分子生物學實驗技能操作

1、前言請在使用本書。前仔細閱讀本說明感謝您Shimadzu 分析儀器工作站 "LabSolutions" (下文指 "本軟件" 或者 "LabSolutions")。本說明書記載了本的操作程序。請在使用本前仔細閱讀本說明書并遵照說明書的內容正確使用本。請妥善保管本說明書以備今后參考。本說明書記載內容以用戶擁有 Windows 的基本操作知識為前提。有關 Windows 的操作，請參考該書。附帶的使用說明本說明書是英文版 LabSolutions 理論說明書 (223- 60090) (修訂版C2012年3月) 的譯文。重要事項·

2、;如果用戶或使用場所發(fā)生改變，請將本說明書轉交給后續(xù)用戶。·如果本說明書丟失或損壞，請立即與您所在各區(qū)域內的島津分公司。·為確保安全操作，請委托您所在各區(qū)域內的島津分公司進行安裝、調試或搬動儀器后的重新安裝。Ó 2011-2012 Shimadzu Corporation.s.理論說明書 i·本說明書內容改動恕不另行通知。·本說明書內容力求準確，錯誤或遺漏敬請原諒。·本說明書歸株式會社島津制作所所有。本公司許可不得、部分或全部內容。·Microsoft、Windows、Windows 7 和 Windows XP 是美國Mi

3、crosoft Corporation在美國及其他的商標。Adobe、 Adobe 標志和 Adobe Reader 是美國 AdobeSystems Incorporated 在美國及其他的商標。在本說明書中記載的其他公司名及名是各公司的商標及商標。此外，本說明書中不對TM、 â標記做明確說明。·Microsoftâ Windowsâ 7操作系統(tǒng)被稱作 "Windows 7"。MicrosoftâWindowsâXP 專業(yè)版被稱作 "Windows XP"。·本備件的供貨期為停產后七

4、年。其后可能無法提供備件，敬請諒解。但非本公司生產備件的供貨期請參照有關廠家的規(guī)定。ii 理論說明書使用說明書使用說明書的目錄¢¢使用說明書的標記在本說明書中使用下列標記表示注意和注釋，同時在本說明書中使用了下列符號:理論說明書 iii標記含義!注意具有潛在，操作不當可能導致人身輕微或中度損害以及設備損壞。正確使用本的附加說明。參考標注參考頁數(shù)。 表示顯示在窗口中的按鈕、菜單選項、設置選項、窗口 / 子窗口以及圖標的名稱。舉例: 單擊 確定。名稱內容入門指南本指南按照實際的程序為新用戶描述基本操作方法。閱讀本指南了解本軟件的基本操作。操作說明書本說明書更詳細地描述了總體操作

5、和便利功能，例如，軟件的系統(tǒng)配置、數(shù)據(jù)處理、批處理、 結果的確認以及報告功能。管理說明書本說明書描述了本軟件的系統(tǒng)管理和數(shù)據(jù)管理。請在必要時參閱本說明書。安裝維護說明書本說明書描述了本軟件的安裝和維護。理論說明書本說明書描述了樣品成分的峰檢測和定量。請在必要時參閱本說明書。幫助單擊屏幕上的 幫助 按鈕，或者按下 F1 鍵，顯示屏幕參數(shù)的描述、具體問題的回答或者各種難題的解決方法。此外， 在錯誤信息窗口上單擊 幫助 按鈕，可以顯示該錯誤的詳情或者該錯誤的解決方法。咨詢前，建議您先參閱該信息。保修本的保修內容如下:1. 保修期2. 保修內容請咨詢您所在區(qū)域內的島津分公司。維修或更換零部件 (包設備

6、、零部件等短對保修期內因本公司造成的故障將括 USB 加密鎖)。但對個人計算機及其可能無法提供同一型號的。3. 責任范圍(1) 任何情況下本公司均不對用戶的誤工費、間接性損害和衍生性損害負任何責任。也不對因第向用戶提起的損壞賠償負任何責任。(2) 任何情況下本公司的最高賠償金額均以出廠價格或為限。4. 責除下列故障不屬于保修范圍:1)2)操作不當。非本公司或本公司指定的其他公司對本進行的維修或改裝。3)4)與非本公司指定的硬件或軟件一起使用。因計算機損壞。造成的本故障和包括基本軟件在內的軟件及數(shù)據(jù)5)因停電或電壓突然降的軟件及數(shù)據(jù)損壞。電源故障的故障和包括基本軟件在內6)7)8)錯誤關機造成的

7、故障和包括基本軟件在內的軟件及數(shù)據(jù)損壞。非本身造成的故障。因在高溫高濕、腐蝕性氣體或的故障。等惡劣環(huán)境中使用本而造成9)因火災、其他自然災害、放射性物質和有害物質的污染，以和等不可抗拒事故造成的故障。及、10) 安裝后自行移動或時造成的故障。11) 消耗品或等同于消耗品的零部件。注意: 軟盤和CD/DVD-ROM等介質也屬于消耗品。*如果附帶保修單或單獨簽署了包括保修事項在內的合同，則應遵守該文件記載的保修內容。對于具有特殊規(guī)格和系統(tǒng)的，保修期將另行規(guī)定。如果軟件附帶的 USB 加密鎖丟失，將不再重新頒發(fā)證。iv 理論說明書目錄1 數(shù)據(jù)處理參數(shù)1.1參數(shù)1參數(shù)和操作流程2半峰寬 (半峰寬)4斜

