4參數(shù)掃描實驗報告orCAD

1、實 驗 報 告 實驗名稱 參數(shù)掃描分析統(tǒng)計分析 課程名稱 電子電路計算機輔助設計院 系 部: 電氣與電子工程學院 專業(yè)班級：電子1301學生姓名： 韓輝 學 號: 1131230106同 組 人: 實驗臺號:指導教師： 高雪蓮 成 績： 實驗日期:華北電力大學參數(shù)掃描一、實驗原理1、溫度特性：溫度變化必然通過元器件參數(shù)值的變化導致電路特性的變化。PSpice中所有的元器件參數(shù)和模型參數(shù)都設定為常溫下的值（默認27C），在進行基本分析的同時，可以用溫度分析指定不同的工作溫度。2、參數(shù)掃描分析：對指定的每個參數(shù)變化值，執(zhí)行一次相應的直流、交流、瞬態(tài)電路分析?？梢赃M行參數(shù)掃描分析的參數(shù)有：獨立電壓源

2、、獨立電流源、溫度、模型參數(shù)和全局參數(shù)。3、參數(shù)掃描分析的步驟：設置全局變量：（1）.將目標元器件的值設置為參數(shù)，形式為參數(shù)名；（2）.從圖形符號庫中調(diào)出符號PARAM，在property設置中寫入?yún)?shù)名（不帶大括號），并為該參數(shù)名設置一個具體數(shù)值參數(shù)。參數(shù)掃描分析設置：Options中的Parametric sweep，選中Global parameter，parameter填入?yún)?shù)名。二、實驗結果1、RC電路溫度特性分析RC電路溫度特性分析實驗的電路圖如圖4.1.1所示：圖4.1.1 RC電路溫度特性分析實驗電路圖參數(shù)設置如圖4.1.2所示：圖4.1.2 溫度分析參數(shù)設置電路溫度特性分析結

3、果如圖4.1.3所示：圖4.1.3RC電路溫度特性分析結果2、差分電路溫度特性分析電路溫度特性分析實驗的電路圖如圖4.1所示：圖4.2.1 差分電路溫度特性分析實驗電路圖參數(shù)設置如圖4.2所示：圖4.2.2 溫度分析參數(shù)設置差分電路溫度特性分析結果如圖4.2.3所示：圖4.2.3差分電路溫度特性分析結果3、RC電路參數(shù)掃描分析RC電路參數(shù)掃描分析實驗的電路圖如圖4.3.1所示：圖4.3.1 RC電路參數(shù)掃描分析實驗電路圖參數(shù)設置如圖4.3.2所示：圖4.3.2 參數(shù)掃描參數(shù)設置RC電路參數(shù)掃描分析結果如圖4.3.3所示：圖4.3.3 RC電路參數(shù)掃描分析結果4、差分電路參數(shù)掃描分析差分電路參數(shù)

4、掃描分析實驗的電路圖如圖4.4.1所示：圖4.4.1 RC電路參數(shù)掃描分析實驗電路圖參數(shù)設置如圖4.4.2所示：圖4.4.2 參數(shù)掃描參數(shù)設置差分電路參數(shù)掃描分析結果如圖4.4.3所示：圖4.4.3 差分電路參數(shù)掃描分析結果統(tǒng)計分析一、實驗原理1、蒙特卡洛分析：首先根據(jù)實際情況確定元器件值分布規(guī)律，然后多次“重復”進行指定的電路特性分析，每次分析是采用的元器件值都從元器件值分布著隨機抽樣，這樣元器件值不完全相同，代表了實際情況。 完成多次電路特性分析后，對各次分析結果進行綜合統(tǒng)計分析，得到電路特性的分析變化規(guī)律。2、最壞情況分析：按引起電路特性向同一方向變化的要求，確定每個元器件的變化方向，然后再使這些元器件同時在相應方向按其可能的最大范圍變化。最壞情況是一種極端情況，在實際中出現(xiàn)概率極低。但是最壞情況分析反映了電路設計質(zhì)量好壞。若最壞情況下電路特性也滿足設計要求，那么電路成品率肯定很高。二、 實驗結果1、差分電路的蒙特卡洛分析差分電路的蒙特卡洛分析實驗電路圖如圖4.5.1所示：圖4.5.1 差分電路的蒙特卡洛分析實驗電路圖參數(shù)設置如圖4.5.2所示：圖4.5.2 蒙特卡洛分析參數(shù)設置差分電路的蒙特卡洛分析實驗的分析結果如圖4.5.3所示：圖4.5.3 差分電路的蒙特卡洛分析結果2、差分電路的最壞情況分析實驗電路圖如上圖4.