UT檢測1級題庫4欄

1、精選優(yōu)質(zhì)文檔-傾情為你奉上一.是非題1.（ O ）RT、UT、MT、PT、ET是承壓設(shè)備無損檢測的五種常規(guī)方法。2.（ O ）超聲波是頻率高于20000Hz的機械波。3.（ O ）質(zhì)點振動方向與波的傳播方向互相平行的波，稱為縱波。4.（ O ）質(zhì)點振動方向與波的傳播方向互相垂直的波，稱為橫波。5.（ O ）超聲波傳播的是波源振動狀態(tài)和能量。6.（ O ）超聲波的波動頻率和振動頻率在數(shù)值上相等。7.（ O ）超聲波只能在彈性介質(zhì)中傳播。8.（ O ）氣體、液體及固體中均可以傳播縱波。9.（ X ）氣體、液體及固體中均可以傳播橫波。10.（ X ）表面波只能在液體表面?zhèn)鞑ァ?1.（ O ）超聲波檢

2、測按顯示方式分為A型顯示和超聲成像顯示。12.（ O ）目前，A型脈沖反射法超聲波檢測對缺陷還無法精確定性。13.（ X ）A型脈沖反射法超聲波檢測只能采用一只探頭。14.（ X ）自動超聲檢測不受人為因素影響。15.（ X ）在橫波斜探頭內(nèi)部傳播的也是橫波。16.（ O ）當(dāng)缺陷尺寸遠遠小于波長時，缺陷回波很低，容易漏檢。17.（ X ）超聲波的頻率越高，傳播波速越快。18.（ O ）當(dāng)波速一定時，頻率越低，波長就越長。19.（ O ）一般固體介質(zhì)中的聲速隨溫度升高而降低。20.（ X ）在同一種固體介質(zhì)中，橫波聲速大于縱波聲速。21.（ O ）同一臺承壓設(shè)備，停用與使用時應(yīng)力會不同，所以聲

3、速會不同。22.（ O ）鋼中縱波聲速為5880m/s5950m/s。23.（ X ）鋼中橫波聲速為2730m/s。24.（ X ）位于超聲場外的缺陷，也有可能被發(fā)現(xiàn)。25.（ O ）缺陷回波聲壓越大，熒光屏上回波越高。26.（ X ）超聲波頻率越高，聲壓越小。27.（ X ）超聲波頻率越高，能量越高、穿透能力越強。28.（ O ）超聲波垂直入射到界面時，入射波與反射波平行且方向相反。29.（ X ）超聲波垂直入射到鋼/空氣界面時，聲壓幾乎全透射，無反射。30.（ X ）檢測焊接接頭時，在母材與填充金屬之間肯定會產(chǎn)生界面回波。31.（ O ）橫波垂直入射到鋼/液體界面時，橫波全反射。32.（

4、O ）探頭和工件之間若不施加耦合劑，超聲波將無法進入工件。33.（ O ）提高超聲檢測頻率有利于提高檢測靈敏度，發(fā)現(xiàn)較小缺陷。34.（ X ）工件與耦合劑的聲阻抗相差越小，靈敏度越低。35.（ O ）當(dāng)聲束傾斜入射到不同介質(zhì)的界面上時，會發(fā)生波型轉(zhuǎn)換。36.（ X ）檢測焊接接頭根部未焊透時，應(yīng)選擇K2探頭。37.（ O ）超聲波的擴散衰減與工件的性質(zhì)無關(guān)。38.（ O ）工件晶粒粗大（如不銹鋼），散射衰減嚴重。39.（ O ）使用信噪比低的儀器，采用高靈敏度檢測時，熒光屏上會出現(xiàn)草狀回波。40.（ X ）近場區(qū)是由于波的繞射造成的。41.（ O ）在近場區(qū)內(nèi)檢測，將影響缺陷的定位和定量。42

5、.（ O ）超聲波的半擴散角小，分辨力好，缺陷定位準確。43.（ O ）探頭的半擴散角和近區(qū)大小都與超聲頻率和晶片尺寸有關(guān)。44.（ O ）探頭頻率越高，近場區(qū)長度越大。45.（ O ）檢測較薄鋼板時，前幾次底波高度相差無幾，是由于在波束未擴散區(qū)內(nèi)。46.（ O ）在其他條件相同時，橫波探頭比縱波探頭分辨力好。47.（ X ）缺陷的實際尺寸往往小于當(dāng)量尺寸。48.（ O ）超聲波檢測中常用的規(guī)則反射體有平底孔、橫孔及工件底面等。49.（ X ）超聲檢測儀器的主要作用是發(fā)射超聲波。 50.（ X ）超聲檢測儀的橫坐標表示的是縱波傳播距離。51.（ O ）超聲檢測儀的縱坐標表示的是波幅高度。52.

6、（ O ）數(shù)字式超聲檢測儀dB值加大，屏幕上波高上升。53.（ X ）UT儀的維護保養(yǎng)就是要使儀器保持清潔。54.（ O ）超聲探頭的關(guān)鍵部件是壓電晶片。55.（ O ）阻尼塊的作用是縮短壓電晶片的振動時間。56.（ O ）探頭軟保護膜使用性能比硬保護膜要好。57.（ X ）斜探頭的斜楔在前面開槽，是為了加大摩擦，使探頭組裝牢固。58.（ X ）直探頭主要用于檢測與檢測面成一定角的缺陷。59.（ O ）橫波斜探頭實際上是由直探頭和斜楔組成的。60.（ O ）我國的橫波斜探頭是以鋼中折射角的正切值k=tgs來標稱。61.（ O ）橫波斜探頭上的主要參考值：工作頻率、晶片尺寸和k值。62.（ X