8、率 (確定峰檢測靈敏度和峰開始 / 結束)5斜率測試6漂移 (定義基線的斜率)8未分離峰10變參時間 (更改峰檢測參數(shù)的時間)121.1.11.1.21.1.31.1.41.1.51.1.61.1.71.2識別參數(shù)141.2.1 時間窗法和時間帶法141.2.2 絕對 / 相對保留時間法151.2.3 最接近峰的識別181.2.4分組211.3定量方法221.3.1 定量方法和計算公式 (含稀釋因子)231.3.2 定量方法和計算公式 (無稀釋因子)251.3.3 舍入方法271.4標準濃度的精確度和誤差281.4.1精確度 %281.4.2誤差 %282 校準曲線2.1校準曲線的類型29直線

9、29折線30二次曲線和三次曲線30平均 RF31指數(shù)31手動 RF (直線、指數(shù))32使用其他成分的校準曲線定量322.1.12.1.22.1.32.1.42.1.52.1.62.1.72.1.8最小二乘法和最小二乘法332.2校準曲線的校正362.2.1 使用標準濃度因子創(chuàng)建校準曲線362.2.2 多個目標成分的校準曲線37理論說明書 v目錄3 計算公式3.1噪音 / 漂移計算參數(shù)393.1.1 噪音計算方法393.1.2 檢測限 / 定量限系數(shù)413.1.3 漂移設置413.2QA / QC 參數(shù)42共用項目42校準曲線42質量44回收率44降解檢查45檢查噪音 / 漂移453.2.13.

10、2.23.2.33.2.43.2.53.2.63.33.43.53.63.7柱效計算公式46計算相對保留時間53峰谷比的計算方法54背景扣除運算55AART 保留時間計算方法573.7.1 化合物表中保留時間的計算方法573.7.2 化合物表中保留指數(shù)的計算方法604 峰純度計算方法4.1峰純度計算的基本原理634.1.1 計算相似度634.1.2 計算閾值644.1.3 計算峰純度654.1.4 峰純度計算結果舉例694.2峰純度分析的方法開發(fā)704.2.14.2.24.2.34.2.44.2.54.2.6指定多色譜圖波長70計算噪音光譜71設置波長范圍72設置校正系數(shù)72光譜背景補償73設

11、置 純度計算選項 選項744.3方法優(yōu)化744.3.1 方法開發(fā)744.3.2 方法驗證764.3.3 方法驗證結果的解釋764.3.4 應用舉例77vi 理論說明書1數(shù)據(jù)處理參數(shù)本章講述在本軟件數(shù)據(jù)分析中使用的數(shù)據(jù)處理參數(shù)和計算公式。在數(shù)據(jù)處理窗口的 方法視圖 中顯示數(shù)據(jù)處理參數(shù)。1本章包括如下部分:第1頁上的 "1.1參數(shù)"第14頁上的 "1.2 識別參數(shù)"第22頁上的 "1.3 定量方法"第28頁上的 "1.4 標準濃度的精確度和誤差"1.1參數(shù)根據(jù)保存在方法文件里的割以及刪除多余峰。參數(shù)進行處理，例如，目標

12、峰的檢測、基線波動的扣除、未分離峰的分本節(jié)講述參數(shù)和如何用這些參數(shù)對峰進行下文講述參數(shù)的三種不同設置方法:。 參考有關如何設置參數(shù)的參考操作說明書。理論說明書 1名稱說明參數(shù)指定了用于整個色譜圖的基本參數(shù)。通過 方法視圖 - 設置。時間程序在色譜圖上更改指定時間的參數(shù)。在 方法視圖 的 上單擊 程序 按鈕，顯示時間程序 子窗口，進入時間程序。手動為每一個峰手動指定參數(shù)。所設置的參數(shù)只適用于當前的數(shù)據(jù)文件。 在數(shù)據(jù)處理窗口中的 色譜圖視圖 上單擊鼠標右鍵，顯示 手動欄。1 數(shù)據(jù)處理參數(shù)1.1.1參數(shù)和操作流程按照下列步驟執(zhí)行。下表講述具體參數(shù)如何連接每個程序。2 理論說明書流程參數(shù)功能<

