非PCB來料檢驗(yàn)作業(yè)指導(dǎo)書

1、.FILE No.WC-PO-005華晟電子有限公司作業(yè)指導(dǎo)書PAGE 6 OF 6ConfidentialREVISIONASUBJECT通用元件檢驗(yàn)作業(yè)指導(dǎo)書 ISSUE DATEAug,23,2012收文單位：產(chǎn)品運(yùn)營(yíng)部目錄一、 目的二、 范圍三、 設(shè)備、工具四、 特殊定義五、 職責(zé)六、 步驟七、 支持文件八、 記錄REVISION/AMENDMENT HISTORYISSUE DATEREV. PAGEDESCRIPTIONOWNERApr.23.2012A全部新版范金虎一、 目的：定義進(jìn)料檢驗(yàn)抽樣作業(yè)方法,指導(dǎo)IQC通用元件進(jìn)料檢驗(yàn)抽樣作業(yè)。二、 范圍：適用于IQC進(jìn)料檢驗(yàn)抽樣作業(yè)。

2、三、 設(shè)備、工具:N/A.四、特殊定義：4.1、關(guān)鍵元件： 在產(chǎn)品功能實(shí)現(xiàn)中,起決定性、不可替代作用的元器件,譬如Sdram IC、DDR IC控制芯片、BGA、PCB等。4.2、重要元件： 在產(chǎn)品功能實(shí)現(xiàn)中,起重要作用的元器件.譬如Eeprom, Flash IC,晶體管,二、三級(jí)管,穩(wěn)壓器,變壓器,電位器,晶體,濾波器等。4.3、通用元件： 功能不隨產(chǎn)品的變化而變化,適于任何產(chǎn)品的元器件,譬如電阻、電容、電感、磁珠、LED、五金件、塑膠件、卡座、線圈、蜂鳴器、線材、五金塑膠件等。4.4、輔料：生產(chǎn)性輔助材料,譬如錫膏、松香水、焊錫絲、錫條、酒精、洗機(jī)水、封箱膠、標(biāo)貼、色帶等。五、職責(zé)：5.

3、1、IQC工程師制訂作業(yè)指導(dǎo)書.5.2、IQC工程師指導(dǎo)IQC作業(yè).5.3、IQC工程師確認(rèn)來料檢驗(yàn)異常.5.4、IQC檢驗(yàn)員執(zhí)行抽樣作業(yè).六、步驟：6.1 IC或BGA類的來料檢驗(yàn)項(xiàng)目及要求：檢驗(yàn)項(xiàng)目抽樣水準(zhǔn)檢驗(yàn)方法判定標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)工具/設(shè)備備注包裝按抽樣標(biāo)準(zhǔn)抽樣1、外包裝箱及內(nèi)盒上P/N、型號(hào)與來料單不符。AQL0.4目檢2、真空包裝內(nèi)濕度卡超出要求范圍。外觀1、料件有破裂、破損。2、料件表面臟。3、料件引腳彎曲變形，氧化生銹、有附著物或污跡。4、料件表面有可視針孔，孔徑大于0.5mm。規(guī)格1、料件Marking與樣品不一致。絲印1、料件Marking模糊不可辨認(rèn)。2、料件Marking有重印

4、、印反現(xiàn)象。包裝周期1、來料周期超過一年。AQL1.0注意事項(xiàng)：1、 對(duì)真空包裝的BGA來料，除第一次需開一包檢查外，為防潮其余每批只對(duì)外包裝進(jìn)行檢查。2、 對(duì)真空包裝的其余IC，每批只開一包檢查。3、 開真空包裝時(shí)要注明開封時(shí)間。6.2貼片電阻（排）的來料檢驗(yàn)項(xiàng)目及要求：檢驗(yàn)項(xiàng)目抽樣水準(zhǔn)檢驗(yàn)方法判定標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)工具/設(shè)備備注包裝按抽樣標(biāo)準(zhǔn)抽樣1、料件的包裝有破損等不良。AQL0.4目檢2、料件的外盤及外箱標(biāo)貼上P/N或料件型號(hào)描述錯(cuò)誤。外觀1、料件表面未完全被保護(hù)膜覆蓋，有較明顯的氣泡、針孔、污點(diǎn)。2、料件表面或側(cè)面有裂痕、分層或破損。端頭1、端頭金屬化部位露瓷、開裂、氧化、表面有電極外露。2、