7、）雙晶探頭檢測范圍大。63.（ X ）聚焦探頭的分辨力小。64.（ O ）冬天不適用化學(xué)漿糊作耦合劑。65.（ O ）超聲檢測用試塊通常分為標準試塊，對比試塊和模擬試塊三大類。66.（ X ）標準試塊是含模擬缺陷的試塊。67.（ X ）CSK-A試塊上沒有人工反射體。68.（ X ）CSK-A試塊上的人工反射體是長橫孔。69.（ O ）CSK-A、A、A、A試塊都是JB/T4730-2005標準中規(guī)定的標準試塊。70.（ O ）鋼管試塊上人工反射體常用V型槽。71.（ X ）可用CSK-A試塊上50、44、40臺階孔，測定橫波斜探頭的盲區(qū)。72.（ O ）CSK-A試塊材質(zhì)一般同被檢工件。73

8、.（ 0 ）垂直線性，水平線性是超聲波檢測儀的重要指標。74.（ O ）超聲檢測儀的探頭的組合性能包括：靈敏度、分辨力、信噪比等。75.（ O ）斜探頭入射點與折射角在使用中是變化的。76.（ X ）K2斜探頭最適宜焊縫橫波檢測。77.（ X ）盲區(qū)是指始脈沖寬度內(nèi)不能發(fā)現(xiàn)缺陷的區(qū)域。78.（ O ）依據(jù)底面回波的高度變化判斷工件缺陷情況的檢測方法叫底波高度法。79.（ O ）垂直法檢測缺陷定位比較方便。80.（ O ）超聲檢測面的選擇應(yīng)優(yōu)先考慮有利于發(fā)現(xiàn)工件的缺陷。81.（ X ）橫波斜探頭發(fā)射的橫波波長短，檢測靈敏度低。82.（ X ）探頭頻率越高，超聲衰減大，不利于發(fā)現(xiàn)小缺陷。83.（

9、O ）檢測厚度大的工件適選用大晶片探頭。84.（ O ）橫波斜探頭檢側(cè)，當(dāng)工件厚度較大時，應(yīng)選用較小的K值。85.（ X ）耦合劑的聲阻抗低些好。86.（ X ）耦合劑層厚度越厚，透聲效果越好。87.（ O ）工件表面粗糙度大，超聲耦合效果差。88.（ O ）工件表面為凹曲面，耦合效果最差。89.（ O ）檢測設(shè)備的調(diào)整主要是對儀器進行時基線調(diào)整和檢測靈敏度調(diào)整。90.（ X ）檢測范圍應(yīng)大于時基線顯示的范圍。91.（ X ）檢測靈敏度的確定要從實際出發(fā)，根據(jù)檢測條件靈活掌握。92.（ O ）縱波直探頭檢測靈敏度的調(diào)整有：試塊調(diào)整法、工件底波調(diào)整法兩種。93.（ O ）雙晶探頭檢測時，隔聲層方

10、向應(yīng)與掃查方向垂直。94.（ X ）工件形狀雖然各不一樣，但探頭的掃查方式是不變的。95.（ X ）超聲時，探頭的掃查速度與工作量大小有直接關(guān)系。96.（ X ）鋸齒形掃查間距在最寬處可以大于探頭的有效直徑。97.（ O ）缺陷尺寸的評定包括：回波高度法、當(dāng)量評定法、缺陷指示長度測定法。98.（ O ）缺陷指示長度的測量法有：相對靈敏度法、絕對靈敏度法和端點峰值法。99.（ X ）缺陷的指示長度就是缺陷的實際長度。100.（ X ）缺陷的實際長度是固定的，測出的缺陷長度大小與靈敏度無關(guān)。101.（ O ）由于側(cè)壁干涉波的影響，探頭正對缺陷，反射回波低。102.（ O ）斜探頭入射角和折射角的測

11、定準確程度影響缺陷定位的準確程度。103.（ X ）距離一波幅曲線只能用來測定缺陷的指示長度。104.（ X ）不能采用距離一波幅曲線進行缺陷尺寸的評定。105.（ O ）數(shù)字式超聲檢測儀時基線調(diào)整，只進行零點測試即可。106.（ O ）檢測的基本過程是：熟悉標準規(guī)程了解工藝要求了解檢驗對象儀器系統(tǒng)調(diào)整按工藝要求實施檢驗評價缺陷寫報告。107.（ O ）按測定缺陷長度的方法不同，分為相對靈敏度測長和絕對靈敏度測長。108.（ X ）如果使用帶有缺陷自動報警和缺陷自動記錄裝置的超聲波檢測儀，在檢測過程中探頭移動速度就可以不限制。109.（ O ）耦合劑的用途是消除探頭與工件之間的空氣以利于超聲波

12、的透射。110.（ X ）在超聲波檢測中，相同的檢測靈敏度下，缺陷波幅決定于缺陷的大小、取向與類型，而在缺陷中的內(nèi)涵物對其回波高度大小沒有影響。111.（ X ）只有當(dāng)工件中缺陷在各個方向的尺寸均大于聲束截面時，才需要采用測長法確定缺陷長度。112.（ X ）超聲波檢測時，要求聲束方向與缺陷取向平行為宜。113.（ O ）超聲波在介質(zhì)中傳播過程中由于聲束的不斷擴散,造成單位面積通過的聲能減小,稱為擴散衰減。114.（ X ）垂直入射縱波法檢測時,找到缺陷的最大回波,則缺陷正好位于直探頭中心的正下方。115.（ O ）絕對靈敏度法測長法通常用于超聲波自動檢測中。116.（ O ）半波高度(6dB

