110kV高壓支持瓷絕緣子超聲波檢測導(dǎo)則

110kV高壓支柱瓷絕緣子現(xiàn)場超聲波檢測導(dǎo)則（草稿）1適用范圍本導(dǎo)則適用于110kV及以上和直徑為60?250mm的高壓實(shí)心支柱瓷絕緣子安裝和檢修中的超聲波檢測。本導(dǎo)則僅適用于以A型脈沖反射式超聲波探傷儀，用接觸法對瓷件進(jìn)行探傷。本導(dǎo)則適用爬波方式探傷，縱波探傷方式可以作為一種輔助檢測手段予以應(yīng)用。2引用標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)范GB8287.1-98高壓支柱瓷絕緣子第一部分：技術(shù)條件GB/T2900.8-1995GB/T5616-5616電工術(shù)語絕緣子JB/Z9674-1999超聲波探測瓷件內(nèi)部缺陷ZBY230-84A型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件ZBJ04001-87A型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能測試方法ZBY231-84超聲檢測用探頭性能測試方法3術(shù)語本導(dǎo)則所用術(shù)語除因符合GB/T2900.8規(guī)定外，還有以下術(shù)語:3.1超聲波探傷利用超聲波的指向性和傳播規(guī)律來檢查瓷件中存在的缺陷情況。3.2縱波介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)振動方向與波的傳播方向一致的波3.3爬波表面下的縱波3.4晶片探頭中電聲轉(zhuǎn)換元件3.5掃查方式探傷時探頭移動的方式3.6聲程聲波在工作中傳播的路程3.7缺陷波缺陷引起的反射波的顯示信號3.8DAC曲線模擬瓷體某一深度裂紋的反射波高的曲線4一般規(guī)定4.1從事高壓支柱瓷絕緣子超聲波檢測的人員，必須經(jīng)過有關(guān)部門培訓(xùn)合格后方可工作。4.2超聲探傷儀的要求4.2.1為了使現(xiàn)場高壓支柱瓷絕緣子超聲波檢測簡便、快捷、準(zhǔn)確，必須選用可記錄的數(shù)字便攜式超聲波探傷儀。4.2.2工作頻率1?5MHz。4.2.3標(biāo)稱探測深度應(yīng)不小于被探試品的高度。4.2.4探傷儀靈敏度大于等于100dB,采樣頻率大于等于100MHz，可記錄波形大于等于100幅，顯示刷新率大于等于60Hz，聲速范圍在635~15240M/s。4.2.5探傷儀必須帶有通信接口，可通過界面程序與計算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)和波形交換，也可與打印機(jī)相連(DPU—44)。4.2.6當(dāng)探傷儀發(fā)射功率較大，且儀器電壓變化時，水平線性下不應(yīng)有明顯的變化。4.3探頭的要求4.3.1在1?5MHz頻率范圍內(nèi)選擇探頭頻率，推薦采用2.5MHz；探頭晶片直徑可根據(jù)需要選擇。4.3.2探頭聲速軸線水平偏離角不大于2°，主聲速垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。4.3.3相同型號的探頭靈敏度誤差不大于±2dB。4.4人工標(biāo)準(zhǔn)缺陷試塊4.4.1試塊應(yīng)采用與被檢工件相同或相近似聲學(xué)性能的材料制成。4.4.2試塊要求材質(zhì)均勻、表面光滑、沒有影響使用的缺陷，在顯示屏上雜亂反

射信號較弱，波形清晰可辨。4.4.3試塊的尺寸和制作見附錄A。5檢測前的準(zhǔn)備5.1檢測采用爬波方式。5.2在高壓支柱瓷絕緣子下法蘭口內(nèi)和第一瓷沿之間距離允許的情況下，選用晶片尺寸大的探頭，提高靈敏度和檢測速度。5.3根據(jù)高壓支柱瓷絕緣子電瓷類別（高強(qiáng)瓷、普通瓷）選擇探頭5.4采用清潔、粘稠適宜不流不淌，且好清洗的耦合劑5.5選擇已經(jīng)制作完畢的DAC曲線，一般選擇割口深度為1mm的DAC曲線。6測試6.1選用合適的登高作業(yè)用具，110kV和220kV支柱絕緣子探傷宜選用人字雙梯或操作平臺，安全帶嚴(yán)禁系在支柱絕緣子上；500kV支柱絕緣子探傷宜選用高架車。6.2支柱絕緣子探測表面應(yīng)處理干凈且光滑。6.3超聲波檢測范圍在每柱支柱瓷絕緣子的下法蘭口內(nèi)和第一瓷沿之間。6.4掃查方式6.4.1爬波掃查方式按圖1進(jìn)行，徑向旋轉(zhuǎn)掃查。絳爻移對力向藉E族入射力向絳爻移對力向藉E族入射力向法蘭圖1爬波斜角超聲波檢測6.4.2縱波掃查方式按圖2進(jìn)行，軸向移動探頭同時徑向旋轉(zhuǎn)。瓷柱探頭移動方向超聲波八射方向瓷柱探頭移動方向超聲波八射方向圖2縱波斜角超聲波檢測6.4.3各種掃查方式下，探頭至少徑向緩慢移動一周，當(dāng)出現(xiàn)缺陷波時應(yīng)確認(rèn)并記錄。6.5在掃查過程中，無缺陷回波如圖3波所示，當(dāng)回波在DAC曲線范圍內(nèi)某處出現(xiàn)較高波峰的時，該柱支柱絕緣子存在缺陷，按判廢依據(jù)進(jìn)行判斷。圖3：無缺陷回波波形6.6徑向移動探頭，缺陷回波波峰超過DAC曲線時在探頭前沿中部所對應(yīng)的瓷件上，左右移動探頭，找到缺陷波波峰回落到DAC曲線上時瓷件所對應(yīng)的兩點(diǎn)，該兩點(diǎn)連線即為裂紋的長度。7判廢依據(jù)7.1超聲波檢測用lmm人工割口DAC曲線作為判廢依據(jù)。7.2缺陷波波峰超過DAC曲線且長度超過5mm時該支柱絕緣子存在裂紋，判廢。7.3旋轉(zhuǎn)瓷柱缺陷波波峰超過DAC曲線時該絕緣子判廢。7.4缺陷波波峰超過DAC曲線且長度未超過5mm、缺陷波波峰接近DAC曲線或在DAC曲線尾部外有較高波峰的支柱絕緣子已表面損傷，需要跟蹤、記錄存檔，下次檢測看裂紋深度或長度是否變化，裂紋深度或長度增加判廢。附錄A高壓支柱瓷絕緣子超聲波檢測人工標(biāo)準(zhǔn)缺陷試塊附錄A人工標(biāo)準(zhǔn)缺陷試塊采用與高壓支柱瓷絕緣子相同聲學(xué)性能的材料制成，分為高強(qiáng)瓷和普通瓷兩種，外形尺寸相同，以備檢測不同材料的高壓支柱瓷絕緣子。主要用于對探傷儀、探頭及系統(tǒng)組合性能的測定，調(diào)整探傷靈敏度，