13、>: 缺省值 : 設置范圍說明第 1 步: 峰檢測根據(jù) 半峰寬 和 斜率 值， 首先檢測色譜圖上的峰開 始、峰結束和峰頂。對這些參數(shù)進行適當設置， 使軟件只能檢測必要峰，并可以排除噪音。半峰寬最小半峰寬<3> (: sec) 0.04 200指定在分析期間檢測到的半峰寬。小于半峰寬的峰 被看做噪音。半峰寬斜率峰檢測靈敏度(定義峰開始或峰結束)<1000>(: mV/min) 0 4 ´ 1011指定在峰檢測時用于參照的斜率。圖的斜率超過設定值的點被看做峰開始，而斜率低 于設定值的點被看做峰結束。執(zhí)行斜率測試以從基線噪音信號中獲得合適的 斜率 值。 參考第

14、6頁上的 "1.1.4 斜率測試"變參時間更改峰檢測參數(shù)的時間<1000>(: min) 0 1000將每個設定值 ´ 2n (n = 0 14) 的半峰寬 (半峰 寬) 增加一倍，而將峰檢測靈敏度 (斜率) 減半。使用這一參數(shù)可以促進峰，因為此時的峰隨時間變得更寬。如果設置為 "0" 可以自動調整參數(shù)。 參考第12頁上的 "1.1.7 變參時間 (更改峰檢測參數(shù)的時間)"第 2 步: 處理基線 (確定如何對重疊峰進行)基線為計算 () 峰面積，在重疊峰的第一個峰開始和最后一個峰結束之間假定基線。在基線波動很明顯

15、時，視情況設置 漂移 值。漂移定義基線斜率<0> = 自動處理(: mV/min) -107 107確定如何對重疊峰進行。在基線斜坡 (漂移) 上方存在重疊峰的峰谷時，可以用垂直線 (A) 將峰。在基線斜坡下方存在峰谷時，可以通過峰谷 (B) 劃出基線。AB如果設置為 "0"，本軟件會自動處理基線。也可設置負值。 參考第8頁上的 "1.1.5 漂移 (定義基線的斜率)"1.1參數(shù)1理論說明書 3流程參數(shù)功能< >: 缺省值 : 設置范圍說明第 3 步: 對未分離峰進行積分垂直分割拖尾在原則上，可以用一條垂直線自動將未分離峰分割。根

16、據(jù)設置條件，將作為拖尾峰上的峰進行自動處理。無自動處理-第 4 步: 計算峰面積計算 () 每個識別峰的峰面積。無自動處理-第 5 步: 刪除多余的小峰在屏幕和峰報告中，可以隱藏面積或高度小于設定值的峰。最小面積 /高度顯示的最小峰面積和峰高<1000>(: 計數(shù)) 0 107在 上，從 計算依據(jù) 中選擇 "面積" 或 "高度"，以定義要隱藏 (從屏幕、峰報告等) 的小峰。使用下列:面積 (mV sec)，高度 (mV)1 數(shù)據(jù)處理參數(shù)1.1.2 半峰寬 (半峰寬)在所有峰參數(shù)中，半峰寬 是最基本參數(shù)。本軟件根據(jù) 半峰寬 值對峰執(zhí)行檢測，在峰

17、的最優(yōu)條件下進行。在 半峰寬 中，指定分析期間檢測峰半峰寬 (在 50% 峰高處的峰寬)。將數(shù)值設置為等于或略小于色譜圖中銳峰的半峰寬。半峰寬 的測定是 sec。半峰寬圖1-1 半峰寬噪音寬度一般小于半峰寬。通過設置目標峰的 半峰寬，小于半峰寬度的峰將作為噪音排除。¢ 半峰寬 舉例譜圖的 半峰寬 設定值 30 與 10 進行比較。= 30: 只能檢測一個峰。下文將同半峰寬半峰寬= 10: 能檢測兩個峰。4 理論說明書1.1參數(shù)1.1.3 斜率 (確定峰檢測靈敏度和峰開始 / 結束)本軟件根據(jù)斜率對峰進行檢測 (確定峰開始 / 結束)。如果 斜率 被設置為q，如圖1-2中所示，斜率超過

18、角度 q 時為峰開始。相反，斜率低于角度 q時，為峰結束。如果將 斜率 設置為較大的數(shù)值，本軟件將只能檢測銳峰。相反，為較小的數(shù)值時，本軟件會檢測更寬的峰，有時，還將檢測出多個噪音。1圖1-2 峰檢測和 斜率¢ 斜率 示例下文將同譜圖的 斜率 設定值 1000 與 100000 進行比較。斜率 =1000: 將噪音峰檢測為微小峰。斜率 =100000: 只能檢測傾斜角大于 斜率 值的峰。理論說明書 51 數(shù)據(jù)處理參數(shù)1.1.4 斜率測試斜率測試可以從色譜圖上的基線噪音和漂移自動計算 斜率 值。有兩種方法可以獲得斜率值: (1) 在分析前使用檢測器信號顯示時的基線; (2) 使用已獲得

