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第三章場(chǎng)效應(yīng)管主要內(nèi)容3.0
概述3.1
場(chǎng)效應(yīng)管工作原理3.2
場(chǎng)效應(yīng)管特征曲線3.3場(chǎng)效應(yīng)管使用注意事項(xiàng)3.4場(chǎng)效應(yīng)管等效電路3.5場(chǎng)效應(yīng)管電路分析方法第1頁(yè)第三章場(chǎng)效應(yīng)管3.0概述
場(chǎng)效應(yīng)管是一個(gè)利用電場(chǎng)效應(yīng)來(lái)控制電流半導(dǎo)體器件,也是一個(gè)含有正向受控作用半導(dǎo)體器件。它體積小、工藝簡(jiǎn)單,器件特征便于控制,是當(dāng)前制造大規(guī)模集成電路主要有源器件。場(chǎng)效應(yīng)管與三極管主要區(qū)分:
場(chǎng)效應(yīng)管輸入電阻遠(yuǎn)大于三極管輸入電阻。
場(chǎng)效應(yīng)管是單極型器件(三極管是雙極型器件)。
場(chǎng)效應(yīng)管受溫度影響小(只有多子漂移運(yùn)動(dòng)形成電流)第2頁(yè)一、場(chǎng)效應(yīng)管種類第三章場(chǎng)效應(yīng)管按結(jié)構(gòu)不一樣分為絕緣柵型場(chǎng)效應(yīng)管MOSFET結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管JFETP溝道N溝道P溝道N溝道P溝道N溝道MOSFET(按工作方式不一樣)耗盡型(DMOS)增強(qiáng)型(EMOS)
溝道:指載流子流通渠道、路徑。N溝道是指以N型材料組成區(qū)域作為載流子流通路徑;P溝道指以P型材料組成區(qū)域作為載流子流通路徑。第3頁(yè)第三章場(chǎng)效應(yīng)管二、場(chǎng)效應(yīng)管結(jié)構(gòu)示意圖及其電路符號(hào)
JFET結(jié)構(gòu)示意圖及電路符號(hào)SGDSGDP+P+NGSDN溝道JFETP溝道JFETN+N+PGSD返回第4頁(yè)耗盡型場(chǎng)管結(jié)構(gòu)示意圖及其電路符號(hào)第三章場(chǎng)效應(yīng)管SGUDIDSGUDIDPP+N+SGDUN+N溝道DMOSNN+P+SGDUP+P溝道DMOS
DMOS管結(jié)構(gòu)VGS=0時(shí),導(dǎo)電溝道已存在返回第5頁(yè)第三章場(chǎng)效應(yīng)管增強(qiáng)型場(chǎng)管結(jié)構(gòu)示意圖及其電路符號(hào)PP+N+N+SGDUNN+P+SGDUP+SGUDSGUD返回第6頁(yè)場(chǎng)效應(yīng)管電路符號(hào)第三章場(chǎng)效應(yīng)管SGDSGDSGUDIDSGUDIDUSGDIDSGUDIDNEMOSNDMOSPDMOSPEMOSMOS場(chǎng)效應(yīng)管MOSFET結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管JFET返回總結(jié)第7頁(yè)總結(jié):第三章場(chǎng)效應(yīng)管
場(chǎng)效應(yīng)管電路符號(hào)可知:不論是JFET或是MOSFET,它都有三個(gè)電極:柵極G、源極S、漏極D。它們與三極管三個(gè)電極一一對(duì)應(yīng)(其實(shí)它們之間對(duì)應(yīng)關(guān)系除了電極有對(duì)應(yīng)關(guān)系外,由它們組成電路特征也有對(duì)應(yīng)關(guān)系,這些我們?cè)诘谒脑俳o大家講):
G---BS---ED----CN溝道管子箭頭是指向溝道,而P溝道管子箭頭是背離溝道。返回第8頁(yè)3.1
場(chǎng)效應(yīng)管工作原理第三章場(chǎng)效應(yīng)管
