手機(jī)玻璃蓋板檢測(cè)

1、Confidential季機(jī)玻璃蓋板外觀缺陷檢測(cè)設(shè)備深圳市納研科技有限公司1深圳市納研科技有限公司概要公司名：深圳市納硏科技有限公司(Nanovision)地址:深圳市南山區(qū)集成電路設(shè)計(jì)應(yīng)用產(chǎn)業(yè)園成立:2007年7月15日由歸國留學(xué)生創(chuàng)立的、國家認(rèn)走的高新技術(shù)企業(yè)法人代表:董事長(zhǎng)葛仁彥員工數(shù)：36人(2018年5月末時(shí)點(diǎn))主要事業(yè):企業(yè)走位于面向高端的機(jī)器視覺設(shè)備開發(fā)商和系統(tǒng)主要產(chǎn)品：手機(jī)玻璃蓋板檢查裝置，手機(jī)外觀檢查設(shè)備等的開發(fā)制造銷售服務(wù)。專注于機(jī)器視覺技術(shù)硏究和產(chǎn)品開發(fā)具有走制特殊圖像處理算法的技術(shù)優(yōu)勢(shì)手機(jī)玻璃蓋板外觀缺陷檢測(cè)設(shè)備產(chǎn)品介紹：此款設(shè)備是以2.5D/3DCoverGlass為

2、對(duì)象而開發(fā)設(shè)計(jì)的外觀檢測(cè)設(shè)備。檢測(cè)性能方面,由我們獨(dú)自開發(fā)設(shè)計(jì)的三次元照明組件以及先進(jìn)的算法來實(shí)現(xiàn)其高度精準(zhǔn)的缺陷檢測(cè)能力。設(shè)備以導(dǎo)入客戶產(chǎn)線為己任,根據(jù)客戶要求逬行靈活、精巧的設(shè)計(jì)變更，全方位地滿足客戶現(xiàn)場(chǎng)需求。（根據(jù)客戶要求獨(dú)立OffLine型設(shè)備也可進(jìn)行走制設(shè)計(jì)。）ConfidentialConfidentialConfidential4手機(jī)玻璃蓋板外觀缺陷檢測(cè)設(shè)備設(shè)備性能參數(shù)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)指標(biāo)備注對(duì)象基板種類40mmx80mm130mmx210mm厚度(2.5D)0.4mm0.9mm(3D)0.4mm-3mmTactTime1.5sec-(根據(jù)客戶要求)含p面、只角檢測(cè)檢測(cè)精度分解清度21p

3、m/10.5nm面板固定方式無需固定檢岀能力漏檢率1%以下(5%)過檢率15%以下(20%40%)根據(jù)具體缺陷內(nèi)容面板搬送方式傳輸帶搬送(2.5D)RingbeltC/V(3D)RollerC/V檢測(cè)范圍基板全部(E卩刷部、視窗區(qū))的表面和里面外觀/P面(2.5D)/R角(3D)可檢出最小缺陷尺寸10.5|irrr全面板檢測(cè)對(duì)象視窗區(qū)黑點(diǎn)、油墨區(qū)針眼、漏光、異色、鋸齒、毛絲、溢墨、漏印、凹凸等含P面、知角檢測(cè)手機(jī)玻璃蓋板外觀缺陷檢測(cè)設(shè)備設(shè)備概姜：本設(shè)備時(shí)把:手機(jī)玻璃蓋板基板作為檢測(cè)對(duì)象的自動(dòng)化設(shè)備。重姜特點(diǎn)：縱橫前勞缺陷檢測(cè)的光源AOV同軸光源。異色缺陷檢測(cè)的光源系3D光源。P面/R角缺陷檢測(cè)

4、的光源3D光源。高亮度LED光源、高速切換發(fā)光的實(shí)現(xiàn)3DControllerPCBO檢測(cè)的蓋板的形狀:3D主要檢測(cè)的缺陷：表面劃痕（視窗區(qū)劃傷、絲印區(qū)劃傷）、P面不良（P面擦傷、P面劃傷、P面異色）、絲印區(qū)異色（臟污異色、珍珠粉缺少異色、縮油異色）、R角不良（R角擦傷、R角劃傷、R角異色）CNC振紋，LOGO區(qū)域及攝像孔區(qū)域絲印不良等外觀缺陷6設(shè)備基本規(guī)格（2.5D3D）00O00二15002.5D蓋板傳送方式：皮帶3D蓋板傳送方式:滾輪Confidential設(shè)備原理檢測(cè)原理該設(shè)備一次可獲取多張不同光源亮度，不同角度的蓋板影像，從而檢測(cè)出不同的缺陷。特別對(duì)2.5D玻璃的P面、R角的缺陷有獨(dú)創(chuàng)

