啟動(dòng)右側(cè)的功能選項(xiàng)下拉列表，旋轉(zhuǎn)旋鈕選擇AVG 曲線，再按【確認(rèn)】鍵進(jìn)入 AVG 模式。11.2 制作 AVG 曲線的步驟AVG 曲線制作步驟如下：第一步：?jiǎn)?dòng) AVG 菜單，按【F5】鍵至第 2 頁(yè)，輸入以下探頭性能參數(shù)：探頭上標(biāo)稱(chēng)的頻率值；：圓形晶片輸入晶片的直徑，其它形狀的晶片輸入與晶片面積相等的圓形晶片的直徑，即等效直徑。如矩形晶片的有效按下面的

48、公式換算：a ´ bpD = 2（1）其中：D 等效直徑a、b 矩形晶片的長(zhǎng)度和寬度43晶片頻率晶片直徑說(shuō)明：在使用 AVG 功能以前，需要完成：·校準(zhǔn)探傷儀和探頭的綜合性能·設(shè)置與脈沖發(fā)生器、和材料聲速相關(guān)的探傷儀設(shè)置AVG 參考回波后探傷儀的校準(zhǔn)或一些參數(shù)設(shè)置的改變會(huì)影響到 AVG 的測(cè)量，因此這些參數(shù)調(diào)整時(shí)會(huì)出現(xiàn)提示并不更改。請(qǐng)?jiān)趨⒖蓟夭ㄇ巴瓿缮鲜龅墓ぷ?。?shù)字超聲波探傷儀使用說(shuō)明書(shū)第二步：按【F5】鍵至第 3 頁(yè)a.連續(xù)按下的【F2】鍵，選擇以下三種參考類(lèi)型中的一種。·大平底底面回波的缺陷參考為無(wú)窮大·長(zhǎng)橫孔橫孔的缺陷參考為孔的直徑·平底