19、的色譜圖上的基線。¢ 分析前的斜率測試1在 或者在 窗口的色譜圖上單擊鼠標右鍵。在顯示的菜單中單擊 斜率測試。 窗口的 菜單中單擊 斜率測試。斜率測試開始。本測試將使用 10 倍 半峰寬 值和 10 秒中的較大值。2顯示 設置斜率 子窗口。在確認 斜率 框內的數(shù)值后，單擊 設置到參數(shù)。斜率測試結果 (設置斜率 子窗口內的 斜率 值) 即被保存為峰斜率 參數(shù)。關閉 設置斜率 子窗口。單擊 取消，可以只關閉 設置斜率 子窗口，而保存。每次斜率測試都能得到不同的斜率值。因此，在保存參數(shù)前，推薦略微增加 斜率 框內的數(shù)值。在斜率測試中得到的數(shù)值是基于分析前的基線，不能反映分析過程中的基線漂移

20、。因此，必須注意: 不要將斜率測試結果用于可能存在很大基線漂移的梯度 LC 和程序溫度 GC 分析中。此時，可以手動設置大于漂移值的 斜率 值，使基線峰被檢出。 參考參考 操作說明書，了解如何從基線 (斜率試驗) 計算斜率數(shù)值的信息。6 理論說明書1.1參數(shù)¢ 分析后的斜率測試1234567在 再 窗口中，打開包含色譜圖數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)文件。在 方法視圖 里單擊軟件進入編輯模式。(編輯)。1選擇 顯示 ，然后單擊(程序)。時間程序 子窗口。單擊 時間程序 子窗口中的(斜率測試)。將截取框移到色譜圖上時會顯示一條垂直線。將截取框移到基線斜率測試所需的起始點，然后單擊鼠標按鈕。選擇檢測不到峰、

21、短暫噪音和 漂移的部分。在起始點處出現(xiàn)一條垂直線。將截取框移到所需的測試終點，然后單擊鼠標按鈕。在終點出現(xiàn)一條垂直線。指定終點，使測試時間能長于 10 倍 半峰寬 值或者至少為 10 秒。根據(jù)在指定基線部分的噪音可以自動計算斜率值，然后顯示 斜率測試 子窗口。在確認顯示數(shù)值后，單擊 設置到參數(shù)。關閉 斜率測試 子窗口。斜率測試結果即被設置為 方法視圖 - 取消，在不保存數(shù)值的情況下關閉 斜率測試 子窗口。頁里的 斜率 參數(shù)。單擊一旦更改了 斜率 值，軟件就會重新執(zhí)行峰。理論說明書 71 數(shù)據(jù)處理參數(shù)1.1.5 漂移 (定義基線的斜率)使用 漂移 參數(shù)指定峰波動。如果 漂移 被設置為 "

22、;0"，可以根據(jù)設置對基線進行自動處理。如果 漂移 參數(shù)小，相鄰峰將被作為未分離峰，在峰谷處將被垂直分割。¢ 自動基線校正 (漂移 = 0)如果 漂移 設置為 "0"，可以根據(jù)圖1-3中所示的內容對基線進行校正。當峰谷的時間寬度 (T2) 小于前一峰的半峰寬 (T1) 時，將無法分離峰，而被垂直分割。(2) 當 T2 大于 T1 時， T2 將被作為基線處理。T1>T2: 作為未分離峰，被垂直分割。T1<T2: 作為分離峰。圖1-3 自動基線校正 (漂移 = 0)8 理論說明書1.1參數(shù)¢ 使用 漂移 進行基線校正將 漂移 設置為

23、"0" 以外的數(shù)值，即使寬度小 (T2)，峰谷也會被作為基線點處理。1圖1-4 使用非 "0" 漂移 進行基線校正根據(jù) 漂移 值定義的斜率 (圖中虛線) 實際由峰開始點 (S,) 劃出，如圖1-4中所示。如果峰結束點 (E) 位于斜率下方，將沿著峰開始點 (S) 到峰結束點 (E) 的對角線方向劃出基線。在將 漂移 參數(shù)設置為 "0" 以外的數(shù)值時，應該使用比分析時所出現(xiàn)的實際基線漂移更大的數(shù)值。如果數(shù)值較小，峰結束點將降至假定的斜率下方，導致所有的峰都被識別為未分離峰。¢ 漂移 舉例下文將同譜圖的 漂移 設定值 100 與

24、 5000 進行比較。漂移 = 100: 用垂直分割的峰劃出基線。漂移 = 5000: 用完全分離的峰劃出基線。理論說明書 91 數(shù)據(jù)處理參數(shù)1.1.6未分離峰在根據(jù) 半峰寬 和 斜率 檢測峰，并用 漂移 校正基線時，可能會出現(xiàn)未分離峰。本軟件會自動確定是將峰作為重疊峰垂直分割(垂直分割)，還是將這些峰作為出現(xiàn)在其他峰尾部 (拖尾) 的小峰處理。¢ 垂直分割原則上，可以在峰谷用垂直線將未分離峰分割。圖1-5 垂直分割¢ 拖尾軟件會根據(jù)峰高比、寬度比、峰谷高度和峰高的比值等伴隨峰是否落在拖尾峰上。漂移圖1-6 拖尾的條件如果符合下列所有條件，可認為伴隨峰落在峰尾。峰谷高度 H