13、)法主要適用于缺陷反射波只有一個高點。117.（ O ）超聲檢測使用的缺陷長度測定方法中，絕對靈敏度法的靈敏度越高，測得的缺陷長度就越大。118.（ X ）在超聲檢測中,依據(jù)缺陷回波的靜態(tài)波形就能準確判斷缺陷的性質(zhì)。119.（ 0 ）粗糙的入射表面會導(dǎo)致缺陷回波高度降低。120.（ 0 ）粗晶材料的超聲檢測可選用較低頻率的探頭。121.（ 0 ）由于工件表面粗糙，而造成聲波傳播的損耗，其表面補償dB值應(yīng)用實驗方法測定。122.（ 0 ）垂直超聲檢測時，工件探測面與底面不平行，底波將降低或消失。123.（ 0 ）一個缺陷按其規(guī)定方法測出的最大長度是該缺陷的指示長度。124.（ X ）可以認為,目

14、前用超聲波法確定內(nèi)部缺陷真實尺寸的問題已經(jīng)解決。125.（ 0 ）相同直徑的探頭其工作頻率高的指向性好。126.（ 0 ）在接觸法超聲波檢測中，應(yīng)對工件檢測面的表面光潔度提出要求。127.（ X ）實際檢測中，檢測面積大的工件時，為了提高檢測效率宜采用小晶片探頭。128.（ X ）工件表面比較粗糙時,為防止探頭磨損和保護晶片,宜選用硬保護膜。129.（ X ）不能探測到缺陷的范圍稱為近場區(qū)。130.（ X ）超聲波檢測使用的試塊只能用于調(diào)整檢測靈敏度和評估缺陷大小。131.（ X ）實際超聲檢測中，為提高掃查速度減少雜波的干擾，應(yīng)將超聲檢測靈敏度適當(dāng)降低。132.（ 0 ）采用當(dāng)量法確定的缺陷

15、尺寸一般小于缺陷的實際尺寸。133.（ X ）超聲波檢測中評定缺陷為2mm平底孔當(dāng)量,即意味著該缺陷的實際面積就是2mm的圓面積大小。134.（ 0 ）鋼板中的常見缺陷有分層、折疊白點等，裂紋較少見。135.（ 0 ）分層、折疊缺陷是在鋼板扎制過程中形成，缺陷基本都與表面平行。136.（ 0 ）鋼板的內(nèi)部缺陷延伸方向與軋制方向一致，多用縱波直探頭在軋制面上進行。137.（ 0 ）鋼板超聲檢測時，儀器水平掃描線的調(diào)整一般采用多次底波反射法。138.（ 0 ）鋼板超聲檢測時，缺陷的判斷是根據(jù)缺陷波的反射波高和底波的衰減情況來判定的大小。139.（ 0 ）鋼板超聲檢測時，應(yīng)用水浸多次重合法可以減少近

16、場區(qū)的影響。140.（ 0 ）鋼板超聲檢測時，掃查方式有：全面掃查、列線掃查、邊緣掃查、格子掃查。141.（ 0 ）鋼板超聲檢測常用靈敏度的調(diào)整方法有：試塊法、底波法。142.（ 0 ）在鋼板超聲檢測中一般根據(jù)缺陷波和底波來判別缺陷。143.（ 0 ）鋼板超聲檢測缺陷大小的測定：小于聲束截面直徑的缺陷用當(dāng)量法測定。大于聲束截面直徑的缺陷用測長法（6dB)測定缺陷存在的范圍。144.（ X ）鋼板超聲檢測時，雙晶探頭的移動方向應(yīng)與探頭的隔聲層平行。145.（ X ）鋼板超聲檢測時若無底波反射，則說明鋼板中無缺陷。146.（ X ）鋼板超聲檢測時無底波，但有多個紊亂的缺陷波，則說明鋼板有重皮缺陷，

17、其位置在和探頭不接觸的那一個表面。147.（ 0 ）在超聲檢測過程中，超聲檢測人員如認為某張鋼板中有白點缺陷存在，則此鋼板應(yīng)報廢。148.（ 0 ）在中薄板的直探頭多次反射法超聲檢測中，常會發(fā)現(xiàn)小缺陷的多次反射回波中第二次要比第一次高，這是由于多次回波之間的疊加作用所致。149.（ 0 ）厚板與中厚板超聲波檢測主要采用縱波法。150.（ 0 ）鋼板的直探頭超聲檢測中，顯示于示波屏上的缺陷回波圖形可以分為三種，它們是：底波多次反射和缺陷的多次反射波同時出現(xiàn)、只有缺陷的多次反射波出現(xiàn)、只有一些紊亂的波。151.（ 0 ）檢驗近表面缺陷最有效的方法是采用收發(fā)聯(lián)合雙晶探頭。152.（ X ）在超聲檢測

18、時聲束不垂直于平面缺陷時，則該缺陷表面越平滑，其缺陷反射回波就越高。153.（ X ）鋼板超聲波檢測時,只要根據(jù)有無缺陷波反射,即可判斷板中有無缺陷。154.（ X ）采用縱波法檢查鋼板時，探頭掃查移動方向以平行于鋼板壓延方向較好。155.（ X ）較薄鋼板采用底波多次法超聲檢測時，如出現(xiàn)“疊加效應(yīng)”，說明鋼板中缺陷尺寸一定很大。156.（ X ）當(dāng)鋼板中缺陷大于聲束截面時，由于缺陷多次反射波互相干涉容易形成“疊加效應(yīng)”。157.（ X ）在板材超聲檢測中，若出現(xiàn)缺陷的多次反射波，則說明板內(nèi)一定有白點。158.（ 0 ）在板材超聲檢測中，其耦合方式有直接接觸法和液浸法。159.（ X ）為提高