JFET與MOSFET工作原理相同,它們都是利用電場(chǎng)效應(yīng)來(lái)控制電流,即都是利用改變柵源電壓vGS,來(lái)改變導(dǎo)電溝道寬度和高度,從而改變溝道電阻,最終到達(dá)對(duì)漏極電流iD控制作用。不一樣之處僅在于導(dǎo)電溝道形成原理不一樣。(下面我們以N溝道JFET、N溝道增強(qiáng)型為例進(jìn)行分析)
返回第9頁(yè)第三章場(chǎng)效應(yīng)管3.1.1
JFET管工作原理
N溝道JFET管外部工作條件VDS>0(確保柵漏PN結(jié)反偏)VGS<0(確保柵源PN結(jié)反偏)P+P+NGSD
+
VGSVDS+-PN結(jié)反偏才能有效控制導(dǎo)電溝道寬度和高度,從而才能有效控制電流。VGS對(duì)溝道寬度影響VDS對(duì)溝道寬度影響返回第10頁(yè)第三章場(chǎng)效應(yīng)管
VGS對(duì)溝道寬度影響|VGS|
阻擋層寬度若|VGS|
繼續(xù)溝道全夾斷使VGS=VGS(off)夾斷電壓若VDS=0NGSD
+
VGSP+P+N型溝道寬度溝道電阻Ron返回第11頁(yè)第三章場(chǎng)效應(yīng)管
VDS對(duì)溝道控制(假設(shè)VGS一定)VDS很小時(shí)
→
VGDVGS由圖
VGD=VGS-VDS所以
VDS→ID線性
若VDS→則VGD→近漏端溝道→
Ron增大。此時(shí)
Ron→ID變慢NGSD
+VGSP+P+VDS+-此時(shí)W近似不變即Ron不變VDS對(duì)溝道寬度影響第12頁(yè)第三章場(chǎng)效應(yīng)管
當(dāng)VDS增加到使VGD=VGS(off)時(shí)→A點(diǎn)出現(xiàn)預(yù)夾斷
若VDS繼續(xù)→A點(diǎn)下移→出現(xiàn)夾斷區(qū)此時(shí)
VAS=VAG+VGS=-VGS(off)+VGS(恒定),
VDS增加主要加在D、A之間形成很強(qiáng)電場(chǎng),由S向D行進(jìn)多子越過(guò)耗盡區(qū)抵達(dá)漏極形成電流NGSD
+VGSP+P+VDS+-ANGSD
+VGSP+P+VDS+-A若忽略溝道長(zhǎng)度調(diào)制效應(yīng),則近似認(rèn)為l
不變(即Ron不變)。所以預(yù)夾斷后:VDS→ID基本維持不變。
返回第13頁(yè)第三章場(chǎng)效應(yīng)管
N溝道EMOS管工作原理
N溝道EMOS管外部工作條件VDS>0
(確保柵漏PN結(jié)反偏)。U接電路最低電位或與S極相連(確保源襯PN結(jié)反偏)。VGS>0(形成導(dǎo)電溝道)PP+N+N+SGDUVDS-+-+
VGS柵襯之間相當(dāng)于以SiO2為介質(zhì)平板電容器。增強(qiáng)型管子溝道形成原理第14頁(yè)第三章場(chǎng)效應(yīng)管
3.1.2N溝道EMOSFET溝道形成原理
假設(shè)VDS=0,討論VGS作用PP+N+N+SGDUVDS=0-+VGS形成空間電荷區(qū)并與PN結(jié)相通VGS襯底表面層中負(fù)離子、電子VGS開啟電壓VGS(th)形成N型導(dǎo)電溝道表面層
n>>pVGS越大,反型層中n
越多,導(dǎo)電能力越強(qiáng)。反型層返回第15頁(yè)第三章場(chǎng)效應(yīng)管3.2
場(chǎng)效應(yīng)管伏安特征曲線(以NEMOSFET為例)
因?yàn)閳?chǎng)效應(yīng)管柵極電流為零,故不討論輸入特征曲線。共源組態(tài)特征曲線:ID=f
(VGS)VDS=常數(shù)轉(zhuǎn)移特征:ID=f
(VDS)VGS=常數(shù)輸出特征:+TVDSIG0VGSID+--
轉(zhuǎn)移特征與輸出特征反應(yīng)場(chǎng)效應(yīng)管同一物理過(guò)程,它們之間能夠相互轉(zhuǎn)換。NDMOSFET特征曲線NJFET特征曲線第16頁(yè)輸出特征曲線可劃分四個(gè)區(qū)域:
ID只受UGS控制,而與UDS近似無(wú)關(guān),表現(xiàn)出類似三極管正向受控作用。
非飽和區(qū)(又稱可變電阻區(qū))特點(diǎn):ID同時(shí)受UGS與UDS控制。ID/mAUDS/V0UDS=UGS–UTUGS=5V3.5V4V4.5VNEMOS管輸出特征曲線非飽和區(qū)、飽和區(qū)、截止區(qū)、擊穿區(qū)。