25、3 在漂移線上方 (包括漂移 = 0 時)。H1 / H2 > 10 W1 / W2 > 3 H2 / H3 < 100伴隨峰充分小于主峰。伴隨峰窄于主峰。伴隨峰的起始位置高于峰高。如果符合下列任一條件，則不能認為伴隨峰落在峰尾。峰谷高度 H3 在漂移線下方。漂移 設置為 0，軟件檢測未分辨峰的終點。H1 / H2 < 10兩個峰之間沒有足夠的高度差。10 理論說明書1.1參數(shù)¢ 未分離峰的示例圖1-7為未分離峰自動的示例。峰 A 被作為主要拖尾峰處理。B 和 C 峰被處理成位于 A 峰的尾部。注意，尾部的未分離峰 (例如 C 峰) 將不作拖尾處理，而始終被垂

26、直分割。E、 F、 G 峰為未分離峰，但是因為不位于主峰的尾部，所以被垂直分割。1圖1-7 未分離峰的可以使用下列峰檢測標記來指示各種處:狀態(tài)。這些峰檢測標記可顯示在屏幕或報告中的峰表和色譜圖峰頂S:T:L:V:H:M:E:主要拖尾 / 前沿峰拖尾峰前沿峰未分離峰的第二個以后的峰 (垂直分割)水平校正基線峰手動的峰錯誤峰 (因為流量過大或流量不夠)理論說明書 111 數(shù)據(jù)處理參數(shù)1.1.7 變參時間 (更改峰檢測參數(shù)的時間)設置 變參時間 時，本軟件在每個 變參時間 數(shù)值 ´ 2n (n = 0 14) 處可以通過將 半峰寬 增加 2 倍、將斜率 減少 1/2 對峰進行檢測。如果 變

27、參時間 被設置為 "0"，軟件可以根據(jù)設置比例調整 半峰寬 和 斜率。要在分析時使這些參數(shù)保持不變，可以指定比分析更長的時間。通常將該參數(shù)保留為 1000 (缺省值)。在分析時，建議不要更改上述參數(shù)，并且使用比分析更長的時間。¢ 保持峰檢測參數(shù)恒定在梯度 LC 和程序溫度 GC 分析中，峰隨時間變得更寬。將 變參時間 值設置為大于分析時間，以保持 半峰寬 和 斜率 參數(shù)的恒定。¢ 使用 變參時間 更改峰檢測參數(shù)將 變參時間 設置為0，可以自動對隨時間變寬的峰進行2 倍，將 斜率 減少 1/2 (參考圖1-8)。變參時間 可將指定時間的 半峰寬 增加在 變

28、參時間 指定的時間，會再次更改這一參數(shù) (參考圖1-8)。圖1-8 更改 變參時間 時間的 半峰寬 和 斜率每次分析中 半峰寬 最多可以更改 15 次。同時包括使用值。時間程序里的 半峰寬 或者 變參時間 更改數(shù)將 變參時間 值設置成峰寬為第一個峰寬的兩倍時的時間。如果色譜圖中沒有出現(xiàn)這種峰 (峰寬為第一個峰的兩倍) 出現(xiàn)，可以根據(jù)下文方法計算 變參時間 值。舉例:圖1-9 變參時間計算12 理論說明書1.1參數(shù)12使用在色譜圖最先提取成分的銳峰的半峰寬作為 半峰寬 參數(shù)值。在本例中為2 sec。測量色譜圖最后提取成分的小峰的保留時間和半峰寬。在本例中，保留時間 = 20 min，半峰寬 =

29、30 sec。因為在 20 分鐘內峰寬增加了 15 倍，將半峰寬 = 20 min ¸ 15 倍 ´ 2 = 所需的時間大約為 2.7 min1計算公式為:¢ 自動調整 半峰寬 和 斜率 (變參時間 = 0)如果 變參時間 被設置為 "0"，隨著斜率越來越寬，軟件可以自動調整 斜率 和 半峰寬。在等梯度 LC 和等溫 GC 分析中，峰會隨時間變得更寬。在開始時不需要較高的峰檢測靈敏度 (低 斜率 值)，因為早期洗脫峰的斜率很大。更遲峰的寬度更大，軟件會自動減小 斜率 值，從而增加峰檢測靈敏度。同樣，在開始時，半峰寬很低，隨著峰的寬度增加，最小寬

30、度也增加。圖1-10 適合 變參時間 自動設置的色譜圖在下列情況下，將 變參時間 設置成比分析時間 (不是 0) 更長的數(shù)值。(1) 峰沒有象在梯度LC或者溫度可編程的GC分析中那樣隨時間變得更寬時。(2) 一個寬峰后出現(xiàn)一個銳峰時，如圖1-11。圖1-11 不適合 變參時間 = 自動設置的色譜圖理論說明書 131 數(shù)據(jù)處理參數(shù)1.2識別參數(shù)本軟件使用化合物表中的數(shù)值和識別參數(shù)來識別檢測到的峰。本節(jié)講述識別參數(shù)以及如何使用識別參數(shù)來識別檢測到的峰。 參考要設置識別參數(shù)，請參考 操作說明書。1.2.1時間窗法和時間帶法通過設置峰識別的容許時間窗，以識別峰。只要偏離處于時間容許范圍內，都可以將峰識

