實驗一(與非門測試)

1、一：實驗目的 1、熟悉數(shù)字示波器和信號發(fā)生器的使用。 2、掌握CMOS和TTL與非門輸出高低電平的測試。 3、掌握CMOS和TTL與非門電壓傳輸特性的測試。 二：實驗儀器及設備 1、數(shù)字實驗箱(DSB-3)：1臺 2、萬用表(UT56)： 1只示波器(SS-7802A)： 1臺信號發(fā)生器(SG1692P)：1臺 3、元器件： 7400、4011 各一塊 4、導線：若干。 實驗一：與非門的測試1三：實驗原理 1. 輸出高電平和輸出低電平： 與非門的輸出高電平是指在一定測試條件(指定電源電壓和負載情況)下，輸入至少有一接低電平時輸出端的輸出電平。與非門的輸出低電平是指在一定測試條件(指定電源電壓和

2、負載情況)下，所有輸入接高電平時輸出端的輸出電平。2. 開門電平和關門電平：開門電平是指輸出由高電平轉換為臨界低電平時，所需要的最小輸入高電平；關門電平是指輸出由低電平轉換為臨界高電平時，所需要的最大輸入低電平。3. 電壓傳輸特性：電壓傳輸特性是指輸出電壓隨輸入電壓變化的關系曲線，它不僅可以用來檢查和判斷與非門的好壞，還可以從它直接讀出其主要靜態(tài)參數(shù)：VOH、VOL、VON、VOFF、VNH、VNL。 2 TTL與非門電壓傳輸特性 CMOS與非門電壓傳輸特性3四：實驗內容用數(shù)字萬用表測量與非門電路的輸出高、低電平：（）測量7400在帶負載和開路兩種情況下的VOH與VOL；（）測量4011在開路

3、情況下的VOH與VOL。2. 用示波器測量與非門的電壓傳輸特性曲線：（）測量7400的電壓傳輸特性曲線；（）測量4011的電壓傳輸特性曲線。4五：注意事項 1. TTL和CMOS與非門在使用時有很多不同之處（參見P115）。2. 本實驗所用集成塊為： 7400(P114) 4011(P114)3. 本實驗用示波器測傳輸特性與通常的測波形不同。(示波器和信號發(fā)生器入門操作參見后頁。)56示波器使用快速入門 口訣：自動掃描,旋鈕居中, 耦合選擇,垂直觸發(fā),電平調節(jié)。 自動（AUTO）掃描：使掃描方式（SWEEP MODE）選 AUTO掃描，無信號輸入時產生水平亮線。 旋鈕居中：使用前，先將常用旋鈕

4、放在中間位置，如波形亮度、字符亮度和垂直位移、水平位移等常用旋鈕居中。耦合（DC/AC）選擇：一般情況下，按DC/AC鍵，正確選擇CH1和CH2輸入信號的耦合方式；按COUPLE（耦合）鍵，使觸發(fā)信號耦合方式為AC。 垂直（VERT）觸發(fā)：按SOURCE（觸發(fā)源）鍵選VERT（垂直）觸發(fā)方式，這樣不管從CH1還是從CH2輸入信號，都能得到穩(wěn)定的波形顯示。 電平（TRIG LEVEL）調節(jié)：當波形不穩(wěn)定時，左右調節(jié)“TRIG LEVEL”（觸發(fā)電平）旋鈕，直到波形穩(wěn)定。 78例：輸出1KHz，幅度4V,偏置4V的上斜波。 操作步驟包括：波形設置、頻率設置、幅度設置和偏置設置。.開機儀器顯示標示字

5、符串，延時幾秒后，指示“0”，狀態(tài)指示“波形”、“正弦”；按設置鍵，數(shù)碼部分最低位閃爍，進入?yún)?shù)設置狀態(tài)；按上升鍵4次，數(shù)碼部分指示“0，狀態(tài)指示“波形”、“上斜”；信號的波形設置完成。.按設置鍵，儀器數(shù)碼指示“0001.0000”，狀態(tài)指示“頻率”、“KHz”。 (數(shù)碼部分最低位閃爍，進入?yún)?shù)設置狀態(tài)；按左鍵4次，數(shù)碼部分第5位閃爍，按上升鍵次，閃爍位指示2 ；輸出信號的頻率設置完成。).按設置鍵，儀器數(shù)碼指示“00.0”，狀態(tài)指示“幅度”、“V”。 數(shù)碼部分最低位閃爍，進入?yún)?shù)設置狀態(tài)；按左鍵一次，數(shù)碼部分第2位閃爍，按上升鍵4次，閃爍位顯示4 ；輸出信號的幅度設置完成。.按設置，儀器數(shù)碼指示“00.0”，狀態(tài)指示“偏置”、“V”。數(shù)碼部分最低位閃爍，進入?yún)?shù)設置狀