5、的解決方案，同時(shí)支扌A3D玻璃檢測(cè)。了可檢出的不良缺陷包括：劃痕、牙邊、凹坑、絲印不良、雜質(zhì)、異色等。納研研發(fā)的玻璃面板檢測(cè)算法擁有多項(xiàng)發(fā)明專利,不需要手機(jī)玻璃蓋板的CAD設(shè)計(jì)圖案。具有自適應(yīng)性，可以根據(jù)蓋板的不同區(qū)域進(jìn)行自動(dòng)識(shí)別和分類。9缺陷檢測(cè)的原理（三次元照明系統(tǒng)）齊JIV-TECHNOLOGY自主硏發(fā)三次元照明系統(tǒng)（申請(qǐng)專利號(hào)：201810317450.1）:可以通過控制各個(gè)單元的曝光時(shí)機(jī)和曝光時(shí)間與相機(jī)進(jìn)行同步,從而獲取不同角度和不同地方的圖像信息。26通道30種角度可調(diào)節(jié)光源,可同時(shí)在10種不同照明條件下拍攝的照片中進(jìn)行缺陷檢測(cè)與分析（可根據(jù)客戶需進(jìn)行不同通道組合切換、亮度調(diào)整、增

6、加拍攝圖片數(shù)量等）。ConfidentialConfidential12知識(shí)產(chǎn)權(quán)（與玻璃蓋板檢測(cè)相關(guān)專利）專利名稱專利類型專利號(hào)/受理號(hào)禾I用機(jī)器視覺檢測(cè)陣列圖形細(xì)微缺陷的裝置實(shí)用專號(hào):ZL201220421721.6陣列圖形檢測(cè)的方法和裝置發(fā)明專號(hào):ZL201210302723.8種用于產(chǎn)品缺陷檢測(cè)以及質(zhì)量控制的圖像減薄和特征分類方法發(fā)明申請(qǐng)?zhí)?201510133310.5種MURA檢測(cè)的數(shù)學(xué)算法發(fā)明申請(qǐng)中種手機(jī)面板玻璃檢測(cè)的核心計(jì)算方法X41中工立口工:hR化:iABIII、ItxraeB土穴生iltKi閔/$：咸蒲發(fā)明申請(qǐng)中桿用J嚴(yán)口口獻(xiàn)陌也測(cè)以及丿貝星Jh制旳圖I家/械/専和特征分類方

7、法發(fā)明申請(qǐng)?zhí)?201510133310.514適用產(chǎn)品白玻璃絲印玻璃藍(lán)寶石鏡片電腦觸控板手機(jī)背板15設(shè)備檢出2.5D白片實(shí)際缺陷針對(duì)2.5D白片#該設(shè)備已驗(yàn)證可檢岀的不良項(xiàng)目包括:-平面劃傷.擦傷-P面劃傷、擦傷、白點(diǎn)-面崩、邊崩、孔崩、凹凸點(diǎn)-CNC振紋、壓痕、架子印以下為設(shè)備檢出典型不良缺陷圖片:（實(shí)際客戶圖片）16設(shè)備檢出2.5D白片實(shí)際缺陷圖片平面劃傷.擦傷:劃傷樣品1劃傷樣品2原圖檢出結(jié)果擦傷樣品1檢出結(jié)果擦傷樣品2原圖檢出結(jié)果17設(shè)備檢出2.5D白片實(shí)際缺陷圖片p面劃傷.擦傷:p面劃傷樣品1檢出結(jié)果檢出結(jié)果原圖p面劃傷樣品2（圓弧位置）原圖P面擦傷樣品1檢出結(jié)果P面擦傷樣品2（圓弧

8、位置原圖檢出結(jié)果18設(shè)備檢出2.5D白片實(shí)際缺陷圖片P面白點(diǎn).邊崩，CNC振紋,壓痕:原圖P面白點(diǎn)樣品1檢出結(jié)果檢出結(jié)果原圖CNC振紋樣品Confidential原圖邊崩樣品檢出結(jié)果原圖檢出結(jié)果19設(shè)備檢出2.5D白片實(shí)際缺陷圖片面崩.孔崩凹凸點(diǎn),架子印:原圖檢出結(jié)果面崩凹凸點(diǎn)檢出結(jié)果原圖檢出結(jié)果架子印原圖檢出結(jié)果 檢測(cè)實(shí)例 #檢測(cè)實(shí)例9素玻璃p面劃傷Diameter:0.886Area:0.030Diameter:2.159Area:0.217fy素玻璃劃傷Diameter:2.159Area:0.217ConfidentialConfidential水印Diameter:0.559Area:0.061Diameter:0.559Area:0.061 檢測(cè)實(shí)例ConfidentialConfidential絲印玻璃字母不良Diameter:0.210Area:0.032素玻璃擦傷Diameter:0.194Area:0.010絲印玻璃振紋Diameter:1.218Area:2.541 檢測(cè)實(shí)例 檢測(cè)實(shí)例絲印玻璃劃傷Diameter:0.601Area:0.041Diam