31、別為化合物表中 的峰。有兩種方法可設置時間容許范圍: 時間窗 或 時間帶。單擊單選按鈕，選擇其中法。¢ 時間窗法時間窗法定義了與峰保留時間成正比的容許時間范圍。保留時間越長，絕對峰容許范圍就越大 (參考圖1- 12)。使用這種方法可以一次指定所有峰的容許時間范圍。根據(jù)數(shù)值大小，在同一容許時間范圍內可以檢測 多個峰。時間窗法能用于峰寬和保留時間都隨時間而增加的等梯度 LC 和等溫 GC 分析。圖1-12 時間窗法14 理論說明書1.2 識別參數(shù)¢ 時間帶法時間帶法為每個峰定義了不同的容許范圍。使用這種方法可以為每個峰指定最佳的容許時間范圍 (參考圖1-13)。時間帶法用于峰寬

32、和保留時間保持相對不變的等梯度 LC 和等溫 GC 分析。1圖1-13 時間帶法可以在 化合物表 的 表樣式 子窗口中設置 時間帶 參數(shù)。識別上的 缺省帶時間 值可用作所有峰的缺省帶時間。1.2.2 絕對 / 相對保留時間法本軟件根據(jù)保留時間對峰進行識別?？梢詫⒈Ａ魰r間指定為絕對保留時間 (從分析開始時計算) 或者相對保留時間 (用參比峰校正)。選擇 絕對保留時間 或者 相對保留時間 作為 識別方法。¢ 絕對保留時間本軟件根據(jù)下列計算公式識別目標峰。這一計算公式使用設置的每個峰標準保留時間和容許時間范圍。無 需指定參比峰。這種方法一般用于峰的識別。T :t :W :目標峰的標準保留時

33、間目標峰實測保留時間< WT t目標峰的容許時間范圍理論說明書 151 數(shù)據(jù)處理參數(shù)¢ 相對保留時間本軟件可以先校正可能由分析條件的變化所導致的任何保留時間偏差，然后再進行峰的識別。首先，通過 絕對保留時間識別設置的參比峰。然后根據(jù)下列計算公式識別目標峰。這種方法可用于保留時間隨時間變化的連續(xù)分析，以及分析開始的時間誤差比較明顯的分析。T :T1 :t :t1 :W :目標峰的標準保留時間參比峰的標準保留時間目標峰實測保留時間 參照峰實測保留時間目標峰的時間容許范圍TT1- ´ tt1< W使用多個參比峰能更精確地校正保留時間。如果兩個參比峰之間存在目標峰 (參

34、考圖1-14)，可以根據(jù)下列計算公式，同時使用兩個參比峰對該峰進行識別。T :目標峰的標準保留時間參比峰 1 的標準保留時間ì t t1üT1 :T2 :t :t1 :t2 :W :T í´ (T2 T1) + T1 ý< Wît2 t1þ參比峰 2 的標準保留時間目標峰實測保留時間參比峰 1 實測保留時間參比峰 2 實測保留時間目標峰的時間容許范圍圖1-14 相對保留時間法使用下列計算公式得到相對保留時間:RRT :t1 :t1 t0相對保留時間目標峰的保留時間參比峰的保留時間死時間RRT = -t2 t0t :2t

35、0 :16 理論說明書1.2 識別參數(shù)¢ 參比峰和內標 (ISTD) 峰選擇參比峰，以識別具有相對保留時間的峰。選擇 ISTD，用內標法定量峰。1不論是使用時間窗法還是時間帶法，參比峰和 ISTD 峰都被識別為容許時間范圍內的最大高度 (或面積) 峰。如果在該容許時間范圍內存在比預期峰更大的峰，該峰有可能會被錯誤識別為參比 (或者 ISTD) 峰，從而引起其他峰的識別和定量錯誤。采用下列方法可以避免識別錯誤: (1) 選擇最大高度 (或面積) 峰作為參比峰或者 ISTD 峰; (2) 使用更小的容許時間范圍，使得比預期峰大的峰處于容許時間范圍內。圖1-15 參比峰的識別理論說明書 1

36、71 數(shù)據(jù)處理參數(shù)1.2.3 最接近峰的識別¢ 在相同容許時間范圍內的多個峰容許時間范圍峰 1峰 2圖1-16 在相同容許時間范圍內的多個峰同一容許時間范圍內出現(xiàn)多個峰時，可以使用 峰選擇 下拉菜單對峰進行識別。從 所有峰 、最接近峰 和最大峰、相似度、所有峰+相似度、最接近峰+相似度 和 最大峰+相似度中選擇。18 理論說明書參數(shù)說明所有峰將所有峰識別成化合物。最接近峰選擇并識別保留時間與化合物表中設置的標準保留時間最接近的峰。最大峰在峰容許寬度范圍內選擇并識別最大峰面積/高度的峰。根據(jù) 定量處理中 計算依據(jù) 的設置，決定使用峰面積還是峰高度。相似度 (PDA)在峰容許寬度范圍內，