飽和區(qū)(又稱恒流區(qū))特點(diǎn):VGS(th)—開啟電壓,開始有ID時(shí)對(duì)應(yīng)VGS值
截止區(qū)(ID
=0以下區(qū)域)
擊穿區(qū)IG≈0,ID≈0第一章半導(dǎo)體器件返回第17頁(yè)第三章場(chǎng)效應(yīng)管
非飽和區(qū)特點(diǎn):ID同時(shí)受VGS與VDS控制。當(dāng)VGS為常數(shù)時(shí),VDSID近似線性,表現(xiàn)為一個(gè)電阻特征;ID/mAVDS/V0VDS=VGS–VGS(th)VGS=5V3.5V4V4.5V當(dāng)VDS為常數(shù)時(shí),VGSID,表現(xiàn)出一個(gè)壓控電阻特征。溝道預(yù)夾斷前對(duì)應(yīng)工作區(qū)。條件:VGS>VGS(th)V
DS<VGS–VGS(th)所以,非飽和區(qū)又稱為可變電阻區(qū)。(對(duì)應(yīng)三極管飽和區(qū))
3.2.1NEMOS管輸出特征曲線返回第18頁(yè)第三章場(chǎng)效應(yīng)管特點(diǎn):
ID只受VGS控制,而與VDS近似無(wú)關(guān),表現(xiàn)出類似三極管正向受控作用。ID/mAVDS/V0VDS=VGS–VGS(th)VGS=5V3.5V4V4.5V溝道預(yù)夾斷后對(duì)應(yīng)工作區(qū)。條件:VGS>VGS(th)V
DS>VGS–VGS(th)
考慮到溝道長(zhǎng)度調(diào)制效應(yīng),輸出特征曲線隨VDS增加略有上翹。注意:飽和區(qū)(又稱恒流區(qū))對(duì)應(yīng)三極管放大區(qū)。
飽和區(qū)飽和區(qū)工作時(shí)數(shù)學(xué)模型返回第19頁(yè)第三章場(chǎng)效應(yīng)管數(shù)學(xué)模型:若考慮溝道長(zhǎng)度調(diào)制效應(yīng),則ID修正方程:
工作在飽和區(qū)時(shí),MOS管正向受控作用,服從平方律關(guān)系式:其中:稱溝道長(zhǎng)度調(diào)制系數(shù),其值與l相關(guān)。通常=(0.005~0.03)V-1返回第20頁(yè)第三章場(chǎng)效應(yīng)管特點(diǎn):相當(dāng)于MOS管三個(gè)電極斷開。ID/mAVDS/V0VDS=VGS–VGS(th)VGS=5V3.5V4V4.5V溝道未形成時(shí)工作區(qū)條件:VGS<VGS(th)ID=0以下工作區(qū)域。IG≈0,ID≈0
擊穿區(qū)VDS增大到一定值時(shí)漏襯PN結(jié)雪崩擊穿
ID劇增。VDS溝道
l對(duì)于l較小MOS管穿通擊穿。
截止區(qū)返回返回第21頁(yè)第三章場(chǎng)效應(yīng)管VGS(th)=3VVDS
=5V
轉(zhuǎn)移特征曲線反應(yīng)VDS為常數(shù)時(shí),VGS對(duì)ID控制作用,可由輸出特征轉(zhuǎn)換得到。ID/mAVDS/V0VDS=VGS–VGS(th)VGS=5V3.5V4V4.5VVDS
=5VID/mAVGS/V012345
轉(zhuǎn)移特征曲線中,ID≈0
時(shí)對(duì)應(yīng)VGS值,即開啟電壓VGS(th)
。
3.2.2
NEMOS管轉(zhuǎn)移特征曲線返回第22頁(yè)第三章場(chǎng)效應(yīng)管ID/mAVDS/V0VDS=VGS–VGS(th)VGS=1V-1.5V-1V-0.5V0V0.5V-1.8VID/mAVGS/V0VGS(th)VDS>0,VGS
正、負(fù)、零均可。外部工作條件:DMOS管在飽和區(qū)與非飽和區(qū)ID表示式與EMOS管相同。PDMOS與NDMOS差異僅在于電壓極性與電流方向相反。
NDMOS管伏安特征返回第23頁(yè)第三章場(chǎng)效應(yīng)管
NJFET管伏安特征ID/mAVDS/V0VDS=VGS–VGS(off)VGS=0V-2V-1.5V-1V-0.5VID=0時(shí)對(duì)應(yīng)VGS值夾斷電壓VGS(off)。VGS=0時(shí)對(duì)應(yīng)ID值飽和漏電流IDSS。PJFET與NJFET差異僅在于電壓極性與電流方向相反在飽和區(qū)時(shí)數(shù)學(xué)模型:返回第24頁(yè)第三章場(chǎng)效應(yīng)管