19、工作效率，應(yīng)采用較大直徑的探頭對較薄的鋼板進行檢測。 160.（ X ）鋼板超聲檢測中若出現(xiàn)缺陷的多次反射波，缺陷尺寸一定較小。161.（ 0 ）鋼板超聲檢測中若熒光屏上只有正常波形，僅表示鋼板中無當(dāng)量超過調(diào)整起始靈敏度的基準平底孔的缺陷。162.（ X ）鋼板中不允許存在的缺陷尺寸，主要是用當(dāng)量法測定的。163.（ 0 ）焊縫中常見缺陷有氣孔、夾渣、未焊透、未熔合和裂紋等。164.（ X ）焊縫超高、過寬、錯邊、塌陷、向母材過渡不圓滑等缺陷屬于焊縫內(nèi)部缺陷。165.（ 0 ）焊縫的超聲波檢測一般應(yīng)在外觀檢查合格之后進行。166.（ 0 ）容易產(chǎn)生延遲裂紋的焊縫應(yīng)在至少焊后24小時之后進行超聲

20、波檢測。167.（ 0 ）斜探頭的入射點是指聲束軸線與探測面的交點。168.（ 0 ）探頭前沿距離是指斜探頭入射點到探頭前端的距離。169.（ 0 ）測定探頭的入射點和前沿距離是為了便于給缺陷定位和測定探頭的折射角。170.（ 0 ）對于一個固定的斜探頭來說入射角是固定的，但其折射角（K）是隨探測材料聲速而變化的。171.（ X ）焊縫超聲檢測所用斜探頭,當(dāng)楔塊底面后部磨損較大時,其折射角將變小。172.（ 0 ）焊縫超聲檢測所用斜探頭,當(dāng)楔塊底面前部磨損較大時,其折射角將變小。173.（ 0 ）常用的有機玻璃楔探頭，當(dāng)溫度升高時，其折射角將增大。174.（ 0 ）對同一反射體，產(chǎn)生兩個最高反

21、射回波的現(xiàn)象稱為雙峰。雙峰是由于聲束分叉引起的。175.（ 0 ）因為雙峰會影響缺陷的判定，所以標準要求探頭主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。176.（ 0 ）焊縫斜探頭超聲檢測時，薄工件選大K值探頭，厚工件選小K值探頭，條件允許時盡量選用較大K值探頭。 177.（ 0 ）焊縫超聲檢測中，要根據(jù)焊縫結(jié)構(gòu)特點及焊縫形式容易產(chǎn)生的缺陷類型選擇探頭。178.（ 0 ）頻率的選擇原則是：焊縫的晶粒比較細小，可選用較高的頻率，對于板厚較小的焊縫，可采用較高的頻率；對于厚度較大，衰減明顯的焊縫，應(yīng)選用較低的頻率。179.（ 0 ）對T形焊縫除在腹板探測外還可在翼板和翼板兩側(cè)用直探頭或斜探頭探測。180.（

22、0 ）焊縫超聲檢測中距離波幅曲線的主要用處是：以此作為實際掃查時的缺陷當(dāng)量判定依據(jù)。181.（ 0 ）以波幅高度(dB值)為縱坐標，以深度距離為橫坐標的曲線為距離-波幅曲線。182.（ 0 ）實際超聲檢測時用CSKA試塊制作距離波幅曲線，并沒有考慮二次波超聲檢測時工件底面反射損失的影響。 183.（ 0 ）在焊縫超聲檢測中，掃查方式有多種，常用的掃查方式有以下幾種：鋸齒形掃查、左右掃查與前后掃查、轉(zhuǎn)角掃查、環(huán)繞掃查、平行或斜平行掃查、串列式掃查。184.（ 0 ）鋸齒形掃查時，探頭要作10°-15°轉(zhuǎn)動，是為了發(fā)現(xiàn)與焊縫分布傾斜的缺陷。185.（ 0 ）用左右掃查來確定缺陷

23、沿焊縫方向的長度，用前后掃查來確定缺陷的水平距離或深度。186.（ 0 ）利用轉(zhuǎn)角掃查，可以推斷缺陷的方向。187.（ 0 ）利用環(huán)繞掃查，可以推斷缺陷的形狀。188.（ 0 ）平行或斜平行掃查，是為了檢驗焊縫或熱影響區(qū)的橫向缺陷。189.（ 0 ）串列式掃查主要用于檢查厚板焊縫中與超聲檢測面垂直的內(nèi)部未焊透、未熔合等缺陷。190.（ 0 ）焊縫檢測測定缺陷當(dāng)量時，一定要找到缺陷反射波的最高點。191.（ 0 ）探測氣孔時，超聲波反射回波較低，這是因為氣孔通常是球形或圓柱形，其反射波是發(fā)散的。192.（ X ）焊縫的超聲波檢測都是采用斜探頭進行超聲檢測。193.（ X ）焊縫的超聲波檢測不應(yīng)當(dāng)

24、采用直探頭進行超聲檢測。194.（ X ）焊縫斜探頭超聲檢測中，裂紋等危害性缺陷的反射波幅一定會是很高的。195.（ 0 ）焊縫超聲超聲檢測中，由于焊縫余高的存在，探頭一般不放在焊縫上，而是將探頭放在鋼板上，超聲波傾斜射入焊縫進行超聲檢測。196.（ X ）為發(fā)現(xiàn)焊縫的橫向缺陷，應(yīng)垂直焊縫進行檢測。197.（ 0 ）檢測板厚較大的焊縫,常采用較小折射角的探頭,這是為了縮短聲程,減少聲路上的聲能衰減，提高探測靈敏度。198.（ 0 ）串列式超聲檢測實質(zhì)即為一發(fā)一收的雙探頭法。199.（ 0 ）焊縫中與聲束成一定角度的缺陷，缺陷回波不易被探頭接收。200.（ 0 ）斜探頭檢測焊縫時,按一定比例調(diào)整