37、并在該峰的保留時間光譜和化合物表的標準光譜中，選擇并將識別最大相似 度值的峰。在用內標法識別內標化合物時，忽略設置，將最大峰識別為內標化合物。所有峰+相似度 (PDA)在峰容許寬度范圍內，對大于相似度閾值的所有峰進行識別。最接近峰+相似度 (PDA)選擇一個最接近化合物表中的標準保留時間的峰，對該峰大于相似度閾值時進行識別。最大峰+相似度 (PDA)在峰容許寬度范圍內，選擇最大峰面積/高度的峰，對該峰大于相似度閾值時進行識別。 根據(jù) 定量處理中 計算依據(jù) 的設置，決定使用峰面積還是峰高度。1.2 識別參數(shù) 識別 ISTD 峰和參比峰時，即使 峰選擇 被設置為 所有峰 、最接近峰 或者 相似度

38、(PDA)，本軟件將始終收集容許時間范圍內的最大面積 (高度) 峰。1圖1-17 識別 ISTD 峰和參比峰 如果峰在2個以上的化合物表ID的容許時間范圍，將根據(jù) "在重疊時間容許范圍內的一個峰及其 ID 號"，先決定峰的ID號，然后再通過 峰選擇 進行峰識別。¢ 在重疊時間容許范圍內的一個峰及其 ID 號當不同 ID 號的多個容許時間范圍重疊，并有一個峰落在重疊的部分，本軟件將根據(jù)所用的時間窗法或時間帶法進行峰的識別。圖1-18 在兩個時間容許范圍內的峰 時間窗法該峰被識別為 ID 號，其標準保留時間與峰保留時間最接近。在 圖1-18的例子中，峰被識別為 ID

39、號 2。 時間帶法用最小的 ID 號對峰進行識別。在圖1-18的例子中，峰被識別為 ID 號 1。理論說明書 191 數(shù)據(jù)處理參數(shù)¢ ID 號不同的相鄰峰峰非常接近時，如圖1-19所示，很難指定每個峰的容許時間范圍?？梢允褂脮r間窗法，然后將每個峰保留 時間設置為同一個數(shù)值進行識別和定量。此時，將按照分辨率的順序識別峰。在時間窗法中，峰選擇 數(shù)值將變?yōu)闊o效。因此，如果檢測到多余峰， 峰和 ID 號可能會不一致，從而引起識別錯誤。峰 1峰 2圖1-19 相鄰峰20 理論說明書1.2 識別參數(shù)1.2.4 分組分組是根據(jù)類型 (例如同系物和同分異構體) 將峰進行分組，從而對每組進行計算。有兩

40、種分組類型: 組校準 和 濃度合計。1¢ 組校準本軟件首先得到分組峰的面積 (或高度) 總和。然后，創(chuàng)建該組的校準曲線以及執(zhí)行該組的定量。每組的面積 / 高度是指同一組化合物的面積 / 高度總和。¢ 濃度合計本軟件首先創(chuàng)建每個分組化合物的校準曲線，然后單獨對峰進行定量。隨后將所有分組化合物的濃度相加， 得到組濃度。理論說明書 211 數(shù)據(jù)處理參數(shù)1.3定量方法本軟件使用下列六種類型的定量方法。下文說明適用于每種定量方法的計算公式和舍入方法。22 理論說明書定量方法說明面積歸一法每一個峰面積 (高度) 對所有峰面積 (高度) 的比。校正面積歸一法使用標準樣品 (或者來自文獻)

41、，可以首先得到所有待測成分的靈敏度校正因子。使用該校正因子可以校正從未知樣品中測得的峰面積 (高度)。然后得到校正的峰面積 (高度) 對所有峰面積(高度) 的比。內標法通過向標準樣品和未知樣品中都添加 ISTD 物質，對目標峰進行定量。通過該方法可以得到穩(wěn)定結果，減少進樣誤差。(1) 將一定量的 ISTD 物質添加到含有已知量目標成分的標準樣品中。(2) 根據(jù)目標峰和 ISTD 峰之間的面積 (高度) 比和成分濃度比分析標準樣品和創(chuàng)建校準曲線。(3) 從含有相同 ISTD 物質的未知樣品中獲得目標峰和 ISTD 峰之間的面積比。(4) 使用從上述校準曲線 (第 2 步) 獲得的濃度比定量目標成

