材料現(xiàn)代測(cè)試分析技術(shù)ppt課件

1、基于電磁輻射及運(yùn)動(dòng)粒子束與物質(zhì)相互作用的各使樣品產(chǎn)生原始分析信號(hào)將原始分析信號(hào)轉(zhuǎn)換為更易于測(cè)量的信號(hào)并加以檢測(cè)轉(zhuǎn)變?yōu)榭杀蝗俗x出的信號(hào)被記錄或顯示出來(lái)將被檢測(cè)信號(hào)放大、運(yùn)算、比較等依據(jù)檢測(cè)信號(hào)與材料的特征關(guān)系，分析、處理讀出信號(hào)，依據(jù)檢測(cè)信號(hào)與材料的特征關(guān)系，分析、處理讀出信號(hào)，即可實(shí)現(xiàn)材料分析的目的即可實(shí)現(xiàn)材料分析的目的sin2HKLd晶胞的形狀大小晶胞的形狀大小X射線衍射分析方法的應(yīng)用多晶體單晶體使用方便使用方便,自動(dòng)化程度高自動(dòng)化程度高,尤其尤其是與計(jì)算機(jī)結(jié)合是與計(jì)算機(jī)結(jié)合,使其在強(qiáng)度使其在強(qiáng)度測(cè)量、花樣標(biāo)定和物相分析測(cè)量、花樣標(biāo)定和物相分析等方面具有更好的性能。等方面具有更好的性能。高能

2、電子衍射低能電子衍射透射式電子衍射反射式電子衍射高能電子衍射分析HEED入射電子能量10200keV透射電子顯微鏡TEM）可實(shí)現(xiàn)樣品選定區(qū)域的電子衍射分析X射線衍射與電子衍射(TEM上)分析方法的比較12EEEhv12EEhE12EEhEhEEhE12處于基態(tài)的分子與光子發(fā)生非彈性碰撞，獲得能量到激發(fā)態(tài)可得到斯托克斯線；反之，若分子處于激發(fā)態(tài)，與光子發(fā)生非彈性碰撞就會(huì)釋放能量而回到基態(tài)，得到反斯托克斯線.按強(qiáng)度對(duì)波長(zhǎng)的分布特點(diǎn)連續(xù)光譜線光譜帶光譜鈉蒸氣吸收光譜氫原子發(fā)射光譜苯蒸氣吸收光譜氰分子發(fā)射光譜吸收與發(fā)射光譜分類碳鏈結(jié)構(gòu)等),機(jī)化合物分析(如無(wú)機(jī)絡(luò)合物組成、結(jié)構(gòu)與穩(wěn)定性等)、液晶物相變化

3、分析等方面eMhMM 原子或分子M+ 離子e 自由電子2 光電子發(fā)射過(guò)程及其能量關(guān)系光電子發(fā)射過(guò)程光電子的產(chǎn)生(入射光子與物質(zhì)相互作用,光致電離產(chǎn)生光電子)輸運(yùn) (光電子自產(chǎn)生之處輸運(yùn)至物質(zhì)表面)逸出 (克服表面勢(shì)壘而發(fā)射至物質(zhì)外,物質(zhì)外環(huán)境為真空)AEEhksbkbEEh原子電離能rvkbEEEEh分子電離能固體的光電子發(fā)射能量關(guān)系 h h e-spksakEEAEEhksbkspbEEhkspbEhE由并設(shè)，有或 實(shí)際分析測(cè)試固體光電子能譜時(shí)，樣品與譜儀相連，兩者具有良好電接觸，則費(fèi)米能級(jí)相等 若已知譜儀功函數(shù)sp和入射光電子能量h ，并由譜儀測(cè)得光電子動(dòng)能Ek , 即可求得樣品中該電子結(jié)

4、合能Eb 固體導(dǎo)體樣品與譜儀的能量關(guān)系光電子能譜按激發(fā)能源分類射線光電子能譜(XPS)KL1L2,3e-初態(tài)終態(tài)2 俄歇電子強(qiáng)度密度(電子數(shù)) N(E) 或其微分dN(E)/dE電子能量(E)材料表面分析化學(xué)成分電子結(jié)構(gòu)長(zhǎng)于分離和定量定性(鑒別)能力強(qiáng)1 定義和分類色譜分析法是基于混合物中各組分氣相液相液相色譜LC）氣相色譜GC）將流動(dòng)相和樣品轉(zhuǎn)入裝有固定相的色譜柱即分離系統(tǒng)中通過(guò)各組分在固定相和流動(dòng)相之間分配系數(shù)的不同實(shí)現(xiàn)樣品組分的分離，使各組分隨流動(dòng)相以不同時(shí)間速度流出色譜柱，順序進(jìn)入檢測(cè)器以信號(hào)大小對(duì)時(shí)間作圖，記錄色譜流出曲線即色譜圖iiiiiihfmAfmhA絕對(duì)校正因子4 色譜分析法的特點(diǎn)高選擇性通過(guò)采用高選擇性固定相,使各組分間的分配系數(shù)產(chǎn)生較大差異,