25、超聲檢測儀掃描線的目的是為了方便確定缺陷位置。201.（ X ）斜探頭檢測焊縫時,按一定比例調(diào)整超聲檢測儀掃描線的目的是為了方便確定缺陷大小。202.（ 0 ）60°橫波入射到端角時超聲波能量反射最低，故應(yīng)避免使用。203.（ 0 ）探測根部未焊透缺陷時,一般不宜選用折射角為60°的斜探頭。204.（ 0 ）采用雙探頭串列法掃查焊縫時，位于焊縫深度方向任何部位的缺陷，其反射波均出現(xiàn)在熒光屏上同一位置。205.（ X ）采用大K值探頭時，在焊縫一側(cè)即可掃查到整個焊縫截面，因此沒有必要從焊縫另一側(cè)檢測。206.（ 0 ）超聲檢測時基掃描速度的顯示方法可分為聲程顯示調(diào)整法、水平距

26、離顯示調(diào)整法、深度顯示調(diào)整法。207.（ 0 ）在顯示屏上調(diào)整距離波幅曲線時,在檢測范圍內(nèi)不低于顯示屏滿刻度的20% 。208.（ X ）在焊接接頭超聲檢測中，可以用降低檢測面光潔度要求，而用提高耦合補償量的方法來達到檢測目的。209.（ 0 ）在焊接接頭超聲檢測中，探頭前端部可能堆積耦合劑而引起回波，若抹掉探頭前端部耦合劑則此波消失。210.（ 0 ）在焊接接頭超聲檢測中，為了確認焊角干擾回波,可用手指沾上耦合劑敲打焊角位置。 211.（ X ）端點6dB 法適用于測長過程中缺陷波中只有一個高點的情況。212.（ X ）在焊縫超聲檢測中，波幅在判廢線或判廢線以上的缺陷予以判廢和返修，因此無需

27、測長。213.（ 0 ）焊縫橫波檢測在滿足靈敏度要求的情況下，應(yīng)盡可能選用K值較大的探頭。214.（ 0 ）探頭環(huán)繞掃查時，回波高度幾乎不變化，則可判定為點狀缺陷。（0）215.（ 0 ）由于管座角焊縫中危害最大的是未熔合和裂紋等縱向缺陷，因此一般以縱波直探頭探測為主。216.（ 0 ）焊縫橫波檢測時，裂紋等危害性缺陷的反射回波一般很高并且包絡(luò)較寬。217.（ 0 ）超聲波檢測焊縫時,對所發(fā)現(xiàn)的缺陷必須測量其指示長度是為了便于評價與返修。218.（ 0 ）根據(jù)焊縫的實際情況，有時采用斜探頭進行超聲檢測，有時則應(yīng)當(dāng)采用直探頭進行超聲檢測。219.（ X ）焊縫超聲檢測中，裂紋的回波比較尖銳，探頭

28、轉(zhuǎn)動時，波很快消失。220.（ X ）小徑管通常采用V型坡口，未熔合多出現(xiàn)在坡口面上，一般一次波超聲檢測容易檢出，位置位于探頭一側(cè)。221.（ X ）在役部件超聲波檢測主要是探測疲勞裂紋和應(yīng)力腐蝕裂紋。222.（ X ）鋼鍛件的超聲檢測原則上安排在熱處理前進行。223.（ 0 ）靈敏度余量、盲區(qū)、分辨力是用來表示超聲波檢測儀與探頭組合性能的指標。224.（ X ）所有超聲波檢測，只需要用一次回波就能調(diào)節(jié)好時基線。225.（ 0 ）超聲波檢測作業(yè)中,完成時基掃描線校正(俗稱"定標")后,始波前沿應(yīng)落在水平刻度零點的左邊。226.（ X ）超聲波檢測作業(yè)中,完成時基掃描線校正(

29、俗稱"定標")后,始波前沿應(yīng)恰好落在水平刻度零點上。227.（ 0 ）CSK-IA試塊上，50和44mm兩孔的臺階可用來測定斜探頭的分辨力。228.（ X ）CSK-IA試塊可以用于測試縱波直探頭的分辨力，不能用于測試橫波斜探頭的分辨力。229.（ 0 ）超聲波檢測儀的動態(tài)范圍應(yīng)是回波幅度從100%下降至剛能辨認之最小值，一般不小于26dB。230.（ 0 ）利用CSK-IA試塊上50mm孔與兩側(cè)面的距離，僅能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。231.（ O ）JB/T4730-2005標準適用于制造和安裝承壓設(shè)備的無損檢測。232.（ X ）JB/T4730-2005標準不適用于

30、在用承壓設(shè)備的無損檢測。233.（ X ）超聲對比試塊是指用于超聲儀器系統(tǒng)性能校準的試塊。234.（ O ）掃查靈敏度主要是指實際檢測靈敏度。235.（ X ）基準靈敏度主要是指實際檢測靈敏度。236.（ O ）缺陷自身高度是指缺陷在壁厚方向的尺寸。237.（ X ）超聲檢測主要用于承壓設(shè)備表面和內(nèi)部缺陷的檢測。238.（ O ）當(dāng)采用兩種或兩種以上的檢測方法對承壓設(shè)備的同一部位檢測時，應(yīng)按各自的方法評定級別。239.（ O ）當(dāng)采用同種檢測方法按不同工藝進行檢測時，如果檢測結(jié)果不一致，應(yīng)以危險度大的評定級別為準。240.（ X ）超聲檢測通常能確定缺陷的位置和性質(zhì)。241.（ O ）進行承壓