42、分。外標法 (絕對校準曲線法)創(chuàng)建校準曲線，顯示標準濃度和峰面積 (高度) 之間的關系。將未知樣品的峰面積 (高度) 標在該標準曲線上，即可定量目標成分。帶比例因子的校正面積歸一法將總定量數(shù)值計算成稀釋因子 (或者樣品體積，如果沒有設置稀釋因子) 而不是 100，得到每種成分的含量。標準添加法在相同條件下測量添加已知量標準成分的未知樣品和未添加已知量標準成分的未知樣品。使用測得的兩個峰面積 (高度) 間的差異對標準成分進行定量。本方法可用于目標成分的相對靈敏度隨溶劑組成或已有成分 (如頂空 GC) 而變化的分析。1.3 定量方法1.3.1 定量方法和計算公式 (含稀釋因子)在 系統(tǒng)配置 窗口中

43、，將 數(shù)據(jù)處理設置 子窗口的 稀釋因子 設置成 應用 或者 不使用。¢ X - 軸上的面積 / 高度123理論說明書定量方法一點兩點含量面積歸一法-含量 (%) = -Ai- ´ 100-åAi校正面積歸一法F1 = C1-A1F1 = C1- C2- -A1 A2F2 = C2 F1 ´ A2F1 A F2含量 (%) = -i-i-i´ 100å(F1i Ai + F2i)內標法F1 = -C1- ¤ - A1-Cisn1 Aisn1F1 = æ - C1- -C2-ö ¤ æ -

44、A1- -A2-öè - ø è - øCisn1 Cisn2Aisn1 Aisn2F2 = - C2- F1 ´ - A2-Cisn2Aisn2含量 =æF1i Ai + F2 ö ´ Wisn ´ DFACTè -iø -AisnWspl外標法(絕對校準曲線法)F1 = C1-A1F1 = C1- C2- -A1 A2F2 = C2 F1 ´ A2含量 = F1i Ai + F2i ´ DFACT-Wspl帶比例因子的校正面積歸一法F1 = C1-A1

45、F1 = C1- C2- -A1 A2F2 = C2 F1 ´ A2F1 A F2含量 (%) = -i-i-i´ DFACTå(F1i Ai + F2i)標準添加法-F1 = C1- C2- -A1 A2F2 = C2 F1 ´ A2含量 =-F2i- ´ DFACT-Wspl1 數(shù)據(jù)處理參數(shù)¢ X - 軸上的濃度A1 :A2 :C1 :C2 :Aisn1 : Aisn2 : Cisn1 : Cisn2 : Wspl1 : Wspl2 : F1i : F2i :Ai : Aisn : Wspl : Wisn :DFACT :標準 1

46、 的峰面積 (高度) 標準 2 的峰面積 (高度) 標準 1 的濃度 (成分量) 標準 2 的濃度 (成分量)標準 1 的第 N 個 ISTD 峰的峰面積 (高度) 標準 2 的第 N 個 ISTD 峰的峰面積 (高度) 標準 1 的第 N 個 ISTD 峰的濃度 (化合物量) 標準 2 的第 N 個 ISTD 峰的濃度 (化合物量) 標準 1 的樣品體積標準 2 的樣品體積斜率校正因子常數(shù)校正因子峰面積 (高度)第 N 個 ISTD 峰的面積 (高度)樣品體積第 N 個 ISTD 的量稀釋因子24 理論說明書定量方法一點兩點含量面積歸一法-含量 (%) = -Ai´ 100-

47、29;Ai校正面積歸一法F1 = A1-C1F1 = A1- A2- -C1 C2F2 = A2 F1 ´ C2(A F2 ) ¤ F1i含量 (%) = -i-i´ 100å(Ai F2)i ¤ F1i內標法F1 = A1 ¤ Aisn1-C1 ¤ Cisn1F1 = æ - A1- -A2-ö ¤ æ -C1- -C2-öè - ø è - øAisn1 Aisn2Cisn1 Cisn2F2 = - A2- F1 ´ -C

48、2-Aisn2Cisn2含量 = (Ai ¤ Aisn F2i) ´ Wis ´ DFACT- -F1iWspl外標法(絕對校準曲線法)F1 = A1-C1F1 = A1- A2- -C1 C2F2 = A2 F1 ´ C2含量 = Ai F2i ´ DFACT- -F1iWspl帶比例因子的校正面積歸一法F1 = A1-C1F1 = A1- A2- -C1 C2F2 = A2 F1 ´ C2含量 (%) = - (Ai F2) ¤ F1i - ´ DFACTå(AiF2i) ¤ F1i標準添加

49、法-F1 = A1- A2- -C1 C2F2 = A2 F1 ´ C2含量 = F2i ´ DFACT- -F1iWspl1.3 定量方法1.3.2 定量方法和計算公式 (無稀釋因子)¢ X - 軸上的面積 / 高度1理論說明書 25定量方法一點兩點含量面積歸一法-含量 (%) = -Ai- ´ 100-åAi校正面積歸一法F1 = C1-A1F1 = C1- C2- -A1 A2F2 = C2 F1 ´ A2含量 (%) = - F1i Ai F2i´ 100-å(F1i Ai + F2i)內標法F1 = -C1- ¤ - A1-Cisn1 Aisn1F1 = æ - C1- -C2-