VDS極性取決于溝道類型N溝道:VDS>0,P溝道:VDS<0
VGS極性取決于工作方式及溝道類型增強(qiáng)型MOS管:VGS
與VDS
極性相同。耗盡型MOS管:VGS
取值任意。
飽和區(qū)數(shù)學(xué)模型
飽和區(qū)(放大區(qū))外加電壓極性及數(shù)學(xué)模型結(jié)型FET管:VGS與VDS極性相反。MOSFET:JFET:第25頁(yè)幾個(gè)FET管子轉(zhuǎn)移特征曲線比較:第三章場(chǎng)效應(yīng)管N溝道:VDS>0ID(mA)VGS(V)VGS(th)VGS(th)VGS(off)VGS(th)VGS(th)VGS(off)P溝道:VDS<0
ID(mA)VGS(V)結(jié)型結(jié)型耗盡型耗盡型增強(qiáng)型增強(qiáng)型增強(qiáng)型MOS管:
VGS
與VDS
極性相同。耗盡型MOS管:
VGS
取值任意。結(jié)型FET管:
VGS與VDS極性相反。返回第26頁(yè)第三章場(chǎng)效應(yīng)管3.3場(chǎng)效應(yīng)管使用注意事項(xiàng)
因?yàn)镸OS管COX很小,所以當(dāng)帶電物體(或人)靠近金屬柵極時(shí),感生電荷在SiO2絕緣層中將產(chǎn)生很大電壓VGS(=Q/COX),使絕緣層擊穿,造成MOS管永久性損壞。MOS管保護(hù)辦法:分立MOS管:各極引線短接、烙鐵外殼接地。MOS集成電路:TD2D1D1D2首先限制VGS間最大電壓,同時(shí)對(duì)感生電荷起旁路作用。第27頁(yè)第三章場(chǎng)效應(yīng)管3.4場(chǎng)效應(yīng)管等效電路
3.4.1FET直流簡(jiǎn)化電路模型(與三極管相對(duì)照)
場(chǎng)效應(yīng)管G、S之間開路,IG0。三極管發(fā)射結(jié)因?yàn)檎鴮?dǎo)通,等效為VBE(on)。
FET輸出端等效為壓控電流源,ID受VGS控制。三極管輸出端等效為流控電流源,滿足IC=
IB。SGDIDVGSSDGIDIG0ID(VGS)+-VBE(on)ECBICIBIB+-詳細(xì)電路分析小信號(hào)等效電路第28頁(yè)第三章場(chǎng)效應(yīng)管例1
已知nCOXW/(2l)=0.25mA/V2,VGS(th)=2V,求ID解:假設(shè)T工作在放大模式VDD(+20V)1.2M4kTSRG1RG2RDRS0.8M10kGID帶入已知條件解上述方程組得:ID=1mAVGS=4V及ID=2.25mAVGS=-1V(舍去)VDS=VDD-ID(RD+RS)=6V所以
驗(yàn)證得知:VDS>VGS–VGS(th),VGS>VGS(th),假設(shè)成立。返回第29頁(yè)3.4.2
小信號(hào)電路模型第三章場(chǎng)效應(yīng)管FET管高頻小信號(hào)電路模型
當(dāng)高頻應(yīng)用、需計(jì)及管子極間電容影響時(shí),應(yīng)采取以下高頻等效電路模型。gmvgsrdsgdsidvgs-vds++-CdsCgdCgs柵源極間平板電容漏源極間電容(漏襯與源襯之間勢(shì)壘電容)柵漏極間平板電容簡(jiǎn)化小信號(hào)等效電路第30頁(yè)第三章場(chǎng)效應(yīng)管gmvgsrdsgdsicvgs-vds++-
rds為場(chǎng)效應(yīng)管輸出電阻:
因?yàn)閳?chǎng)效應(yīng)管IG0,所以輸入電阻rgs。而三極管發(fā)射結(jié)正偏,故輸入電阻rbe較小。與三極管輸出電阻表示式
相同。rbercebceibic+--+vbevceβibMOS管簡(jiǎn)化小信號(hào)電路模型(與三極管對(duì)照)
返回gm含義第31頁(yè)第三章場(chǎng)效應(yīng)管FET跨導(dǎo)得
通常
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