31、設(shè)備無損檢測的機構(gòu)，均應(yīng)制定符合要求的無損檢測工藝規(guī)程。242.（ X ）無損檢測工藝規(guī)程包括工藝規(guī)程和工藝卡。243.（ O ）超聲檢測記錄和報告等保存期不得少于7年。7年后，若用戶需要可轉(zhuǎn)交用戶保管。244.（ X ）JB/T4730-2005標準規(guī)定，超聲檢測儀器應(yīng)每年檢定一次。245.（ O ）超聲檢測的記錄應(yīng)準確、完整，并經(jīng)相應(yīng)責(zé)任人員簽字認可。246.（ X ）JB/T4730.3-2005標準規(guī)定，從事超聲檢測的人員應(yīng)每年檢查一次視力，不得有色盲。247.（ O ）與承壓設(shè)備有關(guān)的支撐件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測，也可參照JB/T4730.3-2005標準。248.（ O ）JB/T47

32、30.3-2005標準不適用于TOFD超聲檢測。249.（ X ）JB/T4730.3-2005標準適用于非金屬材料制承壓設(shè)備的超聲檢測。250.（ O ）用于承壓設(shè)備超聲檢測的單斜探頭，主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。251.（ O ）超聲檢測所確定的檢測面應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充分檢查。252.（ O ）掃查靈敏度通常不得低于基準靈敏度。253.（ O ）耦合劑除了透聲性好外，還應(yīng)不損傷被檢工件的表面。254.（ X ）耦合補償是指由于材質(zhì)衰減引起的檢測靈敏度下降而進行的補償。255.（ O ）儀器調(diào)試時，應(yīng)使探頭主聲束垂直對準反射體的反射面。256.（ X ）應(yīng)每隔半年至少對儀器的水

33、平線性和垂直線性進行一次測定。257.（ X ）新購探頭若有性能參數(shù)說明書，使用前不用測定前沿距離。258.（ O ）斜探頭每次使用前，均應(yīng)測定前沿距離和K值。259.（ O ）檢測人員懷疑掃查靈敏度有變化時，應(yīng)對儀器和探頭系統(tǒng)靈敏度進行復(fù)核。260.（ X ）連續(xù)工作2小時以上時，應(yīng)對儀器和探頭系統(tǒng)靈敏度進行復(fù)核。261.（ O ）檢測工作結(jié)束時，應(yīng)對儀器和探頭系統(tǒng)靈敏度進行復(fù)核。262.（ O ）對儀器進行校準時，抑制功能應(yīng)處于關(guān)閉狀態(tài)。263.（ O ）JB/T4730.3-2005標準規(guī)定，檢測板厚620mm的鋼板，應(yīng)采用雙晶直探頭。264.（ O ）在檢測鋼板過程中，對缺陷有疑問或合

34、同雙方協(xié)議中有規(guī)定時，可采用橫波檢測。265.（ O ）JB/T4730.3-2005標準規(guī)定，鋼制全熔化焊焊接接頭的超聲檢測技術(shù)等級由低到高為A級、B級、C級。266.（ X ）采用一次反射法檢測時，探頭移動區(qū)應(yīng)不小于2KT。267.（ X ）JB/T4730.3-2005標準規(guī)定，焊接接頭若采用B級檢測必須磨平余高。268.（ O ）JB/T4730.3-2005標準規(guī)定，檢測焊接接頭時，熒光屏上的距離波幅曲線在檢測范圍內(nèi)不低于熒光屏滿刻度的20%。269.（ O ）JB/T4730.3-2005標準規(guī)定，檢測焊接接頭時，掃查靈敏度不低于最大聲程處的評定線靈敏度。270.（ X ）JB/T

35、4730.32005承壓設(shè)備無損檢測標準規(guī)定，為了防止缺陷漏檢，檢測焊縫中縱、橫向缺陷必須采用相同的掃查靈敏度。2. 單選題1.下列敘述中錯誤的是（ B ）。A.超聲波能量高。B.人耳能聽到超聲波。C.超聲波方向性好。D.超聲波穿透能力強。2.下列關(guān)于A型脈沖反射法超聲波檢測的敘述中錯誤的是（ A ）。A.熒光屏上看到的是透過缺陷后的聲波。B.從熒光屏上可以讀出缺陷的埋藏深度。C.從熒光屏上看不到缺陷的形狀。 D.從熒光屏上不能測出缺陷的實際尺寸。3.關(guān)于超聲檢測敘述中錯誤的是（ A ）。A.不適用于非金屬材料。 B.對人體及環(huán)境無害。C.可以馬上出結(jié)果，速度快。 D.對平行于檢測面的缺陷檢出

36、率高。4.下列敘述中錯誤的是（ C ）。A.超聲檢測對具有復(fù)雜形狀的工件較困難。 B.缺陷在工件中的取向影響檢測結(jié)果。C.缺陷在工件中的位置不影響檢測結(jié)果。 D.工件的晶粒度對檢測結(jié)果有較大影響。5.在對金屬材料的超聲波檢測中，使用最多的頻率范圍是：（ A ）A.0.55MHz。 B.11000KHz。 C.1025 MHz D.大于20000MHz。6.下列不同類型的超聲波中，能夠在固體、液體、氣體中傳播的是：（ B ）A.橫波。 B.縱波。 C.板波。 D.表面波。7.當(dāng)橫波在工件中傳播時，與波速無關(guān)的是：（ D ）A.工件的彈性。 B.工件的密度。 C.超聲波的波型。D.超聲波的頻率。8