5、料件明顯變形。3、料件無端頭4、端頭偏斜大于0.3mm。絲印1、表面印刷字碼有印反、錯(cuò)印、重印、漏印現(xiàn)象。尺寸固定抽樣10PCS1、料件尺寸與EER圖紙不符。0收1退用游標(biāo)卡尺測(cè)量性能固定抽樣10PCS1、高溫過迥流焊后測(cè)試阻值不在標(biāo)準(zhǔn)誤差范圍內(nèi)。0收1退萬用表測(cè)其阻值6.3 電解電容的來料檢驗(yàn)項(xiàng)目及要求：檢驗(yàn)項(xiàng)目抽樣水準(zhǔn)檢驗(yàn)方法判定標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)工具/設(shè)備備注包裝按抽樣標(biāo)準(zhǔn)抽樣料件包裝破損,標(biāo)簽P/N或型號(hào)描述錯(cuò)誤。AQL0.4目檢外觀1、絕緣套有破損、破裂、破洞、皮翹。2、絕緣套上下封口處有嚴(yán)重毛刺。3、鋁管有破損，底芯凸起。4、引腳嚴(yán)重彎曲變形，引腳發(fā)烏。絲印1、絕緣套上的印刷字碼模糊，無法辨

6、認(rèn)。2、印刷字碼有錯(cuò)印、漏印及嚴(yán)重扭曲現(xiàn)象。3、極性標(biāo)記錯(cuò)誤。尺寸固定抽樣10PCS1、料件尺寸超過EER要求。0收1退用游標(biāo)卡尺測(cè)量2、料件負(fù)極標(biāo)識(shí)未與負(fù)極引腳對(duì)齊，偏位距離大于1/4腳間距。阻值固定抽樣10PCS1、開短路測(cè)試有短路料件。0收1退2、對(duì)有ESR要求的電容，測(cè)試ESR值容值固定抽樣10PCS容值超出允收值范圍。0收1退性能固定抽樣10PCS漏電流測(cè)試值不符合I=Kcv值（或EER要求）。K 電容漏電流系數(shù)（與電容器類型有關(guān)的參數(shù)），V 額定電壓值，C 標(biāo)稱電容量，測(cè)試時(shí)間1min 5min（根據(jù)型號(hào)及Vendor不同而定）0收1退萬用表測(cè)開短路；LCR或電容表測(cè)容值；漏電流測(cè)

7、試儀測(cè)漏電流。其它性能固定抽樣10PCS1、耐高溫試驗(yàn)條件：A：烘箱溫度：180 ± 5 B：烘烤時(shí)間：2 2.5min0收1退料件放入已達(dá)到設(shè)定溫度的烘箱內(nèi)，烘烤規(guī)定的時(shí)間后取出，對(duì)電容施加額定工作電壓的1.1倍，10min。（1）、出現(xiàn)皮崩、皮翹、縮皮等不良現(xiàn)象。（2）、電容容值超差。2、耐壓試驗(yàn)條件： A：所加電壓為額定電壓的1.1倍。 B：耐壓時(shí)間為10min。電容變化量已超出規(guī)范要求。6.4 料件標(biāo)貼的來料檢驗(yàn)項(xiàng)目及要求：檢驗(yàn)項(xiàng)目抽樣水準(zhǔn)檢驗(yàn)方法判定標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)工具/設(shè)備備注材質(zhì)按抽樣標(biāo)準(zhǔn)抽樣1、外形、紙質(zhì)與R&D認(rèn)證的樣品不符。AQL0.4對(duì)照樣本目檢顏色1、顏色與R&D認(rèn)證的樣品不符。絲印1、文字圖案有重印、印反、漏印、錯(cuò)印、印偏現(xiàn)象。規(guī)格1、表面圖案、文字印刷不清晰、模糊。尺寸固定樣本10PCS1、除EER特殊要求外，標(biāo)準(zhǔn)誤差為：+-1MM。0收1退用游標(biāo)卡尺測(cè)量備注：尺寸測(cè)