37、.要在工件中得到純橫波，探頭入射角必須（ C ）A.大于第二臨界角。B.大于第一臨界角。C.在第一、第二臨界角之間。 D.小于第二臨界角。9.超聲波聲速c、波長與頻率f之間的關(guān)系為（ D ）A. c=f²。 B.f=c。 C.=cf。 D. c=f。10.鋼中縱波聲速為5900m/s，若頻率為2.5MHz，則其波長為：（ C ）A.5.9mm B.4.23mm C.2.36mm D.1.39mm11. 脈沖反射法超聲波檢測主要利用超聲波傳播過程中的（ B ）A.散射特性。 B.反射特性。 C.透射特性。 D.擴散特性。12.材料的聲阻抗影響超聲波（ D ）A.在傳播時的材質(zhì)衰減B.擴

38、散角大小。C.在傳播時的散射D.在異質(zhì)界面的反射和透射。13.當(dāng)超聲縱波由鋼垂直向水中入射時，其聲壓反射率小于0，這意味著：（ B ）A.透射波能量大于入射波能量。 B.反射波與入射波相位相反。C.超聲波無法入射到水中。 D.以上都不對。14.超聲波傳播過程中，遇到尺寸與波長相當(dāng)?shù)恼系K物時，將發(fā)生（ B ）A.只繞射，無反射。B.既反射，又繞射。C.只反射，無繞射。 D.以上都不對。15.超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時，其傳播方向的改變主要取決于（ D ）A.操作者施加于探頭的壓力大小。 B.超聲波的頻率。C.界面兩側(cè)介質(zhì)的衰減系數(shù)。 D.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速。16.一般的說，如果頻率相同，則在粗晶

39、材料中穿透能力最強的波型為（ B ）A.表面波。 B.縱波。C.橫波。D.三種波型的穿透力相同。17.一般均要求斜探頭楔塊材料的縱波速度小于被檢材料的縱波聲速，因為只有這樣才有可能（ A ）A.在工件中得到純橫波。 B.得到良好的聲束指向性。C.實現(xiàn)聲速聚焦D.減少近場區(qū)的影響。18.超聲波（活塞波）在工件中傳播，引起聲能衰減的原因是（ D ）A.工件對超聲波的吸收。 B.工件對超聲波的散射。C.聲束擴散。D.以上全部。19.斜探頭直接接觸法探測焊接接頭時，其橫波（ B ）A.在有機玻璃斜楔塊中產(chǎn)生。 B. 在耦合層與焊接接頭界面上產(chǎn)生。C.在有機玻璃與耦合層界面上產(chǎn)生。 D. 從晶片上直接產(chǎn)

40、生。20. 2.5P20Z直探頭在鋼中（縱波聲速為5900mm）近場區(qū)長度為（ C ）A.27.6mm。 B.21.2mm。 C.42.4mm。 D.以上都不對。21.利用計算法確定缺陷的當(dāng)量尺寸，前提條件是（ A ）A.聲程3倍近場區(qū)長度。 B.聲程近場區(qū)長度。C.聲程2倍近場區(qū)長度。 D.聲程未擴散區(qū)長度。22.遠場范圍的超聲波可視為（ C ）A.平面波。 B.柱面波。 C.球面波。 D.以上都不對。23.在探測條件相同的情況下，直徑比為2的兩個平底孔，其回波相差（ D ）A.3dB。 B.9dB。C.6dB。 D.12dB。24.下列關(guān)于同距離處大平底與平底孔的敘述中，正確的是（ A ）

41、A.在檢測條件相同的情況下，大平底的回波高于平底孔的回波。B.在檢測條件相同的情況下，大平底的回波不一定高于平底孔的回波。C.在檢測條件相同的情況下，大平底的回波低于平底孔的回波。D.在檢測條件相同的情況下，大平底的回波與平底孔的回波等高。25.對比試塊是指用于（ C ）的試塊。A.探頭性能校準B.儀器性能校準。 C.檢測校準。 D.儀器和探頭綜合性能校準。26.對缺陷定位、定量都有影響的因素是（ D ）A.儀器的影響。 B.探頭的影響。 C.工件的影響。 D.以上全部。27.橫波斜探頭雜波的產(chǎn)生與（ A ）有關(guān)。A.吸收塊和斜楔設(shè)計。B.壓電晶片。 C.外殼形狀。 D.電纜線長度。28.斜探

42、頭橫波檢測缺陷的評定包括（ D ） A.缺陷水平位置的確定。B.缺陷深度的確定。 C.缺陷尺寸的評定。D. 以上三項。29.橫波斜探頭檢測缺陷指示長度通常采用的掃查方式是（ C ）A.轉(zhuǎn)動掃查。 B.環(huán)繞掃查。 C.左右掃查。 D.前后掃查。30.斜探頭的入射點和折射角在使用中是（ A ）A.隨便用而變化。 B.固定不變。 C.使用方法正確就不變。 D.K值變?nèi)肷潼c不變。31.用半波高度對缺陷進行測量適用于（ A ）A.缺陷波又有一個高點。B.缺陷波有多個高點。C.缺陷長度較大。D.缺陷長度較小。32.采用絕對靈敏度測量法，操作時應(yīng)注意（ A ）A.儀器的靈敏度不變。B.儀器的靈敏度提高6dB

43、。C.缺陷最高波降到50%D.探頭必須平行移動。33.分別采用端6dB法和端點峰值法測同一個缺陷的長度，那么（ A ）A.采用端點6dB法測的長度大。 B.采用端點峰值法測的長度大。C.長度一樣大D.不一定哪個長度大曲線。34.缺陷當(dāng)量的評定方法有（ D ）A.試塊對比法。 B.當(dāng)量計算法。 C.AVG曲線法。 D.以上三項。35.采用底面回波高度法中F/B法表示缺陷大小，那么（ A ）A.F大缺陷大。 B.F大缺陷小。 C.B大缺陷大。 D.B小缺陷小。36.半擴散角大的探頭對缺陷定位（ B ）A.有利。 B.誤差大。 C.誤差小。 D.無影響。37.超聲檢測時，探頭掃查速度（ A ）A.不

44、能太快。 B、不能慢。 C、快、慢都不影響檢測結(jié)果。D、要與生產(chǎn)進度相匹配。38.A型掃描顯示中，從熒屏上可直接獲取的信息是（ C ）A.缺陷的性質(zhì)和大小。 B.缺陷的形狀和方向。C.缺陷回波的大小和傳播時間。 D.缺陷的高度。39.A型掃描顯示，盲區(qū)是指（ C ）A.近場區(qū)。B.聲束擴散角以外區(qū)域。 C.始脈沖高度和儀器阻塞時間。D.無缺陷區(qū)域。40.A型掃描顯示中，水平時基線代表（ B ）A.超聲回波的幅度大小。 B.聲波傳播時間。 C.缺陷當(dāng)量大小。 D.缺陷指示長度。41.發(fā)射電路輸出的電脈沖，其電壓可達（ C ）A.幾伏。 B.幾十伏。 C.百伏到上千伏。 D.上萬伏。42.發(fā)射脈沖

45、的持續(xù)時間叫（ B ）A.脈沖周期。 B.始脈沖寬度。 C.脈沖振幅。 D.儀器阻塞時間。43.探頭上標的2.5MHz是指（B）A.重復(fù)頻率。 B.探頭工作頻率 C.儀器頻寬。 D.探頭頻寬。44.儀器垂直線性好壞影響（ A ）A.缺陷當(dāng)量的比較。 B.缺陷位置的判定。 C.缺陷性質(zhì)的判定。 D.缺陷高度的測定。45.儀器“抑制”功能會影響超聲檢測儀的（ D ）A.垂直線性。 B.動態(tài)范圍。 C.波高比例。 D.以上全部。46.單晶直探頭UT與探測面十分接近的缺陷波高不穩(wěn)定，這是因為（ B ）A.盲區(qū)影響。 B.近場干擾。 C.超聲的波型轉(zhuǎn)換。 D.材料衰減大。47.表示超聲檢測儀與探頭組合性

46、的指標有（ B ）A.水平線性垂直直線型，衰減器精度。B.靈敏度余量、盲區(qū)、遠場分辨力。C.入射點 前沿距離。D.聲束偏斜角、K值。48.探頭晶片背面的阻尼塊會導(dǎo)致（ B ）A.靈敏度提高 B.分辨力提高。 C.分辨力降低。 D.盲區(qū)增大。49.超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度（ A ）A.取決于探頭、高頻、脈沖發(fā)生器和放大器。 B.取決于顯示系統(tǒng)。C.取決于壓電晶片厚度。 D.取決于儀器電路設(shè)計。50.在毛面或曲面工件上作直探頭超聲檢測時，應(yīng)使用（ B ）A.硬保護膜直探頭。 B.軟保護膜直探頭。 C.大晶片直探頭。D.大晶片高頻探頭。51.雙晶探頭最主要用途是（ A ）A.探測近表面缺陷。 B.精確測

47、量。 C.測量缺陷高度。 D.測量表面缺陷。52.對超聲檢測試塊的基本要求是（ D ）A.聲學(xué)性能與被超聲檢測工件基本一致。B.無>2mm平底孔當(dāng)量缺陷。C.材質(zhì)均勻。D.以上全部。53.超聲檢測選用大晶片尺寸的探頭，優(yōu)點是（ C ）A.曲面超聲檢測耦合損失小。 B.近場區(qū)小。 C.輻射聲能大且能量集中。D.擴散角大。54.超聲檢測采用較高的探測頻率，有利于（ D ）A.發(fā)現(xiàn)較小缺陷。 B.改善聲束指向性。 C.區(qū)分相鄰缺陷。 D.以上全部。55.工件表面形狀不同，耦合效果那種說法正確的是（ A ）A.平面效果最好。 B.凹曲面效果居中。 C.凸曲面效果最差。D.以上全對。56.頻率一定

48、，材料相同，橫波對小缺陷探測靈敏度高于縱波的原因是（ D ）A.與橫波質(zhì)點振動方向有關(guān)。B.橫波檢測雜波少。C.橫波指向性好。D.橫波波長短。57.對圓柱形、筒體工件探測時，缺陷定位應(yīng)（ B ）A.按平板對接焊縫方法。 B.作曲面定位修正。C.使用特殊探頭。D.脈沖高20%處。58.為了檢測出垂直于焊縫表面的面積型缺陷，應(yīng)選用（ A ）A.大K值探頭。 B.小K值探頭。 C.高頻探頭。 D.軟保護膜探頭。59.當(dāng)聲束指向不與平面缺陷垂直時，在一定范圍內(nèi)，缺陷尺寸越大，其反射回波越（ B ）A.高。 B.低。 C.不一定。 D.無影響。60.直探頭縱波超聲檢測工件上，下表面不平行，會產(chǎn)生（ A ）A.底面回波降低或消失。 B.底面回波正常。 C.底面回波變寬。 D.底面回波變窄。影響耦合的主要因素有（ D ）：A.耦合劑的聲阻抗。 B.工件粗糙度。 C.工件幾何的形狀。D.以上都是。62.考慮靈敏度補償?shù)脑蚴牵?D ）A.被檢工件厚度太大。 B.工件上、下表面不平行。C.耦合劑聲能損耗大。 D.工件與試塊材質(zhì)、表面光潔度有差異。